JPH0192170A - 板状物体の自動選別方式 - Google Patents
板状物体の自動選別方式Info
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- JPH0192170A JPH0192170A JP62249863A JP24986387A JPH0192170A JP H0192170 A JPH0192170 A JP H0192170A JP 62249863 A JP62249863 A JP 62249863A JP 24986387 A JP24986387 A JP 24986387A JP H0192170 A JPH0192170 A JP H0192170A
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- Japan
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- rack
- elevator
- plate
- printed circuit
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- Separation, Sorting, Adjustment, Or Bending Of Sheets To Be Conveyed (AREA)
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Warehouses Or Storage Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、例えばプリント基板の自動検査装置に使用さ
れるような板状物体の自動選別方式の改良に関するもの
である。以下、プリント基板の自動検査装置を例示して
、本発明を説明する。
れるような板状物体の自動選別方式の改良に関するもの
である。以下、プリント基板の自動検査装置を例示して
、本発明を説明する。
［従来の技術］
第４図は従来のプリント基板の自動検査装置の構成説明
図で、（イ）は平面図、（ロ）は側面図、第５図は動作
説明図である。
図で、（イ）は平面図、（ロ）は側面図、第５図は動作
説明図である。
第４図と第５図において、（１）は検査装置の本体、（
２）は供給機構で、（２０）は供給機構（２）における
昇降機、（２１）と（２２）は供給側の送りコンベアと
戻しコンベア、（３０）は供給器、（３１）、（３２）
〜は供給ラックである。（４）は並列構造の送出機構で
、（４０）はトラバーサ−１（５０）、（５０−）は送
出側の昇降機、（５１）、（５１−）は送りコンベア、
（５２）、（５２−）は戻しコンベア、（６０）。
２）は供給機構で、（２０）は供給機構（２）における
昇降機、（２１）と（２２）は供給側の送りコンベアと
戻しコンベア、（３０）は供給器、（３１）、（３２）
〜は供給ラックである。（４）は並列構造の送出機構で
、（４０）はトラバーサ−１（５０）、（５０−）は送
出側の昇降機、（５１）、（５１−）は送りコンベア、
（５２）、（５２−）は戻しコンベア、（６０）。
（６ＯＮは送出器、（６１）、（６２）〜と（６１−）
、 〜（６２−）は収納ラックである。
、 〜（６２−）は収納ラックである。
（Ｐ）は、被検対象のプリント基板である。
このような構成の従来の自動検査装置において、供給機
構（２）の送りコンベア（２１）によって、供給ラック
（３１）が昇降機（２０）内に送られる。昇降機（２０
）に供給ラック（３１）が送られると、供給器（３０）
によって供給ラック（３１）の棚からプリント基板（Ｐ
）が順々に本体（１）内に押し込まれて、所定の検査が
実施される。検査を受けたプリント基板（Ｐ）は、良品
と不良品のいずれかに選択される。ここで、選択された
プリント基板（Ｐ）は、トラバーサ−（４０）によって
振り分けられることになる。良品に選択されたプリント
基板（Ｐ ｇ）は、送出器（６０）を介して、例えば手
前側の昇降機（５０）内の収納ラック（６１）に収納さ
れる。また、不良品のプリント基板（Ｐ ｂ）は、送出
器（６０−）によって奥の方の収納ラック（６１−）に
収納される。
構（２）の送りコンベア（２１）によって、供給ラック
（３１）が昇降機（２０）内に送られる。昇降機（２０
）に供給ラック（３１）が送られると、供給器（３０）
によって供給ラック（３１）の棚からプリント基板（Ｐ
）が順々に本体（１）内に押し込まれて、所定の検査が
実施される。検査を受けたプリント基板（Ｐ）は、良品
と不良品のいずれかに選択される。ここで、選択された
プリント基板（Ｐ）は、トラバーサ−（４０）によって
振り分けられることになる。良品に選択されたプリント
基板（Ｐ ｇ）は、送出器（６０）を介して、例えば手
前側の昇降機（５０）内の収納ラック（６１）に収納さ
れる。また、不良品のプリント基板（Ｐ ｂ）は、送出
器（６０−）によって奥の方の収納ラック（６１−）に
収納される。
良品（Ｐ ｇ）の収納ラック（６１）内への収納状態が
、第５図に示されている。
、第５図に示されている。
［発明が解決しようとする問題点］
従来の選別方式は上記のように、選択後の板状物体を選
別の種類毎に別々の並列な流れ経路を経て収納するよう
になっているので、板状物体を各分路に振り分けるため
のトラバーサ−のような振り分は機構が必要になる。ま
た、振り分けられた後に板状物体を送り出すための、コ
ンベアーを並列に設けなければならない。特に、選別の
種類が多い場合は、それだけ構造が大形で複雑になって
、設備費が高額になるばかりか保守管理も面倒になると
いう問題点がある。
別の種類毎に別々の並列な流れ経路を経て収納するよう
になっているので、板状物体を各分路に振り分けるため
のトラバーサ−のような振り分は機構が必要になる。ま
た、振り分けられた後に板状物体を送り出すための、コ
ンベアーを並列に設けなければならない。特に、選別の
種類が多い場合は、それだけ構造が大形で複雑になって
、設備費が高額になるばかりか保守管理も面倒になると
いう問題点がある。
本発明は、このような従来方式の問題点を解決するため
になされたもので、構成が簡単な板状物体の自動選別方
式を提供することを目的とするものである。
になされたもので、構成が簡単な板状物体の自動選別方
式を提供することを目的とするものである。
［問題を解決するための手段］
複数種に選択された後に選別されて収納される板状物体
の収納位置を、選別の種類毎に流れ方向に沿ってずらせ
て収納するように構成したものである。
の収納位置を、選別の種類毎に流れ方向に沿ってずらせ
て収納するように構成したものである。
［作 用］
選択された板状物体は、順々に流れ方向に沿って送られ
て、選別の種類毎に例えばラックの棚の上の所定の位置
にずらせて収納される。
て、選別の種類毎に例えばラックの棚の上の所定の位置
にずらせて収納される。
［発明の実施例］
第１図は本発明の実施例の構成説明図で、（イ）は平面
図、（ロ）は側面図、第２図はその動作説明図、第３図
は板状物体の収納状態を示す説明図で、（イ）は斜視図
、（ロ）は側面図ある。
図、（ロ）は側面図、第２図はその動作説明図、第３図
は板状物体の収納状態を示す説明図で、（イ）は斜視図
、（ロ）は側面図ある。
第１図乃至第３図において、前述の第３図および第４図
と同じ記号のものは、同様な構成で同様な機能のものを
あられす。本発明において上記の従来方式と異なるとこ
ろは、主に送出機構（４）の構成にある。
と同じ記号のものは、同様な構成で同様な機能のものを
あられす。本発明において上記の従来方式と異なるとこ
ろは、主に送出機構（４）の構成にある。
即ち、図面から明らかのように、本発明は送出機構（４
）において、前記のトラバーサ−（４０）のような振り
分は機構を具備しない。したがって、また、昇降機（５
０） 、送りコンベアー（５１）および送出器（６０）
等からなる送出機構（４）の主要部、つまり送給経路が
単一で昇降機等の構成素子が流れ方向に沿って直列的に
配置されている。その他の本発明の構成は、第４図およ
び第５図と共通である。以下、第１図乃至第３図を用い
て、本発明の構成および動作をやや詳しく説明する。
）において、前記のトラバーサ−（４０）のような振り
分は機構を具備しない。したがって、また、昇降機（５
０） 、送りコンベアー（５１）および送出器（６０）
等からなる送出機構（４）の主要部、つまり送給経路が
単一で昇降機等の構成素子が流れ方向に沿って直列的に
配置されている。その他の本発明の構成は、第４図およ
び第５図と共通である。以下、第１図乃至第３図を用い
て、本発明の構成および動作をやや詳しく説明する。
供給ラック（３１）、（３２）〜は、第５図に示された
収納ラック（６１）と類似した構造で、横向きにした角
筒状に作られている。これらの供給ラック（３１）、（
３２）〜内の左右の対向部分には、一定間隔毎に突出し
た支え片（ａ）。
収納ラック（６１）と類似した構造で、横向きにした角
筒状に作られている。これらの供給ラック（３１）、（
３２）〜内の左右の対向部分には、一定間隔毎に突出し
た支え片（ａ）。
（ａ）が設けられている（第３図（イ）参照）。
そして、複数個（実施例では５枚）のプリント基板（Ｐ
ｉ）、（Ｐ２）〜が両側の支え片（ａ）と（ａ）に支え
られて、各ラック内に水平に格納されている。このよう
にして検査を受けるプリント基板（Ｐ）を格納した供給
ラック（３１）、（３２）〜は、下側の送りコンベア（
２１）によって順次１個づつ昇降機（２０）の方向に間
欠的に送られる。昇降機（２０）内に供給ラック（３１
）が送られてくると供給器（３０）が駆動され、−番上
のプリント基板（Ｐｌ）が検査装置の本体（１）の入口
側から押し込まれる。本体（１）に押し込まれたプリン
ト基板（Ｐｌ）は出口側に送られながら、プリント配線
の同一回路内の導通試験や隣接回路との絶縁チエツク等
の所定の検査項目について検査される。この検査結果に
基づいて、良品と不良品が選択される。続いて、昇降機
（２０）が供給ラック（３１）の１段分だけ上昇して、
上から２番目のプリント基板（Ｐ２）が本体（１）に押
し込まれ、同じ検査項目の検査がなされる。
ｉ）、（Ｐ２）〜が両側の支え片（ａ）と（ａ）に支え
られて、各ラック内に水平に格納されている。このよう
にして検査を受けるプリント基板（Ｐ）を格納した供給
ラック（３１）、（３２）〜は、下側の送りコンベア（
２１）によって順次１個づつ昇降機（２０）の方向に間
欠的に送られる。昇降機（２０）内に供給ラック（３１
）が送られてくると供給器（３０）が駆動され、−番上
のプリント基板（Ｐｌ）が検査装置の本体（１）の入口
側から押し込まれる。本体（１）に押し込まれたプリン
ト基板（Ｐｌ）は出口側に送られながら、プリント配線
の同一回路内の導通試験や隣接回路との絶縁チエツク等
の所定の検査項目について検査される。この検査結果に
基づいて、良品と不良品が選択される。続いて、昇降機
（２０）が供給ラック（３１）の１段分だけ上昇して、
上から２番目のプリント基板（Ｐ２）が本体（１）に押
し込まれ、同じ検査項目の検査がなされる。
同様にして最下段のプリント基板（Ｐ５）が本体（１）
に押し込まれて検査されると共に、空になった供給ラッ
ク（３１）が上側の戻しコンベア（２２）の上に載せら
れる。そして、次の供給ラック（３２）が昇降機（２０
）内に送られ、同様な自動的動作で次々にプリント基板
（Ｐ）の検査が実施される。
に押し込まれて検査されると共に、空になった供給ラッ
ク（３１）が上側の戻しコンベア（２２）の上に載せら
れる。そして、次の供給ラック（３２）が昇降機（２０
）内に送られ、同様な自動的動作で次々にプリント基板
（Ｐ）の検査が実施される。
一方、送出機構（４）の送りコンベア（５１）によって
、送り出し側の昇降機（５０）内に空の収納ラック（６
１）が送られてくる。そして、昇降機（５０）が間欠的
に駆動されて良品または不良品に選択されたプリント基
板（ＰＩ）、（Ｐ２）〜が、送出器（６０）を介して空
の収納ラック（６１）内に最上段から順に積み込まれる
。この場合、良品（Ｐ ｇ）に選択されたプリント基板
（Ｐｌ）と（Ｐ２）および（Ｐ４）の収納位置は、第３
図の（ロ）図に示されているように、収納ラック（６１
）における先端付近を占める垂直方向の（Ｘｌ）面上の
位置に選ばれている。また、不良品（ｐ ｂ）に選択さ
れたプリント基板（Ｐ３）および（Ｐ５）の収納位置は
、収納ラック（６１）の中央付近で（Ｘｌ）から流れ方
向に（ΔＸ）だけずらされた（Ｘ２）面上に揃えられて
収納されている。
、送り出し側の昇降機（５０）内に空の収納ラック（６
１）が送られてくる。そして、昇降機（５０）が間欠的
に駆動されて良品または不良品に選択されたプリント基
板（ＰＩ）、（Ｐ２）〜が、送出器（６０）を介して空
の収納ラック（６１）内に最上段から順に積み込まれる
。この場合、良品（Ｐ ｇ）に選択されたプリント基板
（Ｐｌ）と（Ｐ２）および（Ｐ４）の収納位置は、第３
図の（ロ）図に示されているように、収納ラック（６１
）における先端付近を占める垂直方向の（Ｘｌ）面上の
位置に選ばれている。また、不良品（ｐ ｂ）に選択さ
れたプリント基板（Ｐ３）および（Ｐ５）の収納位置は
、収納ラック（６１）の中央付近で（Ｘｌ）から流れ方
向に（ΔＸ）だけずらされた（Ｘ２）面上に揃えられて
収納されている。
このようにして、プリント基板（Ｐ）が所定数収納され
ると、収納ラック（６１）が上側の戻しコンベア（５２
）に移し変えられる。同時に、次の収納ラック（６２）
が昇降機（５０）内に送られ、この収納ラック（６２）
内においても良品（Ｐ ｇ）と不良品（Ｐ ｂ）との選
別の種類毎に流れ方向の位置をずらせて収納される。
ると、収納ラック（６１）が上側の戻しコンベア（５２
）に移し変えられる。同時に、次の収納ラック（６２）
が昇降機（５０）内に送られ、この収納ラック（６２）
内においても良品（Ｐ ｇ）と不良品（Ｐ ｂ）との選
別の種類毎に流れ方向の位置をずらせて収納される。
第２図における供給機構（２）の上側の供給ラック（３
１）と（３２）は空ラックであり、矢印（Ａ）で示すよ
うにコンベア（２２）によって図面の右側方向に送り返
される。また、送出機構（４）の収納ラック（６１）と
（６２）は、積み荷待ちの空ラックで矢印（Ｂ）の経路
を辿って送られる。しかして、上述した検査装置全体の
自動操作は、図示されていない制御装置によって制御さ
れるようになっている。
１）と（３２）は空ラックであり、矢印（Ａ）で示すよ
うにコンベア（２２）によって図面の右側方向に送り返
される。また、送出機構（４）の収納ラック（６１）と
（６２）は、積み荷待ちの空ラックで矢印（Ｂ）の経路
を辿って送られる。しかして、上述した検査装置全体の
自動操作は、図示されていない制御装置によって制御さ
れるようになっている。
なお、上述の実施例ではプリント基板の検査装置を例示
して説明したが、プリント基板以外の板状物体の試験装
置その他の装置にも本発明方式を適用することができる
。また、良品と不良品の２種類に選別される場合を挙げ
たが、必ずしも２種類に限定するものではなく、３種類
以上に選別される場合であってもよい。また、板状物体
が収納ラック等の送給経路を水平に流れる場合で説明し
たが、垂直或いは傾斜して送給する場合でもよく、要す
るに選別の種類毎に流れ方向の収納位置によって仕分け
られていれば良い。
して説明したが、プリント基板以外の板状物体の試験装
置その他の装置にも本発明方式を適用することができる
。また、良品と不良品の２種類に選別される場合を挙げ
たが、必ずしも２種類に限定するものではなく、３種類
以上に選別される場合であってもよい。また、板状物体
が収納ラック等の送給経路を水平に流れる場合で説明し
たが、垂直或いは傾斜して送給する場合でもよく、要す
るに選別の種類毎に流れ方向の収納位置によって仕分け
られていれば良い。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば選択された板状物
体を選別するための収納位置を、選別の種類毎に送給経
路の流れ方向に沿ってずらせて収納するようにした。こ
のため、選択後の板状物体を流れ方向と交差する方向に
振り分けるトラバーサ−のような機構が不必要になる。
体を選別するための収納位置を、選別の種類毎に送給経
路の流れ方向に沿ってずらせて収納するようにした。こ
のため、選択後の板状物体を流れ方向と交差する方向に
振り分けるトラバーサ−のような機構が不必要になる。
また、選別の種類に応じた数の、コンベアのような並列
な送出機構を省略することもできる。更に、供給機構側
と送出機構側が検査装置の本体を挾んで対称構造である
から、供給（収納）ラックや昇降機等に互換性があって
保守や取扱に都合が良いばかりか、多量生産的で設備費
が一層安価になる。
な送出機構を省略することもできる。更に、供給機構側
と送出機構側が検査装置の本体を挾んで対称構造である
から、供給（収納）ラックや昇降機等に互換性があって
保守や取扱に都合が良いばかりか、多量生産的で設備費
が一層安価になる。
よって、本発明によれば、廉価で簡単且つ小型な構成の
板状物体の自動選別方式を提供することができる。
板状物体の自動選別方式を提供することができる。
第１図は本発明の実施例の構成説明図、第２図と第３図
はその動作説明図、第４図と第５図は従来方式の構成説
明図である。 図において、（１）は本体、（２）は供給機構、（４）
は送出機構、（２０） 、 （５０）は昇降機、（２１
）。 （２２）、（５１）、（５２）はコンベア、（３０）は
供給器、（３１〉、（３２）〜は供給ラック、（６０）
は送出器、（６１）、（６２）〜は収納ラック、（Ｐ
） −（ＰＬ）、（Ｐ２）〜はブリント基板、（Ｐｇ）
は良品、（Ｐｂ）は不良品である。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。
はその動作説明図、第４図と第５図は従来方式の構成説
明図である。 図において、（１）は本体、（２）は供給機構、（４）
は送出機構、（２０） 、 （５０）は昇降機、（２１
）。 （２２）、（５１）、（５２）はコンベア、（３０）は
供給器、（３１〉、（３２）〜は供給ラック、（６０）
は送出器、（６１）、（６２）〜は収納ラック、（Ｐ
） −（ＰＬ）、（Ｐ２）〜はブリント基板、（Ｐｇ）
は良品、（Ｐｂ）は不良品である。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- （１）多数の板状物体を順次送給経路に沿って送給しな
がら試験・検査して該試験・検査結果に基づいて複数種
に選択してから自動的に選別して収納するような方式に
おいて、 前記選択された板状物体の収納位置を選別の種類毎に前
記送給経路の流れ方向にずらせて収納することを特徴と
する板状物体の自動選別方式。 - （２）前記板状物体をプリント基板とする前記特許請求
の範囲第１項記載の板状物体の自動選別方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62249863A JPH0192170A (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | 板状物体の自動選別方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62249863A JPH0192170A (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | 板状物体の自動選別方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0192170A true JPH0192170A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=17199309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62249863A Pending JPH0192170A (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | 板状物体の自動選別方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0192170A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03229499A (ja) * | 1990-02-05 | 1991-10-11 | Taiyo Yuden Co Ltd | 電子回路基板の目視検査装置 |
| DE19957028A1 (de) * | 1999-11-26 | 2001-06-21 | Loewe Opta Gmbh | Verfahren zum Prüfen und Reparieren von elektronischen Baugruppen |
| JP2007214497A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 載置板収納装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6331966A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-10 | Seikosha Co Ltd | ワ−ク排出方法およびその装置 |
-
1987
- 1987-10-05 JP JP62249863A patent/JPH0192170A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6331966A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-10 | Seikosha Co Ltd | ワ−ク排出方法およびその装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03229499A (ja) * | 1990-02-05 | 1991-10-11 | Taiyo Yuden Co Ltd | 電子回路基板の目視検査装置 |
| DE19957028A1 (de) * | 1999-11-26 | 2001-06-21 | Loewe Opta Gmbh | Verfahren zum Prüfen und Reparieren von elektronischen Baugruppen |
| DE19957028B4 (de) * | 1999-11-26 | 2004-09-16 | Loewe Opta Gmbh | Verfahren zum Prüfen und Reparieren von elektronischen Baugruppen |
| JP2007214497A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 載置板収納装置 |
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