JPS6212882U - - Google Patents

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JPS6212882U
JPS6212882U JP10491085U JP10491085U JPS6212882U JP S6212882 U JPS6212882 U JP S6212882U JP 10491085 U JP10491085 U JP 10491085U JP 10491085 U JP10491085 U JP 10491085U JP S6212882 U JPS6212882 U JP S6212882U
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JP
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voltage
probe
circuit
selection switch
voltage application
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JP10491085U
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の原理図を兼ねる一実施例の説
明図、第２図、第３図、第４図は本考案の一実施
例の説明図で、夫々第１図は回路構成、第２図は
システム構成、第３図は動作手順フロー、第４図
はデータの対応を示すためのものである。また第
５図は第１図と対比すべき従来例の構成を示すも
のである。 図中１はプローブ、２はコンデンサ、３は双方
向スイツチ、で２と３で構成される回路をスイツ
チキヤパシタ群Ａと称す。また４は端子選択回路
、５はタイミング回路、６は印加回路、７は検出
回路、８はスイツチを示し、上記６と７と８で構
成される回路を印加センス回路Ｂと称す。またＣ
はプローブを接触させて試験する試験対象を示す
。さらに９は布線データ入力回路、１０はデータ
の良否判定回路を示す。またＮは装置のプローブ
端子の数、Ｎｃは印加サイクルでの走査順数、Ｎ
ｓは検出サイクルでの走査順数を示す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 検査対象となる布線された回路の被チエツク端
    対応分用意され該被チエツク端に接続するための
    プローブ端と、 該プローブ端対応に用意され各プローブ端に接
    続するコンデンサと選択スイツチと、 該選択スイツチの他端側と共通接続される電圧
    引加スイツチと電圧検出回路と、 電圧引加モードと電圧検出モードの切換と、選
    択スイツチ走査の手順、タイミング制御を行う制
    御回路を有して成り、 電圧引加モードで選択スイツチの一つを選んで
    所定時間導通させて布線対応のコンデンサをチヤ
    ージしたあと、 電圧検出モードで選択スイツチ群を走査導通さ
    せつつ電圧検出回路で検出することにより対応導
    通情報を読み出すことを特徴とする布線試験装置
    。
JP10491085U 1985-07-10 1985-07-10 Pending JPS6212882U (ja)

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JPS6212882U true JPS6212882U (ja) 1987-01-26

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ID=30978840

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