JPS6174245A - 撮像管 - Google Patents
撮像管Info
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- JPS6174245A JPS6174245A JP19471884A JP19471884A JPS6174245A JP S6174245 A JPS6174245 A JP S6174245A JP 19471884 A JP19471884 A JP 19471884A JP 19471884 A JP19471884 A JP 19471884A JP S6174245 A JPS6174245 A JP S6174245A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- target
- potential
- electron gun
- section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/84—Arrangements for removing or diverting unwanted particles, e.g. for negative ions or fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は1!磁集束・静電偏向路撮像管(以下MS形撮
像管と略す)に係り、特に戻りビームによる偽信号の発
生を低減し得る撮像管に関する。
像管と略す)に係り、特に戻りビームによる偽信号の発
生を低減し得る撮像管に関する。
MS形撮像管は偏向収差が少ないため、解&!の画面内
での一様性が良く、偏向のILL@性が良いこと、電子
ビームのターゲットへの垂直ランディングが得やすいこ
と、管長を短縮しても特性の劣化が少ないこと、等のす
ぐ九た特徴を持っている。
での一様性が良く、偏向のILL@性が良いこと、電子
ビームのターゲットへの垂直ランディングが得やすいこ
と、管長を短縮しても特性の劣化が少ないこと、等のす
ぐ九た特徴を持っている。
ところが、MS形撮像管では、戻りビーム像と呼ばれる
偽信号の発生があり、低照度の被写体を撮像する際に重
大な欠点となる。この戻りビーム像について説明するに
、まずMS形撮像管の動作について説明する。
偽信号の発生があり、低照度の被写体を撮像する際に重
大な欠点となる。この戻りビーム像について説明するに
、まずMS形撮像管の動作について説明する。
第1は、MS形撮像管の概略図である。カソード(10
1)がら放出した電子群は第1格子電極(102)、第
2格子電極(103)によって加速および制御され、微
小孔(104)によって制限され、電子ビームとなる。
1)がら放出した電子群は第1格子電極(102)、第
2格子電極(103)によって加速および制御され、微
小孔(104)によって制限され、電子ビームとなる。
この電子ビームを管体(105)の外部に設けたソレノ
イド状の集束コイル(10G>が作る磁界の作用により
、光導電ターゲット(107)上に集束させる。さらに
この電子ビームを、管体(105)の内壁に形成した水
平および重置偏向用の2対の偏向tri(l O8)の
作る電界の作用により偏向し、ターゲット(107)上
を走査する。
イド状の集束コイル(10G>が作る磁界の作用により
、光導電ターゲット(107)上に集束させる。さらに
この電子ビームを、管体(105)の内壁に形成した水
平および重置偏向用の2対の偏向tri(l O8)の
作る電界の作用により偏向し、ターゲット(107)上
を走査する。
第2図は、管体内壁に形成された偏向電極の形状の1例
を展IJ図で示したものである。2が管軸方向で、θが
方位角方向である。偏向電極は、水平偏向電極H” 、
H−、素直偏向電極v” 、v−の4つの電極から1成
されており、各f4極にはバイアス電極Eej (V
)の上にそれぞれ+v H/2、−vH/2. +vv
/2.−Vv / (V)の電圧が重畳されて偏向電界
を形成する。v、4゜シフはそれぞれ水平偏向電圧、垂
直偏向電圧と呼ばれる。第2図でIは、第1図のf:3
2格子な梗の?!!極板(110)の位置に対応する。
を展IJ図で示したものである。2が管軸方向で、θが
方位角方向である。偏向電極は、水平偏向電極H” 、
H−、素直偏向電極v” 、v−の4つの電極から1成
されており、各f4極にはバイアス電極Eej (V
)の上にそれぞれ+v H/2、−vH/2. +vv
/2.−Vv / (V)の電圧が重畳されて偏向電界
を形成する。v、4゜シフはそれぞれ水平偏向電圧、垂
直偏向電圧と呼ばれる。第2図でIは、第1図のf:3
2格子な梗の?!!極板(110)の位置に対応する。
電子ビームによって走査される光導電ターゲット(10
7)は、ガラXJ3[(109) (7)面上に縦横に
密に設置されたコンデンサーの集合とみなすことができ
る。あらかじめ電子ビームの走査によって充電された各
コンデンサーは1次の走査までにガラス基板を透過した
光量にほぼ比例してその電荷を放電し、ターゲット(1
07)上には光学像に対応した電気的パターンが形成さ
れる0次の走査による充電の際に流れる電流が映像信号
となる。なお、ターゲット(107)とガラス!&仮(
109)の間には非常に薄い這明社極が、!2近されで
おり、カソード電位をovとして、透明電極の電位は約
5ovである。したがって、ターゲットの電子銃部に近
い表面の電位は、を子ビームが走査する領域ではカソー
ド電位に近い低電位であり、電子ビームが走査しない領
域では透明f4罹電位に近い値に上昇している。
7)は、ガラXJ3[(109) (7)面上に縦横に
密に設置されたコンデンサーの集合とみなすことができ
る。あらかじめ電子ビームの走査によって充電された各
コンデンサーは1次の走査までにガラス基板を透過した
光量にほぼ比例してその電荷を放電し、ターゲット(1
07)上には光学像に対応した電気的パターンが形成さ
れる0次の走査による充電の際に流れる電流が映像信号
となる。なお、ターゲット(107)とガラス!&仮(
109)の間には非常に薄い這明社極が、!2近されで
おり、カソード電位をovとして、透明電極の電位は約
5ovである。したがって、ターゲットの電子銃部に近
い表面の電位は、を子ビームが走査する領域ではカソー
ド電位に近い低電位であり、電子ビームが走査しない領
域では透明f4罹電位に近い値に上昇している。
なお、f4子ビームの低速走査を行なうため、光導電タ
ーゲット(107)に而してメツシュ状電1 (111
)を1letL、fiミツシュを極(111)と光導電
ターゲットとの間に減速電界を発生させている。
ーゲット(107)に而してメツシュ状電1 (111
)を1letL、fiミツシュを極(111)と光導電
ターゲットとの間に減速電界を発生させている。
以上がMS形撮像管の動作である0次にMS形撮像管に
おける戻りビーム像とその発生原理について説明する。
おける戻りビーム像とその発生原理について説明する。
第3図はMS形撮像管におけるで子ビー11の軌道を模
式的に示したものである。以下の図では、重複説明を省
くため、同一部分には同じ記号をつける。電子ビーム(
301)の走委頌域をAとすると、この領域Aより外側
の領域BにおいてP′S信号を生ずる。
式的に示したものである。以下の図では、重複説明を省
くため、同一部分には同じ記号をつける。電子ビーム(
301)の走委頌域をAとすると、この領域Aより外側
の領域BにおいてP′S信号を生ずる。
電子銃部よりJl!射された所謂往きビーム(301)
は、ターゲット(107)のGX 域A上を走査するも
のであるが、その一部は破、線で示すように、電子、境
部側に押し戻されて、これが所謂戻りビーム(302)
となる、そして、この戻りビーム(302)は主として
1.フ2!8升;(蛋(103)の電極板(110)に
当り、その一部が所謂反射ビーム(303)となり再び
ターゲット上に向う。
は、ターゲット(107)のGX 域A上を走査するも
のであるが、その一部は破、線で示すように、電子、境
部側に押し戻されて、これが所謂戻りビーム(302)
となる、そして、この戻りビーム(302)は主として
1.フ2!8升;(蛋(103)の電極板(110)に
当り、その一部が所謂反射ビーム(303)となり再び
ターゲット上に向う。
この反射ビーム(303)のgt*(Z)方向の速度成
分は小さく、一方、ターゲット(107)におけるビー
ムの走査領域Δは、往さビー1.(301)の充電によ
りカソード電位のOV近くに保持されているので、この
領域、へには反3(ビーム(303)は入射しに(いが
、走査領域Δ外の領域已においては、ビーム(30+)
の追究がなされていないために、透明電極の電圧に近い
敬+V程度の電位状コにあり、こ二に入射した反射ビー
ム(303)による充電電流が偽ご号となる。この偽信
号が。
分は小さく、一方、ターゲット(107)におけるビー
ムの走査領域Δは、往さビー1.(301)の充電によ
りカソード電位のOV近くに保持されているので、この
領域、へには反3(ビーム(303)は入射しに(いが
、走査領域Δ外の領域已においては、ビーム(30+)
の追究がなされていないために、透明電極の電圧に近い
敬+V程度の電位状コにあり、こ二に入射した反射ビー
ム(303)による充電電流が偽ご号となる。この偽信
号が。
所謂戻りビーム像の原図となる。
ターゲットに向かう反射ビームの;凛は、往きビームの
数パーセントの微小電流である。したがって通常の照度
での撮像においては、反射ビームによって読み出される
偽信号は、往きビームによって読み出される映像信号に
較べて小さいため。
数パーセントの微小電流である。したがって通常の照度
での撮像においては、反射ビームによって読み出される
偽信号は、往きビームによって読み出される映像信号に
較べて小さいため。
大きな問題にはならない、しかし、照度の小さい被写体
を撮像した時に、撮像装置の信号増幅器の感度を上げる
と、モニター上にはff141J!Jに示したような所
謂戻りビーム像が現われ1画質劣化となる。なお第4図
において、(401)は走査領域に対応した画枠であり
、Cg* (402)では反射ビームにより走査領域外
Bの部分から読み出されているため、斜線で示した正常
な部分C403)に較べて明るくなっている。
を撮像した時に、撮像装置の信号増幅器の感度を上げる
と、モニター上にはff141J!Jに示したような所
謂戻りビーム像が現われ1画質劣化となる。なお第4図
において、(401)は走査領域に対応した画枠であり
、Cg* (402)では反射ビームにより走査領域外
Bの部分から読み出されているため、斜線で示した正常
な部分C403)に較べて明るくなっている。
以上がMS形撮像管における戻りビームタ;とその発生
原因である。
原因である。
従来、この戻りビーム像を回避するために1例えば、特
開昭55−38742号に述べられている方法が知られ
ている。
開昭55−38742号に述べられている方法が知られ
ている。
これは、往きビームの偏向jlk (R,) 、 FA
リビ−A(711[4[(110) ヘノ到i1位’!
(Rt)。
リビ−A(711[4[(110) ヘノ到i1位’!
(Rt)。
反射ビームのターゲット(107)への到達位置(R1
)の間には、R,ユ2R,,R,よ3R1゜したがって
、Fl、s= (2/3)R,の関係があることを考慮
して、゛電子ビーム走査領域の鴫の2/3以上の電極板
(110)上の位置に向う戻りビームを吸収ないしは再
びターゲット(107)のff1fiB上に向かうこと
を阻止する″方法である。このことは具体的に実現する
ための手法か、特開昭56−38742号、特開昭56
−38743号に提案されている。
)の間には、R,ユ2R,,R,よ3R1゜したがって
、Fl、s= (2/3)R,の関係があることを考慮
して、゛電子ビーム走査領域の鴫の2/3以上の電極板
(110)上の位置に向う戻りビームを吸収ないしは再
びターゲット(107)のff1fiB上に向かうこと
を阻止する″方法である。このことは具体的に実現する
ための手法か、特開昭56−38742号、特開昭56
−38743号に提案されている。
m18目は、1極板(110)上に戻りビームを吸収あ
るいは散乱させる物質層ないしは表面処理層を形成する
方法、 第2呑目は、電子銃部の径を小さくり、fI!極抜(1
10)の径を走査領域Aの幅の2/3以下とする方法、 第3番目は、メツシュ状電極(111)のまわりを走査
領域の形状に合わせた角窓状の開口を持った円板電極(
501)でおおい、走査領域外に向う反射ビームを阻止
する方法。
るいは散乱させる物質層ないしは表面処理層を形成する
方法、 第2呑目は、電子銃部の径を小さくり、fI!極抜(1
10)の径を走査領域Aの幅の2/3以下とする方法、 第3番目は、メツシュ状電極(111)のまわりを走査
領域の形状に合わせた角窓状の開口を持った円板電極(
501)でおおい、走査領域外に向う反射ビームを阻止
する方法。
第4番目は、第6図に示したように、!極板(110)
に近接して、径の小さい円fii!!!(601) を
配置して、往きビームと戻りビームの偏向感度を異なら
しめて1反射ビームをターゲット(107)上の領域B
以外に向わせる方法、である。
に近接して、径の小さい円fii!!!(601) を
配置して、往きビームと戻りビームの偏向感度を異なら
しめて1反射ビームをターゲット(107)上の領域B
以外に向わせる方法、である。
第11目の方法では、f!1穫板の表面層がはがれて、
光導電ターゲット(107)上に付着し、映像信号の一
部が欠損するという可能性がある。
光導電ターゲット(107)上に付着し、映像信号の一
部が欠損するという可能性がある。
第2番目の方法は、電子銃の小径化により機械的強度が
劣化するという欠点を持つ。
劣化するという欠点を持つ。
第3番目の方法では、走査領域とメツシュ状電極(11
1)の角窓との形状・大きさ・配置を一部させることは
製造上困難であるため、角窓を走査領域より大きくする
必要があり、完全に戻りビーム像を消去することができ
ない。
1)の角窓との形状・大きさ・配置を一部させることは
製造上困難であるため、角窓を走査領域より大きくする
必要があり、完全に戻りビーム像を消去することができ
ない。
第4番目の方法では、戻りビームを管体(105)に向
かって十分に偏向させるには、円am極(601)の電
圧(E C,)に較べて、偏向f11iのバイアス電圧
(Ec3)をかなり高くしなければならない。
かって十分に偏向させるには、円am極(601)の電
圧(E C,)に較べて、偏向f11iのバイアス電圧
(Ec3)をかなり高くしなければならない。
バイアス電圧Eelを高くすると、偏向に要する電圧V
H@VVが高くなり、偏向駆動回路の消費電力および回
路、1を模が大きくなるという問題を生じる。
H@VVが高くなり、偏向駆動回路の消費電力および回
路、1を模が大きくなるという問題を生じる。
逆に、円i?l!t!i (601)の電圧Ee、を低
くすると、Ee□は通常第2+3子電極(103)に等
しくするため、?!1子銃部の加速電圧が低下し。
くすると、Ee□は通常第2+3子電極(103)に等
しくするため、?!1子銃部の加速電圧が低下し。
電子ビームの”I!AJitの不足、あるいは、電子ビ
ームのが電力の劣化という問題を生じる。
ームのが電力の劣化という問題を生じる。
このため1円筒電極(601)と偏向電極(108)と
の間に十分な電位差を設けることができず、戻りビーム
像のコントラストを十分小さくすることができなかった
。
の間に十分な電位差を設けることができず、戻りビーム
像のコントラストを十分小さくすることができなかった
。
本発明の目的は、MS形撮像管における戻すビ ・−ム
像のコントラストを低減することにある。
像のコントラストを低減することにある。
本発明は、従来例の説明で述べた。第4番方法の欠点を
補うため、偏向f!匝(108)とは別に補助電極を付
加し、その電極と円1電極(601)との間に十分な電
位差を設けることにより戻りビーム像のコントラストを
低減したものである。
補うため、偏向f!匝(108)とは別に補助電極を付
加し、その電極と円1電極(601)との間に十分な電
位差を設けることにより戻りビーム像のコントラストを
低減したものである。
以下、実施例を参照にして、本発明の詳細な説明する。
第7図は本発明の実施例の1つである0本発明では1円
筒電極(601)と偏向電極(1o 8)の間に補助円
筒電極(701)を設けることにより、戻りビームに十
分な偏向量を与えることができ、戻りビーム像のコント
ラストを小さくできる。
筒電極(601)と偏向電極(1o 8)の間に補助円
筒電極(701)を設けることにより、戻りビームに十
分な偏向量を与えることができ、戻りビーム像のコント
ラストを小さくできる。
第8図は、第7図の電極構成で角窓の形状をしたメツシ
ュ状電極を伴用したときの効果と、第6図の従来例の場
合とを比較して示したものである。
ュ状電極を伴用したときの効果と、第6図の従来例の場
合とを比較して示したものである。
従来例を示す(A)では、例えば円筒電極(601)の
電圧(ECt)を300v、偏向電極のバイアス電圧(
Ecs)を350vとした時には、戻りビーム(302
)と反射ビーム(303)は、円筒電極の近くを通過す
る際に十分な偏向を得ることができず、反射ビームは角
窓の形状をしたメツシュ状電極(111)を透過し、走
査領域外已に到達し、戻りビーム像の原因となる。
電圧(ECt)を300v、偏向電極のバイアス電圧(
Ecs)を350vとした時には、戻りビーム(302
)と反射ビーム(303)は、円筒電極の近くを通過す
る際に十分な偏向を得ることができず、反射ビームは角
窓の形状をしたメツシュ状電極(111)を透過し、走
査領域外已に到達し、戻りビーム像の原因となる。
一方1本発明を示すCB)では、例えば、EC。
を300V、Ec)を350V、補助円筒電極(701
)の電位Does’)を450vとした時には、往きビ
ーム(301)は従来例とほぼ同じ曵道を描くが1円a
電極(601)の近くをビームが通過する際に1円筒電
極と補助円aF!aとの間に発生した強い電界のため、
大きな偏向を受け、反射ビーム(303)は角窓状の開
口を持った円板電極にとらえられターゲット(107)
に達することができない。
)の電位Does’)を450vとした時には、往きビ
ーム(301)は従来例とほぼ同じ曵道を描くが1円a
電極(601)の近くをビームが通過する際に1円筒電
極と補助円aF!aとの間に発生した強い電界のため、
大きな偏向を受け、反射ビーム(303)は角窓状の開
口を持った円板電極にとらえられターゲット(107)
に達することができない。
このように1本発明では、走査領域外已に入射する反射
ビームの量を、従来例に較べて小さくできるため、戻り
ビーム像のコントラストを小さくすることができる。
ビームの量を、従来例に較べて小さくできるため、戻り
ビーム像のコントラストを小さくすることができる。
ところで、本発明では、補助円筒電極(701)の径を
小さくするほど、補助円筒電極と円筒電極(601)と
の間に発生する電界が強くなり、戻りビーム像のコント
ラストをより効果的に低減できるが、径を小さくしすぎ
ると、第9図に示した補助円筒f4極の先端(S)で反
射されたビームがターゲット(107)に到達するよう
になり、逆に戻りビーム像の原因となる。
小さくするほど、補助円筒電極と円筒電極(601)と
の間に発生する電界が強くなり、戻りビーム像のコント
ラストをより効果的に低減できるが、径を小さくしすぎ
ると、第9図に示した補助円筒f4極の先端(S)で反
射されたビームがターゲット(107)に到達するよう
になり、逆に戻りビーム像の原因となる。
補助円筒電極の先端部の内径をφ、とすると。
この径φ、は反射ビームによって約3/2倍となりター
ゲット(l O7)上に投影される。したがって、補助
円筒?!!極の先端部Sによって2支射されたビームが
ターゲット上に到達できな(するには、メツシュ状電極
の1子ビーム透過可能な最大径φ、、(第5図参照)を
φ5の372倍より小さくする必要がある。すなわち、
φ4と96の間には次の関係が必要である。
ゲット(l O7)上に投影される。したがって、補助
円筒?!!極の先端部Sによって2支射されたビームが
ターゲット上に到達できな(するには、メツシュ状電極
の1子ビーム透過可能な最大径φ、、(第5図参照)を
φ5の372倍より小さくする必要がある。すなわち、
φ4と96の間には次の関係が必要である。
φ2≧2/3φ。
上記の実施例では、特に2つの電極(601)(701
)を円筒電極としたが、必ずしも円筒である必要はなく
、軸対称な電極でありさえすれば良い、第10図(A)
〜(E)には上記の実施例の変形例を示す。
)を円筒電極としたが、必ずしも円筒である必要はなく
、軸対称な電極でありさえすれば良い、第10図(A)
〜(E)には上記の実施例の変形例を示す。
(A)は補助円筒電極(701)の代りにタ−ゲット側
に広がった円錐台状の1極を、 (B)はターゲット側
に狭くなった円錐台状のffi極を用いた場合である。
に広がった円錐台状の1極を、 (B)はターゲット側
に狭くなった円錐台状のffi極を用いた場合である。
(C)は円筒?l!極(601)の代りにターゲット側
に狭くなった円錐台状の電極を、(D)はターゲット側
に広がった円錐台状のa極を、(E)は回転双曲面状の
電極を用いた場合である0以上のいずれの場合にも、同
心的に配置された2つの電極のうち、外側の電極のター
ゲット(107)に最も近い部分の内径φ、はメツシュ
状電極の電子ビームの透過可能な最大径φ、の2/3倍
以上でなければならない。
に狭くなった円錐台状の電極を、(D)はターゲット側
に広がった円錐台状のa極を、(E)は回転双曲面状の
電極を用いた場合である0以上のいずれの場合にも、同
心的に配置された2つの電極のうち、外側の電極のター
ゲット(107)に最も近い部分の内径φ、はメツシュ
状電極の電子ビームの透過可能な最大径φ、の2/3倍
以上でなければならない。
上記の実施例において1円錐台状電極を回転放物面状電
極にする等の変化は、すへて本発明の範囲内にある。
極にする等の変化は、すへて本発明の範囲内にある。
次にもう1つの実施例について説明する。
この実施例では、第70の補助円筒電極(701に対応
するものを管体(105)の内壁に形成する。その41
1成を、第11図に展開図で示す。
するものを管体(105)の内壁に形成する。その41
1成を、第11図に展開図で示す。
この実施例では、4つの偏向電極(H−、H−。
v” 、v−)の電子銃部に近い部分に、補助電極(7
02) を挿入されている。この電極にEcx’の電位
を与えると、第7図の場合とほぼ同じ効果を得ることが
できる。
02) を挿入されている。この電極にEcx’の電位
を与えると、第7図の場合とほぼ同じ効果を得ることが
できる。
第11図の実施例の変形として、例えば第12図のよう
な構成の電極も容易に考えられるが、このような変形は
すべて本発明の範囲内にある。
な構成の電極も容易に考えられるが、このような変形は
すべて本発明の範囲内にある。
以上の電極構成においては、補助電極電圧Ecs′は、
その内側にある電極電圧Ec2より高いものとして説明
したが、逆にECM゛ をEc、よりもpi端に小さく
すると、反射電子ビーム(303)の一部を走査領域A
内あるいは、円板11極(Sol)の管軸に対する反対
側に向わせ、戻りビーム像のコントラストを低減するこ
とも可能である。
その内側にある電極電圧Ec2より高いものとして説明
したが、逆にECM゛ をEc、よりもpi端に小さく
すると、反射電子ビーム(303)の一部を走査領域A
内あるいは、円板11極(Sol)の管軸に対する反対
側に向わせ、戻りビーム像のコントラストを低減するこ
とも可能である。
このように、補助電圧の設定は任意であるが、特にメツ
シュ状電極電圧、あるいはカソードの1圧と等しく1.
、、*なる電圧を供給するNg数の増加を防ぐこともで
きる。
シュ状電極電圧、あるいはカソードの1圧と等しく1.
、、*なる電圧を供給するNg数の増加を防ぐこともで
きる。
以上、説明したごとく1本発明によれば、MS形撮像管
における戻りビーム像のコントラストを低減でき、ビデ
オ用カメラの高画質化を区ることができる。
における戻りビーム像のコントラストを低減でき、ビデ
オ用カメラの高画質化を区ることができる。
第1図は、MS形撮像管の概略図、第2ズは、偏向電極
の展開図、第3図は、MS形撮像管における電子ビーム
軌道を表わす図、第4図は、戻りビーム像を示す図、第
5図は、角窓メツシュ状電極を表わすズ、第6図、第7
図、第9図、第1O図は、電子銃部まわりの電極植成を
表わす図、第81は、電子ビーム軌道を表わすズ、′5
11図。 第122は、管体内壁に形成した。!X4向?6.極と
補助TL極の設置を示す図である。 101 ・・カソード、102・・第1格子電極、10
3−・・第2格子電極、104−微小孔、105・・・
管体、106・・・集束コイル、107・・光導電ター
ゲット。 108・・・偏向電極、109・ガラス基板、110・
・・電極板、111・・・メソシュ状電極、H” 、H
−・・・水平偏向電極、v’ 、v−・・垂II偏向電
極、Z・・・管軸方向、θ・・・方位角方向、■・・電
極板位置、R1・・・往きビーム偏向−気、R1・戻り
ビームの電極板への到達位vtt、R3・・・反射ビー
ムのターゲットへの到達位置、301・・・往きビーム
、302・・・戻りビーム、303・・・反射ビーム、
401・・・画枠、402・・・戻りビーム像、403
・・・正常な部分。 501・・・円板電極、φア・・・電子ビーム透過可能
な最大径、φ、・・・補助円筒?!!唖の内径、S・・
・補助円筒電極の先端の面、a、b、c、d・・・円錐
台状電代理人 弁理士 &横明天、2/ 第 l 口 第 212] Z 第30 ロ耳目ヨ弓=コ 第40 第 5 ロ 第 6 口 /ふ3 第 7Z 第 8 口 (A) ot 第 70 図
の展開図、第3図は、MS形撮像管における電子ビーム
軌道を表わす図、第4図は、戻りビーム像を示す図、第
5図は、角窓メツシュ状電極を表わすズ、第6図、第7
図、第9図、第1O図は、電子銃部まわりの電極植成を
表わす図、第81は、電子ビーム軌道を表わすズ、′5
11図。 第122は、管体内壁に形成した。!X4向?6.極と
補助TL極の設置を示す図である。 101 ・・カソード、102・・第1格子電極、10
3−・・第2格子電極、104−微小孔、105・・・
管体、106・・・集束コイル、107・・光導電ター
ゲット。 108・・・偏向電極、109・ガラス基板、110・
・・電極板、111・・・メソシュ状電極、H” 、H
−・・・水平偏向電極、v’ 、v−・・垂II偏向電
極、Z・・・管軸方向、θ・・・方位角方向、■・・電
極板位置、R1・・・往きビーム偏向−気、R1・戻り
ビームの電極板への到達位vtt、R3・・・反射ビー
ムのターゲットへの到達位置、301・・・往きビーム
、302・・・戻りビーム、303・・・反射ビーム、
401・・・画枠、402・・・戻りビーム像、403
・・・正常な部分。 501・・・円板電極、φア・・・電子ビーム透過可能
な最大径、φ、・・・補助円筒?!!唖の内径、S・・
・補助円筒電極の先端の面、a、b、c、d・・・円錐
台状電代理人 弁理士 &横明天、2/ 第 l 口 第 212] Z 第30 ロ耳目ヨ弓=コ 第40 第 5 ロ 第 6 口 /ふ3 第 7Z 第 8 口 (A) ot 第 70 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、真空容器と、その内部に設けられた少くとも、カソ
ードを有し電子ビームを発生・制御する電子銃部、光学
像に対応した電気的パターンを形成するターゲット部、
および上記の電子銃部と上記ターゲット部との間に位置
し該ターゲット部に近接したメッシュ状電極を有し、上
記真空容器の外部に設けた電磁石の作る磁界の作用によ
り上記電子ビームを上記ターゲットに集束し、そのビー
ムを上記真空容器の内壁に形成した静電偏向電極の電界
の作用により偏向して、光学像に対応した電気信号を上
記ターゲット部から取り出す電磁集束・静電偏向形撮像
管において、上記電子銃部と上記メッシュ状電極との間
に該電子銃部に近接して、2つの円筒状あるいは回転対
称状の電極を、撮像管の管軸を中心軸として同心的に設
け、外側の電極ターゲット部に最も近い部分の最小径を
、上記メッシュ状電極の電子が透過可能な最大径の2/
3以上とし、上記の2つの電極の間に電位差を与えたこ
とを特徴とする撮像管。 2、特許請求の範囲第1項に記載の撮像管において、同
心的に設置された外側の電極の電位を上記メッシュ状電
極の電位あるいは上記カソードの電位と等しくしたこと
を特徴とする撮像管。 3、真空容器と、その内部に設けられた少くとも、カソ
ードを有し電子ビームを発生・制御する電子銃部、光学
像に対応した電気的パターンを形成するターゲット部、
および上記電子銃部と上記ターゲット部との間に位置し
該ターゲット部に近接したメッシュ状電極を有し、上記
真空容器の外部に設けた電磁石の作る磁界の作用により
上記電子ビームを上記ターゲット上に集束し、そのビー
ムを真空容器の内壁に形成した静電偏向電極の電界の作
用により偏向して、光学像に対応した電気信号を上記タ
ーゲット部から取り出す電磁集束・静電偏向形撮像管に
おいて、上記電子銃部と上記メッシュ状電極との間に該
電子銃部に近接して、円筒状あるいは回転対称状の電極
を設け、上記真空容器の内壁に形成した偏向電極の間に
同電位に保たれた櫛の歯状の電極を入り込ませ、上記円
筒状あるいは回転対称状の電極と上記櫛の歯状の電極と
の間に電位差を与えたことを特徴とする撮像管。 4、特許請求の範囲第3項記載の撮像管において、上記
櫛の歯状電極の電位を、上記メッシュ状電極の電位ある
いは上記カソードの電位と等しくしたことを特徴とする
撮像管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19471884A JPS6174245A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 撮像管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19471884A JPS6174245A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 撮像管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6174245A true JPS6174245A (ja) | 1986-04-16 |
Family
ID=16329089
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19471884A Pending JPS6174245A (ja) | 1984-09-19 | 1984-09-19 | 撮像管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6174245A (ja) |
-
1984
- 1984-09-19 JP JP19471884A patent/JPS6174245A/ja active Pending
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