JPS62132333A - 部品選別装置 - Google Patents
部品選別装置Info
- Publication number
- JPS62132333A JPS62132333A JP60272715A JP27271585A JPS62132333A JP S62132333 A JPS62132333 A JP S62132333A JP 60272715 A JP60272715 A JP 60272715A JP 27271585 A JP27271585 A JP 27271585A JP S62132333 A JPS62132333 A JP S62132333A
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- JP
- Japan
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- component
- magazine
- rail
- parts
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体、電子部品の外観やリード線の形状、
印字状態の検査等を行なう部１品選別装置に関するもの
である。
印字状態の検査等を行なう部１品選別装置に関するもの
である。
従来の技術
従来の検査装置は、部品の自然落下を利用し、落下途中
にて部品を一旦保持し検査を行ない最終収納部にて良、
不良のランク分けを行なう傾斜方式がとられていた。
にて部品を一旦保持し検査を行ない最終収納部にて良、
不良のランク分けを行なう傾斜方式がとられていた。
すなわち、装置上部の部品供給部から部品を供給し、傾
斜のついたレール上を自然落下させ、途中で部品を一旦
保持し検査し検査内容をソフト的に保持し最終収納部に
て記憶された内容に従って良、不良等のランク分けを行
なっていた。
斜のついたレール上を自然落下させ、途中で部品を一旦
保持し検査し検査内容をソフト的に保持し最終収納部に
て記憶された内容に従って良、不良等のランク分けを行
なっていた。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このような構成のものでは供給部品を多量にス
トックすることができず、部品供給間隔が短かく長時間
の無人運転ができない。また、検査後も最終工程まで不
良、良品が分離されず流れるため複数の検査する場合、
効率的に検査ができないという問題があった。
トックすることができず、部品供給間隔が短かく長時間
の無人運転ができない。また、検査後も最終工程まで不
良、良品が分離されず流れるため複数の検査する場合、
効率的に検査ができないという問題があった。
すなわち、上部に多量の部品を収納しようとすると、高
い部分に大きな収納部を持つ必要があり装置構成上不安
定になってしまう。また、傾斜レールを使っているため
レール途中から不良ワークを分離することが難しい。
い部分に大きな収納部を持つ必要があり装置構成上不安
定になってしまう。また、傾斜レールを使っているため
レール途中から不良ワークを分離することが難しい。
そこで、本装置は、長時間の無人運転を可能にしかつ検
査後のランク分けを確実にできるような構成とした。
査後のランク分けを確実にできるような構成とした。
問題点を解決するための手段
そして、上記問題点を解決する本発明の技術的な手段は
、検査装置を水平方式として両側に大型の収納装置を設
けさらに検査装置のすぐ後にワーク分離部を設けて検査
後すぐにワークを主レールから分離する構成とした。
、検査装置を水平方式として両側に大型の収納装置を設
けさらに検査装置のすぐ後にワーク分離部を設けて検査
後すぐにワークを主レールから分離する構成とした。
作 用
この技術的手段による作用は、次のようになる。
すなわち、本発明では、両側に大型の収納・供給装置を
設け、その間に検査部と分離部を隣接して設ける構成を
とっているため、長時間無人で安定した検査・選別を行
なえる。
設け、その間に検査部と分離部を隣接して設ける構成を
とっているため、長時間無人で安定した検査・選別を行
なえる。
実施例
以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづいて説明す
る。図において、１は部品供給部であり、複数のマガジ
ンが収納できるマガジンストック部２が設けられている
。３は部品収納用マガジンで、搬送レール４により部品
供給位置まで搬送される。
る。図において、１は部品供給部であり、複数のマガジ
ンが収納できるマガジンストック部２が設けられている
。３は部品収納用マガジンで、搬送レール４により部品
供給位置まで搬送される。
６は部品搬送用のレールで、途中に不良分離部６が設置
されている。７はレール６の内部に有る部品を強制搬送
させる水平搬送装置である。またレール６上には、形状
、印字検査用カメラ８とリード形状検査用カメラ９が設
置されている。１ｏは不良品収納マガジンであシ、１１
は不良分離部６と不良品収納マガジンを連結するレール
である。
されている。７はレール６の内部に有る部品を強制搬送
させる水平搬送装置である。またレール６上には、形状
、印字検査用カメラ８とリード形状検査用カメラ９が設
置されている。１ｏは不良品収納マガジンであシ、１１
は不良分離部６と不良品収納マガジンを連結するレール
である。
１２は部品供給部１と同様な構成となっている良品収納
部である。以上のように構成された検査装置について動
作を説明する。
部である。以上のように構成された検査装置について動
作を説明する。
図においてマガジンストック部２に収納された部品収納
用マガジン３を搬送レール４によっテ部品供給位置まで
搬送する。未検査部品は、部品収納用マガジン３から部
品搬送レール６内に移載される。移載された未検査部品
は搬送装置７によってレール６の内部を強制搬送される
。未検査部品は、形状・印字検査用カメラ８のポジショ
ンに搬送され検査される。検査後不良と判定されたもの
は、分離部６でエヤーにより分離され１１の搬送レール
を介して不良収納マガジン１ｏに収納され ４る０ 良品と判定された部品は、次ポジションのリード形状検
査用カメラ９にて検査される。不良品と判定されたもの
は、上記と同様に不良品収納用マガジン１ｏに収納され
る。最終的に２つの検査を合格した良品は、搬送レール
６から良品収納用マガジン１３に収納される。
用マガジン３を搬送レール４によっテ部品供給位置まで
搬送する。未検査部品は、部品収納用マガジン３から部
品搬送レール６内に移載される。移載された未検査部品
は搬送装置７によってレール６の内部を強制搬送される
。未検査部品は、形状・印字検査用カメラ８のポジショ
ンに搬送され検査される。検査後不良と判定されたもの
は、分離部６でエヤーにより分離され１１の搬送レール
を介して不良収納マガジン１ｏに収納され ４る０ 良品と判定された部品は、次ポジションのリード形状検
査用カメラ９にて検査される。不良品と判定されたもの
は、上記と同様に不良品収納用マガジン１ｏに収納され
る。最終的に２つの検査を合格した良品は、搬送レール
６から良品収納用マガジン１３に収納される。
良品が収納されたマガジン１３は、良品が満杯になると
１４のマガジン収納装置内に収納される。
１４のマガジン収納装置内に収納される。
以上のように本実施例によれば、ワークのストック量を
十分にとれ長時間無人運転ができる。また、検査後すぐ
にその検査での不良は、すぐに主レールより分離される
ため安定した検査・分離が行なえる。
十分にとれ長時間無人運転ができる。また、検査後すぐ
にその検査での不良は、すぐに主レールより分離される
ため安定した検査・分離が行なえる。
発明の効果
以上のように本発明は両側に大型収納・供給部を設は検
査部のすぐ後に分離部を設ける構成としたため、長時間
の安定した検査・選別を行なうことが可能となった。
査部のすぐ後に分離部を設ける構成としたため、長時間
の安定した検査・選別を行なうことが可能となった。
図は本発明の一実施例における部品選別装置の平面図で
ある。 ２・・・・・・マガジンストック部、３・・・・・・部
品収納用マガジン、６・・・・・・レール、６・・・・
・・不良分離部、７・・・・・・水平搬送装置、８・・
・・・・形状、印字検査カメラ、９・・・・・・リード
形状検査カメラ、１ｏ・・・・・・不良品収納マガジン
。
ある。 ２・・・・・・マガジンストック部、３・・・・・・部
品収納用マガジン、６・・・・・・レール、６・・・・
・・不良分離部、７・・・・・・水平搬送装置、８・・
・・・・形状、印字検査カメラ、９・・・・・・リード
形状検査カメラ、１ｏ・・・・・・不良品収納マガジン
。
Claims (1)
- 部品を水平搬送するためのレールと、レール内の部品
を強制的に水平送りする搬送装置と、部品を検査する検
査装置と、この検査装置により不良品を分離する装置と
、不良品を整列収納するための収納装置と、部品を複数
収納でき、かつ部品を前記レールに供給可能な位置に搬
送される第１収納容器と、この第１収納容器を複数収納
でき、かつ所定位置に移送可能な第２収納装置と、検査
され、良と判定された部品を前記レールから受け取り可
能な第２収納容器と、この第２収納容器を複数収納でき
、かつ所定位置に移送可能な第２収納装置とからなる部
品選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60272715A JPS62132333A (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | 部品選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60272715A JPS62132333A (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | 部品選別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62132333A true JPS62132333A (ja) | 1987-06-15 |
Family
ID=17517776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60272715A Pending JPS62132333A (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | 部品選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62132333A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02219716A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-09-03 | Nec Corp | 半導体テーピング加工装置 |
| US5193690A (en) * | 1991-06-06 | 1993-03-16 | Western Litho Plate & Supply Co. | Method of and apparatus for automatically inspecting an exposed and bent lithographic plate |
-
1985
- 1985-12-04 JP JP60272715A patent/JPS62132333A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02219716A (ja) * | 1989-02-17 | 1990-09-03 | Nec Corp | 半導体テーピング加工装置 |
| US5193690A (en) * | 1991-06-06 | 1993-03-16 | Western Litho Plate & Supply Co. | Method of and apparatus for automatically inspecting an exposed and bent lithographic plate |
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