JPS6196401A - 2周波によるライナ厚測定方法 - Google Patents
2周波によるライナ厚測定方法Info
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- JPS6196401A JPS6196401A JP21919084A JP21919084A JPS6196401A JP S6196401 A JPS6196401 A JP S6196401A JP 21919084 A JP21919084 A JP 21919084A JP 21919084 A JP21919084 A JP 21919084A JP S6196401 A JPS6196401 A JP S6196401A
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、原子力炉の燃料棒ヲ倶成するペレット状燃料
充填用の被覆管をシルクロイ母材管の内面に極薄の純ジ
ルコニクムmt−複合してライナ被覆管とする場合に、
そのライナ厚を渦電流法によって測定する方法、特に測
定に際して雑音信号となり得るリフトオフ変動、導電率
変動等の誤差因子の影響を除いて正側なりイナ層の測定
を可能とする方法に関する。
充填用の被覆管をシルクロイ母材管の内面に極薄の純ジ
ルコニクムmt−複合してライナ被覆管とする場合に、
そのライナ厚を渦電流法によって測定する方法、特に測
定に際して雑音信号となり得るリフトオフ変動、導電率
変動等の誤差因子の影響を除いて正側なりイナ層の測定
を可能とする方法に関する。
(従来の技術)
電力需iI変化に対応する原子カ勤カ炉のJul率遅転
のためには急Ikな出方上昇、下降が不可欠でるる。ジ
ルカロイのみの従来のMI債覆管急激な出力変動にょD
f5カN蝕割fLを起す懸念がある。応力腐蝕割れを防
ぐため、ジルヵロ子母材管の内面に極薄の純ジルコニク
ムライナtSしたライナwI(I管が開発されその関連
技術の確立により数年俊には従来のM覆管にとってかゎ
って全面使用されることが予想されている。
のためには急Ikな出方上昇、下降が不可欠でるる。ジ
ルカロイのみの従来のMI債覆管急激な出力変動にょD
f5カN蝕割fLを起す懸念がある。応力腐蝕割れを防
ぐため、ジルヵロ子母材管の内面に極薄の純ジルコニク
ムライナtSしたライナwI(I管が開発されその関連
技術の確立により数年俊には従来のM覆管にとってかゎ
って全面使用されることが予想されている。
上記のライナ被覆管は、i度上の問題等によってライナ
層が所定厚さであることが必要かっ重要でろる@クィナ
WI覆管のように2種の金4からできている複合管の岸
側測定にFi破壊的検 ′査と非破壊的検査とが
あるが、破壊的検査では管の両端部の切wt倹査しかで
きず、管の全長。
層が所定厚さであることが必要かっ重要でろる@クィナ
WI覆管のように2種の金4からできている複合管の岸
側測定にFi破壊的検 ′査と非破壊的検査とが
あるが、破壊的検査では管の両端部の切wt倹査しかで
きず、管の全長。
全局にわたるライナ層の保証の必要なライナ砂覆管には
不適当である。非破壊的検査としては各種方法のうち超
音波法と渦電流法とが考えらnZsが、If波法ではラ
イナ層とジルカロイ母材管との境界部でのエコーの識別
が不可能であの比透磁率はともに1で差がないが、固有
抵抗ρはμg−1:* 4位で前者が40%後者が70
でるり。
不適当である。非破壊的検査としては各種方法のうち超
音波法と渦電流法とが考えらnZsが、If波法ではラ
イナ層とジルカロイ母材管との境界部でのエコーの識別
が不可能であの比透磁率はともに1で差がないが、固有
抵抗ρはμg−1:* 4位で前者が40%後者が70
でるり。
その逆数の導電率tlc=1/p)の差を利用すればラ
イナ層厚の測定も可能でるる。#fhtIi流法は、原
理的に、ある周波の交流型tlIt−流したコイルを金
属表面に近接させることにより金属表面に渦電流が流n
%そり渦電流によってコイル゛のインピーダンスが変化
し、このインピーダンス変化量によって金属表面の清報
を得るものである。ライナ砂覆管の場合、管内面から渦
電流法を適用すれば、ライナ層の1動によってインピー
ダンス変化1が変るので、このことをライナ層の測定に
利用できる。
イナ層厚の測定も可能でるる。#fhtIi流法は、原
理的に、ある周波の交流型tlIt−流したコイルを金
属表面に近接させることにより金属表面に渦電流が流n
%そり渦電流によってコイル゛のインピーダンスが変化
し、このインピーダンス変化量によって金属表面の清報
を得るものである。ライナ砂覆管の場合、管内面から渦
電流法を適用すれば、ライナ層の1動によってインピー
ダンス変化1が変るので、このことをライナ層の測定に
利用できる。
従来の渦電流法によるライナ砂覆管のライナ厚測定技術
としては′f?IFM昭59−67405 、特開昭5
9−67406等がめる。これらはり7トオ7(コイル
と管Pj血との距離)によるインピーダンス変化成分を
抽出してリフトオフi!t−算出することによりライナ
層を補正しようとするものである。しかしライナ砂覆管
のライナ層の導電率σAFi熱処MA浬度により変化し
、またジルカロイ部の導電率σBはジルカロイに含有さ
れる硬度付与成分の8nの量によって変化する。これら
の導電率の製品ロフトによる差はライナ砂覆管では当然
発生する。従ってライナ層を正確に測定しようとすると
、ライナ層とジルカロイ部の導電率の変化を考慮する必
要があるが、上記特開の従来技術ではこれら変化を考慮
していない。
としては′f?IFM昭59−67405 、特開昭5
9−67406等がめる。これらはり7トオ7(コイル
と管Pj血との距離)によるインピーダンス変化成分を
抽出してリフトオフi!t−算出することによりライナ
層を補正しようとするものである。しかしライナ砂覆管
のライナ層の導電率σAFi熱処MA浬度により変化し
、またジルカロイ部の導電率σBはジルカロイに含有さ
れる硬度付与成分の8nの量によって変化する。これら
の導電率の製品ロフトによる差はライナ砂覆管では当然
発生する。従ってライナ層を正確に測定しようとすると
、ライナ層とジルカロイ部の導電率の変化を考慮する必
要があるが、上記特開の従来技術ではこれら変化を考慮
していない。
他の参考技術として特開昭59−9552がろる。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は%渦電流法によるライナ砂覆管のライナ層の測
定において、す7トオ7震動および管材質の導電率の変
動による誤差装置の影響を除いて正確な測定を可能とす
る方法七与えることを目的とする。
定において、す7トオ7震動および管材質の導電率の変
動による誤差装置の影響を除いて正確な測定を可能とす
る方法七与えることを目的とする。
(問題点を解決するための手段、作用および実施例)
この種クイナwgI管はライナ層の厚ざが80μm全厚
さが860μm程度が基準あるいは公臀値のものである
。この極薄のライナ層の厚さは管内側からの渦電℃法に
よりプローグのコイルのインピーダンスの変化によって
測定される。
さが860μm程度が基準あるいは公臀値のものである
。この極薄のライナ層の厚さは管内側からの渦電℃法に
よりプローグのコイルのインピーダンスの変化によって
測定される。
本@明では、この測定に際してプロー1の振動等によっ
て生ずるリフトオフ(コイルと管内面との′!!!隙距
M)の変動およびライナ仮覆管の材質の変化によって生
ずる導電率の変動に起因する雑音信号の膜厚信号への重
畳および膜厚信号の感度変化を消去し補正する。その九
め2種の測定局I!を敗で同時に測定して得られる渦流
探傷器の4種の位相検波出力によってこrLt−行う。
て生ずるリフトオフ(コイルと管内面との′!!!隙距
M)の変動およびライナ仮覆管の材質の変化によって生
ずる導電率の変動に起因する雑音信号の膜厚信号への重
畳および膜厚信号の感度変化を消去し補正する。その九
め2種の測定局I!を敗で同時に測定して得られる渦流
探傷器の4種の位相検波出力によってこrLt−行う。
第1図はコイルの出力のインピーダンスの変化を正規化
し次インピーダンス平向上に示したものである。コイル
単独でのインダクタンスLυ。
し次インピーダンス平向上に示したものである。コイル
単独でのインダクタンスLυ。
抵抗Ro 、周波数kfsm=2trfとし、縦軸は測
定時のインダクタンス” ’toLoとし、横軸は測
定時の抵抗Rt”(R−Ro)/ωLOとし正規化しで
ある。
定時のインダクタンス” ’toLoとし、横軸は測
定時の抵抗Rt”(R−Ro)/ωLOとし正規化しで
ある。
Wc1図には、低い周波孜fa時と高い周波数fbとに
おいて、インピーダンス変化方向の成分をそれぞれi、
i、s、%によって添字a、bを付して区別して示す。
おいて、インピーダンス変化方向の成分をそれぞれi、
i、s、%によって添字a、bを付して区別して示す。
iはり7トオ7変動、lはライナ層の導電率σAの変動
、iはジルカロイ母材部の導電率σBの変動、子はライ
ナ層変動にによる成分を示す。このように周波数fa、
fb時に各バクメータi、A、n% テのインピーダン
ス変化方向が異なっているので、原理的にはこれらを弁
別することにより識別可能なことが知られる。
、iはジルカロイ母材部の導電率σBの変動、子はライ
ナ層変動にによる成分を示す。このように周波数fa、
fb時に各バクメータi、A、n% テのインピーダン
ス変化方向が異なっているので、原理的にはこれらを弁
別することにより識別可能なことが知られる。
そして単−周波では2種の位相検波出力しか得られない
ので具体的に識別することは不能であるが、本発明でi
j2種の絢fILIi、を用いることにより4Nの位相
M波出力を得るのでこれらの関連により識別可1fUと
なる。
ので具体的に識別することは不能であるが、本発明でi
j2種の絢fILIi、を用いることにより4Nの位相
M波出力を得るのでこれらの関連により識別可1fUと
なる。
すなわち、この4Nの位相検波出力に対する各パラメー
タIIL、R,8でのライナ厚を変動のチーグルをあら
かじめ既知のクイナ′wIat管基準によジ作成してお
き、被検査管の芙測時に得られる位相M波出力の値より
上記テーブルを用いる演算によりクイナ厚′fr″求め
る。このライナRC算田時にはW開法を用いて算出する
。
タIIL、R,8でのライナ厚を変動のチーグルをあら
かじめ既知のクイナ′wIat管基準によジ作成してお
き、被検査管の芙測時に得られる位相M波出力の値より
上記テーブルを用いる演算によりクイナ厚′fr″求め
る。このライナRC算田時にはW開法を用いて算出する
。
ここで、本発明t″実施る装置の1例を説明してはく。
第2図はその構成の概要を示す。クイナli瑣管(1λ
は回転機(2ンによって管周方向に転回させられる。プ
ローブ(3)は内挿型で絶M値型フィル倉持ち、駆動装
置t(47により管内を細線方向に移動する0こうして
コイルの管内測定位置が位置決めされる。ライナ厚変動
を高分解にとで得る丸めコイルは小径−例えば1胴とす
る。
は回転機(2ンによって管周方向に転回させられる。プ
ローブ(3)は内挿型で絶M値型フィル倉持ち、駆動装
置t(47により管内を細線方向に移動する0こうして
コイルの管内測定位置が位置決めされる。ライナ厚変動
を高分解にとで得る丸めコイルは小径−例えば1胴とす
る。
本0による2種の#セシ欽ri例えばfa li 2M
IIZ、fbは4MHzとする。こうして測定t−冥施
し、コイルのイノビーダンス大忙t#[探傷器本体(5
ンによって電圧に変換する。このIIt8Eは本侘明方
法による演算f:道行する演算装置t(旬によってライ
ナ厚に変換され、測定位置とともに表示器(7)に表示
される。
IIZ、fbは4MHzとする。こうして測定t−冥施
し、コイルのイノビーダンス大忙t#[探傷器本体(5
ンによって電圧に変換する。このIIt8Eは本侘明方
法による演算f:道行する演算装置t(旬によってライ
ナ厚に変換され、測定位置とともに表示器(7)に表示
される。
演算装置(0)における本発明方法による演算は次の2
11[の演算を行う。
11[の演算を行う。
ナなわ101クイナ層導電率σA、ジルカロイ部導電率
σB既知、段階的既知ライナ!l!、tiのライナ11
1覆管の試験体またはそのテンプルを用い、上記85!
6IIt探傷器を用いて、周波数は低い周波数raとし
て、渦護探傷器の位相検波出力Hta 、 V IJL
を測定し1次に同一の測定−9’rでり7トオ7 /1
を段階的既知鯵でズ化させてその出力H−% v6t−
測定する。これらの測定値からり7トオフ変化方向を計
算する。このす7トオフ叉化方向のインピーダンス成分
をVyaとし、これと直交する方向のインピーダンス成
分5t Vxaとする◎ま現原点はHla、 V貞とす
る。
σB既知、段階的既知ライナ!l!、tiのライナ11
1覆管の試験体またはそのテンプルを用い、上記85!
6IIt探傷器を用いて、周波数は低い周波数raとし
て、渦護探傷器の位相検波出力Hta 、 V IJL
を測定し1次に同一の測定−9’rでり7トオ7 /1
を段階的既知鯵でズ化させてその出力H−% v6t−
測定する。これらの測定値からり7トオフ変化方向を計
算する。このす7トオフ叉化方向のインピーダンス成分
をVyaとし、これと直交する方向のインピーダンス成
分5t Vxaとする◎ま現原点はHla、 V貞とす
る。
下記第1表および第2表はこのようにして測定を行って
得らfL7j VxaおよびVyaについてのインピー
ダンス成分(無次元i1)のチー1ルを示し、またJ@
6図は”ixh k縦座標に、 Vyaを横座標(任
意目盛ンとして一図にまとめ九番す7トオ71でのライ
ナ厚変動による”Ixa−Vyaの変化図を示す。
得らfL7j VxaおよびVyaについてのインピー
ダンス成分(無次元i1)のチー1ルを示し、またJ@
6図は”ixh k縦座標に、 Vyaを横座標(任
意目盛ンとして一図にまとめ九番す7トオ71でのライ
ナ厚変動による”Ixa−Vyaの変化図を示す。
第1表 vxa変化チーグル (無次元It)はts
> ta> tm> ta> ta> ti> tt>
ta> to、リフトオア量xi Fiz皿< 1
g < / s (/ a (l mでろる。周波数f
aは2 l[Hg 、コイル径Fi1 ma+であるO
t九高い#llit(fbの4 MHzで測定し上記と
同じ手順により座標系Vxb −Vybを設定し、第1
表、嬉2表と陶様なチー1ル、第3図と同様な変化図を
つくる。
> ta> tm> ta> ta> ti> tt>
ta> to、リフトオア量xi Fiz皿< 1
g < / s (/ a (l mでろる。周波数f
aは2 l[Hg 、コイル径Fi1 ma+であるO
t九高い#llit(fbの4 MHzで測定し上記と
同じ手順により座標系Vxb −Vybを設定し、第1
表、嬉2表と陶様なチー1ル、第3図と同様な変化図を
つくる。
さらに、ライナ層*t*σAおよびジルカロイS岬電率
ttBの異なるライナ被覆管試験体を用い例えば10
σ−41位でaA f 115Q、?/40 、11
50ttB f 1/5O11/70.1/80とLり
Jj)&ニ、上記と同じ手順によg%第3図と同様な各
す7トオ7@11でのライナ厚t、 ffi化にょる
Vxa −Vya、Vxb −Vyb図をっ〈9、第1
表、第2表と同様なテーブルを作成する。
ttBの異なるライナ被覆管試験体を用い例えば10
σ−41位でaA f 115Q、?/40 、11
50ttB f 1/5O11/70.1/80とLり
Jj)&ニ、上記と同じ手順によg%第3図と同様な各
す7トオ7@11でのライナ厚t、 ffi化にょる
Vxa −Vya、Vxb −Vyb図をっ〈9、第1
表、第2表と同様なテーブルを作成する。
こうして演算準備設定をした上で、ライナ被覆管の被検
査管について[1探傷器で所定個所の測定を行い、実測
した位相検波出力H6JL、 V5aおよびH5b、’
i5bを上記のVx −Vy座標系の値に変換し、あら
かじめ作成しておいた4次元のクイナ厚算出テーブルに
より演算し、補間法を “用いて各測定個所でのラ
イナ厚を算出する。
査管について[1探傷器で所定個所の測定を行い、実測
した位相検波出力H6JL、 V5aおよびH5b、’
i5bを上記のVx −Vy座標系の値に変換し、あら
かじめ作成しておいた4次元のクイナ厚算出テーブルに
より演算し、補間法を “用いて各測定個所でのラ
イナ厚を算出する。
すなわち、例えば1つの演算手法として、faおよびf
bでの計11!I値から、ろるσA1σB値の”Ixa
−Vyaおよびvxb −vybの表あるいはテーブル
により演算してライナj@を攻め1両周波数でのライナ
I$値が一致をみれば、その測定位置の正確なライナ厚
が求tり、σム、σB 、 liが知られる。若し一致
をみなければ最も差の小さいσA1cBm合せの表ある
いはチーグルと中心として1σAftを一定としてσB
を変え%dB値を一定としてσAを変え、あるいはgA
、 σBを変更する補間演算によりfaとfbとの計
測値からのライナ厚を一致に近付ける。
bでの計11!I値から、ろるσA1σB値の”Ixa
−Vyaおよびvxb −vybの表あるいはテーブル
により演算してライナj@を攻め1両周波数でのライナ
I$値が一致をみれば、その測定位置の正確なライナ厚
が求tり、σム、σB 、 liが知られる。若し一致
をみなければ最も差の小さいσA1cBm合せの表ある
いはチーグルと中心として1σAftを一定としてσB
を変え%dB値を一定としてσAを変え、あるいはgA
、 σBを変更する補間演算によりfaとfbとの計
測値からのライナ厚を一致に近付ける。
演算のシーケンスは前記と異なる順序とすることができ
る。
る。
リフトオフ、σAおよびσBは同時に復電できるけれど
も、これらは演算のパラメータとして用いるものであり
必しも求める必要はない。
も、これらは演算のパラメータとして用いるものであり
必しも求める必要はない。
振動により震動するリフトオフ値は1機械的あるいは電
磁的振動の何れであってもその平均値のリフトオフとし
て把握すればよい。知り得たσA@およびσB値は異な
る測定個所で得られた値と比較して較正に用いることが
できる。
磁的振動の何れであってもその平均値のリフトオフとし
て把握すればよい。知り得たσA@およびσB値は異な
る測定個所で得られた値と比較して較正に用いることが
できる。
また導電率σA、σBの変化は1本の管では小゛さいの
で、管端の1個所でのみその影#!を上記方法により測
定し、その開定匍のσA1 σBを用いてその被検査管
の全周、全長にわたるライナ厚を測定するようにするこ
とができ、この一部手順簡略の演算によっても、高精度
の測定結果が得られる。
で、管端の1個所でのみその影#!を上記方法により測
定し、その開定匍のσA1 σBを用いてその被検査管
の全周、全長にわたるライナ厚を測定するようにするこ
とができ、この一部手順簡略の演算によっても、高精度
の測定結果が得られる。
(発明の効果)
本発明方法によると、す7トオフ変動、クイナ層導電率
の変動、ジルカロイ部欅電手の変動に起因する誤差因子
の影響を除去して止伽なライナ厚を測定し得る効果があ
る。
の変動、ジルカロイ部欅電手の変動に起因する誤差因子
の影響を除去して止伽なライナ厚を測定し得る効果があ
る。
1g1図はコイルの田方のインピーダンスの変化t−2
周波敗において示す正規化インピーダンス平面図%第2
図は本発明を実施する装置tの構成の1例を示す斜視図
訃よびグロンク図、第5図は各リフトオフ1でのクイナ
厚又勤によるインピーダンス変化を示す’iX −vy
座標系線図である。 (1)・・2イナ砂覆管s (2)−・回転機、(3)
・・プローグ、(4)・・運動装置、(5)・・渦流探
傷器本体、(6)・・演算装置、(7)・φ表示器*
(ti)・・ライナ厚、(11)・・す7トオ7零k
(IA)・・クイナ層ug電率、(σB)−・ジルカ
ロイ部III電率、(fa)・・低い周波&% (fb
)・・高い周波&%(イ)・・リフトオフ変動によるイ
ンピーダンスR化−ダンス変化成分、ψ)・・ジルカロ
イsNI電率實勘によるインピーダンス変化成分、(η
・・ライナ厚変動によるインピーダンス変化成分、(V
y)・・す7トオ7変化方向のインピーダンス成分s
(”)・・直角方向のインピーダンス成分(F1a)−
6周波1k b (Rmean) e *コイル半径。
周波敗において示す正規化インピーダンス平面図%第2
図は本発明を実施する装置tの構成の1例を示す斜視図
訃よびグロンク図、第5図は各リフトオフ1でのクイナ
厚又勤によるインピーダンス変化を示す’iX −vy
座標系線図である。 (1)・・2イナ砂覆管s (2)−・回転機、(3)
・・プローグ、(4)・・運動装置、(5)・・渦流探
傷器本体、(6)・・演算装置、(7)・φ表示器*
(ti)・・ライナ厚、(11)・・す7トオ7零k
(IA)・・クイナ層ug電率、(σB)−・ジルカ
ロイ部III電率、(fa)・・低い周波&% (fb
)・・高い周波&%(イ)・・リフトオフ変動によるイ
ンピーダンスR化−ダンス変化成分、ψ)・・ジルカロ
イsNI電率實勘によるインピーダンス変化成分、(η
・・ライナ厚変動によるインピーダンス変化成分、(V
y)・・す7トオ7変化方向のインピーダンス成分s
(”)・・直角方向のインピーダンス成分(F1a)−
6周波1k b (Rmean) e *コイル半径。
Claims (1)
- ライナ被覆管のライナ厚を渦電流法により測定する場合
に、プローブの振動等によつて生ずるリフトオフの変動
およびライナ被覆管の材質の変化によつて生ずる導電率
の変動に起因する雑音信号の膜厚信号への重畳および膜
厚信号の感度変化を、2種の測定周波数で同時に測定し
て得られる渦流探傷器の4種の位相検波出力によつて消
去し、補正することを特徴とする2周波によるライナ厚
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21919084A JPS6196401A (ja) | 1984-10-18 | 1984-10-18 | 2周波によるライナ厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21919084A JPS6196401A (ja) | 1984-10-18 | 1984-10-18 | 2周波によるライナ厚測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6196401A true JPS6196401A (ja) | 1986-05-15 |
Family
ID=16731616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21919084A Pending JPS6196401A (ja) | 1984-10-18 | 1984-10-18 | 2周波によるライナ厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6196401A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2712975A1 (fr) * | 1993-11-23 | 1995-06-02 | Framatome Sa | Procédé de contrôle non destructif d'un tube mince par courants de Foucault et capteur à courants de Foucault. |
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-
1984
- 1984-10-18 JP JP21919084A patent/JPS6196401A/ja active Pending
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