JPS62128016A - 磁気記録媒体 - Google Patents

磁気記録媒体

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JPS62128016A
JPS62128016A JP26718285A JP26718285A JPS62128016A JP S62128016 A JPS62128016 A JP S62128016A JP 26718285 A JP26718285 A JP 26718285A JP 26718285 A JP26718285 A JP 26718285A JP S62128016 A JPS62128016 A JP S62128016A
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JP
Japan
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film
magnetic
protective film
atoms
sliding
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Pending
Application number
JP26718285A
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English (en)
Inventor
Shinichiro Saito
斎藤 真一郎
Koji Nishimura
孝司 西村
Masaaki Futamoto
二本 正昭
Yukio Honda
幸雄 本多
Kazuyoshi Yoshida
吉田 和悦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Maxell Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は磁気記録媒体の改良に係り、特に耐蝕性、耐ヘ
ツド向上を図ることを目的とする磁気記録媒体に関する
ものである。
〔発明の背景〕
従来から高密度記録化を図るために金属薄膜を用いた磁
気記録媒体の研究開発が進められている。
この金属薄膜磁気記録媒体は、メッキ、イオンプレーテ
ング、スパッタ、真空蒸着等の手法で、Co、Fe、N
i等の強磁性金属または、これらの元素を主成分とする
合金を主体とする薄膜を。
高分子フィルム、アルミニウム、ガラスなどの非磁性材
料の基板上に形成させた記録媒体である。
しかし金属薄膜を用いた磁気記録媒体は耐蝕性が悪い、
ヘッド等を摩耗し易い、媒体自身も摩耗し易い、あるい
はへラドタッチが悪い等の諸点が、実用化への問題点と
なっている。
このような問題点を解決する手段として、磁性体層上に
耐酸化性のある金属1例えばAu、Pt。
Rh、Pd、Cr、AQ、Si等の材料から成る保護層
を形成する手法(特開昭53−40505号、特開昭5
7−176537号)や磁性体膜の表面を窒化したり酸
化したりすることによって強化する手法(特開昭54−
14311号)などが提案されている。
しかし、本発明者らの実験によると金属系の保護膜の場
合は耐摩耗性が十分とは言えず、また膜面内のピンホー
ルを通して磁性体膜が少しずつ変質する等の問題があり
、必ずしも要求を満足しているとは言い難い。磁性体膜
の表面を窒化もしくは酸化する方法は、耐摺動性、耐酸
化性が向上する反面、窒化、酸化する厚さによって磁性
体膜の磁気的性質が変化したり、あるいは酸化、窒化に
際して磁性体膜がかなりの高温にさらされるので磁気的
性質が変化するといった問題点がある。
〔発明の目的〕
本発明はこのような問題点に鑑み成されたものであり、
保護層材料としてBxCx−x(0,7≦x≦0.79
)を用いることにより磁気記録媒体の耐蝕性と耐摺動性
を大幅に改善することを目的とする。
〔発明の概要〕
保護層に必要な条件は、耐蝕性があり磁性層を保護する
こと、磁気ヘッドに対して滑性があること、および電磁
変換特性の低下を抑えるため膜厚はできるだけ小さいこ
と(1000Å以下)である。
非磁性基板上に形成された磁性体膜の表面にはミクロな
起伏がある。保護層は前記条件を満たすことに加えて、
このミクロな起伏の上に強固に付着しているとか必要で
あり、保護層を形成することにより、このミクロな起伏
が平担化されることが望ましい。ミクロな起伏の大きさ
は磁性膜を構成する微結晶粒子が垂直配向した柱状晶か
ら成る垂直磁化膜の場合に最も大きくなり、例えばCO
基合金膜から成る垂直磁化膜でその表面には周期200
〜500人、深さ50〜200人の起伏が存在する。ま
た、微結晶粒子界面が表面に霧出した部分には原子規模
(10Å以下)の深さの穴も存在する。この様な起伏の
すみまで回り込んで強固に付着することが必要である。
本発明者らの実験によると、保護膜材料としてBxCl
−x(0,7≦x≦0.79)の組成から成る材料を用
いると特に優れた効果が得られることがわかった。これ
はB、C原子の大きさが磁性体膜を構成するFe、Ni
、Goなどの強磁性体原子の大きさに比べて十分小さく
、ミクロな窪みまで容易に浸入し易いこと、B、CはF
e、Ni。
COなどの金属原子との親和性が良く磁性体膜に強固に
付着すること、アモルファス状になりやすいことによる
。アモルファス状態になることの利点は、以下に示すよ
うなものである。結晶質保護膜における結晶粒界や結晶
粒中の欠陥等の部分は化学的な活性点となるため化学反
応が優先的に進行し易く、耐蝕性悪化の原因となる。ま
た、結晶質保護膜では、ヘッド荷重の応力が結晶粒界に
集中し機械的強度も悪化する。保護膜としては化学的な
活性点が少なく、機械強度的にも均質であることが望ま
れ、アモルファス状材料を用いて保護膜を形成するとこ
の両者が実現できる。 B、、 C系材料を用いた保護
膜の公知例としてC(特開昭53−143206) 、
 84G  (特開w350−104602)があるが
、C保護膜はヘッド摺動時の摩耗量が多いという欠点が
あり、BaC(BxCz−x* x=0.80 )保護
膜は、化学量論組成を持つ膜の作製が難しい。
これに対してBXCI−X (0,7≦x≦0.79)
保護膜はCと比べて硬度が高いためにヘッド摺動時の摩
耗量が少なく、その作製も容易である。このXの範囲は
耐摺動強度より決定した範囲であるが、保護膜形成の容
易さ、再現性の良さなどにより、特に0.75≦xs0
.79という範囲が実用的には望ましい。また、蒸着法
、スパッター法、イオンブレーティング法等のいわゆる
乾式法で形成した磁性体膜上にBxCl−x (0,7
≦x≦0.79)の組成の方護膜を設けた場合に特に強
固な付着力が得られる。またBxCニーx (0,7≦
x≦0.79)を、磁性体表面に200〜500人程度
、真空蒸着等で形成することにより磁性体膜の表面のミ
クロな起伏が平担化される傾向が認められる。
〔発明の実施例〕
以下本発明の実施例によって説明する。
実施例1 基板としてポリイミドフィルムを用いて真空蒸着法によ
って第1図に示す構造の磁気記録媒体を作製した。真空
蒸着装置の試料室をI X 10−’Torrまで真空
排気した後、基板温度150℃で、G。
−20wt%Cr組成をもつ磁性膜を0.2μm厚真空
蒸着した。ついで試料室の真空を破らずに蒸着源をBa
Cに変換し、同様の条件で200人厚0保護層を形成し
た。蒸着距の化学組成は蒸着源の組成とは異なり、蒸着
速度をかえることなどにより組成を変えることができる
。84Cを蒸着源として用いた場合には、蒸着速度を変
えることにより、保護層中のB原子比率を0.6〜0.
79という範囲で変えることができた。保護膜の組成は
オージェ電子分光分析法で決定した。
比較試料として、保護膜を設けない試料を作成した。
これらの試料について、以下の耐摺動および耐蝕性テス
トを行った。耐摺動テストは、各試料からディスク試料
を切り出しディスク回転装置にセットした後、荷重18
gのヘッドを接触させてディスクを2m/sの速度で連
続回転させ、磁気記録媒体に傷が生じるまでの回転数を
測定した。耐蝕性テストは、試料を温度90%、温度6
0℃の環境中に1ケ月放置した後、その表面を光学顕微
鏡で検査することによって行った。耐摺動テストの結果
を第2図に示す。耐蝕性テストにおいては保護膜を設け
なかった比較試料だけに変色がamされ、保護膜層を設
けた試料では腐蝕が全く認められなかった。第2図から
明らかなようにBxCz−xは0.7≦x≦0.79の
範囲で優れた耐摺動性を示すことが判明した。ここでX
の上限値としては安定に作製できるB組成の最大値をと
り下限としては、耐摺動強度が著しく減少するB組成値
より決定している。BxCs−x保護膜(0,7≦x≦
0.79)を200人形成した試料と保護膜を形成しな
い試料表面を走査型顕微鏡で観際したところ、保護膜を
形成した試料表面の方が起伏が少なく平滑であることが
判った。また保護膜の膜厚が大きいほど耐摺動性は向上
する傾向が認められたが、磁気記録媒体とヘッド間の距
離が増大するため電磁変換特性が低下した。電磁変換特
性を落さず。
耐摺動性の良い膜厚の範囲は100〜800人、さらに
望ましくは150〜300人であった。
さらに、本実施例では磁性薄膜を形成した後、同一装置
内で連続して保護膜を設けた場合について述べたが磁性
薄膜の形成後、別の装置に試料を移してから保護膜を形
成しても良い。しかし接着強度の大きい保護膜を形成す
るには磁性薄膜表面を空気にさらすことなく連続して保
護膜を形成することが望ましいことが実験に結果明らか
になった。
さらに磁性体薄膜としてCo Cr合金以外のCO基合
金、Fe基合金、Ni基合金の場合にもBxCl−x 
(0,7≦x≦0.79)の組成から成る保護膜を設け
ることにより耐蝕性と耐摺動性が向上した。
実施例2 基板としてアルミニウム基板を用いて、スパッタ法によ
り、第3図に示す構造の磁気記録媒体を作製した。スパ
ッタ装置の試料室をI X 1O−8Torrまで真空
排気した後Arを導入し、Ar圧を5×10−3Tor
rにし、高周波スパッタ法により、19at%F e 
−N iを0.5μm厚、基板温度120℃でスパッタ
し、次いでCo−20t%Crを0.2μm厚、基板温
度100℃でスパッタした。保護膜はBaCをターゲッ
トとして基板温度90℃で200人で作製した。この膜
の組成りXCI−XはX=0.75≦x≦0.79であ
った。
比較試料として保護膜を設けない媒体を作製し実施例1
と同様の耐蝕性テスト、耐摺動テストを行ったところ、
真空蒸着法で作製した場合と同様にその耐蝕性と耐摺動
性はBXCI−X (0,75≦x≦0.79)保護膜
を設けた時に、特に優れたものであることが判明した。
また、イオンブレーティング法で膜の形成を行っても、
同様の効果が認められた。
実施例3 基板としてA Q P/A Q基板を用い、第4図に示
すような磁気記録媒体をマグネトロンスパッタ法により
作製した。スパッタ装置の試料室を1×10−’Tor
rまで真空排気した後、Arを導入し、Ar圧を5 X
 10−”Torrにし、マグネトロンスパッタ法によ
りCrを500人厚1基板温度120℃でスパッタし、
次いで、25at%Co−Ni合金を0.2μm厚、基
板温度100℃でスパッタ法で作製した。保護膜はBa
Cをターゲットとして200人厚1基板温度90℃で作
製した。この膜の組成りXCI−Xはx = 0 、7
5−0 、79であった。
比較試料として保護膜を設けない媒体を作製し、実施例
1と同様の耐蝕性テスト、耐摺動テストを行ったところ
BxCz−x (0,75−0,79)保護膜を設けた
試料の耐蝕性、耐摺動性は優れたちのであった。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明による磁気記録媒体は非磁性体
の基板上に直接もしくは何らかの中間体を介して形成し
た磁性体薄膜上に更に耐蝕性と耐摺動性が優れた保護層
を形成したものである。従って本発明は磁気ヘッドとの
滑り性を改善した長寿命の磁気記録媒体を得るために有
用なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例1の磁気記録媒体の構成を度す
断面図である。第2図は各種組成のBxCr−x保護膜
の耐摺動性を示す図である。第3図は、実施例2の磁気
記録媒体の構成を示す断面図である。第4図は実施例3
の磁気記録媒体の構成を示す断面図である。 1・・・非磁性基板、2・・・磁性薄膜、3・・・保護
膜、4・・・非磁性基板、5・・・高透磁率膜、6・・
・磁性薄膜、7・・・保護膜、8・・・非磁性基板、9
・・・中間層、10・・・磁性薄膜、11・・・保護膜
。 Il/    ρ75   1.71)X CB組パノ 第3図      第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、非磁性基板上に磁性金属薄膜を形成してなる磁気記
    録媒体において、前記磁性金属薄膜上をB_xC_1_
    −_x(0.7≦x≦0.79)の組成からなる薄膜で
    用つたことを特徴とする磁気記録媒体。
JP26718285A 1985-11-29 1985-11-29 磁気記録媒体 Pending JPS62128016A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26718285A JPS62128016A (ja) 1985-11-29 1985-11-29 磁気記録媒体

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JP26718285A JPS62128016A (ja) 1985-11-29 1985-11-29 磁気記録媒体

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JPS62128016A true JPS62128016A (ja) 1987-06-10

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ID=17441245

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JP26718285A Pending JPS62128016A (ja) 1985-11-29 1985-11-29 磁気記録媒体

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