JPS62129941A - 光デイスク装置 - Google Patents

光デイスク装置

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JPS62129941A
JPS62129941A JP60269300A JP26930085A JPS62129941A JP S62129941 A JPS62129941 A JP S62129941A JP 60269300 A JP60269300 A JP 60269300A JP 26930085 A JP26930085 A JP 26930085A JP S62129941 A JPS62129941 A JP S62129941A
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JP
Japan
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semiconductor laser
signal
power
laser
optical
Prior art date
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Pending
Application number
JP60269300A
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English (en)
Inventor
Hiromi Senoo
妹尾 広美
Shinichi Arai
新井 神一
Kiyouji Oosumi
大隅 共司
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は光ディスク装置に係り、特に情報を。
追加記録する光ディスク装置における記録情報の保護装
置に関するものである。
〔発明の背景〕
記録、再生可能な元ディスク装置に於いては、同一の光
ヘッドで記録及び再生が行なわれる。
記録モードでは記録情報に対応してレーザ出力をパルス
的にL’wのパワーとし光へlドにて微小に絞り込み、
光スポットをディスク上の記録膜・に当て、当った微小
部分の記録膜に微小な穴(ピント)をあける事により記
録がおこなわれる。
一方、再生モードでは、レーザパワーを一足値PFLと
する。リードパワーPRは絞り込まれタカスボヴトによ
り記録膜の上記変化が起こらない程度のエフ、ルギーに
制御される。すなわち、記録、再生の違いは単にレーザ
バヮーノ大小トいう差だけである。
それ故、再生モードに於てロジック回路や索。
子の故障、誤動作など何らかの原因でレーザパワーか通
常のリード時のパワーにくらべて過大になっ1ことする
と、誤つ1こ記録をしたり、すくに記録され1こ情報を
誤らせ1こりする可能性がある。従って再生モードに於
ては、レーザパワーが一足値より増大しないよう制限す
る必要かある。
上記しTこ事項は、読出し専用の光ディスク装置では問
題とならないが、記録及び再生可能な光ディスク装置に
おいては重要な問題である。
斯かる間粗点を解決する1つの手段として、特願昭57
−42756号(昭和57年3月19日付出願)明細書
及び図面には記録保持装置が言及されている。すなわち
、この技術は半導体レーザの力出力に対応し1こモニタ
信号により、あらかじみ定めた値を越え1こか否かを検
出することにより異常検出を行ない、その結果により半
導体レーザに流す電流を零にするものである。これによ
リレーザの発光が止められ、記録が防止され番ものであ
る。
然るに、紙上の保護装置では1つのモニタ流レーザのパ
ワコントロールと異常検ill能をξ1こせである。こ
のため、モニタの感度特性、即ちレーザの発光パワーに
対するモニタ電流nQ比が、温度やその他の要因で変動
する。この場合レーザパワーが変動していないにもかか
わらずモニタの出力信号が変動し、その変動分かり−ド
バワー電流源へ与えられ、電流を増減する。
従って、レーザパワーは適正パワーであるにもかかわら
ず、モニタの感度の変動によりレーザパワーは異常パワ
ーとなる。しかし、異常検出回路はモニタの出力信号が
変動しても、変動周波数がオートパワーコントロール回
路のもつ周波数特注内での変動であればオートパワーコ
ントロール回路が追従し、モニタ信号による異常検出は
不可能である。また、モニタ感度の変動によりモニタ電
流とレーザパワーとの比例関温の精度が悪くなり異常検
出の精匿が悪くなり、上述した公知の技術だけでは誤記
録防止に対し十分ではない。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、情報の再生時にレーザの出力が適正範
囲を越えることにより、誤っ1こ記鍼がなされないよう
な光ディスク装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、半導体レーザの出力により記録媒体としての
光ディスクの記録膜に情報を記録し、また記録された情
報を半導体レーザの出力を用いて再生する光ディスク装
置において実現される。その1こめに、まず半導体レー
ザの出力に対応してモニタ信号を得る手段と、このモニ
タ信号が予め定められた範囲を越えたが盃かを検出する
第1の検出手段が設けられる。好しい実施例においては
、この第1の検出手段は第1の異常検出回路として説明
される。
半導体レーザから出射した光は光学的ヘッドにより微小
のスポットに絞り込まれ、光ディスクの記録膜に射てら
れ、反射される。その反射光は光信号検出器によって検
出される。好しくに、この光信号検出器は、自動焦点系
検出器としての機能と、トラッキング系検出器としての
機能を有している。後述する実施例では、光信号検出器
は前者の機能を備える。
この光信号検出器にて検出され1こ信号が予め定められ
1こ範囲を越えたか否かを検出するための第2の検出手
段が備えられる。この第2の検出手段は、実施例におい
て第2の異常検出回路として説明される。
この第1又は第2の検出手段のいずれかの出力により半
導体レーザへの供拾電流をバイパスさせる丁こめの手段
か設けられ、これによって半導体レーザの出力が最適に
制御される。
この様にして、1ことえ半導体レーザの出力が変動して
も、第1又は第2の検出手段によって半導体レーザの出
力が最適に制御されるので、情報が誤って記録されると
いう事態が防止できる。
〔発明の実施例〕
以下本発明の一実施例について説明する。
まず、第1図乃至第6図を参照して本発明0原理につい
て説明する。
第1図は記録膜面上のレーザパワPと、記録膜の変形量
Yの関係の説明図である。記録面上のパワーPTは閾値
パワーであり、P < PTの場合には記録膜の変形は
起らず、PTくPで変形が起こる。即ちPT < Pの
パワーが記録膜に与えられることにより情報の記録がな
される。情報の再生(リード)時には記録膜に変形を起
こしてはならないから、P < PTでかつリードの信
号処理を正常に行なう1こめ適正範囲P1≦P≦P2に
保1こなければならない。
従って本発明は、上記範囲を越えたことを検出し誤一定
記録かなされないように保護動作を行なうものである。
P3は正常ライト時のパワーを示す。
第2図は半導体レーザの電流1とレーザ出力パワーPの
%注概要を示す図である。電流1が閾値ITHな超える
と、越えTこ電流に比例してレーザ出力が増す。レーザ
出力は、光学系を通して記録膜上に微小スポットに絞り
込まれる。第1図におけるリードの適正パワーに保つ1
こめにはレーザへの電流を制御するのがよい。ここでレ
ーザの特性は第2図α、hに示す直線の如く温度等によ
り変動するから、これらの変動も含め常に適正パワーに
保つことが重要である。
ところでリード時のパワーは連続的な一定値であるが、
ライト時は情報記録時のみパルス的にパワーを与える。
第6図はその説明図である。
即ち情報ビット形成場所でパルス的にパワーがライト適
正値になる。第6図(3)でPRはリードパワー値、P
wはライトパワー値を示す。ライトパルスに対応して記
録膜上には情報ビルトが形成されろ。第3図[F])に
この様子を示す。ここで、光ディスク装置は記録膜上に
常に光ヘッドのスポットの焦点が合うように制御を行な
う自動焦点信号と、ディスクの光ヘッドの位置が常に溝
艮1jちトランク上になるように制御するトラッキング
制御との機能をもっている。これらの制御を行なうため
に半導体レーザより出射された光は光ディスクの記録膜
にあ1こり反射され、自動焦点系検出器とトラ−キング
系検出器に光電流として得られる。これらの光電流は光
ディスクの反射率及び光学系の効率が一足とするならば
、実際にディスクに照射されているレーザノくワーを反
映するものである。この1こめ、従来の回路の欠点であ
つ1こモニタ感度の変動による異常検出の精度の悪化と
レーザパワーの変動周波数による異常パワーの未検出を
この検出器の光電流を使用した異常検出回路で行なうこ
とにより屑決できる。しかし、光信号検出器の光電流に
よる異常検出だけでは検出時間が長くなろ1こめに完全
に誤記録を防止することはできない。これは、光電流に
よる検出方法はディスク欠陥等による誤検出を防ぐため
応答時間をすこし長くとる必要があるからである。この
ため、急激なレーザパワーの変化はモニタ電流による異
常検出回路でリアルタイムで検出するようにする。つま
り従来の検出精度の悪さを光信号検出器の光電流による
異常検出で補ない、上記検出回路の検出時間の遅れをモ
ニタ電流の異常検出で神なうように2つの異常検出回路
を設けることにより、十分にデータの保護ができる。
第4図は本発明の一実施例によるデータの保護装置の構
成図を示す。1は半導体レーザ、2は半導体レーザ1の
モニタ、6しま光信号検出器である。半導体レーザ1か
ら出射し1こ光は光ディスクの記録膜に当たり、そこか
ら反射した光をこの検出器3が検出する。一般的に検出
器6としては自動焦点信号を検出するためのものと、ト
ラッキング信号を検出するためのものが用意されるが、
本実施例では前者のための検出器が示される。4は半導
体レーザ1がリードパワーで発光するための駆動電流源
、5はライトドライブ制御回路、6は半導体レーザ1を
ライトパワーで発光するための駆動電流源である。尚、
150はリード電流、140はライト電流である。
7はリード時のレーザパワーが適正範囲からずれ1ここ
とを検出する異常検出回路であり、モニタ2からの出力
信号110がモニタプリアンプ12に与えられ、この出
力信号210がこの異常検出回路7に入力される。10
は保護回路でレーザ1の出力の一部の信号150がバイ
パスされてレーザ1の出力を制御する。
検出器3の出力である自動焦点信号200は増幅器9で
増幅され、その出力180は自動焦点制御回路11へ与
えられる。また、増幅器9の出力信号180は、異常検
出回路8へも与えられ、その出力170はモニタ2によ
る異常検出回路7の出力160と論理和がとられ、その
信号120は保護回路10へ与えられる。
正常時、半導体レーザ1はモニタ2と電流源4により適
正パワーで発光している。ロジック回路や素子の故障・
誤動作などの原因によりレーザパワーが正常時のリード
時のパワーに比べて過大になったとすると、モニタ信号
110が増加し正常時OVとなるように制(2)されて
いる信号210はレーザの過大パワーに比例した負の電
圧となる。
第6図に示すような異常検出回路7により急激なT化の
過大パワーに対しては高速度スイッチングダイオードl
)+ 、 l)2とコンパレータ14により異常検出信
号160を得ることができる。しかし、この手段だけで
はゆっくりした時定数の変動にはオートパワーコントロ
ール回路が追従するために信号210は異常検出レベル
の電位せで変化せず異常検出できない。
そこで、レーザパワーに比例し1こ信号である自動焦点
信号200より一定増幅率で増幅し二信号180を得、
その信号180を第5図に示すような異常検出回路8に
入力する事により本当のレーザパワーの変動を検出でき
る。異常検出回路7又は8いずれかの異常検出信号12
0により保護回路10を動作させ、2端子間の抵抗を低
くしリード電流130を保護回路10へ信号150とし
てバイパスさせて、レーザへの電流な零または十分小さ
くしレーザの発光を止め誤記録が起こるのを防ぐ。尚第
5図においてD2 、 Dtは記録情報の有無による光
信号電流の変化のピークをホールドするためのもの(記
録情報の有る場合は電位が下がり、無い場合は上がるた
め常に高い電位をホールドするようにする)でEL+ 
、 DIはlJ2の温度特性を補償するためのもので同
一特性のものとする。
第7図は保護回路10の一実施例を示す。異常検出信号
120によりトランジスタQ2がオンしリード電流13
0のバイパス電流150を保護回路10より流しレーザ
電流を零にする。
本実施例によれば、何らかの原因によりリード時に誤記
録がなされるような場合の保護手段としてモニタ電流の
異常と光ディスク装置に既に備えられている光信号検出
器の光電流の異常との2種類の異常検出回路を設けるこ
とにより余りコストアーノブさせることなく記録情報の
保護ができろ。
リードパワーの過大パワー検出手段は記録膜−に当るレ
ーザパワーの大小によりリード・ライトが区別される装
置においては、記録情報の保護上不可欠な機能であるた
め本発明は有効である。
また、光ディスクが高速度回転する光ディスク装置にお
いては高パワーの半導体レーザが要求すれろ。この際、
レーザノくワーを上げる方法としてモニタへの照射パワ
ーと光ディスク上へ照射パワーの比率を変えること、つ
まり半導体レーザの後方にあるモニタへの照射ノくワー
を少なくシ、その分のパワーを前方へ出射しディスクに
照射されろレーザパワーを多くすることにより実質的に
レーザノくワーを上げろこと、が考えられる。レーザパ
ワーを上げても通常の反射光の戻し量ではレーザノイズ
が増加し信号処理系のSハを悪化させる。この1こめ反
射光の戻し量を通常より増やす必要がでてくる。戻し光
量を増やすと光ディスク上のデータの有無によるモニタ
感度の変動が、より大きくなり、モニタ電流による異常
検出方法だけでは、ますます精度が悪くなるが、このよ
うな場合においても本発明は有効である。
〔発明の効果〕 本発明によれば、モニタ電流の異常及び光信号検出器の
出力電流の異常を夫々検出する異常検出手段を設けるこ
とにより、誤つ1こ情報が記l録されるという事態が防
止できろ。
【図面の簡単な説明】
第1図は記録膜上へのレーザパワーと記録膜の変形量の
関係を示す説明図、第2図は半導体レーザの電流とレー
ザ出力パワーの特性図、第6図はライトパルスと記録ピ
ントを示す図、第4図は本発明の一実施例を示す構成図
、第5図は本実施例の自動焦点信号による異常検出回路
を示す図、第6図はモニタ信号による異常検出回路を示
す図、第7図は保護回路を示す図。 1、・、半導体レーザ、2.・・モニタ、5・・・自動
焦点検出器、4・・・リード電流、原、6・・・ライト
電流源、5・・・ライトドライブ側倒回路、7.8・・
・異常検出回路、10・・・保護回路、11・・・自動
焦点制御回路、13,14・・・コンパレータ、110
・・・モニタ信号、120 、160 、170・・・
異常検出信号、130・・パリード電流、140・・・
ライト電流、150・・・バイパス電流、180・・・
自動焦点制御信号、190・・・ディスク出射光、20
0・・・光信号検出器電流、210・・・・レーザパワ
ー誤差信号。 第 1 図 第2図 ITI(I 嶌 3 図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体レーザの出力によつて光ディスク媒体に情
    報を記録、再生する光ディスク装置において、該半導体
    レーザの出力に対応してモニタ信号を得るための手段と
    、該モニタ信号が予め定めた範囲を越えたことを検出す
    る第1の検出手段と、該半導体レーザから出射した光で
    ありて、光ディスク媒体から反射した光を検出する光学
    的検出器と、該光学的検出器により検出された信号が予
    め定められた範囲を越えたことを検出する第2の検出手
    段と、該第1又は第2の検出手段の少なくとも一方から
    の信号により、半導体レーザへの供給電流をバイパスさ
    せる様に制御する制御手段を有する光ディスク装置。
  2. (2)前記光学的検出器は、半導体レーザからの光を光
    ディスクに射てるときの焦点を制御するための焦点検出
    信号を得る検出器である第1項記載の光ディスク装置。
  3. (3)半導体レーザには、リードワーで該半導体レーザ
    を発光させるための第1の電流源と、ライトパワーで該
    半導体レーザを発光させるための第2の電流源が接続さ
    れ、前記第1の検出手段はリード時の半導体レーザの出
    力が所定の範囲から外れたことを検出する第1項記載の
    光ディスク装置。
  4. (4)第2の検出手段は、光学的検出器からの焦点検出
    信号の変動を検出する第2項記載の光ディスク装置。
JP60269300A 1985-12-02 1985-12-02 光デイスク装置 Pending JPS62129941A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0594633A (ja) * 1991-09-30 1993-04-16 Kyocera Corp レーザダイオードの保護回路

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JPS58161156A (ja) * 1982-03-19 1983-09-24 Hitachi Ltd 光デイスク装置
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JPS60247836A (ja) * 1984-05-22 1985-12-07 Nippon Gakki Seizo Kk 光学式情報再生装置

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