JPS62156261A - 加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法 - Google Patents

加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法

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JPS62156261A
JPS62156261A JP60298123A JP29812385A JPS62156261A JP S62156261 A JPS62156261 A JP S62156261A JP 60298123 A JP60298123 A JP 60298123A JP 29812385 A JP29812385 A JP 29812385A JP S62156261 A JPS62156261 A JP S62156261A
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iridium
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iridium oxide
thermal oxidation
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Yoshiyuki Sato
義幸 佐藤
Koichi Ono
小野 耕一
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Sakura Color Products Corp
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Sakura Color Products Corp
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  • Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、酸化状態において発色する“電解酸化発色性
”を有する酸化イリジウム膜の製造方法に関する。
(従来技術とその問題点) 正または負の電荷をもつイオンの注入によりg膜状物体
が変色もしくは発、消色する現象は、エレクトロクロミ
ズムと呼ばれ、この現象は、例えばエレクトロクロミッ
ク素子に利用されている。
in電解酸化発色性示す無機材料としては、酸化イリジ
ウム、酸化ロジウム、酸化ニッケル、酸化コバルト等の
金属酸化物が知られている。仁の中でも、酸化イリジウ
ムは応答速度が早い、化学的安定性に優れている等の利
点を備えているので、最も活発にその研究が行われてい
る。従来、酸化イリジウム膜を作製する方法としては、
5aii+2化法と反応性スパッタリング法とが知られ
ているが、両者には共に解決すべき問題点がある。陽極
酸化法においては、スパッタリング法または真空蒸着法
を用いて基板上に形成したイリジウム膜を、硫酸溶液中
で陽極酸化することによって酸化イリジウム膜とするも
のであり、表示#B槓が大きい場合には、表示面全面に
わたって均質な酸化イリジウム膜が得られない欠点があ
った。更に固体電解質等の電子的1ζ絶縁性を示す基板
材料上に積層することができないという重大な欠点も存
在する。
また、反応性スパッタリング法には、酸化イリジウム膜
を得る最適成膜速度が10人/分と非常に遅いため、表
示素子として必要な厚さの薄膜、例えば900人程度の
膜厚の酸化イリジウム膜を得るためには1時間以上を要
する欠点があった。
更に、かかる方法の他に、イリジウム膜を加熱すること
によって酸化イリジウム膜を得ることは原理的に可能で
ある。しかしながら、酸化イリジウム膜は、800℃以
上で加熱すると結晶化し、エレクトロクロミック特性が
失われることが、19′81年発行の固体イオニクス論
文誌(SolidState Ionics) 2号に
掲載されているヘイクラッド(Hackwood ) 
、ベニ(Beni)及びギャラk −(Gal lag
her)の論文に報告されている。したがって加熱散化
による場合、エレクトロクロミズムを示す酸化イリジウ
ム膜を得るためには、少なくともその加熱処理温度は8
00’C以下でなければならないが、通常、イリジウム
単体を8o。
℃に加熱しても酸化イリジウム膜は得られない。
例えば、スパッタリング法で得たイリジウム単体膜を8
00℃、1時間加熱処理したが、表面は金属光沢のまま
であシ、酸化イリジウム膜を得ることはできなかった。
(問題点を解決するための手段) 本発明者等は、上記の如き技術の現状に鑑みて種々研究
を重ねた結果、基板上に予め形成した、イリジウムと炭
素とからなる複合yt大気中で加熱酸化したところ、熱
酸化温度250℃熱酸化時間10〜20分簡という低温
、短時間の処理によって酸化イリジウム膜が得られると
いう新規な事実を見出すに至った。すなわち、本発明は
イリジウムと炭素とからなる複合膜を加熱酸化すること
によプ、膜作製に要する時間を大幅に短縮するとともに
、大IMI慎にわたって均質な酸化イリジウム膜が得ら
れることを待機としたものである。
(発明の構成) 本発明においては、まず、基板上にイリジウム−炭素複
合膜を形成させる。基板としては、導電性を有する材料
、例えば金属のみならず、ガラス。
磁器1合成樹脂等の非電性材料も使用可Ω超である。
イリジウム−炭素複合膜の形成は、公知の薄膜製造にお
いて一般に採用されている共訳下での蒸着法、例えば成
子ビーム蒸着法、またはスパッタリング法等によシ行う
ことができる。より具体的には、(1)イリジウムと炭
素とを別々の蒸発源から電子ビームを用いて蒸発させ、
同一基板上に複合膜を形成させる電子ビーム二元蒸着法
、(il)黒鉛るつぼにイリジウムを収容し、電子ビー
ムを用いてイリジウムとともに炭素を蒸発させ、基板上
に複合膜を形成させる方法、個)炭紫上にイリジウムを
配置したものをターゲットとして、アルゴンガス中でス
パッタリングを行う仁とによル複合膜を形成させる方法
等が挙げられる。但し、イリジウム−炭素複合膜はこれ
等の例示した方法だけではなく、他の方法によっても形
成され得ることはいうまでもない。
蒸発源を制御することによって、任意の組成比をもつイ
リジウム−炭素複合膜が得られるが、加熱酸化を行った
とき、複合膜におけるイリジウムの炭素に対する組成比
が0.05〜0.80の範囲において、酸化膜の形成が
良好であった。すなわち、複合膜中のイリジウムの炭素
に対する組成比が0.05未満の場合及び0.80t−
超えた場合、加熱酸化に初いてイリジウム−炭素複合膜
からの炭素の脱離が不十分となシ、透過率の低い膜しか
得られなかった。
なお、非導電性のガラス、磁器9合成樹脂等を基板とす
る場合には、エレクトロクロミック素子としての応答性
を高める丸めに、基板上に予め透明導電膜または導電性
金属膜を設け、その上にイリジウム−炭素複合膜を形成
することが好ましい。
本発明においては、次いで、上記の如(して基板上に形
成されたイリジウム−炭素複合膜を大気中で加熱酸化す
ることによって、所望の酸化イリジウム膜を得る。加熱
酸化雰囲気は叡化イリジウム膜が形成される限シ特に限
定されるものではなく、例えば酸素富化亦囲気、酸素及
び水魚気富化雰囲気としても良い。
本発明方法によって得られる酸化イリジウム膜は、顕著
な′F1を解除化発色性を示すので、エレクトロクロミ
ック素子、薄膜電池等として極めて有用である。
(発明の効果) 本発明によれば、以下の如き効果が奏される。
11>  広い面積にわたって均質な酸化イリジウム膜
を形成させることができる。
(2)絶縁性基板上に酸化イリジウム膜を形成させるこ
とも可能である。
f31  a−1fなエレクトロクロミズムを示す酸化
イリジウム膜を短時間で形成することができる。
(実施例) 以下実施例を示し、本発明の特徴とするところをよ)一
層明らかにする。
イリジウム粉末を黒鉛るつぼに入れ、加速電圧6KV、
エミッション電流18l80−2O0,真空度1〜2X
10 ’Torr  の条件下に電子ビーム蒸着を行う
ことによシ、金属光沢を有するイリジウム−炭素複合膜
を基板上に形成させた。電子ビーム蒸着に要する時間は
60〜180秒であった。基板としてはガラス板上に予
め酸化インジウム透明導電膜を形成したものを使用した
。次いで、イリジウム−炭素複合膜を大気中で225〜
850℃の温度範囲で10〜20分間加熱酸化すること
によって、酸化イリジウム膜を得た。
実施例により得た酸化イリジウム膜の波長6828λに
詔ける透過率を第1図の曲線aで示した。0及び口はそ
れぞれ熱酸化時間を10分間及び20分間としたもので
ある。
例示したイリジウム−炭素複合膜の膜厚は1850人で
あシ、膜中の、イリジウムの炭素に対する割合は、光電
子分光分析、密度測定の結果0.10〜0.20の範囲
にあった。曲線aに示す如く、225℃の熱酸化温度で
は、十分透過率の高い酸化イリジウム膜は得られていな
い。しかしながら、熱油化時間を1時間に延長すること
によって、250℃以上で加熱酸化を行った試料と同等
の透過率を示す。250℃以上で加熱醸化を行った場合
、熱酸化時間20分程度で、透過率は飽和値を示し、更
に加熱を続けても透過率はほとんど変化しなかった。
第1図において曲線すは炭素単体膜をそれぞれ所定の温
度で30分間加熱酸化した後の透過率を示す。曲線すに
示す如く、炭素単体膜においては、200〜800℃の
熱処理温度の範囲にわたって、はとんど透過率の変化は
認められなかった。また、スパッタリング法で作製した
イリジウム単体膜においても、300℃1時間の熱処理
条件下では、膜の表面は金属光沢を呈したままであり酸
化膜を得ることはできなかった。したがってイリジウム
−炭素複合膜において、はじめて、酸化イリジウム膜が
低温、短時間の熱処理で得られることが分かる。
第1図に示すように加熱Q化したままの酸化イリジウム
膜の透過率は40%程度で低いが、これは、熱酸化した
ままの酸化イリジウム膜が発色状態にあるためで、電解
還元することによって更に透過率の高い状態となる。例
えば、本発明によりて作製したroo人の膜厚の酸化イ
リジウム膜は潤色状態において80%以上の透過率を示
す。
本発明で得られた酸化イリジウム膜を破戒水溶液に浸し
、飽和せコウ電極を基準電極として1〜−〇、 2 V
の範囲で電位を走査させたところ、薄膜の発消色が認め
られた。第2図A及びBは電位走査を行った時の電流密
度及び透過率変化を示す。
電位走査速度は10 mV/秒であった。c 、 d。
0曲線はそれぞれ、熱処理時間を20分間一定とし、大
気中での熱酸化温度250,800,850℃の条件下
で得た酸化イリジウム膜にあける電流密度変化を示す。
また、f、g、h曲線はそれぞれ、c、d、0曲線に対
応する透過率変化を示す。
熱酸化温度を250℃とした場合、もつとも顕著な発、
消色変化が認められたが、850℃までの熱酸化温度に
#いても発、消色変化が認められた。
熱酸化温度が250℃よシも低い場合、例えば225℃
の熱酸化温度においては、処理時間が1時間程度必要で
あるという欠点を有しているが、エレクトロクロミズム
を示す膜が得られた。すなわち本発明において225〜
850℃という広い加熱温度範囲でエレクトロクロミズ
ムを示す酸化イリジウム膜が得られた。
本発明で得た酸化イリジウム膜は極めて安定であシ、0
.5M Na2SO4溶液中に詔いて、飽和せコウ電極
を基準電極として−0,5〜0.5vの印加電位条件下
での4X105回以上の発、消色の繰シ返しで劣化や膜
のはぐ離は認められなかった。
【図面の簡単な説明】
第1因は本発明実施例によるイリジウム−炭素複合膜の
加熱酸化後の透過率及び、比較として、炭素単体膜の加
熱酸化後の透過率を示す。 第2図A及びBは本発明実施例によるそれぞれ所定め熱
酸化条件で得た麹化イリジウム膜の℃流密度及び透過率
変化を示す。 第1因 冬畝イし逼慶

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)金属イリジウムと炭素とからなる複合膜を加熱酸
    化することを特徴とする酸化イリジウム膜の製造方法
JP60298123A 1985-12-27 1985-12-27 加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法 Granted JPS62156261A (ja)

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JPS6257707B2 JPS6257707B2 (ja) 1987-12-02

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US5798134A (en) * 1994-10-11 1998-08-25 Agency Of Industrial Science & Technology Process for producing nickel oxide film
US20100000673A1 (en) * 2006-08-02 2010-01-07 Ulvac, Inc. Film forming method and film forming apparatus

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