JPS6182305A - 磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents

磁気ヘツドの製造方法

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JPS6182305A
JPS6182305A JP20524384A JP20524384A JPS6182305A JP S6182305 A JPS6182305 A JP S6182305A JP 20524384 A JP20524384 A JP 20524384A JP 20524384 A JP20524384 A JP 20524384A JP S6182305 A JPS6182305 A JP S6182305A
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JP
Japan
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glass
film
gap
layer
magnetic head
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JP20524384A
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良 後藤
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芦沢 正昭
Shigetoshi Morita
森田 重敏
Yoshiro Shimizu
芳郎 清水
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Proterial Ltd
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Hitachi Metals Ltd
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    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/187Structure or manufacture of the surface of the head in physical contact with, or immediately adjacent to the recording medium; Pole pieces; Gap features
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    • G11B5/23Gap features
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気ヘッドの製造方法の改良に係わり、特に
、高精度かつ高信頼性を付与したギャップ形成を可能と
する磁気ヘッドの製造方法に関するものである。
〔従来の技術〕
磁気ヘッドのギャップを形成する方法として、2個のフ
ェライトコアーのフロントギャップ構成面にガラス材を
スパッタリングにより膜厚の合計が所定のギヤツブ巾に
等しくなるように付着せしめ、前記両コアーをそのフロ
ントギャップ構成面が前記ガラス層を介して対向する様
に圧接せしめた後、前記ガラスの軟化温度と溶融温度範
囲内にてギャップを形成する方法が、特公昭47−26
336号公報に開示されている。しかしながら、この場
合には、ガラスの軟化温度と溶融温度範囲内にて行々う
熱処理により、2つのコアーのフロントギャップ構成面
間において、全部のガラスが軟化してしまう為に、全面
均一密着が雛かしく、又、ギャップ精度バラツキを少な
く出来力いという欠点があり、又、高速スパッタ法(マ
グネトロン・スパッタ法等)によってガラス層を形成し
た場合には、ガラス層内、又は表面に気泡が発生し、強
度上の問題或いは、磁気ヘッドとして使用中に磁気記録
媒体の破片が気泡内に侵入し、特性劣化の原因と外るな
どの問題が発生した。
〔発明が解決しようとする問題点〕
後者の問題は、特に、ビデオヘッドに比較してギャップ
長の広いフロッピーディスク或いはハードディスク用ヘ
ッドの製造には、生産性の面から考えて、高速スパッタ
法の適用が不可欠であり、それに伴ないガラス層内、又
は表面に気泡が発生する卯1合が急激に多くなるために
、実用上解決をしなければならない重要問題であると考
え、発明者等は、鉛量検討を重ね、本発明に至ったもの
である。
本発明者等は、上記気泡が、高速スパッタ時のガラス層
内に吸蔵されたArがガラス層同志の熱圧着接合の為の
熱処理の際に、接合後ガラス層内、又は表面の気泡を形
成することによるものであることを確認し、本発明をな
すに至ったものである。
本発明は、接合後ギャップ部に気泡がなく、高精度かつ
高信頼性を付与したギャップ形成を可能にした磁気ヘッ
ドの製造方法を提供するものである0 〔問題点を解決するための手段〕 本発明においては、磁気ヘッドのギャップを構成する2
個の組立片のギャップ構成面に第1層として、St O
x膜を、第2層として、ガラス膜を高速スパッタ法によ
りl1ff1次形成し、この後、脱Arのだめの熱処理
を第2層ガラスの軟化温度乃至950℃の間の温度で1
5分乃至1時間桁々りた後に、前記組立片の互いに組合
せられるべきギャップ構成面同志を対向させて重ね合わ
せ、加圧しながら加熱する事により、2個の組立片の第
2層とじて、6 のガラス膜同志を接合すると共に、ギャップ部の磁気記
録媒体と対向する面の反対側部分に補強ガラスを接合す
る。
St 02膜とガラス膜との膜厚比は10:1乃至10
:4が適当である。
〔作用〕
本発明者等の検討に依れば、高速スパッタ時にガラス膜
、或いはSt Ch膜に取り込まれるArは、ガラス膜
+ SI O2膜を加熱することにより放出されるが、
磁気ヘッドとして実用上差しつかえがない程度まで放出
させるためには、スパッタ後、ガラス膜同志の接合工程
前に、第2層のガラス軟化温度乃至950℃の間、好オ
しくは、第2層ガラスの軟化温度より100℃高い温度
乃至870℃の間で、15分乃至1時間、加熱すれば良
いことが判かった。
スパッタ膜をSt Ox膜である第1層と、ガラス膜で
ある第2層との複合層とした理由は、次の通りである。
即ち、スパッタ膜をガラス膜のみとした場合に、4 。
は、前記脱Ar熱処理の際に、ガラス膜が軟化し、ガラ
ス膜接合熱処理の前に既に膜厚の均一性が失なわれて、
ガラス膜接合後のギャップ長目標値に対する実際製品の
ギャップ長バラツキが多くなってしまうことから、81
02膜とガラス膜の2層構造にする必要があるからであ
る。又、この様な2層構造にすることにより、ガラス膜
同志の接合熱処理の際に、ギャップ長が目標値通りであ
り、バラツキが少なく、又、ギャップ部分の接合強度が
大きくなる。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について説明する。
第1図に示すように、フェライトコア11,12に、各
々SiOg膜4.およびガラス膜5を順次マグネトロン
・スパッタ法により形成する。2μmのギャップ長に対
して、5i02膜は8000A 、ガラス膜は200O
Aの厚さに形成した。これらフェライトコア11,12
を互いにつきあわせ、補強ガラス6をセットして、85
0℃においてフェライトコア11゜12を圧着しながら
加熱することによって、磁気ヘッドのギャップを形成し
た。第2図に、接着に用いたガラス膜5のガラスと、補
強ガラス6との粘性特性を示した。このように粘性の違
うガラスを用いることに依り、特に、補強ガラス6とし
て、ガラス膜5よりも圧着加熱温度において、粘度の高
いガラスを用いることにより、エイペックス部分のガラ
スの反応を抑えるのに有効であった○第6図に従来法、
即ち、ガラス膜5と補強ガラス6とに同一のガラスを用
いた場合のエイペックス部分のギャップ形成後の図を(
b)として、又、本実施例によるものを(a)として部
分概略図を示しだ。
第4図は、8102膜4とガラス膜6との膜厚の和に対
するガラス膜6の比率tglass / (tglas
s +tsio2)に対して、目標ギャップ長に対する
ギャップ長不良の比率がどの様に依存するかを示した図
である。
tglass/ tglass + tsio2が、約
0.4までの所でバラツキ少なくギャップ形成が出来る
第5図は、tglass/1g1ass + tsio
2に対して、ギャップ強度がどのように依存するかを示
したものである。tglass 71g1ass + 
tsio2が約0.1以上の所で、従来方法によるより
も、強度の大きいギャップ形成をなし得る。
以上から分かる様に、tglass/1g1ass +
 tsio2が0.1〜0.4の範囲で、精度9強度と
もに従来よりも秀れたギャップ形成が可能である。表1
は、光学ギャップ長と、実効ギャップ長との差が従来法
に比較して、いかに改善されるかを比較したものであ〔
発明の効果〕 以上、説明した様に、本発明に依れば、従来法よりも高
強度、高精度のギャップ形成がノ(ラツキ少なく得られ
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるギャップ形成工程図。 第2図は、接着ガラスと補強ガラスの粘性特性を、7 
。 示す図、第6図は、エアペックス部概略図、第4図、第
5図は、各々第2ガラス層厚さと不良率。 強度の関係を示す図である。 11 、12−:フエライトコア、 4 : St 0
2膜。 5ニガラス膜、6:補強ガラス。 、8 。 第 l 図 →T

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、磁気ヘッドのギャップを構成する組立片のギャップ
    構成面の各々に、第1層としてSiO_2膜を、第2層
    としてガラス膜を高速スパッタ法により順次形成し、前
    記組立片の互いに組合せられるべきギャップ構成面同志
    を対向させて重ね合わせ、加圧しながら加熱することに
    より、前記2個の組立片の第2層であるガラス膜同志を
    接合すると共に、ギャップ部の磁気記録媒体と対向する
    面の反対側部分に補強ガラスを接合するものにおいて、
    スパッタ後、ガラス膜同志の接合工程の前に、該第2層
    ガラスの軟化温度乃至950℃の間の温度で、15分乃
    至1時間スパッタによりSiO_2膜及びガラス膜中に
    入りこんだArを放出させる熱処理を施こすことを特徴
    とする磁気ヘッドの製造方法。 2、Arを放出させる熱処理が、ガラス膜の軟化温度よ
    り100℃高い温度乃至870℃であることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の磁気ヘッドの製造方法。 3、第1層と第2層の膜厚の比が、10:1乃至10:
    4であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    磁気ヘッドの製造方法。
JP20524384A 1984-09-29 1984-09-29 磁気ヘツドの製造方法 Granted JPS6182305A (ja)

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JP20524384A JPS6182305A (ja) 1984-09-29 1984-09-29 磁気ヘツドの製造方法

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JPS6182305A true JPS6182305A (ja) 1986-04-25
JPH0250524B2 JPH0250524B2 (ja) 1990-11-02

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JP20524384A Granted JPS6182305A (ja) 1984-09-29 1984-09-29 磁気ヘツドの製造方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5208971A (en) * 1990-05-17 1993-05-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Process of manufacturing a magnetic head

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5208971A (en) * 1990-05-17 1993-05-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Process of manufacturing a magnetic head

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JPH0250524B2 (ja) 1990-11-02

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