JPS6214888A - ミシンの送り量を決定し調整するための方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 投権分」 本発明は、少なくとも１つの被縫製物層を送り方向に相
前後する２つの位置で走査するセンサ装置と、ミシンの
上軸と結合されるパルス発生器と、目印を検知する間に
前記両走査位置に生じるパルスを評価するための信号処
理装置とを有するミシンの被縫製物送り量を決定するた
めの方法及び装置に関するものである。

灸來伎亙 例えば２つの被縫製物層を縁を揃えて縫合させる場合と
か、長さを考慮して縫合させる場合のように特定の縫製
作業を自動化するにあたって１種々の切り換え過程及び
制御過程を実施するためには、送り手段の一回当たりの
送りステップ量における有効な送り量を検出したり、場
合によっては２つの被縫製物層の相対移動を検出したり
するのが有利である。

ドイツ特許第２３６１３７５号公報には、２つの被縫製
物を位置を全く同じ状態にして縫い合わせるためのミシ
ンが開示されている。このミシンでは、各被縫製物層に
対してその送り量を走査するための測定車が設けられて
いる。この測定車は、送り手段に作用を及ぼす制御回路
のためのパルスを発生させる。この公知のミシンの場合
、被１１ｋｇＩ物層と測定車の間に、とりわけ被縫製物
の布の質とか、横糸及び縦糸の方向、送り速度の大きさ
に依存してスリップが生じ、測定結果に誤差が生じるこ
とが判明している。従ってこの測定方法は。

特に！１１１Ｊ距離が長い場合に不正確なものとなる。

本発明の特許請求の範囲第１項の前提概念をつくるにあ
たって考慮したドイツ特許公開第３２１６９９３号公報
には、１つの被縫製物の送り量を１つの縫目の終端部分
で測定するための方法が開示されている。この方法では
、縫製中の稜に対して角度を成して延びている被縫製物
の後続の稜がセンサ装置によって走査される。このセン
サ装置は、互いに間隔を置いて相前後して配置される２
つのセンサを有している。ミシンの上軸と接続されるパ
ルス発生器のパルスであって両センサが応答する間のイ
ンターバルに形成されるパルスの総数は、両センサの走
査位置の間隔とミシンの送りの調整された縫目長さとに
依存してマイクロプロセッサによって算出されるパルス
数と比較される。

両パルス数に差が生じた場合には、その差から送り手段
と被縫製物の間のスリップの大きさが検出される。

パルス計数過程の開始及び終了は被縫製物の稜を走査す
ることによって行われるので、高い精度を得るためには
、被縫製物の稜が滑らかに裁断されほつれていないよう
にすることが必要である。

さらに、縫製中の稜に対して角度を成して延びている被
縫製物の後続の稜がセンサ装置によって走査されるので
、１つの縫目の終端部分でしか測定を行うことができず
、例えば縫目のコーナーポイントを正確に制御するため
にしか適用できない。

最後にドイツ特許第１３０２９８８号公報から公知の制
御方法では、ミシンの種々の切り換え手段が反射性のマ
ーキングポイントを走査することによって制御される。

マーキングポイントは、被縫製物上にある型板または被
縫製物自体に設けられる。この方法では、被縫製物に関
連した高い切り換え精度を得るためには、マーキングポ
イントを各被縫製物の正確に同じ位置に設け、この位置
で特定の切り換え過程が行われるようにしなければなら
ない、このような条件は、確かにマーキングポイントを
型板に設ける場合には満たされる。

ただしこの場合、型板と被、ＩｉＩ製物が互いに正確に
整向されていなければならないことはいうまでもない。

しかしながらこの種の型板は、同じ被縫製物を多数処理
する場合にしか効果的にはならない。

たとえマーキングポイントを個々の被Ｍ製物に直接設け
たとしても、所望の精度を得るためには同様に型板を使
用せねばならず、この種のマーキングも同じ被縫製物を
多数処理する場合にしか意味をなさない。

Ｉイσ 本発明の目的は、１つの縫目の任意の位置で被縫製物の
送り量の測定を十分正確に行うことができ、形状や大き
さが異なったいくつかの被縫製物を処理することにも適
した、被縫製物の送り量を測定するための方法及びこの
方法を実施するための装置を提供することである。

盪處及ｙ夏来 本発明は、上記目的を達成するため、方法に関しては、
走査のために、被縫製物層の任意の位置に付けられた目
印を使用し、この目印を連続的に検知する間に形成され
る総パルス数を、縫目長さと走査位置間の間隔とに対応
している基準パルス数と比較することを１つの特徴とす
るものである。

被縫製物層の任意の位置に設けられる被縫製物に関連し
た目印を走査するどい・う方法によって。

縫目形成過程の任意の時間に、送りに同期したずれのな
い測定値を得ることができる。この測定値は、実際の送
り量を非常に正確に特定させる。

特許請求の範囲第２項によれば、２つの被縫製物層を縫
合させる場合各被ａＳ物層に対して送りが決定される。

従って、上送りと下送りとを備えたミシンを使用する場
合に両被縫製物層が相対運動をするときにはそれを正確
に測定することができ、場合によってはこの相対運動を
修正することもできる。さらに、１つの縫目の任意の位
置で送り量を測定することができるので、例えば両被縫
製物層の一方の縫目の内側に（例えばズボンの腹部分の
領域に）余剰幅部分を設ける必要がある場合には、余剰
幅部分の始端と終端を正確に制御することが可能になる
。

特許請求の範囲第３項と第４項によれば、走査されるべ
き目印は、縫製開始前に、または縫製中に被縫製物に付
けられるマークによって形成される。

特許請求の範囲第５項によれば、走査されるべき目印を
、目盛を形成する多数のマークによって形成させること
ができる。これらのマークが裁断の前に、または裁断中
もしくは裁断後に、被縫製物が歪んでいない状態で付け
られ、しかも互いに等間隔になるように付けられるなら
ば、これらのマークを走査するにあたって送り量が正確
に測定されるばかりでなく、被縫製物にねじれや歪みが
生じた場合それを測定することができ、以後の処理の際
に考慮される。

このような利点は、特許請求の範囲第６項に記載の方法
の場合にも得られる。波形を付与するにあたって特別の
作業を必要とせず、裁断と同時に。

もしくは縫製過程の間に行うことができる限りにおいて
は、特別にマーキングを行う必要はない。

被縫製物層がマークを付された後、或いは第１の走査位
置を通過した後、送り中に針の軸線の回りに回転せしめ
られると、特許請求の範囲第７項に記載の方法により、
第２の走査位置を通過し円弧状のマークを付された部分
は、両走査位置の相互の間隔に対応する距離を正確に進
んだことになる。このようにして、１つの被縫製物の角
形の整向状態が変化しても、送りを正確に決定すること
ができる。

調整されていない被縫製物を走査するための方法は、特
許請求の範囲第８項に記載されている。

この場合、走査されるマークとは、例えば色模様の偏平
な部分である。しかし同一模様の反復、即ち模様の幅は
、センサ装置の走査位置の相互間隔よりも大きくなけれ
ばならない。このような条件は、絶えず反復している色
模様の代わりに、縦糸及び横糸の位置及び間隔に基づい
て、或いは照明によって影が生じる場合には色模様に基
づいて形成される輝度構造を検出することによって克服
される。この輝度構造は、解像度が十分にいい場合には
あたかも指紋のごとく一回だけ現われ、被縫製物のどの
位置にも再び現われることはない。

特許請求の範囲第９項に記載された装置では、信号処理
装置と回路を介して接続される走査兼マーキング装置は
、前部走査位置と同様にパルス計数過程をスタートさせ
るので、前部走査装置の課題をも満たしている。

マークが完成した被縫製物の美観を損ねることがないよ
うに、マークが見えないようにする必要がある。このた
め、光学的に読み取り可能で且つ揮発性または蛍光性の
色、誘導的または容量的に認識可能な鉄粉、温度センサ
によって走査可能なマークが選定される。

特許請求の範囲第１０項は１本発明による装置の有利な
構成を示すもので、縫目の全距離にわたって均等に配分
される多数のマーキング過程を自動的に行うことが可能
になる。

被縫製物層にすでに付されたマークを走査するために、
特許請求の範囲第１１項によれば、センサ装置は、各被
縫製物層に対して、互いに間隔をもって相前後して配置
される２つの走査位置を有し、即ち２つのセンサが使用
される。

特許請求の範囲第１２項に記載の構成により。

走査位置の間には常にいくつかの走査されるべきマーク
（例えば縁部の波形）があり、前部てパルス計数過程を
スタートさせたマークだけがパルス計数過程を終了させ
る。

特許請求の範囲第１３項に記載の装置により、走査され
た被縫製物表面部分の明暗コントラストの測定値をアナ
ログ的に電子的に形成することができ１次にこのアナロ
グ信号値を２進信号値へ変換させることができる。これ
によって、前部走査位置で得られた信号値を後部走査位
置の信号と簡単に且つ正確に比較させることができる。

特許請求の範囲第１４項に記載の構成によれば。

走査された被縫製物層が送り中に横方向に移動した場合
でも、互いに間隔をもって相前後して配置される２つの
走査線カメラによって特定の被縫製物表面部分を十分正
確に走査することができる。

特許請求の範囲第１５項によれば、いくつかの信号値を
同時に評価することができ、従って後部走査線カメラの
一回の撮影に要する評価時間が著しく短縮される。この
ようにして像連続周波数が高くなり、これによって単位
面積あたりの測定値の数が増えるので、高い測定精度が
得られる。

次に、本発明の３つの実施例を添付の図面を用いて説明
する。

簗上例尖に桝 第１図は、ベッド１とヘッド２とを備えたミシンの一部
の側面図である。ヘッド２には１通常の押さえ３を担持
する押さえ捧４と針棒５が収納されている。針棒５の、
糸を案内する針６は、図示していないルーパーと協働す
る。互いに結合されるべき２つの被縫製物層ＷｌとＷ２
の送りを行うため、ミシンは上送り９と下送り１０を有
している。

下送り１０（第３図）は、ベッド１の下方に配置される
担持体１１によって担持されている。担持体１１のフォ
ーク状に形成される端部は、偏心輪１２と係合している
。偏心輪１２は、ベッド１内で支持される軸１３に配置
され、−回の縫目形成過程ごとに下送り１０に往復動を
付与する。担持体１１の自由端は、フォーク状に形成さ
れるガイド１４と結合され、該ガイド１４は、同様にベ
ッド１内で支持される軸１５に固定されている。

軸１５を駆動するため、軸１３に対して平行に整向され
該軸１３と駆動結合されている軸１６に偏心輪１７が固
定されている。偏心輪１７の偏心棒１８は、ピン１９に
枢着されている。ピン１９には、軸１５に固定されるク
ランク２２とピン２１を用いて結合されているガイド２
０が支持されている。偏心棒１８の側方にはピン１９に
ガイド２３が固定され、該ガイド２３は、クランク２４
によって担持されるピン２５と係合している。ガイド２
３の有効長さはガイド２０の有効長さに等しく、従って
両ピン２１と２５が整列している場合には、偏心棒１８
が運動しているにもかかわらず、軸１５は静止している
。

軸１５に作用する偏心棒１８の運動を変化させるため、
クランク２４は、ベッド１内で支持されている調整軸２
６に取付けられている。調整軸２６は、調整クランク２
７を担持している。調整クランク２７は、中間部材２８
と他の調整クランク２９とを介して、ベッド１内で支持
されている中間軸３０と結合されている。中間軸３０の
自由端には、クランク３１が装着されている。クランク
３１は、玉付き引張棒３２を介して、ミシンのアームに
固定される軸３４の回りに旋回可能な揺動レバー３３の
一端と結合されている。揺動レバー３３の自由端は１球
状の突出部３５を有し、且つ手動で回転可能で且つ位置
固定可能な調整車輪３７の調整用湾曲部３６のなかへ突
出している。

調整車輪３７は、ミシンのアームに固定される轄３８に
配置されている。調整車輪３７に設けられる調整用湾曲
部３６は、軸３８に対して螺旋状に延びており、その結
果例えば１ｍないし６Ｉの縫目長さを下送り１０で調整
することができる。中間軸３０に巻回されベッド１の片
端に固定されるばね３９は、揺動レバー３３が調整用湾
曲部３６の側壁の１つに接触するたびに突出部３５を制
止させる。

押さえ捧４（第１図）は、その下端に、ピン４１を担持
する横木部４０を具備している。ピン４１には連結部材
４２が取付けられ、該連結部材４２は、枢着ビン４３に
よって上送り９と枢着されている。上送り９は、ばねに
よって付勢されている球４４により常に下方へ押され、
横木部４゜に旋回可能に支持されるレバー４５によって
往復動が与えられる。レバー４５の自由端は、上送り９
の２つの支持側板によって担持されているローラ４６と
係合している。レバー４５の他端は、中間部材４７を介
してアングルレバ−４８と結合されている。アングルレ
バ−４８は、ミシンのアームに固定されるピン４９（第
３図）に旋回可能に支持されている。さらにアングルレ
バ−４８は偏心棒５０に枢着され、該偏心棒５０は、ヘ
ッド２内のピン５１に回転可能に支持される偏心輪５２
と係合している。偏心輪５２は、ピン５４に回転可能に
支持されているクランク５３によって駆動される。ピン
５４は、上軸５５と一体的に形成されているクランク５
５ａによって担持されている。

上送り９を持ち上げるにはアングルレバ−４８をわずか
に旋回させるだけで十分であるため、クランク５３と偏
心輪５２との枢着点はミシンの上軸５５の延長上にある
。

上送り９を駆動するため、ピン４３（第１図）に中間連
結部材５６が係合している。中間連結部材５６は、枢着
ピン５７によって揺動レバー５７と結合され、該揺動レ
バー５７は、ミシンのヘッド２内で支持される揺動軸５
９（第３図）に固定されている。揺動軸５９は、それに
固定されるクランク６０によって駆動される。クランク
６０は、連結部材６１を介して上部揺動軸６３のクラン
クアーム６２と結合されている。上部揺動軸６３は、上
軸５５に配置される偏心輪６４によって間接的に駆動さ
れる。偏心輪６４の偏心棒６５はピン６６と係合し、該
ピン６６は、湾曲体６７の２つの側板によって担持され
ている。さらにピン６６には連結部材６８が係合し、該
連結部材６８は、ピン６９によって、上部揺動軸６３に
より担持されるクランク７０に枢着されている。湾曲体
６７は、互いに整列して配置される２つの支持ピン７１
によって湾曲した調整部材７２に旋回可能に支持されて
いる。調整部材７２は軸部７３を具備し、ミシンのケー
シング内で旋回可能に支持されている。調整部材７２が
軸部７３の回りに旋回すると、支持ピン７１とピン６９
の相対位置が変化し、従ってクランク７０の揺動の大き
さも変化する。

調整部材７２を旋回させるために、その軸部７３にクラ
ンク７４が固定されている。クランク７４は、連結部材
７５と枢着ピン７６とを介して連結棒７７の上端に係合
している。連結棒７７の下端は調整クランク７８に枢着
され、該調整クランク７８は調整軸２６に締め付は固定
されている。

このような構成によって、調整車輪３７を調整する際下
送り１０の送り調整を上送り９の送り調整と同期させて
変化させることができる。この場合、構成要素２０乃至
２６は縫目調整装置７９を、そして構成要素６７乃至７
３は縫目調整装［８０を形成している。

両被縫製物層Ｗ１とＷ２の送りステップ量を等しくする
ため上送り９と下送り１０の送りステップ量を相対的に
変化させることができるように、調整装置８１が設けら
れている。調整装置８１は。

ステップモータ８２とその駆動軸８３に配置される制御
板８４を有している。制御板８４には円弧状に延びる溝
８５が形成され、この溝８５のなかにピン８６が係入し
ている。ピン８６は揺動レバー８７によって受容され、
該揺動レバー８７は。

ミシンのアームに固定される軸８８の回りに旋回可能で
、且つその上端を中間部材８９に枢着されている。中間
部材８９の自由端は、連結棒７７を連結部材７５と結合
させているピン７６に係合し。

従って調整車輪３７がロックされると、枢着部を形成し
ている両連結部材７４と７５の角度が変化して、上送り
９の送りステップ量を変化させることができる。

軸１６は、多数の縫目マーク９０を具備しパルス発生器
９２と協働するパルス板９１を担持している。縫目マー
ク９０はパルス板９１の一部にだけ設けられ、即ち送り
９．１０の搬送段階でパルス発生器９２によって走査さ
れる部分にだけ設けられている。このようにパルス発生
器９２は、ミシンの搬送段階時にだけパルスを発生する
。さらにパルス板９１は縫目マーク９３をも有している
。

この縫目マーク９３は、パルス板９１の回転軸線に対し
て半径方向により短い間隔を有し、従ってパルス発生器
９２に影響を及ぼさない。縫目マーク９３は、パルス発
生器９４と協働する。縫目マーク９３はパルス板９１の
一部に設けられ、即ち送り９，１０の非搬送段階時にパ
ルス発生器９４が通過する部分に設けられている。

ヘッド２に配置される担持体９５には電磁石９６が固定
されている。電磁石９６の引張棒９７は、図示していな
いばねによって、第１図に示した持ち上げ位置で保持さ
れる。引張棒９７の端部には案内管９８がねじによって
固定され、該案内管９８の内部にはピストン９９（第２
図）が移動可能に受容されている。ピストン９９は一方
で環状のストッパー１００によって、他方で挿着部１０
１によって軸線方向に移動を制限され、圧縮ばね１０２
によって挿着部１０１に接した状態で保持される。ピス
トン９９内には、内部に娘心材１０４を充填した小管状
の突き捧１０３が固定されている。突き捧１０３の上端
には、同じ娘心材１０４を充填した薄い管１０５が取付
けられている。

管１０５には、案内管９８内部に設けられる穴が貫通し
ている。管１０５は２／２路弁１０６に接続されている
。弁１０６は、ばね力によって第１図に図示した閉弁位
置で保持され、そのなかに組み込まれる切り換え磁石１
０７によって貫流位置へ切り換え可能である。ざらに屏
１０６は、担持体９５に固定される容器１０８の出口に
接続している。容器１０８のなかには暗色で揮発性のイ
ンキが充填されており、このインキは被縫製物層に塗付
後一時的にしか眼に見えないようになっている。

弁１０６の電磁石９６と切り換え磁石１０７は。

図示していない適当な増幅器と２本の導線１１０゜１１
１（第４図）とを介して、マイクロプロセッサを有して
いる信号処理装置１１２の出力とそれぞれ接続されてい
る。構成要素９６乃至１０８は。

走査装置とマーキング装置とを組合せた走査兼マーキン
グ装置１０９を形成している。

ベッド１の下方には第２の走査兼マーキング装置１１３
が配置されている。この走査兼マーキング装置１１３は
、前記走査兼マーキング装置１０９と同様の構成要素か
ら成っており、従って担持体１１５に固定されている電
磁石１１４を有している。電磁石１１４の引張棒１１６
は、図示していないばねによって第１図に示した降下位
置で保持される。引張棒１１６の端部には、ベッド１の
穴１１７のなかへ突出している案内管１１８が固定され
、該案内管１１８は、ばねによって付勢される移動可能
な小管状の突き捧１１９を担持している。突き捧１１９
の下端には簿い管１２０が取付けられている。管１２０
は案内管１１８から突出して案内され、２／２路弁１２
１と接続されている。弁１２１は、ばね力によって第１
図に図示した閉弁位置で保持され、且つそのなかに組み
込まれた切り換え磁石１２２によって貫流位置へ切り換
え可能である。弁１２１からは薄い管１２３が出て、弁
１２１の下方で担持体１１５に固定される容器１２４に
通じている。突き捧１１９と両管１２０，１２３は図示
していない娘心材で充填されている。容器１２４は、容
器１０８と同様に暗色で揮発性のインキで充填されてい
る。

弁１２１の電磁石１１４と切り換え磁石１２２は１図示
していない適当な増幅器と２本の導線１２５．１２６と
を介して、マイクロプロセッサを有している信号処理装
置１１２の出力とそれぞれ接続されている。

両担持体９５，１１５にはそれぞれセンサ１２７．１２
８が固定されている。下部センサ１２８は、ベッド１内
に取付けられる穿刺板１３０の穴１２９の下方に配置さ
れている。センサ１２７．１２８は送光器と受光樹から
成り、ベッド１の上に配置されている中間板１３１によ
って分離されている２つの被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２を走査
するために用いられる。センサ１２７゜１２８は、導線
１３２，１３３を介してそれぞれ信号処理装置１１２の
入力と接続されている。被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２上の突き
捧１０３，１１９の接触位置とセンサ１２７，１２８の
走査位置との間には送り方向Ｖに相互間隔Ａ１がある。

信号処理装置１１２は、キーボードを備えたデータ入力
装置１３４（第４図）と接続され、且つ入力８１３５．
１３６を介して両パルス発生器９２．９４と、そして出
力線１３７及び図示していない制御回路とを介して調整
装置８１のステップモータ８２と接続されている。

閣１ ミシンの構成は第１の実施例の構成に同じである。しか
し本実施例ではパルス発生器９２だけが必要である。

ヘッド２に配置される担持体１４０には、それぞれ送光
器と受光器から成る２つのセンサ１４１゜１４２が固定
されている。送光器は図示していないレンズ系とスリッ
トマスクを有し、従って送出された光線は、上部被縫製
物層Ｗ３または中間板１３１に当たって線状の光帯１４
３或いは１４４を生じさせる（第６図）。センサ１４１
，１４２或いはそのスリットマスクは、光帯１４３゜１
４４の一軸線が上部被縫製物層Ｗ３の歯２の稜Ｋに対し
て平行に延びるように方向づけられている。中間板１３
１の表面は研磨仕上げされており、　　−従って送光器
から送出した光線は、中間板１３１に当たったときに各
受光器に向かって反射するようになっている。中間板１
３１上に生じた光帯相互の間隔はＡ２である。種々の縫
目間隔Ｎに適合させるため、センサ１４１，１４２は送
り方向Ｖに対して横に位置調整可能である。

前部センサ１４１は、導線１４５を介して側面制御され
るフリップフロップ１４６のセット入力に接続されてい
る。後部センサ１４２は、導線１４７を介して予選定計
数器１４８と接続され、該予選定計数器１４８の出力は
、導線１４９を介してフリップフロップ１４６のリセッ
ト入力に接続されている。フリップフロップ１４６の出
力は、導線１５０を介してアンドゲート１５１の入力と
接続されている。パルス発生器９２から生じたパルスは
、導線１５２を介してパルス整形器１５３に送られ、こ
こから導Ｉ！１５４を介してアンドゲート１５１の第２
の入力に送られる。アンドゲート１５１の出力は、導線
１５５を介して、マイクロプロセッサ１５７とともに信
号処理装置１５８の構成要素であるレギスタ１５６と接
続されている。

ベッド１の下方に固定されている担持体１５９には２つ
のセンサ１６０，１６１が配置されている。これらのセ
ンサはセンサ１４１，１４２と同様に構成、配置され、
後者と同様の機能を有している６センサ１６０の光線が
ベッド１を貫通することができるように、ベッド１に穴
１６２が設けられている。センサ１６１の光線は、穿刺
板１３０の穴１２９を貫通する。

前部センサ１６０は、導線１６３を介して、側面制御さ
れるフリップフロップ１６４０セツト入力と接続されて
いる。後部センサ１６１は、導線１６５を介して予選定
計数器１６６と接続され、該予選定計数器１６６の出力
は、導線１６７を介してフリップフロップ１６４のリセ
ット入力に接続されている。フリップフロップ１６４の
出力は。

導線１６８を介してアンドゲート１６９の入力と接続さ
れている。アンドゲート１６９の第２の入力には、導線
１７０を介して、パルス発生器９２から送出されパルス
整形器１５３で整形されたパルスが送られる。アンドゲ
ート１６９の出力は、導線１７１を介して、信号処理装
置１５８の構成要素であるレギスタ１７２と接続されて
いる。信号処理装置１５８の出力は、導、ｌＸ１７３を
介して調整装置８１と接続されている。

■」１しく施舅− ミシンの構成は第１の実施例の構成に同じである。しか
し本実施例ではパルス発生器９２だけが必要である。

ヘッド２に配置される担持体１８０には、上部被縫製物
層Ｗ５のためのセンサ装置として、それぞれ１つのＣＣ
Ｄイメージセンサ（ｃｈａｒｇｅ　ｃｏｕｐｌａｄ　ｄ
ｅｖｉｃｅｓ）　１８１或いは１８２（第８図）を具備
する２つの走査線カメラ１８３，１８４と、２つの光源
１８５，１８６が固定されている。ＣＣＤイメージセン
サ１８１，１８２は、互いにつなぎあわせて配置される
多数の四角形のフォトエレメント１８７を有している。

フォトエレメント１８７は、その稜の長さが１３μｍで
、平行に配置される２つのアナログシフティングレギス
タ１８８と接続されている。

前部走査線カメラ１８３のＣＯＤイメージセンサ１８１
は１０２４個のフォトエレメント１８７を有し、従って
第８図に符号Ｂで示すように約１３．３ｍｍの走査線長
さをもっている。後部走査線カメラ１８４のＣＯＤイメ
ージセンサ１８２は１７２８個のフォトエレメント１８
７を有し。

従って第８図に符号Ｃで示すように約２２．５ｍｍの走
査線長さをもっている。走査線カメラ１８３と光源１８
５は、上部被縫製物層Ｗ５或いは中間板１８９上で、送
り方向Ｖに対して横に延びる幅Ｂの前部走査位置１９０
を形成し、−力走査線カメラ１８４と光源１８６は、前
部走査位置に対して平行に延びる幅Ｃの後部走査位置１
９１を形成している。両走査位置１９０，１９１は間隔
Ａ３で離れている。

各走査線カメラ１８３，１８４は、それぞれ導線１９２
を介して比較器１９３或いは１９４と接続されている。

比較器１９３或いは１９４は、各走査線カメラ１８３或
いは１８４のアナログビデオ信号を２進法のビデオ信号
に変換する。比較器１９３或いは１９４は、導線１９５
を介してシフティングレギスタ１９６或いは１９７と接
続され、シフティングレギスタ１９６或いは１９７は、
導線１９８を介してマイクロプロセッサ１９９と接続さ
れている。

ベッド１の下方に固定される担持体２００には。

２つの走査線カメラ２０１，２０２が配置されている。

走査線カメラ２０１，２０２は走査線カメラ１８３，１
８４と同様に構成され、即ち前部走査線カメラ２０１の
ＣＣＤイメージセンサは走査線長さＢを有し、−右後部
走査線カメラ２ｏ２のＣＣＤイメージセンサは走査線長
さＣを有している。走査線カメラ２０１，２０２は、多
数の光誘導ファイバーから成る光誘導体２０３の一端と
接続されている。さらに光源２０４が設けられ、該光源
２０４には、多数の光誘導ファイバーから成る２つの光
誘導体２０５，２０６の各一端が接続されている。光誘
導体２０３，２０５，２０６は。

詳細には図示していない方法でベッド１及び穿刺板１３
０の貫通穴に固定されている。走査線カメラ２０１とそ
の光誘導体２０３は、光源２０４及び光誘導体２０５と
共に幅Ｂの前部走査位置２０７を形成している。同様に
走査線カメラ２０２とその光誘導体２０３は、光源２０
４及び光誘導体２０６と共に幅Ｃの後部走査位１ｉ２０
８を形成している。両走査位置２０７，２０８は、走査
位置１９０，１９１と同様の間隔Ａ３で離れている。

各走査線カメラ２０１，２０２は、導線２０９を介して
比較器２１０或いは２１１と接続されている。比較器２
１０或いは２１１は、各走査線カメラ２０１或いは２０
２のアナログビデオ信号を２進法のビデオ信号に変換す
る。比較器２１０或いは２１１は、導線２１２を介して
シフティングレギスタ２１３或いは２１４と接続され、
シフティングレギスタ２１３或いは２１４は、導線２１
５を介してマイクロプロセッサ１９９と接続されている
。

マイクロプロセッサ１９９の入力は、導線２１６を介し
てパルス発生券９２と接続されている。マイクロプロセ
ッサ１９９の４つの出力は、それぞれ導線２１７，２１
８，２１９，２２０を介して走査線カメラ１８３，１８
４，２０１゜２０２と接続されている。マイクロプロセ
ッサ１９９の他の出力は、導線２２１を介して調整装置
８１と接続されている。

比較器１９３，１９４，２１０，２．１１．シフティン
グレギスタ１９６，１９７，２１３゜２１４及びマイク
ロプロセッサ１９９は、信号処理装置２２２を形成して
いる。

作動態様（第１の　施例） 縫製過程の当初調整装置８１の制御板８４は中央位置に
あり、即ち溝８５の両端はピン８６から等距離に位置し
ている。その結果、縫目位置調整装置８０は縫目位置調
整装置７９と同じ送り量に調整され、従って両送り９，
１０は正確に同じ送りステップを実施する。

パルス板９４は、パルス板９１が完全に一回転するたび
に、即ち各縫目形成過程ごとに、マーク９３の通過時に
パルスを発生させ、このパルスは信号処理装置１１２に
送られる。信号処理装置１１２は、調整車３７にて調整
される縫目長さに依存してプログラミングされており、
送り長さが複数の送りステップ（間隔Ａ１に対応してい
る）から成っている場合には、走査装置１０９及びマー
キング装置１１３のための出力信号が、送り９゜１０の
非搬送時に一回だけ発せられる。即ち、間隔Ａ１が２０
ｍｍで１つの縫目長さが３ｍｍの場合、最初の７回分の
縫目形成が終了し、従って送り長さが７Ｘ３＝２１ｍｍ
になった時、走査装＠１０９及びマーキング装置１１３
のための出力信号が発せられるにの出力信号によって電
磁石９６．１１４が同時に励起され、突き捧１０３゜１
１９が対応する被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２に対して押圧され
る。この場合、突き棒の開口部の領域にあり揮発性のイ
ンクを染み込ませた燈心材１０４が被縫製物層Ｗｌ、Ｗ
２と接触し、該被縫製物層にそれぞれ暗色系の、しかも
決められた時間だけ眼に見えるマークが付けられる。

次の光学的な走査のための上記マークと被縫製物層Ｗｌ
、Ｗ２の表面とが十分に明暗のはつきりしたコントラス
トを成すように、暗色系のインクは被縫製物層が明色系
で且つできるだけ模様が付されていないような場合にだ
け使用される。暗色系の或いは模様を付した被縫製物層
も処理する必要がある場合には、紫外線による走査を目
的として蛍光性のインクを使用し、紫外線だけを検知す
るセンサを設けるようにするのが有利である。

電磁石９６，１１４がオンになることによって、弁１０
６，１２１が短時間開弁位置に切り替わり。

それによって燈心材１０４と容器１０８，１２４内のイ
ンクストックとが結合して、マーキングの際に放出され
たインク量が補充される。制御磁石１０７．１２２のオ
ンの時間を変えることによって、燈心材１０４の飽和度
を制御することができる。

走査装置及びマーキング装置１０９，１１３のための出
力信号が発せられると同時に、パルス発生器９２によっ
て生じるパルスの計数過程が行われる。このように走査
装置及びマーキング装置１０９．１１３は、信号処理装
置１１２と連動してマーキングの機能のほかに計数機能
にも関与する。走査装置及びマーキング装置１０９，１
１３が送り９，１０の非搬送時に操作され、一方パルス
発生器９２が送り９，１０の搬送時にだけパルスを発す
るので、パルス計数過程はマーキング過程が終了するに
及んで初めて開始される。従って、ミシンの回転数が異
なるために生じるマーキングとパルス計数の開始との時
間的なずれが防止される。

パルス計数過程は、信号処理装置１１２の２つのレギス
タ内で平行して行われる。センサ１２７゜１２８が前部
て生じた２つのマークを同時に検知すると１両センサ１
２７，１２８は両しギスタ内で同時にパルス計数過程を
終了する。この場合両しギスタ内には同数の総パルス数
が含まれているため、次に信号処理装置１１２によって
行われる総パルス数の比較の結果、両被縫製物層Ｗｌ。

Ｗ２が同じ搬送距離だけ送られたことが判明する。

このときステップモータ８２は制御命令を送らず、その
結果調整装置８１の調整は不変に保たれる。

例えば上部被縫製物層Ｗ１と下部被縫製物層Ｗ２の布の
種類が違うために両者の表面の質が異なっているとか、
厚さが異なっているとか、或いは縦糸と横糸の延びる方
向が異なっているとかの理由で影響ファクタが違う場合
、両波！Ｓ製物層Ｗｌ、Ｗ２に異なる搬送特性が与えら
れることがあり、その結果送り９，１０の送りステップ
が同じ大きさであるにもかかわらず、両被縫製物層Ｗｌ
、Ｗ２が異なるスピードで搬送され、従って両被縫製物
層の間に搬送のずれが生じることがある。このような場
合には、センサ１２７，１２８のマークの検知に時間的
なずれが生じる。これに対応して１両しギスタ内でのパ
ルス計数過程の終了にも時間的な差が生じ、その結果後
で作動したセンサ１２７或いは１２８によって制御され
るレギスタは、他のレギスタよりも総パルス数を多く含
んでいる。総パルス数の差は、搬送距離（間隔Ａｌに対
応している）に対する開被縫製物層Ｗｌ。

Ｗ２の搬送のずれの程度を示している。

信号処理装置１１２は、総パルス数の差と、入力装置１
３４を介して入力された送り９，１０の送り量の値或い
は調整車３７の調整値とから、搬送のずれを補正するた
めに必要な上部送り９の送りステップ量の修正値を算出
する。信号処理装置１１２のオペレーション速度が高速
であるため、実際には１Ｍ只ルス数の差が検出された直
後にステー７ツ′シーモータ８２に前記修正値に対応す
る調整命令が送られ、次にステップモータ８２が調整装
置８１を適当な方法で調整し、これによって、下部送り
１０の不変にされた調整状態に対する上部送り９の送り
ステップ量が増減される。

その都度７回の縫目形成過程が終了するたびに１回のマ
ーキング過程が開被縫製物層ｗｔ、Ｗ２に対して行われ
、しかもマークの光学的な走査によって送りに同期した
誤差のない測定値が保証されているため、縫製過程全体
を通じて被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２の実際の送り量が常時検
出され、場合によっては上部送り９の送りステップ量が
適時に修正され、その結果影響ファクタが変化した場合
でも°実質的にずれが生じないように開被縫製物層Ｗｌ
、Ｗ２を搬送させることが可能になる。

上部送り９の送りステップ量の修正の正確性は、例えば
間隔Ａ１を短くさせることによって改善される。これは
、上記のごとくマーキング装置１０９．１１３が比較的
回数の少ない縫目形成過程の後に作動し、従って被縫製
物層の長さが等しい場合マーキング過程、走査過程、修
正過程が縫目形成過程よりも回数を多くして行われるた
めである。前記修正の正確性を改善するための他の方法
は、間隔Ａ１に対応する送り距離で各被縫製物層Ｗｌ、
Ｗ２に２つのマークを付すことである。

しかしこの場合には、パルスを計数するために４個のレ
ギスタを使用せねばならない、これら４個のレギスタの
一部は、異なった始動時間及び停止時間で同時に作動さ
れ、交互に評価される。

さらに測定値が送りに同期して且つ誤差なしで検出され
ることにより、１つの縫目形成過程のどの時点において
も被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２がその時までに移動した距離を
正確に決定することができる。このためには付加的なセ
ンサが必要である。

このセンサは公知のもので、従って図示していないが、
その走査点は穿刺板１３０の穿刺穴の側方にあり、しか
もこのセンサは、送り方向Ｖに対して横或いは斜めに延
びる被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２の先端稜に対して応答する。

このセンサを用いると、縫製過程の当初に信号処理装置
１１２の別のレギスタが応答して、Ｉｌ製過程の間にパ
ルス発生器９２から発せられた全パルス数を総計するこ
とができる。この総パルス数は、信号処理装置１１２内
で、調整車３７にて調整された縫目長さにその大きさが
依存する送りファクタ及び送り９，１０と被縫製物層Ｗ
ｌ、Ｗ２との間に通常生ずるスリップを考慮した修正フ
ァクタに乗ぜさられる。この乗積の結果は、被ｉＩ製物
層Ｗｌ、Ｗ２がこの時点までに進んだ距離の値を形成し
ている。この値は、例えば縫目長さを手動で制御するた
め、ディスプレイに表示することができる。一方正確に
距離測定を行うとともに予選定計数器を用いれば、被縫
製物層が所定の距離を進んだ後にミシンに制御過程を付
与することもできる。

送り９，１０と被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２との間に生ずるス
リップを考慮した修正ファクタは１次のようにして検出
される。信号処理装置１１２は間隔Ａ１と、パルス板９
１に配置されるマーク９０の数と、調整車３７にて調整
される縫目長さとから、被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２をスリッ
プなしで搬送した場合に得られるであろうパルス数を算
出する。

このパルス数は、スリップが原因して得られるより多数
の総パルス数と比較される。このより多数の総パルス数
は、下部被縫製物層Ｗ２に対するマーキンングとセンサ
１２８によるその検知との間で形成されるものである。

算出された理論的なパルス数と記録された総パルス数と
の比較は、被縫製物層Ｗｌ、Ｗ２が実際に進んだ距離を
算出するための修正ファクタを形成している。この修正
ファクタはマーキング過程と走査過程が行われるたびに
新たに算出することができるので、送り９゜１０と被縫
製物層Ｗｌ、Ｗ２との間のスリップに影響を与える縫製
パラメータが変化しても、被縫製物層が進んだ距離を正
確に測定することができる。

作動態様　第２の　施例） 縫製過程が始まった後、前部センサ１４１の走査位置を
形成している光帯１４３が、１つの波形Ｚの稜Ｋを通過
した後初めて中間板１３１に完全に当たって完全に反射
すると、センサ１４１によって、フリップフロップ１４
６が基準状態１を占める。この基準状態１により、パル
ス発生器９２から発せられパルス整形器１５３内で矩形
パルスに整形されるパルスに対してアンドゲート１５１
が開かれ、その結果上記パルスはレギスタ１５６に記録
され、そこで加算される。

前もってアンドゲート１５１を開かせ、従ってパルス計
数過程を始動させた前記後Ｋが距離Ａ２を進んでセンサ
１４２の走査位置の下方を通過し。

光帯１４４が中間板１３１で完全に反射したならば、上
記のパルス計数過程を後部センサ１４２によって終了さ
せる必要がある。前部センサ１４１の応答時点で両光帯
１４３，１４４の間にある波形Ｚがパルス計数過程を事
前に中断させないようにするため、予選定計数器１４８
が、光帯１４３゜１４４の間にある波形Ｚの数量に対応
する数に調整される。第６図に示すように光帯１４３と
１４４の間に４つの波形Ｚがある場合には、数値４に調
整された予選定計数器１４８は、後部センサ１４２によ
って生じた４つの信号に従って制御信号をフリップフロ
ップ１４６のリセット入力へ送り、それによってフリッ
プフロップ１４６は基準状態０に切り換えられる。この
信号状態Ｏによって、パルス発生器９２から伝送される
パルスをさらに伝送させるため、導線１５０を介してア
ンドゲート１５１が遮断される。これをもってレギスタ
１５６内でのパルス計数過程が終了する。

このときレギスタ１５６内の総パルス数は、被縫製物層
が長さＡ２の決められた距離を移動する間に光学的に走
査された目印の速度を表している。

同様の測定方法は下部被縫製物層Ｗ４に対しても行われ
るが、この場合には、両被縫製物層Ｗ３゜Ｗ４の波形Ｚ
を、計数過程を生じさせる前部センサ１４１，１６０の
走査位置を同時に通過させる必要はない。別々に設けら
れるレギスタ１５６゜１７２内で行われるパルスの総計
は１時間的にずらして行うこともできる。

両パルス計数過程の終了後、総パルス数が比較される。

このとき総パルス数に差が生じれば、それは被縫製物層
Ｗ３．Ｗ４の搬送のずれを表している。このとき信号処
理装置１５８は、第１の実施例の場合と同様に、搬送の
ずれを補正するために必要な上部送り９の送りステップ
量修正値を算出し、ステップモータ８２に対して、この
修正値に対応する調整装置８１の調整のための調整命令
を送る。

、３の 縫製過程を始めるにあたって光源１８５゜１８６．２０
４がオンされ、走査位置１９０゜１９１．２０７，２０
８に照明があてられる。この場合下部走査位１！２０７
，２０８の照明は光伝導体２０５，２０６を用いて行わ
れる。光伝導体２０５．２０６は走査位置の領域に分岐
させて設けられ、走査線カメラ２０１，２０２の光伝導
体２０３を２つの側から取り囲んでいる。前記光源と同
時に走査線カメラ１８３，１８４，２０１゜２０２もオ
ンされる。以下に、その後の作動態様をまず上部被縫製
物層Ｗ５に関して説明する。

前部走査線カメラ１８３は、被縫製物層Ｗ５のＣＣＤイ
メージセンサ１８１の領域にある表面部分を瞬間的に撮
影する。これは次のようにして行われる。即ち、被縫製
物層Ｗ５の表面からＣＣＤイメージセンサ１８１へ反射
した光がフォトエレメント１８７内で光の強度に対応す
る数の電子を生じさせ、これらの電子が各フォトエレメ
ント１８７内で１つのまとまった帯電パッケージに集積
されるようにして行われる。従って、走査された対象物
に関する光学的情報は多数の像要素に分解され、電子的
に記憶される。

記憶された帯電は、内部の周期設定部（Ｔａｋｔ−２ｙ
ｋｌｅｎ）により平行なアナログシフティングレギスタ
１８８に伝えられ、そこから別の搬送周期設定部（Ｔｒ
ａｎｓｐｏｒｔｚｙｋｌｅｎ）によって、記憶された帯
電をビデオデータ流として出力する図示していない出力
増幅器に供給される。アナログビデオ信号は、比較器１
９３内で、調整可能な基４！電圧レベル以上の黒／白変
換を表している２進のビデオ信号に変換され、即ち基準
電圧レベル以上のすべてのアナログ信号値は２通信号量
１を示し、基準電圧レベル以下のすべてのアナログ信号
値は２通信号量Ｏを示す。このとき２進ビデオ信号は、
ＣＣＤイメージセンサ１８１が有しているフォトエレメ
ント１８７の個数と同数の記憶個所をもつシフティング
レギスタ１９６に記憶される。このようにしてシフティ
ングレギスタ１９６内には、走査線カメラ１８３によっ
て把握された被縫製物層Ｗ５の表面状態の明暗コントラ
ストに対応する２通信号が記憶される。従って、被縫製
物層Ｗ５の基準光度に合わせられる基準電圧レベルを適
当に調整すれば、走査された被縫製物層の表面の輝度構
造の２進的な像が生じる。この場合布地の縦糸及び横糸
の位置とそれらの相互の間隔とから、場合によっては色
模様から形成される輝度構造は。

あたかも指紋のごとく１回で現われ、従って被縫製物層
Ｗ５の特徴を明確に表している。このような走査線カメ
ラによって１０　ｋ　Ｈｚ以下の走査線周波数が得られ
るので、被縫製物層の搬送段階においても十分に正確な
撮影が可能になる。

走査線カメラ１８３による被縫製物層表面の瞬間像の調
整と同時に、パルス発生器９２によって生じるパルスの
ための計数過程が始動する。

被縫製物層Ｗ５．Ｗ６の送り速度に依存し、且つ走査位
置１９０，１９１の間を走査された前記表面が通過する
最短時間に少なくとも対応している時間が経過した後、
後部走査線カメラ１８４がオンされ、この後部走査線カ
メラ１８４は、前部走査線カメラ１８３によって前以て
走査された前記表面の領域で被縫製物層Ｗ５の表面の第
１回目の瞬間撮影を行う。この場合に生じるアナログ信
号値は、前部走査線カメラ１８３の場合と同様に２進ビ
デオ信号に変換されて、シフティングレギスタ１９７に
記憶される。シフティングレギスタ１９７の１７２８個
の記憶位置に記憶された２通信号は、マイクロプロセッ
サ１９９によって。

１０２４個の記憶位置をもつ３つの重なり合うブロック
に分割される。このことは、ＣＣＤイメージセンサ１８
２を、長さがＣＣＤイメージセンサ１８１の長さＢに正
確に対応している３つのブロックＣ１，Ｃ２，Ｃ３に分
割することに対応している。

このときマイクロプロセッサ１９９は、シフティングレ
ギスタ１９７の３つの信号ブロックとシフティングレギ
スタ１９６の信号の補足値とを連続的に加算する。この
場合、１＋１＝１０の２進加算では値″０”だけが保持
される。マイクロプロセッサ１９９の次の記憶位置へ“
１”を移行することは行われない。このとき３つの加算
過程の１つで、すべての記憶位置に１が生じた場合には
。

走査線カメラ１８４の対応する信号ブロックの信号と走
査線カメラ１８３の信号との間に一致が生じる。即ちす
でに後部走査線カメラ１８４によって第１回目の瞬間撮
影が行われたときには、前部走査線カメラ１８３によっ
て前以て走査されていた被縫製物層Ｗ５の表面は走査さ
れている。

被縫製物層Ｗ５の前記表面の信号の第２回目の形成時に
おいて、被縫製物層の横ずれが例えば６μｍ程度の極め
て小さなものであっても測定結果にずれが生じることが
ある。これは１例えばより明るい部分と対照をなしてい
る、フォトエレメント１８７の大きさの暗点が、第１回
目の走査過程ではフォトエレメント１８７によってのみ
走査され、第２回目の走査過程では互いに隣接する２つ
のフォトエレメント１８７によって走査されることがあ
るためである。第１回目の走査過程ではこの位置にただ
１つの信号値Ｏが形成され、第２回目の走査過程では２
つの信号値Ｏが形成される。

従って測定精度を高めるため、一致している信号値があ
る程度のパーセンテイジを占めている場合には２つの信
号の間の一致を保持するようにするのが合目的である。

被縫製物層Ｗ５が送りの間に個々のフォトエレメント１
８７の幅の数倍横にずれた場合でも、後部走査位置１９
１に対して縦長のＣＣＤイメージセンサ１８２を備えた
走査線カメラを使用し、且つこのＣＣＤイメージセンサ
１８２を評価に従って３つの重なるブロックに分割する
ことによって、後部走査線カメラ１８４の信号と前部走
査線カメラ１８３の信号とを比較することができる。

マイクロプロセッサ１９９によって前部及び後部走査線
カメラ１８３，１８４の信号が一致すると、パルス発生
器９２から発せられたパルスの計数過程が終了する。こ
のとき総パルス数は、被縫製物層が決められた間隔Ａ３
を搬送される間に光学的に走査された目印の速度を表し
ている。

後部走査線カメラ１８４の第１回目の瞬間撮影の信号を
評価する際に、前部走査線カメラ１８３の信号と一致し
ない場合には、被縫製物層を搬送している間に後部走査
線カメラ１８４によってできるだけ大きな走査線周波数
で別の瞬間撮影を連続的に行う。これらの瞬間撮影は、
平面状に互いに密に隣接しているか、場合によっては重
なり合うこともある。その除土じる信号を評価する場合
に時間的なずれができないように、後部走査線カメラ１
８４のブロック状に分割された信号をそれぞれいくつか
のレギスタに記憶させ、これらの信号の評価を同時に行
うことができるようにするのが合目的である。

上部液！ｌ製物層Ｗ５に対して説明した走査方法及び評
価方法は、同様に走査線カメラ２０１゜２０２を用いて
下部被縫製物層Ｗ６に対しても行うことができる。この
場合もパルスが加算される。

両パルス計数過程が終了すると総パルス数が比較され、
その際差が生じるならば、その差は、被縫製物層Ｗ５．
Ｗ６の搬送のずれを表しているにのとき信号処理装置２
２２は、第１の実施例の場合と同様に、搬送のずれを補
正するために必要な、上部送り９の送りステップ量のた
めの修正値を算出し、この修正値に対応する調整装置８
１の調整のための調整命令をステップモータ８２に与え
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は２つの走査兼マーキング装置とセンサとを備え
たミシンの側面図、第２図は走査兼マーキング装置の突
き棒の拡大断面図、第３図はミシンの送り装置のための
駆動装置と穿刺位置調整装置の斜視図、第４図は信号処
理装置の構成図、第５図は信号処理装置の第２の実施例
の構成図をも併せて示したミシンの側面図、第６図は波
形縁をもつ被縫製物層と２つのセンサの走査位置を示す
平面図、第７図は信号処理装置の第３の実施例の構成図
をも併せて示したミシンの側面図、第８図は前部及び後
部走査線カメラのＣＯＤイメージセンサの斜視図である
。 １６・・・・上軸　　　９１・・・・パルス板９２．９
４・・・・パルス発生器 １０９．１１３・・・・マーキング装置１１２．１５８
，２２２・・・・信号処理装置１２７．１２８，１４３
，１４４，１９０゜１９１．２０７，２０８・・・走査
位置１４１．１４２，１６０，１６１・・センサ装置１
５１．１６９・・・・ゲート回路 １８１．１８２・・・ＣＣＤイメージセンサ１８３．１
８４，２０１，２０２・・走査線カメラ １８５．１８６，２０４．．２０５，２０６　・　・　
・　・照明装置 １９３．１９４，２１０，２１１・・・比較器１９６．
１９７，２１３，２１４・・・・・・シフティングレギ
スタ

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. （１）少なくとも１つの被縫製物層を送り方向に相前後
   する２つの位置で走査するセンサ装置と、ミシンの上軸
   と結合されるパルス発生器と、目印を検知する間に前記
   両走査位置に生じるパルスを評価するための信号処理装
   置とを有するミシンの被縫製物送り量を決定するための
   方法において、走査のために、被縫製物層の任意の位置
   に付けられた目印を使用し、この目印を連続的に検知す
   る間に形成される総パルス数を、縫目長さと走査位置間
   の間隔とに対応している基準パルス数と比較することを
   特徴とする方法。
2. （２）２つの被縫製物層を縫合するにあたって、各被縫
   製物層に対して少なくとも１回の測定過程を実施し、こ
   の測定過程で検知された１つの被縫製物層の総パルス数
   と他の被縫製物層の総パルス数とを直接に比較して、両
   被縫製物層の相対運動を確定することを特徴とする、特
   許請求の範囲第１項に記載の方法。
3. （３）センサ装置によって走査されるべき目印を、縫製
   過程の間にセンサ装置の前方にして被縫製物層に付され
   るマークによって形成させることを特徴とする、特許請
   求の範囲第１項または第２項に記載の方法。
4. （４）センサ装置によって走査されるべき目印を、縫製
   過程の前に被縫製物層に付されるマークによって形成さ
   せることを特徴とする、特許請求の範囲第１項または第
   ２項に記載の方法。
5. （５）マークを目盛によって形成し、目盛を連続的にセ
   ンサ装置によって走査することを特徴とする、特許請求
   の範囲第４項に記載の方法。
6. （６）マークを被縫製物層の波形縁によって形成するこ
   とを特徴とする、特許請求の範囲第５項に記載の方法。
7. （７）マークを円弧状に且つ第２の走査位置よりも幅広
   に形成し、円弧の半径を第２の走査位置と針の軸線との
   間隔に対応させることを特徴とする、特許請求の範囲第
   ３項から第５項までのいずれか１つに記載の方法。
8. （８）センサ装置が、マークとしての用をなす被縫製物
   の平面部分の第１の走査位置に、例えば種々の輝度値の
   ような構造に典型的な標識を測定することによって多数
   の電気信号から成る像を生じさせること、この像の信号
   値を記憶させること、像を調整することによってパルス
   計数過程をスタートさせること、センサ装置が、第２の
   走査位置に、被縫製物の連続する平面部分の像を連続的
   に形成させること、第２の走査位置に生じた像の信号値
   を、第１の走査位置の像の記憶された信号値と比較する
   こと、信号値が一致した場合パルス計数過程を終了させ
   、有効な送り量の値を検出することを特徴とする、特許
   請求の範囲第１項または第２項に記載の方法。
9. （９）少なくとも１つの被縫製物層を送り方向に相前後
   する２つの位置で走査するセンサ装置と、ミシンの上軸
   と結合されるパルス発生器と、目印を検知する間に前記
   両走査位置に生じるパルスを評価するための信号処理装
   置とを有するミシンの被縫製物送り量を決定するための
   方法を実施するための装置であって、走査のために、被
   縫製物層の任意の位置に付けられた目印を使用し、この
   目印を連続的に検知する間に形成される総パルス数を、
   縫目長さと走査位置間の間隔とに対応している基準パル
   ス数と比較する方法を実施するための装置において、セ
   ンサ装置の後部走査位置（１２７；１２８）に対して間
   隔をもって走査兼マーキング装置（１０９；１１３）が
   配置され、該走査兼マーキング装置が、計数過程を開始
   させるため、信号処理装置（１１２）と回路を介して接
   続されていることを特徴とする装置。
10. （１０）パルス発生器（９２）に関係付けられ、ミシン
    の上軸（１６）に固定されるパルス板（９１）が、第２
    のパルス発生器（９４）のための唯１つの付加的なマー
    キング部（９３）を有していることを特徴とする、特許
    請求の範囲第９項に記載の装置。
11. （１１）少なくとも１つの被縫製物層を送り方向に相前
    後する２つの位置で走査するセンサ装置と、ミシンの上
    軸と結合されるパルス発生器と、目印を検知する間に前
    記両走査位置に生じるパルスを評価するための信号処理
    装置とを有するミシンの被縫製物送り量を決定するため
    の方法を実施するための装置であって、走査のために、
    被縫製物層の任意の位置に付けられた目印を使用し、こ
    の目印を連続的に検知する間に形成される総パルス数を
    、縫目長さと走査位置間の間隔とに対応している基準パ
    ルス数と比較する方法を実施するための装置において、
    センサ装置（１４１、１４２；１６０、１６０）が、互
    いに間隔（Ａ２）をもって相前後して配置される２つの
    走査位置（１４３、１４４）を有していることを特徴と
    する装置。
12. （１２）走査位置（１４３、１４４）の相互の間隔（Ａ
    ２）を比較したとき、後部走査位置（１４４）に関係づ
    けられる信号処理装置（１４２；１６１）の出力と、該
    出力と回路を介して接続されパルス発生器（９２）によ
    って生じるパルスを加算するために用いられる信号処理
    装置（１５８）のレギスタ（１５６；１７２）との間に
    ある走査されるべき目印の相互間隔のほうが小さい場合
    、予選定計数器（１４８；１６６）と、該予選定計数器
    と接続される、パルス発生器（９２）によって生じたパ
    ルスのためのゲート回路（１５１；１６９）とが設けら
    れていることを特徴とする、特許請求の範囲第１１項に
    記載の装置。
13. （１３）少なくとも１つの被縫製物層を送り方向に相前
    後する２つの位置で走査するセンサ装置と、ミシンの上
    軸と結合されるパルス発生器と、目印を検知する間に前
    記両走査位置に生じるパルスを評価するための信号処理
    装置とを有するミシンの被縫製物送り量を決定するため
    の方法を実施するための装置であって、走査のために、
    被縫製物層の任意の位置に付けられた目印を使用し、こ
    の目印を連続的に検知する間に形成される総パルス数を
    、縫目長さと走査位置間の間隔とに対応している基準パ
    ルス数と比較する方法を実施するための装置において、
    センサ装置が、各被縫製物層のために２つの走査線カメ
    ラ（１８３、１８４；２０１、２０２）を有し、これら
    の走査線カメラが、照明装置（１８５、１８６、２０４
    、２０５、２０６）と接続してそれぞれ２つの走査位置
    （１９０、１９１；２０７、２０８）を形成しているこ
    とと、信号処理装置（２２２）が、各走査線カメラ（１
    ８３、１８４、２０１、２０２）のために、アナログビ
    デオ信号を２進ビデオ信号に変換するための１つの比較
    器（１９３；１９４；２１０；２１１）と、少なくとも
    １つのシフティングレギスタ（１９６；１９７；２１３
    ；２１４）と、マイクロプロセッサ（１９９）とを有し
    ていることを特徴とする装置。
14. （１４）各走査線カメラが、走査線状に配置される多数
    のフォトエレメントから構成されるＣＣＤイメージセン
    サを有している、特許請求の範囲第１３項に記載の装置
    において、送り方向（Ｖ）にて後方にある走査線カメラ
    （１８４、２０２）のＣＣＤイメージセンサ（１８２）
    が、送り方向にて前方にある走査線カメラ（１８３、２
    ０１）のＣＣＤイメージセンサ（１８１）よりも幅広に
    形成され、後部走査線カメラ（１８３、２０１）のＣＣ
    Ｄイメージセンサ（１８２）のフォトエレメント（１８
    ７）が、互いに重なり合っているブロック（Ｃ１、Ｃ２
    、Ｃ３）に回路的に統合され、該ブロックの幅が、前部
    走査線カメラ（１８３、２０１）のＣＣＤイメージセン
    サ（１８１）の幅（Ｂ）に対応していることと、各ブロ
    ック（Ｃ１；Ｃ２；Ｃ３）の信号値が、前部走査線カメ
    ラ（１８３；２０１）のＣＣＤイメージセンサ（１８１
    ）の信号値と比較可能であることを特徴とする、特許請
    求の範囲第１３項に記載の装置。
15. （１５）ブロック（Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３）に統合されるフ
    ォトエレメント（１８７）の信号値を前部走査線カメラ
    （１８３；２０１）のＣＣＤイメージセンサ（１８１）
    の信号値と比較するために、信号処理装置（２２２）が
    、対応する数のシフティングレギスタを有していること
    を特徴とする、特許請求の範囲第１４項に記載の装置。