JPS6182641A - ３つの電子銃を備えた受像管の偏向器の調整方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は３つのインライン電子銃を備える受像管用の偏
向器に関する。

より詳細には、本発明のこの種の受像管用の偏向器の調
整方法およびその装置に関する。本発明は、大規模の偏
向器の製造分野に適用され、特に、受像管に偏向器を取
付ける工程で適用される。

従来技術の方法に従うと、良質のカラー画像の形成用の
走査を行うため水平および垂直の偏向コイルを備えた磁
気偏向器が製造されている。これらの公知の偏向器では
、磁界の水平ラインを形成することによって、以前は補
助回路により行われていた画像の自動収束および種々の
補正を行う。

しかしながら偏向器の極めて正確な調整を行うことが必
要である。このような偏向器は、円錐形のセパレータ上
に、垂直走査用の円環状のコイルを支持するフェライト
を備える。このセパレータの内部には水平走査用のサド
ル形のコイルが配置されている。フェライトはセパレー
タ上を可動に配置されている。こうした偏向器は次の２
つの条件を満たすときに作動する。

−すなわち、２つのコイルが互いに正常に配置されてい
ること、 −偏向器自体が、それが載架される受像管のネック部に
正常に配置されていること、 従来の偏向器の調整は２つの操作により行っていた。第
１の操作は偏向器の製造時に行っており、このとき偏向
器はこの調整を固定するように固着される。第２の操作
は各種の構成要素を受像管に組立てるときに行っていた
。

この公知の調整方法の主な欠点は、調整用のテストパタ
ーンを表示するために第１の操作のときに試験用の受像
管を使用することである。このため、サンプル選択の統
計的手法に従い、第１の操作用の試験用の管をピックア
ップしていた。これらの試験用の受像管の各々は、第１
の操作により偏向器の調整を行い、それを他の管にも適
用できる平均的特徴を示すものである。製造後、各偏向
器は第１の操作による調整ラインに導かれる。オペレー
タは薄暗い室内に配置された試験用の受像管のネックに
偏向器を取付け、偏向器のコイルをテストパターン発生
器のコネクタに接続する。こうしてテストパターンを表
示することによって、４つの収束欠陥、すなわち、垂直
および水平の振幅と垂直および水平の交叉を測定する。

第１の操作ではテストパターンの４つの欠陥を是正する
。

しかしながら、こうした調整には次のような問題がある
。

−試験用受像管の選択、 −　オペレータにより画像上の寸法欠陥を目視観察する
こと、 −操作が人によるので緩慢であること、−大規模の偏向
器の製造の場合、多くの調整場所を設ける必要があるこ
と、 −各調整の原価が高いこと、 本発明の目的は従来技術の問題を解決することにあり、
より詳細には複雑であり且つ誤差を含む恐れのある試験
用の受像管の選択を必要としない、受像管用の偏向器の
調整方法とその装置を提供することにある。

本発明の他の目的は、調整対象に応じて各種の目視評価
をテストパターンで行う必要のない調整方法を提供する
ことにある。

本発明のさらに別の目的は調整の第１の操作でオペレー
タの介入を要しない方法を提供することにある。すなわ
ち、調整速度を高め、５倍の時間を節約することにある
。

さらに本発明の目的は、従来方法と比べてはるかにコス
トの低い調整方法と装置を提供することにある。

第１の操作後、偏向器は固着される。すなわち、垂直コ
イルを支持するフェライトがセパレータ上に固定され、
従って水平コイルに対する位置が固定される。このよう
に調整された偏向器は、付加的な処理を留保して、受像
管のメーカーに発送される。受像管のメーカーは第２の
操作、すなわち受像管に偏向器を適合させる操作を行う
。この場合でも、上記と同様メラインでオペレータは受
像管のネックに偏向器を取付け、第１の操作と同様のテ
ストパターンを表示する。こ５でもオペレータはテスト
パターン上の上記した４つの欠陥を最小とするため、水
平走査軸または垂直走査軸に従って偏向器を軸方向に移
動することによって調整を行う。このため、偏向器を後
部で固定して、上記の２軸方向に偏向器を移動可能なア
ームを操作して行う。

この第２の操作には次のような問題点がある。

すなわち、 −第１の操作が試験用の受像管を統計的に選択して行う
かぎり、所定の偏向器用の特定の受像管は可成り変動し
た特性のものでありうる。

−上記４つの欠陥の調整は２つの独立した。＜ラメーク
でのみ行われうる。すなわち、オペレータは、偏向器を
水平走査方向および垂直走査方向に沿って移動すること
によって、未定の４つの欠陥の平衡を行う必要がある。

本発明の目的は、第１の操作の試験用の受像管と、偏向
器が最終的に取付けられる受像管との特性の隔たりを解
消することにある。

本発明のさらに別の目的は、調整の第２操作の一部を第
１操作で行うことによって、上記の４つの欠陥の変動を
減少せしめて、第２操作でのオペレータの調整作業を軽
減することにある。

本発明に従うと、３つのインライン電子銃を備えた受像
管の偏向器の調整方法であって、磁界の勾配の測定ヘッ
ド上に偏向器を配置し、少なくとも該偏向器の後方およ
び前方の区域における勾配を測定し、 垂直コイルの支持体をなすフェライトを該へ・７ドの中
心軸の周りに移動して、垂直および水平磁界の直交化を
行い、 該ヘッドの中心軸と垂直および水平磁界の平均対称軸と
の角度偏差に比例する電圧を印加することによって受像
管上の偏向器の整列化をシミュレーションし、 該ヘッドの中心軸と直交する平面内の少なくとも一方向
（ＸまたはＹ）に該フェライトを移動して、咳角度偏差
に比例した電圧を消去し、少なくとも一時的に該フェラ
イトを水平コイルに対して固定する、 ことを特徴とする偏向器の調整方法が提供される。

さらに本発明に従うと、上記の方法を実施する調整装置
であって、 偏向器を支持し且つ位置決めする手段と、該偏向器の前
方および後方の区域で磁界の勾配を検出するセンサを備
える測定ヘッドと、水平コイルおよび垂直コイルに各々
接続された水平走査用給電手段と垂直走査用給電手段と
、水平振幅パラメータＡＨ，垂直振幅パラメータＡＶ、
垂直交叉パラメータＣＶ、水平交叉パラメータＣＨの計
算手段と、 誤差信号を消去するため、装置の中心軸と直交する平面
内でセパレータ２５上を該フェライトを移動（Ｘまたは
Ｙ）させるために使用する信号を上記４つのパラメータ
から決定する回路と、を備えることを特徴とする偏向器
の調整装置が提供される。

本発明の他の特徴および効果は添付の図面を参照する以
下の実施例の記載より明らかとなろう。

実施例 第１図に、受像管の背面図を示した。受像管は、末端が
ネック５に結合されたファンネル２に取付けられるパネ
ル１を持つ。ネック５はそれぞれ川頁次光、緑、青色と
される３つの電子銃が一列に配置されて構成される組立
て体６を持つ受像管のネックの上に偏向器３が配置され
るが、その一般的形状は、ネックの円筒部とパネル１の
背面のファンネル２との間の接合部に位置するフランジ
４を有した形状となっている。

この図で、特に上記の第２の調整操作によって提起され
る問題が理解される。実際の構造では、受像管には、偏
向器３の収束軸に対応する中心軸７がある。偏向器３の
取付は時には、偏向器は、一般に一致するように配置さ
れる必要がある軸７に対して、目印となる角９をなす固
有の磁気軸８に従って配置される。機械的な方法はこの
種の調整には無効であるので、従来の技術によれば、パ
ネル１に表示されるテストパターンの変形によって管の
磁気的様相、特にその収束を検査することが知られてい
る。このため、普通の時計の表示法１２Ｈ，３Ｈ，６Ｈ
，９Ｈによってパネルの４つの特性点が指定される。軸
９にも基準の３つの直交軸ｘ、ｙ、ｘが付されている。

ｙ軸は無偏向時にｙ軸は水平走査方向、ｙ軸は垂直走査
方向をほぼ表わす。

第２図に第１図に示した受像管の部分断面図を示した。

偏向器は、部分的に破線で示された管のガラス管１６に
設置される。これは主に第１コイル１０および第２コイ
ル１７を支持するプラスチック製セパレータ１１−１３
を備える。第１コイル１０はほぼ円錐形状のフェライト
鉄心の周りに配置される筒状または環状コイルによって
構成される。コイル１７は、受像管のファンネルとの間
め自由空間１５内のセパレータ１１の収納部に配置され
る、サドル形に熱成形されたコイルによって構成される
。第１コイル１０は垂直走査、第２コイル１７は水平走
査にあてられる。このような偏向器はサドルコア型偏向
器と言われる。図から２軸に沿って水平偏向中心りおよ
び垂直偏向中心Ｔを識別できることが分る。構造上、収
束上の欠点を最小とするため、２つの水平偏向中心りお
よび垂直偏向中心Ｔは、受像管の軸９でもあるこのｙ軸
に一致するよう配置されるのが望ましい。このためサド
ルコア型偏向器のタイプでは、２つの調整パラメータを
持つ。

すなわちｙ軸に、他方ではｙ軸に沿ってのコイル１０の
変位である。事実、コア１０とセパレータ１１との間に
、ミリメートル・オーダーの変位を可能ならしめるギャ
ップ１４が存在することが注目される。

上記の第１の操作によって調整を可能ならしめるのは、
Ｘまたはｙに沿ってのこの変位操作である。

第３図に、本発明を適用する装置の全体図を示した。本
発明に従う装置は主に、測定ヘッド２０に対する偏向器
２１のセンタリング装置２２および位置付は装置２３を
備える。これらはまた、位置付け、センタリング装置２
７−２９および３３．４０を備える。

偏向器が測定ヘッド２０上に配置される場合、例えば自
動センタリング・クリップによって構成されるセンタリ
ング装置２２および位置付は装置２３は、背後から、す
なわち電子ビームの人口区域とも言われる偏向器の最小
断面図から偏向器をつかむ。

偏向器は測定ヘッド２０を取囲むように測定装置の支え
面２３ａの上に置かれる。偏向器は、セパレータ２５に
対して可動のフェライト上に取付けられる垂直偏向コイ
ルを構成している部分２４を備えており、且つセパレー
タ２５に取付けられる水平偏向コイルを有している。可
動部分２４は、はぼ直交している第１軸Ｘおよび第２軸
ｙにそれぞれ沿う水平巻線および垂直巻線の位置付け、
センタリング装置２７−２９および３３．４０によって
運動させることができる。

本発明に従う調整装置においては、主に本発明の方式に
特に合うように第１の調整操作を行うことが問題である
。このため、センタリングおよびサポート装置２２．２
３によって固定されるそのセパレータ２５に対して、フ
ェライト２４をＸＳ’Ｊ軸に沿って変位されることが問
題である。測定ヘッド２゜は理想磁気軸をシミュレート
する中心軸４１に中心軸が一致するよう配置される。軸
４１は偏向器の中心軸、非偏向電子ビームの伝播方向と
同じである。

測定を行うため２つの給電系列が用意されるが、一方は
垂直操作に関係する３４．３５．３８であり、もう一方
は水平走査に関係する３６．３７．３９である。

各系列は垂直走査周波数または水平走査周波数の発振器
、増幅器、垂直または水平巻線の出力線への接続を備え
る。望ましい実施例では、非多重水平および垂直走査と
それぞれ両立し得る正弦周波数信号が選ばれたが、垂直
走査は２８５Ｈｚに、水平走査は３０００Ｈｚにシミュ
レートされている。

測定ヘッドから出たデータ３０は、従来技術では、上記
のモニタ管に表示されるテストパターンによって測定さ
れていた係数を算定する計算機３１に供給される。これ
ら４つの主要パラメータは第４図および第５図に示され
る。同様に第６図から第９図に本発明に従う測定ヘッド
の構造が示される。

計算機はヘッド軸と偏向器軸との角変位に比例する電圧
のアナログまたはディジタル測定値である誤差信号４２
を供給する。これは４つのパラメータを最適分布させる
Ｘ軸の変位およびｙ軸の変位を決定可能ならしめる。第
１の実施方法ではこの変位を行うため、操作者は例えば
検流計列で読まれる誤差信号４２がなくなるまで、フェ
ライト２４の位置を変位ねじによって手動調節する。

もう１つの実施例では、誤差信号４２はＸ軸については
、シュー２７またはｙ軸についてはシ：Ｌ−４０を動か
すため、電動機２９または３３の給電制御を行う制御信
号３２に供給される。シュー２７または４０はフェライ
トを押返すことを可能ならしめる。偏向器上のフェライ
トの動きは従って、軸４１、すなわちほぼ偏向器の回転
軸に対する直交面内に常にある。制御用発振器３２から
出る信号は、専門家に知られているように、電動機の性
質に依存している。

第３図に、位置付けおよびセンタリング装置を概略的に
示した。こうした装置は切断主に自動センタリング・ク
リップ２２．２３によって構成されるが、その形状は偏
向器２１の後部リムの保持を可能ならしめるようになさ
れている。クリップ２２．２３が作動されると、その形
状によって偏向器後部のセンタリングおよび固定を助け
ることが−できる。

第４図および第５図に、偏向器を調整する従来の技術に
則って利用される１連のテスト、（ターンが表示される
スクリーン５７を示した。これら２つの図の助けを借り
て、本発明によって用いられる４つの特性パラメータを
説明しよう。

第４図に、スクリーンの中心５２に位置される２つの同
心十字によって構成されるテストパターンをスクリーン
５７の内側に示したが、第１の赤十字は直線５０および
５４、第２の青十字は直線５１および５３によって構成
される。この交叉テストパターンは水平交叉および垂直
交叉パラメータを測定可能ならしめる。スクリーン５７
では、Ｘ１ｙ軸に関係ある４つの基点３Ｈ，６Ｈ，９Ｈ
，１２Ｈが定義された。青十字および赤十字の末端の間
の偏差は、水平に対する垂直の位置付は不良によって引
起される偏向不良を測定するものである。かくして十字
の垂直端の偏差Ｄ　Ｘ　（１２）、Ｄ　Ｘ　（６）、お
よび２つの同一十字の水平端の偏差Ｄ　Ｙ　（９）、Ｄ
Ｙ（３）が定義される。そして、次の関係によって水平
交叉係数を定義することができる。

ＣＨ＝　−（Ｄ　Ｙ（９）−Ｄ　Ｙ（３））同様に次の
関係によって垂直交叉も定義される。

ＣＶ−−（ＤＸ（１２）−ＤＸ（６））ＣＨおよびＣＶ
の計算の中に含まれる偏差が偏向の最大値に対応してい
ることが注目される。

第５図には、スクリーン５７は赤、青の２つの長方形か
ら成るテストパターンを示す。赤の長方形５６および青
の長方形５５は２つの振幅係数を測定可能ならしめる。

すなわち水平振幅係数ＡＨと垂直振幅係数ＡＶである。

先のように、ＸＮ５’軸に関する記号を持つ偏差Ｄ　Ｘ
　（３）、ＤＸ（９）、Ｄ　Ｙ　（１２）、Ｄ　Ｙ　（
６）が定義される。

水平振幅パラメータＡＨは次の関係によって定義される
。

Ａ　Ｈ＝　　　　　（Ｄ　Ｘ　（３）　−Ｄ　Ｘ　Ｃ９
）　）垂直振幅パラメータＡＶは次の関係によって定義
される。

ＡＶ＝　−（ＤＹ（１２）−ＤＹ（６））本発明に従う
方式では、操作者が第１回目に偏向器のいわゆる調整時
に、第２回目にその受像管への偏向器の取付は時に見積
もらねばならないこれら８つのパラメータの測定から解
放される。そのため、これらの測定がＸ％　３１’軸を
含む平面内の最大偏向に対応するという事実が利用され
る。第６図から第９図に、第４図および第５図に描かれ
たテストパターンを利用しないですむように磁界を測定
する偏向器断面を示した。第６図から第９図の各々に示
された図面では、偏向器の形状６０だけを示した。電子
ビームはＸ軸に沿って偏向器の後部領域に入る。この後
部領域は電子の末端出口区間よりも小さい区間である。

本発明によって利用される４つの特性パラメータの定義
に際し、幾何学的要素が相違することが注目される。従
って、各測定点について、偏向端にある赤の飛跡と青の
飛跡との間の偏差を知ることが問題であるが、これら２
つの飛跡は３本のビームの中で互いに最も隔たったもの
である。偏向器の出口領域では従って、磁界の差を測定
することができるプローブを配置しなければならない。

この勾配測定が偏向器調整の４つのパラメータの定義の
中に入ってくる差を示すことが可能であることが発見さ
れたことが、本発明のメリットである。

第６図に、水平振幅パラメータＡＨに利用される各磁界
勾配の測定区域を指示する断面図を示す。

偏向器の出口領域には、ＸＳＺ軸を含む面にコイル対６
４．６５が配置される。しかしながら、対６４は衝撃点
９Ｈ００へ向う２本の末端ビームに作用する磁界勾配を
測定するためのものであり、コイル対６５はスクリーン
の点３ＨＯＯに向う赤、青の２本の末端ビーム６１．６
２に作用する磁界勾配を測定するためのものである。本
発明の方式を適用する測定装置において、受像管なしに
、ビーム６１．６２がシミュレートされるだけになるこ
とはもちろんである。測定装置を横切る負荷はない。偏
向器がその人口領域にもたらす誤差をより特定的に知る
ため、偏向器の後部区域の影響を磁界勾配係数に反映可
能ならしめるコイル対６３が、Ｚ軸の近くに配置される
。ＸＳＺ平面では、コイル対６４．６５はほぼ偏向領域
の縁に配置される。これらは選択基準が後述される局所
内の全部区域に置かれる。水平振幅と言われるパラメー
タＡＨの測定のため、コイルは軸がｙ軸に平行な小ソレ
ノイドによって構成される。

第７図に、水平交叉係数Ｃｆ（の測定用コイルの配置図
を示した。コイルはＸ軸に平行な軸のソレノイドであり
、先のようにＸ、Ｚ平面に配置される。

第８図に、垂直振幅係数ＡＶの測定用コイルの配置図を
示した。コイルはｙＳＺ平面に配置され、Ｘ軸に平行な
軸である。偏向器の全部に置かれるコイル対８０．８１
は従来の技術のテストパターンでは１２Ｈ○○および６
ＨＯＯの偏向点に対応する。

後部コイル対７２は、水平交叉パラメータＣＨの測定の
ため、第７図で既に用いられているコイル対によって構
成される。第９図に、垂直交叉パラメータＣＶの測定用
コイルの配置図を示した。コイルはｙ３ｚ平面に置かれ
、１２Ｈ００の偏向に関する磁界勾配を測定するコイル
対９０．６ＨＯ○の偏向に関するコイル対９１を備える
。コイル対６３は第６図の水平振幅バラメークの測定に
用いられるコイルによって構成される。

第６図から第９図において、測定用コイルの各対は完全
に同一の２つの測定コイルを含み、従ってその位置は各
対のコイル毎に、ａまた鴫すの符号を付すことにより区
別されている。

各測定コイルはチャック上に設けられた４つの層に分割
された２０個の螺旋体によって構成されている。本発明
によれば、測定ヘッドの頭部は合成材料製本体で構成さ
れ、そこで測定コイルが埋設されている。−態様におい
て、測定コイルは１／１００の精度で開口の後方におい
て上記本体内に配置されている。本発明は他のすべての
種類の磁界感応センサ素子を使用できる。

従って、各パラメータは３対の測定コイルによて測られ
る。実際には軸ＯＺに沿った磁界の２度の測定によって
行うことに相当する。本発明の１変法によれば、水平ま
たは垂直の偏り中心近傍の領域で、第３の測定を行うた
めに、補助的な一対の測定コイルを設ける。

好ましい実施の態様では、本発明の装置の測定ヘッドの
頂部は１０対の測定コイルを含み、これは後部領域の２
対と前方の領域の８対に分けられる。

偏り竜が制限されたある数の点によって、磁界のある程
度の勾配により収れんする非対称欠陥を精度よく測定す
ることは、これらの点即ちセンサのｘ、ｙ並びに２の位
置の正確な選択に大きく依存している。

ｘ、ｙについては、選択は簡単であり、センサの２つの
測定コイルの各々は夫々赤および青の軌道上に配置され
、着目しているＺの値については、軌道は基準点３Ｈ−
９Ｈ−６Ｈ−１２Ｈで示されるものである。

これら軌道は、標準偏向器の全偏り量において、予め実
験室内で掛けられた定磁界の測定から計算により求めて
おく。

２に沿った“測定面”の選択は極めて微妙であり、かつ
決定的な要因となる。

軸ＯＺに対する偏向磁界の非対称性は、実際上は支持装
置２２−２３によって定まるが、種々の要因で変化する
。該要因は、特に移動による偏向コイルの単純な偏心、
ＯＺに関する傾斜、もしくは偏向コイル軸の不正確な組
合せ、あるいはまた水平偏向コイルや垂直偏向コイルの
不規則性、あるいはフェライトまたは水平偏向コイルの
変形などであり、後者の型の欠陥はＺに沿って比較的局
在化したものであろう。

各方向での偏向磁界の一次近似によれば、各ＸＹ（Ｚ）
面内における以下の成分からなる。

（１）定磁界：　Ｈｏ（ｚ　） （１１）自己収斂、緩衝補正などを決定する成分Ｈ２（
Ｚ）：この関数８２（Ｚ）は偏向器の名目上の特性を規
定する； （ｉｉｉ　）成分−Ｈ，（Ｚ）：これは理想的には零で
なければならない。というのはこれは上記の非対称性を
表しているからである； （ｉｖ）物体によって制限された影響を有する、より高
い強度の成分。

軸Ｏｘに沿った各Ｚに対して以下の関係が成立する； Ｈｙ＝Ｈｏ（ｚ）＋Ｈ＋（ｚ）　ｌ　Ｘ＋８２（Ｚ）　
・Ｘ２＋”またＯｙに沿った垂直方向では ｖ、＝ｖｏ（Ｚ）＋ｖｌ（Ｚ）−Ｙ＋Ｖ２（Ｚ）　・Ｙ
２＋・・−となる。

ここでＨｙおよび水平方向の振幅パラメータＡＨを考察
すると、勾配のセンサにおける各測定コイルの測定磁界
は： （ａ）　　赤（左端部の電子銃）につきＨＲ＝　Ｈｏ＋
　Ｈ＋（ｚ　　ａ　）　＋　８２（Ｘ　−ａ）２（ｂ）
　　青（右端部の電子銃）につきＨＢ＝　Ｈｏ＋　Ｈ＋
（ｘ　＋　ａ　）　＋　Ｈ２（Ｘ　＋　ａ）’となる。

ここで２ａは赤−青軌道のずれに等しく、Ｘは偏向器の
軸に対する位置である。

支持装置２２−２３で与えられた受像管の理想的な軸に
対する、３Ｈで示された中心軌道（緑）の位置はＸであ
り、これは以下の関係をもつ。

ｘ＝Ｘ−ｄ ここでｄはこの軸と偏向器の磁界軸との間に与えられる
Ｚからの偏差である。

この場合、センサ３Ｈによって得られる勾配は（ＨＢ　
　ＨＲ）３＝　２　ａ　Ｈ＋＋　４　（Ｘ　　ｄ）　ａ
　８２となり、また９Ｈに対しては以下のようになる。

（ＨＢ−ＨＲ）ｓ＝−２ａＨＩ＋４　　（Ｘ＋ｄ）ａＨ
ｚ局部的な強さの欠陥を表す勾配３Ｈ−９Ｈの差ＡＩ（
は以下のようになる。

ＡＨ＝ｋ　Ｃ（ＨＢ　　ＨＲ）３　　（ＨＢ　　ＨＲ）
ｓ＝’＝ｋ　（４ａＨ，−８ｄａＨ） 後方領域において、センサ３Ｈを実際上は偏向しない軌
道は、９Ｈに対応するセンサと一致する。

従って、単一のセンサが実際には使用される。出力され
る信号は、Ａであり、このゲインが対応する増幅回路に
供給される。

上記Ａ）（の関係式は、偏差ｄが非対称性Ｈ１を部分的
に補償し得ることを示している。即ち、放物線状成分Ｈ
２の偏心によって補償されることを示している。これは
確かにｄｚ断面内に局在している。事実、全軌道に亘り
Ｚについて積分すると、８　ｆｄ　（ｚ）ａ　（ｚ）Ｈ
２（Ｚ）ｄ　ｚは非対称性の和４（ａ　（ｚ）　・Ｈ，
（ｚ）ｄｚを補償することができる。一般に、関数ｄ（
ｚ）は簡単な形をしており、基鵡軸に対する偏向器の傾
斜または移動に対応している。

関数ａ　（Ｚ）は極めて単調で、磁束の収れんを表して
いる。また、これはＨｌおよびＨｌの存在する領域で変
化する。

関数Ｈ＋（ｚ）およびＨｌ（ｚ　）は、逆に極めて複雑
である。

Ｈｌ（ｚ）は製品設計の一部に属し、完全に既知であり
、安定であるが、２に沿って符号が２度変化する。垂直
方向の■２は多くの場合単調で、常に負である。得られ
たチャンネルのゲインの釣合いＡＲ−ＡＶはこの事実を
考慮することを可能とする。

関数Ｈ１と■１とは上記欠陥を表し、製造方法および偏
向技術に依存する。

冬型の製品に対して、作成された実験的分析のみが測定
面の数、その位置および場合によってはその釣合い、（
前−後の相対的係数）を決めることを可能とする。

我々の経験は、完全な２つの面（例えば第６図、第７図
に記載された装置の３対の測定コイル）が少なくとも必
要とされることを我々に教示してくれる。本発明の１変
形によれば、補助的な測定点が偏向中心領域に加えられ
るが、これはパラメータのほんの一部に対してのみ行わ
れる。

上で水平方向の振幅パラメータについて述べられたすべ
てのことが、同様にＡＶ、ＣＨＳＣＶについても当ては
まる。

かくして、Ｘおよびｙに沿って、垂直偏向並びに水平偏
向に以下の４つの偏心があることがわかる。

ｄＴｘ・ｄ　Ｔｙ　’　ｄ　Ｌｘ・ｄＬｙこれは夫々Ａ
Ｖ、ＣＶ、ＡＨおよびＣＨをコントロールできる。

画成された受像管の制御の第２の操作は、水平偏向コイ
ルと垂直偏向コイルとが共に固定された偏向器の全体の
移動によって、ＡＶおよびＣＶを零にすることを意図す
るものである。かくして、適当なｄＴｙｄＬ＋＜および
ｄＴＹａｔ、ｙの値が、従来のあるいは本発明の試験受
像管についての第１の操作の際に得られれば、ＡＨとＣ
Ｈとを同時に消去できる。こうして、従来の試験受像管
については、４つの勅きｄ　７８％　ａｒ、、ｄ　Ｌ）
ＩＳｄＬＹ−ｉが機械的に実現されなければならないが
、本発明の場合には、垂直偏向コイル組立体（第３図）
の移動のみを＠械動作することにより、装置を著しく簡
素化した。収束パラメータに関するｄＬイおよびｄＬｙ
の変動の効果は、測定によって簡単に計算され、機械的
変動によっては具体化されない。これは、エラーＡＶお
よびＡＨａびにＣＶおよびＣＨが一般にｄ、およびｄ、
を変えた場合に相互に線形関係にある必要があることを
確認することにより、著しく簡略化される。

ＡＶ（ｄ　ｘ’）＝ｔｘ　・ＡＨ（ｄ　ｘ’）＋Ｇ（ｄ
ｒＫ−ｄＬＭ）ＣＶ（ｄ　ｙ）　−ｆ　（ｄｔｙ−ｄＬ
ア）＋β・ＣＨ（ｄｙ）ｄ８およびｄｙによる、最終的
な受像管に関する振幅および交叉の同時の消去は（ｉＴ
Ｘｄｔ、ｘおよびｄ　Ｔｌｌ　　ｄＬｙの値を、 ＡＶ−α・Ａ　Ｈ＝　Ｅ、→Ｏ ＣＶ−β・ＣＨ＝Ｅｏ−０ とすることにより可能となる。

ＡＶと係数αを付したＡＨの測定値の結合は、エラーシ
グナルＥ２を与え、これはｄ、イーｄｔ、Ｘを調節する
ことを可能とする。なお、関数Ｇは比較的単調である。

即ち　ＡＶ−α・ＡＨ−Ｑ、＝Ｅ、−０これは交叉につ
いても同じであり、以下のようになる。

ＣＶ−β・ＣＨ−Ｑｃ＝ＥＣ−０ となる。

第１０図には、上記のパラメータを処理することを可能
とする回路を表すものである。信号１１３を出力するの
に使われる各測定コイルの対を１００゜１０１．１０２
で表した。測定コイルの対１００は後部領域に由来し、
従って第６図〜第９図の測定コイル対７２．６３に対応
する。測定コイル１ｏｏおよび１０２は第６図〜第９図
のいずれかにおける右側または左側の測定コイルに相当
する。測定コイル対に接続したラインの各々は同等であ
り、また第１０図の設計では上方の回路のみを開示して
いることに注目すべきである。測定コイル対は夫々一群
の増幅器１０３．１０４に接続されている。これらの群
の各々からの出力は微分器１０５−１０７の入力端子に
供給される。この微分器の出力端には上記の磁界の勾配
を与える。これらの値は積分器１０８−１１０に供給さ
れ、積分器の出力端子は、連続成分を出力する回路１１
３の入力端子に一緒に接続される。回路１１３は測定コ
イル対１００−１０２の配置に応じて、４つのバラメー
クのいずれか１つに対するエラー信号を与える。

増幅器１０３は各測定コイル１００ａまたは１００ｂに
対して、作動増幅器１２０を含み、これはその出力端１
２３おいてフィードバック抵抗ｗ４１２１．１２２に接
続されている。

上記増幅器の１つから出される適合した各信号は、入力
が抵抗１３１または１３２を介して送られる作動増幅器
１３０によって構成される微分器の入力端に供給される
。コンデンサ１３３は一次濾波を保証する。各微分器は
次いでフィルタ１０８に供給され、フィルタ１０８は定
位相のバンドパス濾波を構成する。各フィルタは、並列
のＲＣＣ網４１およびアクティブな入力端上の抵抗１４
２により負荷された作動増幅器１４０によって構成され
る。測定コイル１００−１０３からはじまる３つの回路
の出力端は回路１１１の入力端に一緒に結合されている
。この回路の入力端は、作動増幅器１４４で構成される
一群の加算器により供給される。作動増幅器１４４の出
力端は増幅器１４４のアクティブな点に反作用するＲ、
　Ｃ網による積分器を与え、この和は測定コイル対答々
の磁界勾配を線形結合する。段１０３．１０５．１０８
または１０４．１０６．１０９または１０４．１０７．
１１０の各々において、異るゲインによりシミュレート
される勾配を割当てる係数は、上記の前方に対する後方
の影響の係数に対応する。回路１１１において、一群の
加算器１４４の出力は同期デコーダに供給され、他の入
力端は走査あるいは水平または垂直走査のシミュレーシ
ョンに応答し得る主オシレータに接続されている。かく
して、入力端１１２は水平振幅ＡＨおよび水平交叉ＣＨ
の係数に対しては水平走査の周波数を受け、また垂直交
叉および垂直振幅の係数に対しては垂直走査の周波数を
受ける。同期デコーダは検出用出力端から信号を与え、
かくして作動増幅器１４６（上記の係数α・β）近傍に
取付けられたフィルタ回路素子１４７によって連続成分
を濾波する。

第１０図の回路は第３図の計算器３１に対応する。

このような計算器はアナログ法で作製した。他の実施の
態様において、センサ１００．１０１．１０２からの信
号が数値化され、かつディジタル処理器に適当なインタ
ーフェイスによって供給される。このディジタル処理器
は、第１０図に記載されたものと同様なエラー信号を与
えるのに適したディジタル形の第３図に従う信号４２を
処理できる。

第３図の計算器３１は、アナログ計算器における第１０
図のものと同様な４つの回路を含む。第１１図には、第
３図の実施例のモータ３３または２９の制御用の２つの
信号１５６．１５７を発生させる機能を果す。例えば第
１０図の回路によって計算した４つのパラメータの各々
は第１１図の回路の入力端１５２．１５５に供給される
。必要ならば、これを線形結合して、本発明により偏向
器を最適制御する条件を電気的にシミュレートする。

第１１図に示す回路は２つの独立した回路１５０および
１５１を含む。回路１５０は、それぞれ水平振幅信号Ａ
）！用の入力１５２と垂直振幅信号ＶＨ用の入力１５３
とを有する。回路１５１は、同様に、入力１５４て垂直
交叉信号ＣＶを、入力１５５で水平交叉信号を受ける。

これら２つの回路は同一構造であるので、回路１５０の
みを説明する。水平振幅信号を受ける入力１５２は単一
ゲインの反転増幅器に接続される。この増幅器の出力は
、入力１５３とともに作動増幅器１６６によって構成さ
れる加算器に接続される。出力信号１５６は、２つの入
力１５２．１６３の線形結合をなし、その係数は抵抗の
比、すなわち抵抗１６５に対する抵抗１６３および抵抗
１６５に対する抵抗１６４の比に依存する。このように
して形成された信号によって、第３図に示すモータ２９
または３３の給電インターフェイスを付勢することがで
きる。

第１２図は、それ自体アナログ回路で示した第３図の計
算器の付属回路を示す。本発明の方法を実施するまえに
、水平および垂直の磁界が実際に直交する、またはぼり
直交するようにするため、水平および垂直コイルの直交
化の調整を行う必要がある。このため、垂直コイルを水
平磁界のセンサとして用いる。ライン２０２から送られ
る垂直振幅３４はコネクタ２０１によって切所される。

従って垂直コイル２００はトランス２０３の入力に接続
する。

トランス２０３は、本発明の好ましい実施例では、の巻
線の比が２５０であるように構成されている。

トランス２０３の出力は高利得増幅器２０４に接続する
。この増幅器の出力は同期デテクタ２０５に接続されて
いる。デテクタ２０５の他の入力は水平発振器３７に接
続している。このようにして、第１１図に示すように連
続成分２０６のフィルタセルを使用し、これが誤差信号
を出力し、これによってセパレータ２５に対する垂直コ
イル２４の回転を消去させる。

第３図で図示を省略した制御機構は当業者に容易に実現
できるものである。

調整が実行されると、調整を保持するためフェライト２
４がセパレータ上に少なくとも一時的に固定される。本
実施例では、フェライトはセパレーク上に熱接着する。

【図面の簡単な説明】 第１図は偏向器を備えた受像管の背面図であり、第２図
は第１図の受像管の部分断面図であり、第３図は本発明
の方法を実施するための装置の概略図であり、 第４図は本発明の方法で用いる第１のテストパターンで
あり、 第５図は本発明の方法で用いる第２のテストパターンで
あり、 第６図乃至第９図は磁界の勾配の測定ヘッドの機能を示
す概略図であり、 第１０図は本発明の装置の第１の実施例の概略図であり
、 第１１図は本発明の装置の第２の実施例の概略図であり
、 第１２図は本発明の装置の第３の実施例の概略図である
。 （主な参照番号） １・・パネノベ　　　２・・ファンネノベ３・・偏向器
、　　　５・・ネック、 ６・・電子銃組立体、１０・・垂直偏向コイル、１１．
１２．１３・・セパレータ、 １７・・水平偏向コイノペ　２０・・測定ヘッド、２１
・・偏向器、　２２・・センタリング装置、２３・・位
置付は装置、　２４・・フェライト、２５・・セパレー
タ、　２７．４０・・ンユー、２９．３３・・電動機、
　３１・・計算機、３２・・制御装置、 ３４．３５．３８・・垂直走査の給電系、３６．３７．
３９・・水平走査の給電系、１００．１０１．１０２・
・測定コイル、１０３．１０４．１０４ａ・・増幅器、
１０５．１０６．１０７・・微分器、

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. （１）３つのインライン電子銃を備えた受像管の偏向器
   の調整方法であって、 磁界の勾配の測定ヘッド２０上に偏向器２１を配置し、 少なくとも該偏向器の後方および前方の区域における勾
   配を測定し、 垂直コイルの支持体をなすフェライト２４を該ヘッドの
   中心軸４１の周りに移動して、垂直および水平磁界の直
   交化を行い、 該ヘッドの中心軸４１と垂直および水平磁界の平均対称
   軸との角度偏差に比例する電圧を印加することによって
   受像管上の偏向器の整列化をシミュレーションし、 該ヘッドの中心軸と直交する平面内の少なくとも一方向
   （ＸまたはＹ）に該フェライトを移動して、該角度偏差
   に比例した電圧を消去し、 少なくとも一時的に該フェライトを水平コイルに対して
   固定する、 ことを特徴とする偏向器の調整方法。
2. （２）まず、走査発振器３６、３７に接続した水平コイ
   ルにより垂直コイル内に誘導された電流を測定すること
   によって、水平磁界と垂直磁界との直交化を調整し、次
   いで垂直コイルを支持するフェライト２４を回転して該
   誘導電流を消去することを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載の偏向器の調整方法。
3. （３）水平振幅パラメータＡＨ、垂直振幅パラメータＡ
   Ｖ、水平交叉パラメータＣＨ、垂直交叉パラメータＣＶ
   の各々に対して、偏向器の後方での１つの磁界の勾配、
   および互いに中心軸４１に対して対称な偏向器の前方で
   の２つの磁界の勾配を測定し、これらのパラメータの各
   々は上記３つの勾配の線形結合として求められ、該線形
   結合の係数は該偏向器の後方および前方区域に関係する
   影響係数であることを特徴とする特許請求の範囲第１項
   記載の偏向器の調整方法。
4. （４）水平振幅パラメータＡＨおよび垂直振幅パラメー
   タＡＶの線形和からなる誤差信号を消去するように、軸
   Ｘに従うフェライト２４の移動を制御することを特徴と
   する特許請求の範囲第３項記載の偏向器の調整方法。
5. （５）垂直交叉パラメータＣＶおよび水平交叉パラメー
   タＣＶの線形和である誤差信号を消去するように、軸Ｙ
   に従うフェライト２４の移動を制御することを特徴とす
   る特許請求の範囲第３項記載の偏向器の調整方法。
6. （６）特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれかに記
   載の方法を実施する偏向器の調整装置であって、 偏向器２１を支持し且つ位置決めする手段２２、２３と
   、 該偏向器の前方および後方の区域で磁界の勾配を検出す
   るセンサを備える測定ヘッド２０と、水平コイルおよび
   垂直コイルに各々接続された水平走査用給電手段３６、
   ３７と垂直走査用給電手段３４、３５と、 水平振幅パラメータＡＨ、垂直振幅パラメータＡＶ、垂
   直交叉パラメータＣＶ、水平交叉パラメータＣＨの計算
   手段と、 誤差信号を消去するため、装置の中心軸２１と直交する
   平面内でセパレータ２５上を該フェライト２４を移動（
   ＸまたはＹ）させるために使用する信号を上記４つのパ
   ラメータから決定する回路３２と、を備えることを特徴
   とする偏向器の調整装置。
7. （７）上記コイルは一対のコイル１００ａ、１００ｂで
   あることを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の偏
   向器の調整装置。
8. （８）該測定ヘッド２１は、該偏向器の後方に、該中心
   軸４１の近傍に２つのセンサ７２、６３を備え、該偏向
   器の前方に、水平走査の軸ｘまたは垂直走査の軸ｙを含
   み、軸ｚ４１に直交する２つの平面内に８つのセンサ６
   ４、６５、７０、７１、８０、８１、９０、９１を備え
   、該センサは、２つづつ互いに直交する磁界を検出する
   ことを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の偏向器
   の調整装置。
9. （９）上記計算手段３１は、計算すべき上記４つのパラ
   メータの各々に対して、 各センサ１００による磁界の勾配を計算する回路１０３
   、１０５と、 各回路１０３、１０５に対する一定位相の帯域フィルタ
   １０８と、 後方区域のセンサ１００および、特定のパラメータ用の
   前方区域のセンサ１０１、１０２からの磁界の勾配の線
   形結合をつくる加算器１４４と、 求めるべきパラメータに従い水平または垂直周波数に同
   期したデーコーダ１４５と、 求めるべきパラメータを示す連続成分１１３を供給する
   フィルタ１４６と、 を備えることを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載
   の偏向器の調整装置。
10. （１０）上記回路３２は、移動ｘに関連した回路１５０
    と、移動ｙに関連した回路１５１とを備え、回路１５０
    は水平振幅パラメータＡＨおよび垂直振幅パラメータＡ
    Ｖの線形結合を形成し、回路１５１は水平交叉パラメー
    タＣＨおよび垂直交叉パラメータＣＶの線形結合を形成
    することを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の偏
    向器の調整装置。
11. （１１）回路１５０、１５１の各々は、その２つの入力
    １５２、１５３と、抵抗１６３、１６５または１６４、
    １６５に対して決定された係数との和をつくることを特
    徴とする特許請求の範囲第１０項に記載の偏向器の調整
    装置。
12. （１２）滑動手段２７、４０によって該フェライト２４
    を駆動するモータ３３、２９を備え、該フェライトの移
    動により該回路３２の出力部１５６、１５７の信号を消
    去することを特徴とする特許請求の範囲第１０項に記載
    の偏向器の調整装置。
13. （１３）該偏向器２１が水平の支持部２３ａに支持され
    ていることを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の
    偏向器の調整装置。
14. （１４）上記支持および位置決め手段２２、２３は該偏
    向器の後方のクラウンを把持する自動位置決め把持具を
    備えることを特徴とする特許請求の範囲第６項に記載の
    偏向器の調整装置。