JPH0371733B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は３つのライン電子銃を備える受像管用
の偏向器に関する。

より詳細には、本発明のこの種の受像管用の偏
向器の調整方法およびその装置に関する。本発明
は、大規模の偏向器の製造分野に適用され、特
に、受像管に偏向器を取付ける工程で適用され
る。

従来技術の方法に従うと、良質のカラー画像の
形成用の走査を行うため水平および垂直の偏向コ
イルを備えた磁気偏向器が製造されている。これ
らの公知の偏向器では、磁界の水平ラインを形成
することによつて、以前は補助回路により行われ
ていた画像の自動収束および種々の補正を行う。
しかしながら偏向器の極めて正確な調整を行うこ
とが必要である。このような偏向器は、円錘形の
セパレータ上に、垂直走査用の円環状のコイルを
支持するフエライトを備える。このセパレータの
内部には水平走査用のサドル形のコイルが配置さ
れている。フエライトはセパレータ上を可動に配
置されている。こうした偏向器は次の２つの条件
を満たすときに作動する。

− すなわち、２つのコイルが互いに正常に配置
されていること、 − 偏向器自体が、それが載架される受像管のネ
ツク部に正常に配置されていること、 従来の偏向器の調整は２つの操作により行つて
いた。第１の操作は偏向器の製造時に行つてお
り、このとき偏向器はこの調整を固定するように
固着される。第２の操作は各種の構成要素を受像
管に組立てるときに行つていた。

この公知の調整方法の主な欠点は、調整用のテ
ストパターンを表示するために第１の操作のとき
に試験用の受像管を使用することである。このた
め、サンプル選択の統計的手法に従い、第１の操
作用の試験用の管をピツクアツプしていた。これ
らの試験用の受像管の各々は、第１の操作により
偏向器の調整を行い、それを他の管にも適用でき
る平均的特徴を示すものである。製造後、各偏向
器は第１の操作による調整ラインに導かれる。オ
ペレータは薄暗い室内に配置された試験用の受像
管のネツクに偏向器を取付け、偏向器のコイルを
テストパターン発生器のコネクタに接続する。こ
うしてテストパターンを表示することによつて、
４つの収束欠陥、すなわち、垂直および水平の振
幅と垂直および水平の交叉を測定する。第１の操
作ではテストパターンの４つの欠陥を是正する。
しかしながら、こうした調整には次のような問題
がある。

− 試験用受像管の選択、 − オペレータにより画像上の寸法欠陥を目視観
察すること、 − 操作が人によるので緩慢であること、 − 大規模の偏向器の製造の場合、多くの調整場
所を設ける必要があること、 − 各調整の原価が高いこと、 本発明の目的は従来技術の問題を解決すること
にあり、より詳細には複雑であり且つ誤差を含む
恐れのある試験用の受像管の選択を必要としな
い、受像管用の偏向器の調整方法とその装置を提
供することにある。

本発明の他の目的は、調整対象に応じて各種の
目視評価をテストパターンで行う必要のない調整
方法を提供することにある。

本発明のさらに別の目的は調整の第１の操作で
オペレータの介入を要しない方法を提供すること
にある。すなわち、調整速度を高め、５倍の時間
を節約することにある。

さらに本発明の目的は、従来方法と比べてはる
かにコストの低い調整方法と装置を提供すること
にある。

第１の操作後、偏向器は固着される。すなわ
ち、垂直コイルを支持するフエライトがセパレー
タ上に固定され、従つて水平コイルに対する位置
が固定される。このように調整された偏向器は、
付加的な処理を留保して、受像管のメーカーに発
送される。受像管のメーカーは第２の操作、すな
わち受像管に偏向器を適合させる操作を行う。こ
の場合でも、上記と同様のラインでオペレータは
受像管のネツクに偏向器を取付け、第１の操作と
同様のテストパターンを表示する。こゝでもオペ
レータはテストパターン上の上記した４つの欠陥
を最小とするため、水平走査軸または垂直走査軸
に従つて偏向器を軸方向に移動することによつて
調整を行う。このため、偏向器を後部で固定し
て、上記の２軸方向に偏向器を移動可能なアーム
を操作して行う。

この第２の操作には次のような問題点がある。
すなわち、 − 第１の操作が試験用の受像管を統計的に選択
して行うかぎり、所定の偏向器用の特定の受像
管は可成り変動した特性のものでありうる。

− 上記４つの欠陥の調整は２つの独立したパラ
メータでのみ行われうる。すなわち、オペレー
タは、偏向器を水平走査方向および垂直走査方
向に沿つて移動することによつて、未定の４つ
の欠陥の平衡を行う必要がある。

本発明の目的は、第１の操作の試験用の受像管
と、偏向器が最終的に取付けられる受像管との特
性の隔たりを解消することにある。

本発明のさらに別の目的は、調整の第２操作の
一部を第１操作で行うことによつてて、上記の４
つの欠陥の変動を減少せしめて、第２操作でのオ
ペレータの調整作業を軽減することにある。

本発明に従うと、３つのインライン電子銃を備
えた受像管の偏向器の調整方法であつて、 磁界の勾配の測定ヘツド上に偏向器を配置し、
少なくとも該偏向器の後方および前方の区域にお
ける勾配を測定し、 垂直コイルの支持体をなすフエライトを該ヘツ
ドの中心軸の周りに移動して、垂直および水平磁
界の直交化を行い、 該ヘツドの中心軸と垂直および水平磁界の平均
対称軸との角度偏差に比例する電圧を印加するこ
とによつて受像管上の偏向器の整列化をシミユレ
ーシヨンし、 該ヘツドの中心軸と直交する平面内の少なくと
も一方向（ＸまたはＹ）に該フエライトを移動し
て、該角度偏差に比例した電圧を消去し、 少なくとも一時的に該フエライトを水平コイル
に対して固定する、 ことを特徴とする偏向器の調整方法が提供され
る。

さらに本発明に従うと、上記の方法を実施する
調整装置であつて、 偏向器を支持し且つ位置決めする手段と、 該偏向器の前方および後方の区域で磁界の勾配
を検出するセンサを備える測定ヘツドと、 水平コイルおよび垂直コイルに各々接続された
水平走査用給電手段と垂直走査用給電手段と、 水平振幅パラメータAH、垂直振幅パラメータ
AV、垂直交叉パラメータCV、水平交叉パラメ
ータCHの計算手段と、 誤差信号を消去するため、装置の中心軸と直交
する平面内でセパレータ上を該フエライトを移動
（ＸまたはＹ）させるために使用する信号を上記
４つのパラメータから決定する回路と、 を備えることを特徴とする偏向器の調整装置が提
供される。

本発明の他の特徴および効果は添付の図面を参
照する以下の実施例の記載より明らかとなろう。

実施例 第１図に、受像管の背面図を示した。受像管
は、末端がネツク５に結合されたフアンネル２に
取付けられるパネル１を持つ。ネツク５はそれぞ
れ順次赤、緑、青色とされる３つの電子銃が一例
に配置されて構成される組立て体６を収容してい
る。受像管のネツクの上に偏向器３が配置される
が、その一般的形状は、ネツクの円筒部とパネル
１の背面のフアンネル２との間の接合部に位置す
るフランジ４を有した形状となつている。

この図で、特に上記の第２の調整操作によつて
提起される問題が理解される。実際の構造では、
受像管には、偏向器３の収束軸に対応する中心軸
７がある。偏向器３の取付け時には、偏向器は、
一般に一致するように配置される必要がある軸７
に対して、目的となる角９をなす固有の磁気軸８
に従つて配置される。機械的な方法はこの種の調
整には無効であるので、従来の技術によれば、パ
ネル１に表示されるテストパターンの変形によつ
て管の磁気的様相、特にその収束を検査すること
が知られている。このため、普通の時計の表示法
12H、3H、6H、9Hによつてパネルの４つの特
性点が指定される。軸９にも基準の３つの直交軸
ｘ，ｙ，ｘが付されている。ｚ軸は無偏向時に銃
から出る電子ビームが一般に通過する軸であり、
ｘ軸は水平走査方向、ｙ軸は垂直走査方向をほぼ
表わす。

第２図に第１図に示した受像管の部分断面図を
示した。偏向器は、部分的に破線で示された管の
ガラス管１６に設置される。これは主に第１コイ
ル１０および第２コイル１７を支持するプラスチ
ツク製セパレータ１１−１３を備える。第１コイ
ル１０はほぼ円錘形状のフエライト鉄心の周りに
配置される筒状または環状コイルによつて構成さ
れる。コイル１７は、受像管のフアンネルとの間
の自由空間１５内のセパレータ１１の収納部に配
置される、サドル形に熱成形されたコイルによつ
て構成される。第１コイル１０は垂直走査、第２
コイル１７は水平走査にあてられる。このような
偏向器はサドルコア型偏向器と言われる。図から
ｚ軸に沿つて水平偏向中心Ｌおよび垂直偏向中心
Ｔを織別できることが分る。構造上、収束上の欠
点を最小とするため、２つの水平偏向中心Ｌおよ
び垂直偏向中心Ｔは、受像管の軸９でもあるこの
ｚ軸に一致するよう配置されるのが望ましい。こ
のためサドルコア型偏向器のタイプでは、２つの
調整パラメータを持つ。すなわちｘ軸に、他方で
はｙ軸に沿つてのコイル１０の変位である。事
実、コア１０とセパレータ１１との間に、ミリメ
ートル・オーダーの変位を可能ならしめるギヤツ
プ１４が存在することが注目される。上記の第１
の操作によつて調整を可能ならしめるのは、ｘま
たはｙに沿つてのこの変位操作である。

第３図に、本発明を適用する装置の全体図を示
した。本発明に従う装置は主に、測定ヘツド２０
に対する偏向器２１のセンタリング装置２２およ
び位置付け装置２３を備える。これらはまた、位
置付け、センタリング装置２７−２９および３
３，４０を備える。偏向器が測定ヘツド２０上に
配置される場合、例えば自動センタリング・クリ
ツプによつて構成されるセンタリング装置２２お
よび位置付け装置２３は、背後から、すなわち電
子ビームの入口区域とも言われる偏向器の最小断
面図から偏向器をつかむ。偏向器は測定ヘツド２
０を取囲むように測定装置の支え面２３ａの上に
置かれる。偏向器は、セパレータ２５に対して可
動のフエライト上に取付けられる垂直偏向コイル
を構成している部分２４を備えており、且つセパ
レータ２５に取付けられる水平偏向コイルを有し
ている。可動部分２４は、ほぼ直交している第１
軸ｘおよび第２軸ｙにそれぞれ沿う水平巻線およ
び垂直巻線の位置付け、センタリング装置２７−
２９および３３，４０によつて運動させることが
できる。

本発明に従う調整装置においては、主に本発明
の方式に特に合うように第１の調整操作を行うこ
とが問題である。このため、センタリングおよび
サポート装置２２，２３によつて固定されるその
セパレータ２５に対して、フエライト２４をｘ，
ｙ軸に沿つて変位されることが問題である。測定
ヘツド２０は理想磁気軸をシミユレートする中心
軸４１に中心軸が一致するように配置される。軸
４１は偏向器の中心軸、非偏向電子ビームの伝播
方向と同じである。測定を行うため２つの給電系
列が用意されるが、一方は垂直走査に関係する３
４，３５，３８であり、もう一方は水平走査に関
係する３６，３７，３９である。各系列は垂直走
査周波数または水平走査周波数の発振器、増幅
器、垂直または水平巻線の出力線への接続を備え
る。望ましい実施例では、非多重水平および垂直
走査とそれぞれ両立し得る正弦周波数信号が選ば
れたが、垂直走査は285Hzに、水平走査は3000Hz
にシミユレートされている。

測定ヘツドから出たデータ３０は、従来技術で
は、上記のモニタ管に表示されるテストパターン
によつて測定されていた係数を算定する計算器３
１に供給される。これら４つの主要パラメータは
第４図および第５図に示される。同様に第６図か
ら第９図に本発明に従う測定ヘツドの構造が示さ
れる。計算機はヘツド軸と偏向器軸との角変位に
比例する電圧のアナログまたはデイジタル測定値
である誤差信号４２を供給する。これは４つのパ
ラメータを最適分布させるｘ軸の変位およびｙ軸
の変位を決定可能ならしめる。第１の実施方法で
はこの変位を行うため、操作者は例えば検流計列
で読まれる誤差信号４２がなくなるまで、フエラ
イト２４の位置を変位ねじによつて手動調節す
る。

もう１つの実施例では、誤差信号４２はｘ軸に
ついては、シユー２７またはｙ軸についてはシユ
ー４０を動かすため、電動機２９または３３の給
電制御を行う制御装置３２に供給される。シユー
２７または４０はフエライトを押返すことを可能
ならしめる。偏向器上のフエライトの動きは従つ
て、軸４１、すなわちほぼ偏向器の回転軸に対す
る直交面内に常にある。制御装置３２から出る信
号は、専門家に知られているように、電動機の性
質に依存している。

第３図に、位置付けおよびセンタリング装置を
概略的に示した。こうした装置は主に自動センタ
リング・クリツプ２２，２３によつて構成される
が、その形状は偏向器２１の後部リムの保持を可
能ならしめるようになされている。クリツプ２
２，２３が作動されると、その形状によつて偏向
器後部のセンタリングおよび固定を助けることが
できる。

第４図および第５図に、偏向器を調整する従来
の技術に則つて利用される１連のテストパターン
が表示されるスクリーン５７を示した。これら２
つの図の助けを借りて、本発明によつて用いられ
る４つの特性パラメータを説明しよう。

第４図に、スクリーンの中心５２に位置される
２つの同心十字によつて構成されるテストパター
ンをスクリーン５７の内側に示したが、第１の赤
十字は直線５０および５４、第２の青十字は直線
５１および５３によつて構成される。この交叉テ
ストパターンは水平交叉および垂直交叉パラメー
タを測定可能ならしめる。スクリーン５７では、
ｘ，ｙ軸に関係ある４つの基点3H，6H，9H，
12Hが定義された。青十字および赤十字の末端の
間の偏差は、水平に対する垂直の位置付け不良に
よつて引起される偏向不良を測定するものであ
る。かくして十字の垂直端の偏差DX(11)、DX(6)、
および２つの同一十字の水平端の偏差DY(9)、
DY(3)が定義される。そして、次の関係によつて
水平交叉係数を定義することができる。

CH＝１／２（DY(9)−DY(3)） 同様に次の関係によつて垂直交叉も定義される。

CV＝１／２（DX(12)−DX(6)） CHおよびCVの計算の中に含まれる偏差が偏向
の最大値に対応していることが注目される。

第５図には、スクリーン５７は赤、青の２つの
長方形から成るテストパターンを示す。赤の長方
形５６および青の長方形５５は２つの振幅係数を
測定可能ならしめる。すなわち水平振幅係数AH
と垂直振幅係数AVである。先のように、ｘ，ｙ
軸に関する記号を持つ偏差DX(3)，DX(9)，DY
(12)，DY(6)が定義される。

水平振幅パラメータAHは次の関係によつて定
義される。

AH＝１／２（DX(3)−DX(9)） 垂直振幅パラメータAVは次の関係によつて定義
される。

AV＝１／２（DY(12)−DY(6)） 本発明に従う方式では、操作者が第１回目に偏
向器のいわゆる調整時に、第２回目にその受像管
への偏向器の取付け時に見積もらねばならないこ
れら８つのパラメータの測定から解放される。そ
のため、これらの測定がｘ，ｙ軸を含む平面内の
最大偏向に対応するという事実が利用される。第
６図から第９図に、第４図および第５図に描かれ
たテストパターンを利用しないですむように磁界
を測定する偏向器断面を示した。第６図から第９
図の各々に示された図面では、偏向器の形状６０
だけを示した。電子ビームはｚ軸に沿つて偏向器
の後部領域に入る。この後部領域は電子の末端出
口区間よりも小さい区間である。

本発明によつて利用される４つの特性パラメー
タの定義に際し、幾何学的要素が相違することが
注目される。従つて、各測定点について、偏向端
にある赤の飛跡と青の飛跡との間の偏差を知るこ
とが問題であるが、これら２つの飛跡は３本のビ
ームの中で互いに最も隔たつたものである。偏向
器の出口領域では従つて、磁界の差を測定するこ
とができるプローブを配置しなければならない。
この勾配測定が偏向器調整の４つのパラメータの
定義の中に入つてくる差を示すことが可能である
ことが発見されたことが、本発明のメリツトであ
る。

第６図に、水平振幅パラメータAHに利用され
る各磁界勾配の測定区域を指示する断面図を示
す。偏向器の出口領域には、ｘ，ｚ軸を含む面に
コイル対６４，６５が配置される。しかしなが
ら、対64は衝激点9HOOへ向う２本の未端ビーム
に作用する磁界勾配を測定するためのものであ
り、コイル対65はスクリーンの点3HOOに向う
赤、青の２本の末端ビーム６１，６２に作用する
磁界勾配を測定するためのものである。本発明の
方式を適用する測定装置において、受像管なし
に、ビーム６１，６２がシミユレートされるだけ
になることはもちろんである。測定装置を横横切
る負荷はない。偏向器がその入口領域にもたらす
誤差をより特定的に知るため、偏向器の後部区域
の影響を磁界勾配係数に反映可能ならしめるコイ
ル対63が、ｚ軸の近くに配置される。ｘ，ｚ平面
では、コイル対６４，６５はほぼ偏向領域の縁に
配置される。これらは選択基準が後述される局所
内の全部区域に置かれる。水平振幅と言われるパ
ラメータAHの測定のため、コイルは軸がｙ軸に
平行な小ソレノイドによつて構成される。

第７図に、水平交叉係数CHの測定用コイルの
配置図を示した。コイルはｘ軸に平行な軸のソレ
ノイドであり、先のようにｘ，ｚ平面に配置され
る。

第８図に、垂直振幅係数AVの測定用コイルの
配置図を示した。コイルはｙ，ｚ平面に配置さ
れ、ｘ軸に平行な軸である。偏向器の全部に置か
れるコイル対８０，８１は従来の技術のテストパ
ターンでは12HOOおよび6HOOの偏向点に対応
する。

後部コイル対７２は、水平交叉パラメータCH
の測定のため、第７図で既に用いられているコイ
ル対によつて構成される。第９図に、垂直交叉パ
ラメータCVの測定用コイルの配置図を示した。
コイルはｙ，ｚ平面に置かれ、12HOOの偏向に
関する磁界勾配を測定するコイル対９０、6HOO
の偏向に関するコイル対９１を備える。コイル対
６３は第６図の水平振幅パラメータの測定に用い
られるコイルによつて構成される。

第６図から第９図において、測定用コイルの各
対は完全に同一の２つの測定コイルを含み、従つ
てその位置は各対のコイル毎に、ａまたはｂの符
号を付すことにより区別されている。

各測定コイルはチヤツク上に設けられた４つの
層に分割された20個の螺旋体によつて構成されて
いる。本発明によれば、測定ヘツドの頭部は合成
材料製本体で構成され、そこで測定コイルが埋設
されている。一態様において、測定コイルは１／
100の精度で開口の後方において上記本体内に配
置されている。本発明は他のすべての種類の磁界
感応センサ素子を使用できる。

従つて、各パラメータは３対の測定コイルによ
つて測られる。実際には軸OZに沿つた磁界の２
度の測定によつて行うことに相当する。本発明の
１変法によれば、水平または垂直の偏り中心近傍
の領域で、第３の測定を行うために、補助的な一
対の測定コイルを設ける。

好ましい実施の態様では、本発明の装置の測定
ヘツドの頂部は10対の測定コイルを含み、これは
後部領域の２対と前方の領域の８対に分けられ
る。偏り量が制限されたある数の点によつて、磁
界のある程度の勾配により収れんする非対称欠陥
を精度よく測定することは、これらの点即ちセン
サのｘ，ｙ並びにｚの位置の正確な選択に大きく
依存している。

ｘ，ｙについては、選択は簡単であり、センサ
の２つの測定コイルの各々は夫々赤および青の軌
道上に配置され、着目しているｚの値について
は、軌道は基準点3H−9H−6H−12Hで示され
るものである。

これら軌道は、標準偏向器の全偏り量におい
て、予め実験室内で掛けられた定磁界の測定から
計算により求めておく。

ｚに沿つた“測定面”の選択は極めて微妙であ
り、かつ決定的な要因となる。

軸OZに対する偏向磁界の非対称性は、実際上
は支持装置２２−２３によつて定まるが、種々の
要因で変化する。該要因は、特に移動による偏向
コイルの単純な偏心、OZに関する傾斜、もしく
は偏向コイル軸の不正確な組合せ、あるいはまた
水平偏向コイルや垂直偏向コイルの不規側性、あ
るいはフエライトまたは水平偏向コイルの変形な
どであり、後者の型の欠陥はｚに沿つて比較的局
在化したものであろう。

各方向での偏向磁界の一次近似によれば、各
Ｘ，Ｙ，（Ｚ）面内における以下の成分からなる。

(i) 定磁界：H₀（ｚ） (ii) 自己収歛、緩衝補正などを決定する成分H₂
（ｚ）：この関数H₂（ｚ）は偏向器の各目上の特
性を規定する； (iii) 成分H₁（Ｚ）：これは理想的には零でなけれ
ばならない。というのはこれは上記の非対称性
を表しているからである； (iv) 物体によつて制限された影響を有する、より
高い強度の成分。

軸OXに沿つた各Ｚに対して以下の関係が成立
する： H_y＝H₀（ｚ）＋H₁（ｚ）・Ｘ＋H₂（ｚ）・X²＋…
…またOyに沿つた垂直方向では V_x＝V₀（ｚ）＋V₁（ｚ）・Ｙ＋V₂（ｚ）・Y²……と
なる。

ここでH_yおよび水平方向の振幅パラメータAH
を考察すると、勾配のセンサにおける各測定コイ
ルの測定磁界は： (a) 赤（左端部の電子銃）につき HR＝H₀＋H₁（ｚ−ａ）＋H₂（ｘ−ａ）² (b) 青（右端部の電子銃）につき HB＝H₀＋H₁（ｘ＋ａ）＋H₂（ｘ＋ａ）² となる。ここで2aは赤−青軌動のずれに等しく、
ｘは偏向器の軸に対する位置である。

支持装置２２−２３で与えられた受像管の理想
的な軸に対する、3Hで示された中心軌動（緑）
の位置はＸであり、これは以下の関係をもつ。

ｘ＝Ｘ−ｄ ここでｄはこの軸と偏向器の磁界軸との間に与
えられるＺからの偏差である。

この場合、センサ3Hによつて得られる勾配は （HB−HR）₃＝2aH₁＋４（Ｘ−ｄ）aH₂ となり、また9Hに対しては以下のようになる。

（HB−HR）₉＝−2aH₁＋４（Ｘ＋ｄ）aH₂ 局部的な強さの欠陥を表す勾配3H−9Hの差AH
は以下のようになる。

AH＝ｋ〔（HB−HR）₃−（HB−HR）₃〕 ＝ｋ（4aH₁−8daH） 後方領域において、センサ3Hを実際上は偏向
しない軌道は、9Hに対するセンサと一致する。
従つて、単一のセンサが実際には使用される。出
力される信号は、1/2であり、このゲインが対応
する増幅回路に供給される。

上記AHの関係式は、偏差ｄが非対称性H1を
部分的に補償し得ることを示している。即ち、放
物線状成分H₂の偏心によつて補償されることを
示している。これは確かにdz断面内に局在して
いる。事実、全軌道に亘りｚについて積分する
と、８〓ｄ（ｚ）ａ（ｚ）H₂（ｚ）dzは非対称性の
和４〓ａ（ｚ）・H₁（ｚ）dzを補償することができ
る。一般に、関数ｄ（ｚ）は簡単な形をしており、
基準軸に対する偏向器の傾斜または移動に対応し
ている。

関数ａ（ｚ）は極めて単調で、磁束の収れんを
表している。また、これはH₂およびH₁の存在す
る領域で変化する。

関数H₁（ｚ）およびH₂（ｚ）は、逆に極めて複
雑である。

H₂（ｚ）は製品設計の一部に属し、完全に既知
であり、安定であるが、ｚに沿つて符号が２度変
化する。垂直方向のV₂は多くの場合単調で、常
に負である。得られたチヤンネルのゲインの釣合
いAR−AVはこの事実を考慮することを可能と
する。

関数H₁とV₁とは上記欠陥を表し、製造方法お
よび偏向技術に依存する。

各型の製品に対して、作成された実験的分析の
みが測定面の数、その位置および場合によつては
その釣合い、（前−後の相対的係数）を決めるこ
とを可能とする。

我々の経験は、完全な２つの面（例えば第６
図、第７図に記載された装置の３対の測定コイ
ル）が少なくとも必要とされることを我々に教示
してくれる。本発明の１変形によれば、補助的な
測定点が偏向中心領域に加えられるが、これはパ
ラメータのほんの一部に対してのみ行われる。

上で水平方向の振幅パラメータについて述べら
れたすべてのことが、同様にAV，CH，CVにつ
いても当てはまる。

かくして、ｘおよびｙに沿つて、垂直偏向並び
に水平偏向に以下の４つの偏心があることがわか
る。

d_TX・d_Ty・d_LX・d_Ly これは夫々AV，CV，AHおよびCHをコントロ
ールできる。

画成された受像管の制御の第２の操作は、水平
偏向コイルと垂直偏向コイルとが共に固定された
偏向器の全体の移動によつて、AVおよびCVを
零にすることを意図するものである。かくして、
適当なd_Tx−d_Lxおよびd_Ty−d_Lyの値が、従来のあ
るいは本発明の試験受像管についての第１の操作
の際に得られれば、AHとCHとを同時に消去で
きる。こうして、従来の試験受像管については、
４つの動きd_Tx、d_Ty、d_Lx、d_Ly、が機械的に実現
されなければならないが、本発明の場合には、垂
直偏向コイル組立体（第３図）の移動のみを機械
動作することにより、装置を著しく簡素化した。
収束パラメータに関するd_Lxおよびd_Lyの変動の効
果は、測定によつて簡単に計算され、機械的変動
によつては具体化されない。これは、エラーAV
およびAH並びにCVおよびCHが一般にd_xおよび
d_yを変えた場合に相互に線形関係にある必要があ
ることを確認することにより、著しく簡略化され
る。

AV（dx）＝α・AH（dx） ＋Ｇ（d_Tx−d_Lx） CV（dy）＝ｆ（d_Ty −d_Ly）＋β・CH（dy） d_xおよびd_yによる、最終的な受像管に関する振幅
および交叉の同時の消去はd_Tx−d_Lxおよびd_Tx−
d_Tyの値を、 AV−α・AH＝E_a→０ CV−β・CH＝E_c→０ とすることにより可能となる。

AVと係数αを付したAHの測定値の結合は、
エラーシグナルE_aを与え、これはd_Tx−d_Lxを調節
することを可能とする。なお、関数Ｇは比較的単
調である。

更に、ある場合において名令Ｑは零ではない。

即ち AV−α・AH−Q_a＝E_a→０ これは交叉についても同じであり、以下のよう
になる。

CV−β・CH−Q_c＝E_c→０ となる。

第１０図には、上記のパラメータを処理するこ
とを可能とする回路を表すものである。信号１１
３を出力するのに使われる各測定コイルの対を１
００，１０１，１０２で表した。測定コイルの対
１００は後部領域に由来し、従つて第６図〜第９
図の測定コイル対７２，６３に対応する。測定コ
イル１００および１０２は第６図〜第９図のいず
れかにおける右側または左側の測定コイルに相当
する。測定コイル対に接続したラインの各々は同
等であり、また第１０図の設計では上方の回路の
みを開示していることに注目すべきである。測定
コイル対は夫々一群の増幅器１０３，１０４に接
続されている。これらの群の各々からの出力は微
分器１０５−１０７の入力端子に供給される。こ
の微分器の出力端には上記の磁界の勾配を与え
る。これらの値は積分器１０８−１１０に供給さ
れ、積分器の出力端子は、連続成分を出力する回
路１１３の入力端子に一緒に接続される。回路１
１３は測定コイル対１００−１０２の配置に応じ
て、４つのパラメータのいずれか１つに対するエ
ラー信号を与える。

増幅器１０３は各測定コイル１００ａまたは１
００ｂに対して、作動増幅器１２０を含み、これ
はその出力端１２３おいてフイードバツク抵抗網
１２１，１２２に接続されている。

上記増幅器の１つから出される適合した各信号
は、入力が抵抗１３１または１３２を介して送ら
れる作動増幅器１３０によつて構成される微分器
の入力端に供給される。コンデンサ１３３は一次
濾波を保証する。各微分器は次いでフイルタ１０
８に供給され、フイルタ１０８は定位相のバンド
パス濾波を構成する。各フイルタは、並列のRC
網１４１およびアクテイブな入力端上の抵抗１４
２により負荷された作動増幅器１４０によつて構
成される。測定コイル１００−１０３からはじま
る３つの回路の出力端は回路１１１の入力端に一
緒に結合されている。この回路の入力端は、作動
増幅器１４４で構成される一群の加算器により供
給される。作動増幅器１４４の出力端は増幅器１
４４のアクテイブな点に反作用するRC網による
積分和を与え、この和は測定コイル対各々の磁界
勾配を線形結合する。段１０３，１０５，１０８
または１０４，１０６，１０９または１０４，１
０７，１１０の各々において、異るゲインにより
シミユレートされる勾配を割当てる係数は、上記
の前方に対する後方の影響の係数に対応する。回
路１１１において、一群の加算器１４４の出力は
同期デコーダに供給され、他の入力端は走査ある
いは水平または垂直走査のシミユレータに応答し
得る主オシレータに接続されている。かくして、
入力端１１２は水平振幅AHおよび水平交叉CH
の係数に対しては水平走査の周波数を受け、また
垂直交叉および垂直振幅の係数に対しては垂直走
査の周波数を受ける。同期デコーダは検出用出力
端から信号を与え、かくして作動増幅器１４６
（上記の係数α・β）近傍に取付けられたフイル
タ回路素子１４７によつて連続成分を濾波する。

第１０図の回路は第３図の計数器３１に対応す
る。このような計算器はアナログ法で作製した。
他の実施の態様において、センサ１００，１０
１，１０２からの信号が数値化され、かつデイジ
タル処理器に適当なインターフエイスによつて供
給される。このデイジタル処理器は、第１０図に
記載されたものと同様なエラー信号を与えるのに
適したデイジタル形の第３図に従う信号４２を処
理できる。

第３図の計算器３１は、アナログ計算器におけ
る第１０図のものと同様な４つの回路を含む。第
１１図には、第３図の実施例のモータ３３または
２９の制御用の２つの信号１５６，１５７を発生
させる機能を果す。例えば第１０図の回路によつ
て計算した４つのパラメータの各々は第１１図の
回路の入力端１５２，１５５に供給される。必要
ならば、これを線形結合して、本発明により偏向
器を最適制御する条件を電気的にシミユレートす
る。

第１１図に示す回路は２つの独立した回路１５
０および１５１を含む。回路１５０は、それぞれ
水平振幅信号AH用の入力１５２と垂直振幅信号
VH用の入力１５３とを有する。回路１５１は、
同様に、入力１５４で垂直交叉信号CVを、入力
１５５で水平交叉信号を受ける。これら２つの回
路は同一構造であるので、回路１５０のみを説明
する。水平振幅信号を受ける入力１５２は単一ゲ
インの反転増幅器に接続される。この増幅器の出
力は、入力１５３とともに作動増幅器１６６によ
つて構成される加算器に接続される。出力信号１
５６は、２つの入力１５２，１６３の線形結合を
なし、その係数は抵抗の比、すなわち抵抗１６５
に対する抵抗１６３および抵抗１６５に対する抵
抗１６４の比に依存する。このようにして形成さ
れた信号によつて、第３図に示すモータ２９また
は３３の給電インターフエイスを付勢することが
できる。

第１２図は、それ自体アナログ回路で示した第
３図の計算器の付属回路を示す。本発明の方法を
実施するまえに、水平および垂直の磁界が実際に
直交する、またはほゞ直交するようにするため、
水平および垂直コイルの直交化の調整を行う必要
がある。このため、垂直コイルを水平磁界のセン
サとして用いる。ライン２０２から送られる垂直
振幅３４はコネクタ２０１によつて切断される。
従つて垂直コイル２００はトランス２０３の入力
に接続する。トランス２０３は、本発明の好まし
い実施例では、の巻線の比が２５０であるように
構成されている。トランス２０３の出力は高利得
増幅器２０４に接続する。この増幅器の出力は同
期デテクタ２０５に接続されている。デテクタ２
０５の他の入力は水平発振器３７に接続してい
る。このようにして、第１１図に示すように連続
成分２０６のフイルタセルを使用し、これが誤差
信号を出力し、これによつてセパレータ２５に対
する垂直コイル２４の回転を消去させる。第３図
で図示を省略した制御機構は当業者に容易に実現
できるものである。

調整が実行されると、調整を保持するためフエ
ライト２４がセパレータ上に少なくとも一時的に
固定される。本実施例では、フエライトはセパレ
ータ上に熱接着する。

【図面の簡単な説明】

第１図は偏向器を備えた受像管の背面図であ
り、第２図は第１図の受像管の部分断面図であ
り、第３図は本発明の方法を実施するための装置
の概略図であり、第４図は本発明の方法で用いる
第１のテストパターンであり、第５図は本発明の
方法で用いる第２のテストパターンであり、第６
図乃至第９図は磁界の勾配の測定ヘツドの機能を
示す概略図であり、第１０図は本発明の装置の第
１の実施例の概略図であり、第１１図は本発明の
装置の第２の実施例の概略図であり、第１２図は
本発明の装置の第３の実施例の概略図である。 主な参照番号、１…パネル、２…フアンネル、
３…偏向器、５…ネツク、６…電子銃組立体、１
０…垂直偏向コイル、１１，１２，１３…セパレ
ータ、１７…水平偏向コイル、２０…測定ヘツ
ド、２１…偏向器、２２…センタリング装置、２
３…位置付け装置、２４…フエライト、２５…セ
パレータ、２７，４０…シユー、２９…３３…電
動機、３１…計算機、３２…制御装置、３４，３
５，３８…垂直走査の給電系、３６，３７，３９
…水平走査の給電系、１００，１０１，１０２…
測定コイル、１０３，１０４，１０４ａ…増幅
器、１０５，１０６，１０７…微分器、１０８，
１０９，１１０…積分器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ３つのインライン電子銃を備えた受像管の偏
   向器の調整方方法であつて、 磁界の勾配の測定ヘツド２０上に偏向器２１を
   配置し、 少なくとも該偏向器の後方および前方の区域に
   おける勾配を測定し、 垂直コイルの支持体をなすフエライト２４を該
   ヘツドの中心軸４１の周りに移動して、垂直およ
   び水平磁界の直交化を行い、 該ヘツドの中心軸４１と垂直および水平磁界の
   平均対称軸との角度偏差に比例する電圧を印加す
   ることによつて受像管上の偏向器の整列化をシミ
   ユレーシヨンし、 該ヘツドの中心軸と直交する平面内の少なくと
   も一方向（ＸまたはＹ）に該フエライトを移動し
   て、該角度偏差に比例した電圧を消去し、 少なくとも一時的に該フエライトを水平コイル
   に対して固定する、 ことを特徴とする偏向器の調整方法。 ２ まず、走査発振器３６，３７に接続した水平
   コイルにより垂直コイル内に誘導された電流を測
   定することによつて、水平磁界と垂直磁界との直
   交化を調整し、次いで垂直コイルを支持するフエ
   ライト２４を回転して該誘導電流を消去すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の偏向器
   の調整方法。 ３ 水平振幅パラメータAH、垂直振幅パラメー
   タAV、水平交叉パラメータCH、垂直交叉パラ
   メータCVの各々に対して、偏向器の後方での１
   つの磁界の勾配、および互いに中心軸４１に対し
   て対称な偏向器の前方での２つの磁界の勾配を測
   定し、これらのパラメータの各々は上記３つの勾
   配の線形結合として求められ、該線形結合の係数
   は該偏向器の後方および前方区域に関係する影響
   係数であることを特徴とする特許請求の範囲第１
   項記載の偏向器の調整方法。 ４ 水平振幅パラメータAHおよび垂直振幅パラ
   メータAVの線形和からなる誤差信号を消去する
   ように、軸Ｘに従うフエライト２４の移動を制御
   することを特徴とする特許請求の範囲第３項記載
   の偏向器の調整方法。 ５ 垂直交叉パラメータCVおよび水平交叉パラ
   メータCVの線形和である誤差信号を消去するよ
   うに、軸Ｙに従うフエライト２４の移動を制御す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の
   偏向器の調整方法。 ６ 特許請求の範囲第１項乃至第５項のいずれか
   に記載の方法を実施する偏向器の調整装置であつ
   て、 偏向器２１を支持し且つ位置決めする手段２
   ２，２３と、 該偏向器の前方および後方の区域で磁界の勾配
   を検出するセンサを備える測定ヘツド２０と、 水平コイルおよび垂直コイルに各々接続された
   水平走査用給電手段３６，３７と垂直走査用給電
   手段３４，３５と、 水平振幅パラメータAH、垂直振幅パラメータ
   AV、垂直交叉パラメータCV、水平交叉パラメ
   ータCHの計算手段と、 誤差信号を消去するため、装置の中心軸２１と
   直交する平面内でセパレータ２５上を該フエライ
   ト２４を移動（ＸまたはＹ）させるために使用す
   る信号を上記４つのパラメータから決定する回路
   ３２と、 を備えることを特徴とする偏向器の調整装置。 ７ 上記コイルは一対のコイル１００ａ，１００
   ｂであることを特徴とする特許請求の範囲第６項
   に記載の偏向器の調整装置。 ８ 該測定ヘツド２１は、該偏向器の後方に、該
   中心軸４１の近傍に２つのセンサ７２，６３を備
   え、該偏向器の前方に、水平走査の軸ｘまたは垂
   直走査の軸ｙを含み、軸ｚ４１に直交する２つの
   平面内に８つのセンサ６４，６５，７０，７１，
   ８０，８１，９０，９１を備え、該センサは、２
   つづつ互いに直交する磁界を検出することを特徴
   とする特許請求の範囲第６項に記載の偏向器の調
   整装置。 ９ 上記計算手段３１は、計算すべき上記４つの
   パラメータの各々に対して、 各センサ１００による磁界の勾配を計算する回
   路１０３，１０５と、 各回路１０３，１０５に対する一定位相の帯域
   フイルタ１０８と、 後方区域のセンサ１００および、特定のパラメ
   ータ用の前方区域のセンサ１０１，１０２からの
   磁界の勾配の線形結合をつくる加算器１４４と、 求めるべきパラメータに従い水平または垂直周
   波数に同期したデーコーダ１４５と、 求めるべきパラメータを示す連続成分１１３を
   供給するフイルタ１４６と、 を備えることを特徴とする特許請求の範囲第６項
   に記載の偏向器の調整装置。 １０ 上記回路３２は、移動ｘに関連した回路１
   ５０と、移動ｙに関連した回路１５１とを備え、
   回路１５０は水平振幅パラメータAHおよび垂直
   振幅パラメータAVの線形結合を形成し、回路１
   ５１は水平交叉パラメータCHおよび垂直交叉パ
   ラメータCVの線形結合を形成することを特徴と
   する特許請求の範囲第６項に記載の偏向器の調整
   装置。 １１ 回路１５０，１５１の各々は、その２つの
   入力１５２，１５３と、抵抗１６３，１６５また
   は１６４，１６５に対して決定された係数との和
   をつくることを特徴とする特許請求の範囲第１０
   項に記載の偏向器の調整装置。 １２ 滑動手段２７，４０によつて該フエライト
   ２４を駆動するモータ３３，２９を備え、該フエ
   ライトの移動により該回路３２の出力部１５６，
   １５７の信号を消去することを特徴とする特許請
   求の範囲第１０項に記載の偏向器の調整装置。 １３ 該偏向器２１が水平の支持部２３ａに支持
   されていることを特徴とする特許請求の範囲第６
   項に記載の偏向器の調整装置。 １４ 上記支持および位置決め手段２２，２３は
   該偏向器の後方のクラウンを把持する自動位置決
   め把持具を備えることを特徴とする特許請求の範
   囲第６項に記載の偏向器の調整装置。