JPS62100644A - 自動化された分光光度計 - Google Patents
自動化された分光光度計Info
- Publication number
- JPS62100644A JPS62100644A JP24246885A JP24246885A JPS62100644A JP S62100644 A JPS62100644 A JP S62100644A JP 24246885 A JP24246885 A JP 24246885A JP 24246885 A JP24246885 A JP 24246885A JP S62100644 A JPS62100644 A JP S62100644A
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- Japan
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- sample
- measurement
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- cpu
- measuring
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
- G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明は多数の試料を自動的に順次測定して行くように
なっている分光光度計に関する。
なっている分光光度計に関する。
口 従来の技術
分光光度計による測定では一つの試料について、測定波
長、スペクトル表示の波長範囲、波長走査速度等の測定
のパラメータを設定した後、試料をセットして測定を行
う。こ＼で試料が幾つかあって夫々について異る測定パ
ラメータを設定する場合、一つの試料の測定終了を待っ
て次の試料の測定パラメータを設定し次の試料をセット
すると云う一連の操作を繰返さねはならない１）このよ
うな方式ではオペレータは全試料の測定終了まで拘束さ
れることになり、大へに非能率である。このため１拭料
の自動切換用の付属装置を持った分光光度計も提供され
ているが、この装置でも試料交換の手間は省けても、測
定パラメータか試料ｌ毎に異る場合、試到交換毎にパラ
メータの設定を行わねばならないからオペレータが拘束
を受ける程度は１例とさ程度らない。外部コンピュータ
によって操作可能な分光）Ｌ度肝では、パラメータの設
定と試料交換を外部コンピュータ（こよって行うシステ
ムを作ることも可能であるが、この場合、処理手順をコ
ンピュータ言語によってプログラドする必要があり、繁
雑であると共（こ高価でもある。
長、スペクトル表示の波長範囲、波長走査速度等の測定
のパラメータを設定した後、試料をセットして測定を行
う。こ＼で試料が幾つかあって夫々について異る測定パ
ラメータを設定する場合、一つの試料の測定終了を待っ
て次の試料の測定パラメータを設定し次の試料をセット
すると云う一連の操作を繰返さねはならない１）このよ
うな方式ではオペレータは全試料の測定終了まで拘束さ
れることになり、大へに非能率である。このため１拭料
の自動切換用の付属装置を持った分光光度計も提供され
ているが、この装置でも試料交換の手間は省けても、測
定パラメータか試料ｌ毎に異る場合、試到交換毎にパラ
メータの設定を行わねばならないからオペレータが拘束
を受ける程度は１例とさ程度らない。外部コンピュータ
によって操作可能な分光）Ｌ度肝では、パラメータの設
定と試料交換を外部コンピュータ（こよって行うシステ
ムを作ることも可能であるが、この場合、処理手順をコ
ンピュータ言語によってプログラドする必要があり、繁
雑であると共（こ高価でもある。
ハ 発明が解決しようとする問題点
複数個の試ｔ１を自動的）二］刀換えると共（二各試料
について各別に測定パラメータを自動的に設定し得るよ
うにして、オペレータの時間的な負担を解消しようとす
るものである。
について各別に測定パラメータを自動的に設定し得るよ
うにして、オペレータの時間的な負担を解消しようとす
るものである。
二 問題点解決のための手段
複数の試料を保持できる試料ホルダと、その試料ホルダ
上の任意の試料を測定光路内に移動させる試料切換装置
と、−測定における一連の測定パラメータの種々な組合
せを指定コードを付して格納しておくメモリと、試料ホ
ルタ′上の試料番号に対して任意の測定パラメータの組
合のコードを指定しておくことにより、試料ホルダ上の
試料を順次指定した測定パラメータによって測定して行
く制御手段を備えた分光光計を提供する。
上の任意の試料を測定光路内に移動させる試料切換装置
と、−測定における一連の測定パラメータの種々な組合
せを指定コードを付して格納しておくメモリと、試料ホ
ルタ′上の試料番号に対して任意の測定パラメータの組
合のコードを指定しておくことにより、試料ホルダ上の
試料を順次指定した測定パラメータによって測定して行
く制御手段を備えた分光光計を提供する。
ホ 作用
予め各試料につい℃測定パラメータの組合せのコードを
指定しておけば、−試料の測定終了毎に試料切換装置に
よって次の試料が測定位置に移動せられ、その試料に対
して指定された測定パラメータがメモリから読出されて
、そのメモリ内容に従って測定が行われる。従ってオペ
レータは始めに複数の試料の試料切換装置への装填と、
各試料毎の測定パラメータの組合せのコードの指定操作
を行っておけば、装置は自動的に全試料について所定の
測定パラメータによる測定が行われ、オペレータが装置
動作に介入する必要がなく、オペレータの負担が大幅に
軽減される。
指定しておけば、−試料の測定終了毎に試料切換装置に
よって次の試料が測定位置に移動せられ、その試料に対
して指定された測定パラメータがメモリから読出されて
、そのメモリ内容に従って測定が行われる。従ってオペ
レータは始めに複数の試料の試料切換装置への装填と、
各試料毎の測定パラメータの組合せのコードの指定操作
を行っておけば、装置は自動的に全試料について所定の
測定パラメータによる測定が行われ、オペレータが装置
動作に介入する必要がなく、オペレータの負担が大幅に
軽減される。
へ 実施例
第１図は本発明の一実施例を示す。光源１から出た光は
分光器２によって分光され、分光器出射光の光路内に試
料が置かれ、試料透過光は光検出器３で電気信号に変換
され、その信号はＡ／Ｄコンバータｌｔ’Ａ／Ｄ変換さ
れてマイクロコンピュータＣＰＵに読込まれて処理され
る。試料Ｓは試料ホルタ゛５に載置される。試料ホルダ
５は６個の動詞岨はＣＰＵが行っており、任意の試料セ
ルを分光器２の出射光の光路内に位置させる。ＣＰＵは
また、分光器２の波長切換動作をもＬＬａａしている。
分光器２によって分光され、分光器出射光の光路内に試
料が置かれ、試料透過光は光検出器３で電気信号に変換
され、その信号はＡ／Ｄコンバータｌｔ’Ａ／Ｄ変換さ
れてマイクロコンピュータＣＰＵに読込まれて処理され
る。試料Ｓは試料ホルタ゛５に載置される。試料ホルダ
５は６個の動詞岨はＣＰＵが行っており、任意の試料セ
ルを分光器２の出射光の光路内に位置させる。ＣＰＵは
また、分光器２の波長切換動作をもＬＬａａしている。
７は分光器の波長駆動機購で、マイクロコンピュータＣ
ＰＵによって制御されている。８はメモＵ−ｔ’一連の
測定パラメータが一つのファイルとして２０゛組、ｌか
ら２０のファイル番号を付して格納しである。第２図は
表示装置９をこ表示されたメモリ８内の測定パラメータ
ファイル中の成る７目以下が一連の測定パラメータが表
示されている。
ＰＵによって制御されている。８はメモＵ−ｔ’一連の
測定パラメータが一つのファイルとして２０゛組、ｌか
ら２０のファイル番号を付して格納しである。第２図は
表示装置９をこ表示されたメモリ８内の測定パラメータ
ファイル中の成る７目以下が一連の測定パラメータが表
示されている。
第３図は測定ステップ（ＭＥＳ ５ＴＥＰ）の設定状
態の表示装置９における表示パターンで、測定ステップ
はメモリ８内の測定ステップ格納エリヤに格納されてい
る。こ＼で測定ステップと云うのは測定の順番で、第３
図のパターンでＣＥＬＬＮｏ、と云う欄勿は試料ホルダ
５上の試料セルの順位番号であり、ＰＡＲＡＭ、Ｆ Ｉ
ＬＥＮＯ，と記された欄は各測定ステップにおける測
定パラメータの組合せのファイル番号である。このファ
イル番号の中にＯと記されたものがあるが、これはベー
スラインデータ集収を意味する。この実施例は単光束型
分光光度計であるので、溶媒のみの試料をセットして透
過率１００％のベースラインのデータを実収してメモリ
しておき、次に被測定試料全測定して、上記ベースライ
ンのデータで割！して被測定試料の透過率を求める構成
であるので、ファイル番号の０を指定することによって
１００％透過率のベースラインデータを実収するように
ＣＰＵのプログラムが組にであるのである。第３図のパ
ターンは１番目の測定では試料ホルタ゛５上の１番目の
セルを分光光度計の光路上に進めて、ベースラインデー
タを実収せよと云うことを示している。つまり１番目の
試料セルには溶媒のみのブランク試料が入れであるので
ある。２番目の測定は試料ホル々゛上２番目のセルの試
料についてファイル番号１で指定される測定を行うと云
うことである。第３番、第４番の測定は何れも３番目の
セル内の試料についての測定で、３番目の試料について
はファイル番号２と３の測定を行うことを示している。
態の表示装置９における表示パターンで、測定ステップ
はメモリ８内の測定ステップ格納エリヤに格納されてい
る。こ＼で測定ステップと云うのは測定の順番で、第３
図のパターンでＣＥＬＬＮｏ、と云う欄勿は試料ホルダ
５上の試料セルの順位番号であり、ＰＡＲＡＭ、Ｆ Ｉ
ＬＥＮＯ，と記された欄は各測定ステップにおける測
定パラメータの組合せのファイル番号である。このファ
イル番号の中にＯと記されたものがあるが、これはベー
スラインデータ集収を意味する。この実施例は単光束型
分光光度計であるので、溶媒のみの試料をセットして透
過率１００％のベースラインのデータを実収してメモリ
しておき、次に被測定試料全測定して、上記ベースライ
ンのデータで割！して被測定試料の透過率を求める構成
であるので、ファイル番号の０を指定することによって
１００％透過率のベースラインデータを実収するように
ＣＰＵのプログラムが組にであるのである。第３図のパ
ターンは１番目の測定では試料ホルタ゛５上の１番目の
セルを分光光度計の光路上に進めて、ベースラインデー
タを実収せよと云うことを示している。つまり１番目の
試料セルには溶媒のみのブランク試料が入れであるので
ある。２番目の測定は試料ホル々゛上２番目のセルの試
料についてファイル番号１で指定される測定を行うと云
うことである。第３番、第４番の測定は何れも３番目の
セル内の試料についての測定で、３番目の試料について
はファイル番号２と３の測定を行うことを示している。
もちろん６個の試料について２０ステツプも測定を行わ
ない場合が多い。この場合ステップ番号の欄は成る番号
以下全部０にしておく。
ない場合が多い。この場合ステップ番号の欄は成る番号
以下全部０にしておく。
ステップ番号０は測定終了を意味するようにプログラム
が組にであるのである。第１図に戻って１０はＣＰＵの
動作プログラムを書込ルだＲＯＭである。
が組にであるのである。第１図に戻って１０はＣＰＵの
動作プログラムを書込ルだＲＯＭである。
上述実施例は単光束分光光度計を用いたものであるが、
本発明が二光束分光光度計でも適用できるものであるこ
とは云うまでもない。また試料切換えの手段は実施例の
ような直進型であっても、円板を回転させる型であって
もよい。
本発明が二光束分光光度計でも適用できるものであるこ
とは云うまでもない。また試料切換えの手段は実施例の
ような直進型であっても、円板を回転させる型であって
もよい。
ト 効果
本発明分光光度計は上述したような溝成で、複数の試料
について異った測定パラメータ（こよる測定を任意の組
合せで実行でき、その実行は測定の前にオペレータが指
定操作をしておくことで以後自動的に進行するので、オ
ペレータの操作上の負担が大幅番こ軽減される。また特
殊な用法として、分光光度計自体の検査データをとる際
などに、上の機能を利用することで、必要な一連の検査
データを自動的に実収することができ、検査工数の低減
を得ることができる。
について異った測定パラメータ（こよる測定を任意の組
合せで実行でき、その実行は測定の前にオペレータが指
定操作をしておくことで以後自動的に進行するので、オ
ペレータの操作上の負担が大幅番こ軽減される。また特
殊な用法として、分光光度計自体の検査データをとる際
などに、上の機能を利用することで、必要な一連の検査
データを自動的に実収することができ、検査工数の低減
を得ることができる。
第１図は本発明の一実Ｌｍ例装置のブロック図、第２図
は同実施例（こおけるメモリ内のパラメ・−タフアイル
の内容を表示装置ζこ表示させたパターンの図、第３図
は同じく測定ステップの表示パターンの図である。
は同実施例（こおけるメモリ内のパラメ・−タフアイル
の内容を表示装置ζこ表示させたパターンの図、第３図
は同じく測定ステップの表示パターンの図である。
Claims (1)
- 複数の試料の任意の一つを測定位置に移動させる試料切
換装置と、一測定における一連の測定パラメータの種々
な組合せを指定コードを付して格納しておくメモリと、
試料切換装置上の試料番号に対して任意の測定パラメー
タの指定コードを指定しておくことにより、試料切換装
置上の試料を順次指定された測定パラメータによつて測
定して行く制御手段を備えた自動化された分光光度計
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24246885A JPH0612334B2 (ja) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | 自動化された分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24246885A JPH0612334B2 (ja) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | 自動化された分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62100644A true JPS62100644A (ja) | 1987-05-11 |
| JPH0612334B2 JPH0612334B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=17089528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24246885A Expired - Lifetime JPH0612334B2 (ja) | 1985-10-28 | 1985-10-28 | 自動化された分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612334B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01137458U (ja) * | 1988-03-15 | 1989-09-20 | ||
| US5116122A (en) * | 1991-03-14 | 1992-05-26 | Shimadzu Corporation | Spectrophotometer |
| JP2013534331A (ja) * | 2010-06-30 | 2013-09-02 | サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 分析計測のためのインテリジェントな多機能マクロ言語 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009293977A (ja) * | 2008-06-03 | 2009-12-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計および分光光度計の検定方法 |
-
1985
- 1985-10-28 JP JP24246885A patent/JPH0612334B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01137458U (ja) * | 1988-03-15 | 1989-09-20 | ||
| US5116122A (en) * | 1991-03-14 | 1992-05-26 | Shimadzu Corporation | Spectrophotometer |
| JP2013534331A (ja) * | 2010-06-30 | 2013-09-02 | サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 分析計測のためのインテリジェントな多機能マクロ言語 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0612334B2 (ja) | 1994-02-16 |
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