JPS6184871U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案によるインピーダンス検査装置
の一実施例を示す回路図、第２図は第１図に示す
回路を動作させるための各信号を示す図、第３図
は被測定物のインピーダンス値が不良の場合の各
部の信号波形図、第４図は被測定物のインピーダ
ンス値が良の場合の各部の信号波形図である。 １…発振器、２…緩衝増幅器、３…抵抗（抵抗
値ｒ）、４…被測定物（インピーダンス値Ｚ）、
５…電圧増幅器、６…比較増幅器、７…検査基準
電源、８…波形整形回路、９…２入力のアンドゲ
ート、１０…カウンタ回路、１１…ＲＳフリツプ
フロツプ回路（ＦＦ）、１２…３入力のアンドゲ
ート、１３…Ｎ入力のオアゲート、１４…プリセ
ツトカウンタ回路、１５…デイジタル規格値回路
、１６…記憶表示回路、１７…スキヤニング信号
、１８…検査タイミング信号、１９…リセツト信
号、２０…記憶タイミング信号、ｅ…（発振器１
の）出力電圧、ｅ_０…（被測定物４の）電圧降下
、Ｅ…（電圧増幅器５の）出力電圧、Vref…（検
査基準電源７の）基準電圧。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 検査用の交流信号を発する発振器と、 Ｎ個の被測定素子のそれぞれに対し、該被測定
   素子のインピーダンス値よりはるかに大きい値の
   抵抗を介して前記交流信号を印加した場合に該被
   測定素子のそれぞれに生じる電圧降下を増幅して
   それぞれ検出電圧として出力する増幅部と、 前記被測定素子のインピーダンス規格値に対応
   した直流の基準電圧を発生する基準電源部と、 前記基準電圧と前記増幅部からのＮ個の検出電
   圧とをそれぞれ比較し、比較信号を出力する比較
   部と、 前記発振器からの交流信号を矩形波信号に波形
   整形し、該矩形波信号のレベルの同種の変化点を
   ｎ回カウントしている間所定のレベルの出力状態
   を維持するカウンタ部と、 前記比較部からのＮ個の比較信号のそれぞれに
   対し、スキヤニング信号を順次Ｎ回切換えて送出
   するスキヤニング信号発生部と、 前記カウンタ部が所定のレベルの出力状態を維
   持している間に、前記スキヤニング信号を入力し
   て前記比較部からのＮ個の比較信号を順次通過さ
   せるゲート部と、 前記ゲート部を通して順次送られてくる前記比
   較部からのＮ個の比較信号のそれぞれに対し、前
   記検出電圧が前記基準電圧より大きいことを該比
   較信号が示す回数をカウントし、この回数が前記
   ｎの値より小さく設定されたプリセツト値以上の
   場合に第１のレベルの信号を出力するプリセツト
   カウンタ部と、 前記プリセツトカウンタ部の出力信号が第１の
   レベルの場合に“不良”を、第２のレベルの場合
   に“良”をそれぞれ表示する表示部と、 を有することを特徴とするインピーダンス検査装
   置。