JPS62134584A - レ−ザ測距装置 - Google Patents
レ−ザ測距装置Info
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- JPS62134584A JPS62134584A JP27447585A JP27447585A JPS62134584A JP S62134584 A JPS62134584 A JP S62134584A JP 27447585 A JP27447585 A JP 27447585A JP 27447585 A JP27447585 A JP 27447585A JP S62134584 A JPS62134584 A JP S62134584A
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- Japan
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- time
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Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、レーザを用いた測距装置に関し、特にパルス
レーザ光の往復時間を計時する事によって距離を計測す
るレーザ測距装置に関する。
レーザ光の往復時間を計時する事によって距離を計測す
るレーザ測距装置に関する。
［従来の技術］
この種のレーザ測距装置としては第４図のブロック図で
示される構成のものがあり、単−短パルスレーザ光を測
距対象物に照射してその反射光を検出する。そのレーザ
光送信時と反射光受信時の時間間隔が光の往復時間であ
る事から、この計時によって測距を行なう。
示される構成のものがあり、単−短パルスレーザ光を測
距対象物に照射してその反射光を検出する。そのレーザ
光送信時と反射光受信時の時間間隔が光の往復時間であ
る事から、この計時によって測距を行なう。
測距対象物から反射して測距装置に捕えられた反射光は
減衰してノイズを含んでいるので、ノイズによる誤測距
を避けるため受信回路に閾値を設けた波高弁別器を用い
て信号のみ取り出す必要がある。
減衰してノイズを含んでいるので、ノイズによる誤測距
を避けるため受信回路に閾値を設けた波高弁別器を用い
て信号のみ取り出す必要がある。
従来のこの種のレーザ測距装置は、このような処理回路
を送信、受信回路にもち、各々の波高弁別された立ち上
がり点の時間間隔を計時していた。
を送信、受信回路にもち、各々の波高弁別された立ち上
がり点の時間間隔を計時していた。
［解決すべき問題点］
上述した従来のレーザ測距装置は、第４図の計時タイミ
ングに示す如く送信信号Ｃ１受信信号ｄの波高弁別され
た立ち上がり点の時間間隔を計時している。波高弁別器
の閾値は一定であるから、ガウス型の時間波形をもつ送
信光、受信光に強度変化があると、波高弁別された立ち
上がり点は変化する。通常、送信光の強度は一定に出来
るが、受信光は、測距対象物までの距離や途中の大気の
通過率により大きく変化するため、立ち上がり点は受信
光のノイズから分離できる最も弱い立ち上がり部から最
大強度のピーク部まで変化する。
ングに示す如く送信信号Ｃ１受信信号ｄの波高弁別され
た立ち上がり点の時間間隔を計時している。波高弁別器
の閾値は一定であるから、ガウス型の時間波形をもつ送
信光、受信光に強度変化があると、波高弁別された立ち
上がり点は変化する。通常、送信光の強度は一定に出来
るが、受信光は、測距対象物までの距離や途中の大気の
通過率により大きく変化するため、立ち上がり点は受信
光のノイズから分離できる最も弱い立ち上がり部から最
大強度のピーク部まで変化する。
従って従来のこの種のレーザ測距装置の測距精度は、測
距に用いるパルスレーザ光の立ち上がり時間により定ま
り、立ち上がり時間に進む光の距＃（往復）の半分であ
った。このため、高精度の測距ができない場合があった
。
距に用いるパルスレーザ光の立ち上がり時間により定ま
り、立ち上がり時間に進む光の距＃（往復）の半分であ
った。このため、高精度の測距ができない場合があった
。
［問題点の解決手段］
上記従来の問題点を解決する本発明のレーザ測距装置は
、パルスレーザ光の往復時間を計測する事をもって距離
を計測するレーザ測距装置において、光電変換された送
信信号と受信信号を波高弁別して波形整形する波高弁別
手段と、整形波形の立ち上がり点と立り下がり点の両方
を検出する事でその信号の中心を判定し、その各中心間
の時間間隔を計時する計時手段とを備え、上記信号の中
心間の時間間隔から測距を行なう構成である。
、パルスレーザ光の往復時間を計測する事をもって距離
を計測するレーザ測距装置において、光電変換された送
信信号と受信信号を波高弁別して波形整形する波高弁別
手段と、整形波形の立ち上がり点と立り下がり点の両方
を検出する事でその信号の中心を判定し、その各中心間
の時間間隔を計時する計時手段とを備え、上記信号の中
心間の時間間隔から測距を行なう構成である。
［実施例］
以下、本発明について一実施例を示す図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は本発明の一実施例に係るレーザ測距装置のブロ
ック図で、第２図に計時タイミングを示す。
ック図で、第２図に計時タイミングを示す。
１は短パルスレーザ光を発生するレーザ装置で、発生し
たレーザ光はビームスプリッタ２により測距対象物３に
向けて投射されると同時に送信用光電変換器４にはいり
、送信信号になる。
たレーザ光はビームスプリッタ２により測距対象物３に
向けて投射されると同時に送信用光電変換器４にはいり
、送信信号になる。
第２図のａの波形がそれである。測距対象物３かもの反
射光は受信光学系５によって集められ受信用光電変換器
６にはいり受信信号になる。第２図のｂの波形がそれで
ある。この送信信号ａは波高弁別器７によって、受信信
号すは波高弁別器８によって夫々ノイズから分離して取
り出されて波形整形される。
射光は受信光学系５によって集められ受信用光電変換器
６にはいり受信信号になる。第２図のｂの波形がそれで
ある。この送信信号ａは波高弁別器７によって、受信信
号すは波高弁別器８によって夫々ノイズから分離して取
り出されて波形整形される。
波形整形された送信、受信の各信号は、それぞれ立ち上
がり時トリガ発生回路９および１１にはいり、信号の立
ち上がり時にタイムインタバルカウンタ１３および１４
をスタートさせる。
がり時トリガ発生回路９および１１にはいり、信号の立
ち上がり時にタイムインタバルカウンタ１３および１４
をスタートさせる。
また同時に立ち下がり時トリガ発生回路１０．１２にも
はいり信号の立ち下がり時にタイムインタバルカウンタ
１３．１４をストップさせる。
はいり信号の立ち下がり時にタイムインタバルカウンタ
１３．１４をストップさせる。
第２図でこのタイミングを示す。ここにおいて送信立ち
上がり時をｊＴｒ、送信立ち下がり時をｔｏ、受信立ち
上がり時をＬＲｒ、受信立ち下がり時をｔＲｒで以す。
上がり時をｊＴｒ、送信立ち下がり時をｔｏ、受信立ち
上がり時をＬＲｒ、受信立ち下がり時をｔＲｒで以す。
さらに、送信立ち下がり時トリガはもう１つのタイムイ
ンタバルカウンタ１５のスタートにはいり、受信立ち上
がり時トリガはストップにはいる。
ンタバルカウンタ１５のスタートにはいり、受信立ち上
がり時トリガはストップにはいる。
ここでタイムインタバルカウンタ１５はクロックパルス
発生器１６のクロックでスタート、ストップ間を時間計
測する。またタイムインタバルカウンタ１３．１４には
繕分周器１７によってクロック周波数が半分になったク
ロックパルスでスタート、ストップ間を時間計測する。
発生器１６のクロックでスタート、ストップ間を時間計
測する。またタイムインタバルカウンタ１３．１４には
繕分周器１７によってクロック周波数が半分になったク
ロックパルスでスタート、ストップ間を時間計測する。
すなわちタイムインタバルカウンタ１３にて整形された
送信信号幅の半分ｔｗｔ＝３’ｑ （ｔｒｒ −ｔＴ、
）を、タイムインタバルカウンタ１４にて整形された受
信信号幅の半分ｔｌｌＲ：展（ｔａｒ−ｔＲｒ）を、タ
イムインタバルカウンタ１５にて整形された受信信号の
立ち上がり時と整形された送信信号の立ち下がり時の時
間間隔ｊｊｌｏ＝ＬＲｒ−目ｆを計測する事になる。
送信信号幅の半分ｔｗｔ＝３’ｑ （ｔｒｒ −ｔＴ、
）を、タイムインタバルカウンタ１４にて整形された受
信信号幅の半分ｔｌｌＲ：展（ｔａｒ−ｔＲｒ）を、タ
イムインタバルカウンタ１５にて整形された受信信号の
立ち上がり時と整形された送信信号の立ち下がり時の時
間間隔ｊｊｌｏ＝ＬＲｒ−目ｆを計測する事になる。
ここで加算器１８を用いてこの３つのカウンタのデータ
を加算すると送信信号の中心から受信信号の中心までの
時間間隔を−をｔｗ＝ｔｗｔ＋を簑０＋ｔｏで得る事が
でき、測距が行われる。本実施例においては整形波形の
全幅を時間測定クロックの半分の周波数をもつクロック
で計測する事により信号の中心を得ている事になる。従
って、信号の中心の時間位置は信号の強度変化があって
も変化しないｑとから、従来のように測距精度がレーザ
光の立ち上がり時間により定まることがなく高精度の測
距が可能となる。
を加算すると送信信号の中心から受信信号の中心までの
時間間隔を−をｔｗ＝ｔｗｔ＋を簑０＋ｔｏで得る事が
でき、測距が行われる。本実施例においては整形波形の
全幅を時間測定クロックの半分の周波数をもつクロック
で計測する事により信号の中心を得ている事になる。従
って、信号の中心の時間位置は信号の強度変化があって
も変化しないｑとから、従来のように測距精度がレーザ
光の立ち上がり時間により定まることがなく高精度の測
距が可能となる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明は、送信信号と受信信号の各
中心間の時間間隔を計時する。信号の強度変化があった
場合でも中心の時間位置は変化しないので、従来のレー
ザ測距装置のように測距精度がレーザ光の立ち上がり時
間に定まるような事がなく信号の強弱・レーザ光の立ち
上がり時間にかかわらず高精度の測距ができる効果があ
る。
中心間の時間間隔を計時する。信号の強度変化があった
場合でも中心の時間位置は変化しないので、従来のレー
ザ測距装置のように測距精度がレーザ光の立ち上がり時
間に定まるような事がなく信号の強弱・レーザ光の立ち
上がり時間にかかわらず高精度の測距ができる効果があ
る。
第１図は本発明の一実施例に係るレーザ測距装置の構成
ブロック図 第２図は第１図に示すレーザ測距装置の計時タイミング
を示す図、 第３図は従来のレーザ測距装置の構成ブロック図、 第４図は第３図に示すレーザ測距装置の計時タイミング
を示す図である。 １：レーザ装置 ２：ビームスブリッタ３：測距対
象物 ４：送信用光電変換器５：受信光学系
６：受信用光電変換器７：波高弁別器 ８：波高弁
別器 ９：立ち上がり時トリガ発生器 １０：立ち下がり時トリガ発生器 １１二立ち上がり時トリガ発生器 １２：立ち下がり時トリガ発生器 １３：タイムインタバルタイマ １４：タイムインタバルタイマ １５：タイムインタバルタイマ １６：クロックパルス発生器
ブロック図 第２図は第１図に示すレーザ測距装置の計時タイミング
を示す図、 第３図は従来のレーザ測距装置の構成ブロック図、 第４図は第３図に示すレーザ測距装置の計時タイミング
を示す図である。 １：レーザ装置 ２：ビームスブリッタ３：測距対
象物 ４：送信用光電変換器５：受信光学系
６：受信用光電変換器７：波高弁別器 ８：波高弁
別器 ９：立ち上がり時トリガ発生器 １０：立ち下がり時トリガ発生器 １１二立ち上がり時トリガ発生器 １２：立ち下がり時トリガ発生器 １３：タイムインタバルタイマ １４：タイムインタバルタイマ １５：タイムインタバルタイマ １６：クロックパルス発生器
Claims (1)
- パルスレーザ光の往復時間を計測する事をもって距離を
計測するレーザ測距装置において、光電変換された送信
信号と受信信号を波高弁別して波形整形する波高弁別手
段と、整形波形の立ち上がり点と立り下がり点の両方を
検出する事でその信号の中心を判定し、その各中心間の
時間間隔を計時する計時手段とを備え、上記信号の中心
間の時間間隔から測距を行なうことを特徴とするレーザ
測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27447585A JPS62134584A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | レ−ザ測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27447585A JPS62134584A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | レ−ザ測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62134584A true JPS62134584A (ja) | 1987-06-17 |
Family
ID=17542206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27447585A Pending JPS62134584A (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | レ−ザ測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62134584A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0381687A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-08 | Nec Corp | レーザ測距装置 |
| JP5128006B2 (ja) * | 2010-05-19 | 2013-01-23 | 三菱電機株式会社 | 障害物検知装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5122465A (ja) * | 1974-08-19 | 1976-02-23 | Hitachi Ltd | Hikariparususotsukyoho |
-
1985
- 1985-12-06 JP JP27447585A patent/JPS62134584A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5122465A (ja) * | 1974-08-19 | 1976-02-23 | Hitachi Ltd | Hikariparususotsukyoho |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0381687A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-08 | Nec Corp | レーザ測距装置 |
| JP5128006B2 (ja) * | 2010-05-19 | 2013-01-23 | 三菱電機株式会社 | 障害物検知装置 |
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