JPS62156261A - 加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法 - Google Patents
加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法Info
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- JPS62156261A JPS62156261A JP60298123A JP29812385A JPS62156261A JP S62156261 A JPS62156261 A JP S62156261A JP 60298123 A JP60298123 A JP 60298123A JP 29812385 A JP29812385 A JP 29812385A JP S62156261 A JPS62156261 A JP S62156261A
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Landscapes
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- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、酸化状態において発色する“電解酸化発色性
”を有する酸化イリジウム膜の製造方法に関する。
”を有する酸化イリジウム膜の製造方法に関する。
(従来技術とその問題点)
正または負の電荷をもつイオンの注入によりg膜状物体
が変色もしくは発、消色する現象は、エレクトロクロミ
ズムと呼ばれ、この現象は、例えばエレクトロクロミッ
ク素子に利用されている。
が変色もしくは発、消色する現象は、エレクトロクロミ
ズムと呼ばれ、この現象は、例えばエレクトロクロミッ
ク素子に利用されている。
in電解酸化発色性示す無機材料としては、酸化イリジ
ウム、酸化ロジウム、酸化ニッケル、酸化コバルト等の
金属酸化物が知られている。仁の中でも、酸化イリジウ
ムは応答速度が早い、化学的安定性に優れている等の利
点を備えているので、最も活発にその研究が行われてい
る。従来、酸化イリジウム膜を作製する方法としては、
5aii+2化法と反応性スパッタリング法とが知られ
ているが、両者には共に解決すべき問題点がある。陽極
酸化法においては、スパッタリング法または真空蒸着法
を用いて基板上に形成したイリジウム膜を、硫酸溶液中
で陽極酸化することによって酸化イリジウム膜とするも
のであり、表示#B槓が大きい場合には、表示面全面に
わたって均質な酸化イリジウム膜が得られない欠点があ
った。更に固体電解質等の電子的1ζ絶縁性を示す基板
材料上に積層することができないという重大な欠点も存
在する。
ウム、酸化ロジウム、酸化ニッケル、酸化コバルト等の
金属酸化物が知られている。仁の中でも、酸化イリジウ
ムは応答速度が早い、化学的安定性に優れている等の利
点を備えているので、最も活発にその研究が行われてい
る。従来、酸化イリジウム膜を作製する方法としては、
5aii+2化法と反応性スパッタリング法とが知られ
ているが、両者には共に解決すべき問題点がある。陽極
酸化法においては、スパッタリング法または真空蒸着法
を用いて基板上に形成したイリジウム膜を、硫酸溶液中
で陽極酸化することによって酸化イリジウム膜とするも
のであり、表示#B槓が大きい場合には、表示面全面に
わたって均質な酸化イリジウム膜が得られない欠点があ
った。更に固体電解質等の電子的1ζ絶縁性を示す基板
材料上に積層することができないという重大な欠点も存
在する。
また、反応性スパッタリング法には、酸化イリジウム膜
を得る最適成膜速度が10人/分と非常に遅いため、表
示素子として必要な厚さの薄膜、例えば900人程度の
膜厚の酸化イリジウム膜を得るためには1時間以上を要
する欠点があった。
を得る最適成膜速度が10人/分と非常に遅いため、表
示素子として必要な厚さの薄膜、例えば900人程度の
膜厚の酸化イリジウム膜を得るためには1時間以上を要
する欠点があった。
更に、かかる方法の他に、イリジウム膜を加熱すること
によって酸化イリジウム膜を得ることは原理的に可能で
ある。しかしながら、酸化イリジウム膜は、800℃以
上で加熱すると結晶化し、エレクトロクロミック特性が
失われることが、19′81年発行の固体イオニクス論
文誌(SolidState Ionics) 2号に
掲載されているヘイクラッド(Hackwood )
、ベニ(Beni)及びギャラk −(Gal lag
her)の論文に報告されている。したがって加熱散化
による場合、エレクトロクロミズムを示す酸化イリジウ
ム膜を得るためには、少なくともその加熱処理温度は8
00’C以下でなければならないが、通常、イリジウム
単体を8o。
によって酸化イリジウム膜を得ることは原理的に可能で
ある。しかしながら、酸化イリジウム膜は、800℃以
上で加熱すると結晶化し、エレクトロクロミック特性が
失われることが、19′81年発行の固体イオニクス論
文誌(SolidState Ionics) 2号に
掲載されているヘイクラッド(Hackwood )
、ベニ(Beni)及びギャラk −(Gal lag
her)の論文に報告されている。したがって加熱散化
による場合、エレクトロクロミズムを示す酸化イリジウ
ム膜を得るためには、少なくともその加熱処理温度は8
00’C以下でなければならないが、通常、イリジウム
単体を8o。
℃に加熱しても酸化イリジウム膜は得られない。
例えば、スパッタリング法で得たイリジウム単体膜を8
00℃、1時間加熱処理したが、表面は金属光沢のまま
であシ、酸化イリジウム膜を得ることはできなかった。
00℃、1時間加熱処理したが、表面は金属光沢のまま
であシ、酸化イリジウム膜を得ることはできなかった。
(問題点を解決するための手段)
本発明者等は、上記の如き技術の現状に鑑みて種々研究
を重ねた結果、基板上に予め形成した、イリジウムと炭
素とからなる複合yt大気中で加熱酸化したところ、熱
酸化温度250℃熱酸化時間10〜20分簡という低温
、短時間の処理によって酸化イリジウム膜が得られると
いう新規な事実を見出すに至った。すなわち、本発明は
イリジウムと炭素とからなる複合膜を加熱酸化すること
によプ、膜作製に要する時間を大幅に短縮するとともに
、大IMI慎にわたって均質な酸化イリジウム膜が得ら
れることを待機としたものである。
を重ねた結果、基板上に予め形成した、イリジウムと炭
素とからなる複合yt大気中で加熱酸化したところ、熱
酸化温度250℃熱酸化時間10〜20分簡という低温
、短時間の処理によって酸化イリジウム膜が得られると
いう新規な事実を見出すに至った。すなわち、本発明は
イリジウムと炭素とからなる複合膜を加熱酸化すること
によプ、膜作製に要する時間を大幅に短縮するとともに
、大IMI慎にわたって均質な酸化イリジウム膜が得ら
れることを待機としたものである。
(発明の構成)
本発明においては、まず、基板上にイリジウム−炭素複
合膜を形成させる。基板としては、導電性を有する材料
、例えば金属のみならず、ガラス。
合膜を形成させる。基板としては、導電性を有する材料
、例えば金属のみならず、ガラス。
磁器1合成樹脂等の非電性材料も使用可Ω超である。
イリジウム−炭素複合膜の形成は、公知の薄膜製造にお
いて一般に採用されている共訳下での蒸着法、例えば成
子ビーム蒸着法、またはスパッタリング法等によシ行う
ことができる。より具体的には、(1)イリジウムと炭
素とを別々の蒸発源から電子ビームを用いて蒸発させ、
同一基板上に複合膜を形成させる電子ビーム二元蒸着法
、(il)黒鉛るつぼにイリジウムを収容し、電子ビー
ムを用いてイリジウムとともに炭素を蒸発させ、基板上
に複合膜を形成させる方法、個)炭紫上にイリジウムを
配置したものをターゲットとして、アルゴンガス中でス
パッタリングを行う仁とによル複合膜を形成させる方法
等が挙げられる。但し、イリジウム−炭素複合膜はこれ
等の例示した方法だけではなく、他の方法によっても形
成され得ることはいうまでもない。
いて一般に採用されている共訳下での蒸着法、例えば成
子ビーム蒸着法、またはスパッタリング法等によシ行う
ことができる。より具体的には、(1)イリジウムと炭
素とを別々の蒸発源から電子ビームを用いて蒸発させ、
同一基板上に複合膜を形成させる電子ビーム二元蒸着法
、(il)黒鉛るつぼにイリジウムを収容し、電子ビー
ムを用いてイリジウムとともに炭素を蒸発させ、基板上
に複合膜を形成させる方法、個)炭紫上にイリジウムを
配置したものをターゲットとして、アルゴンガス中でス
パッタリングを行う仁とによル複合膜を形成させる方法
等が挙げられる。但し、イリジウム−炭素複合膜はこれ
等の例示した方法だけではなく、他の方法によっても形
成され得ることはいうまでもない。
蒸発源を制御することによって、任意の組成比をもつイ
リジウム−炭素複合膜が得られるが、加熱酸化を行った
とき、複合膜におけるイリジウムの炭素に対する組成比
が0.05〜0.80の範囲において、酸化膜の形成が
良好であった。すなわち、複合膜中のイリジウムの炭素
に対する組成比が0.05未満の場合及び0.80t−
超えた場合、加熱酸化に初いてイリジウム−炭素複合膜
からの炭素の脱離が不十分となシ、透過率の低い膜しか
得られなかった。
リジウム−炭素複合膜が得られるが、加熱酸化を行った
とき、複合膜におけるイリジウムの炭素に対する組成比
が0.05〜0.80の範囲において、酸化膜の形成が
良好であった。すなわち、複合膜中のイリジウムの炭素
に対する組成比が0.05未満の場合及び0.80t−
超えた場合、加熱酸化に初いてイリジウム−炭素複合膜
からの炭素の脱離が不十分となシ、透過率の低い膜しか
得られなかった。
なお、非導電性のガラス、磁器9合成樹脂等を基板とす
る場合には、エレクトロクロミック素子としての応答性
を高める丸めに、基板上に予め透明導電膜または導電性
金属膜を設け、その上にイリジウム−炭素複合膜を形成
することが好ましい。
る場合には、エレクトロクロミック素子としての応答性
を高める丸めに、基板上に予め透明導電膜または導電性
金属膜を設け、その上にイリジウム−炭素複合膜を形成
することが好ましい。
本発明においては、次いで、上記の如(して基板上に形
成されたイリジウム−炭素複合膜を大気中で加熱酸化す
ることによって、所望の酸化イリジウム膜を得る。加熱
酸化雰囲気は叡化イリジウム膜が形成される限シ特に限
定されるものではなく、例えば酸素富化亦囲気、酸素及
び水魚気富化雰囲気としても良い。
成されたイリジウム−炭素複合膜を大気中で加熱酸化す
ることによって、所望の酸化イリジウム膜を得る。加熱
酸化雰囲気は叡化イリジウム膜が形成される限シ特に限
定されるものではなく、例えば酸素富化亦囲気、酸素及
び水魚気富化雰囲気としても良い。
本発明方法によって得られる酸化イリジウム膜は、顕著
な′F1を解除化発色性を示すので、エレクトロクロミ
ック素子、薄膜電池等として極めて有用である。
な′F1を解除化発色性を示すので、エレクトロクロミ
ック素子、薄膜電池等として極めて有用である。
(発明の効果)
本発明によれば、以下の如き効果が奏される。
11> 広い面積にわたって均質な酸化イリジウム膜
を形成させることができる。
を形成させることができる。
(2)絶縁性基板上に酸化イリジウム膜を形成させるこ
とも可能である。
とも可能である。
f31 a−1fなエレクトロクロミズムを示す酸化
イリジウム膜を短時間で形成することができる。
イリジウム膜を短時間で形成することができる。
(実施例)
以下実施例を示し、本発明の特徴とするところをよ)一
層明らかにする。
層明らかにする。
イリジウム粉末を黒鉛るつぼに入れ、加速電圧6KV、
エミッション電流18l80−2O0,真空度1〜2X
10 ’Torr の条件下に電子ビーム蒸着を行う
ことによシ、金属光沢を有するイリジウム−炭素複合膜
を基板上に形成させた。電子ビーム蒸着に要する時間は
60〜180秒であった。基板としてはガラス板上に予
め酸化インジウム透明導電膜を形成したものを使用した
。次いで、イリジウム−炭素複合膜を大気中で225〜
850℃の温度範囲で10〜20分間加熱酸化すること
によって、酸化イリジウム膜を得た。
エミッション電流18l80−2O0,真空度1〜2X
10 ’Torr の条件下に電子ビーム蒸着を行う
ことによシ、金属光沢を有するイリジウム−炭素複合膜
を基板上に形成させた。電子ビーム蒸着に要する時間は
60〜180秒であった。基板としてはガラス板上に予
め酸化インジウム透明導電膜を形成したものを使用した
。次いで、イリジウム−炭素複合膜を大気中で225〜
850℃の温度範囲で10〜20分間加熱酸化すること
によって、酸化イリジウム膜を得た。
実施例により得た酸化イリジウム膜の波長6828λに
詔ける透過率を第1図の曲線aで示した。0及び口はそ
れぞれ熱酸化時間を10分間及び20分間としたもので
ある。
詔ける透過率を第1図の曲線aで示した。0及び口はそ
れぞれ熱酸化時間を10分間及び20分間としたもので
ある。
例示したイリジウム−炭素複合膜の膜厚は1850人で
あシ、膜中の、イリジウムの炭素に対する割合は、光電
子分光分析、密度測定の結果0.10〜0.20の範囲
にあった。曲線aに示す如く、225℃の熱酸化温度で
は、十分透過率の高い酸化イリジウム膜は得られていな
い。しかしながら、熱油化時間を1時間に延長すること
によって、250℃以上で加熱酸化を行った試料と同等
の透過率を示す。250℃以上で加熱醸化を行った場合
、熱酸化時間20分程度で、透過率は飽和値を示し、更
に加熱を続けても透過率はほとんど変化しなかった。
あシ、膜中の、イリジウムの炭素に対する割合は、光電
子分光分析、密度測定の結果0.10〜0.20の範囲
にあった。曲線aに示す如く、225℃の熱酸化温度で
は、十分透過率の高い酸化イリジウム膜は得られていな
い。しかしながら、熱油化時間を1時間に延長すること
によって、250℃以上で加熱酸化を行った試料と同等
の透過率を示す。250℃以上で加熱醸化を行った場合
、熱酸化時間20分程度で、透過率は飽和値を示し、更
に加熱を続けても透過率はほとんど変化しなかった。
第1図において曲線すは炭素単体膜をそれぞれ所定の温
度で30分間加熱酸化した後の透過率を示す。曲線すに
示す如く、炭素単体膜においては、200〜800℃の
熱処理温度の範囲にわたって、はとんど透過率の変化は
認められなかった。また、スパッタリング法で作製した
イリジウム単体膜においても、300℃1時間の熱処理
条件下では、膜の表面は金属光沢を呈したままであり酸
化膜を得ることはできなかった。したがってイリジウム
−炭素複合膜において、はじめて、酸化イリジウム膜が
低温、短時間の熱処理で得られることが分かる。
度で30分間加熱酸化した後の透過率を示す。曲線すに
示す如く、炭素単体膜においては、200〜800℃の
熱処理温度の範囲にわたって、はとんど透過率の変化は
認められなかった。また、スパッタリング法で作製した
イリジウム単体膜においても、300℃1時間の熱処理
条件下では、膜の表面は金属光沢を呈したままであり酸
化膜を得ることはできなかった。したがってイリジウム
−炭素複合膜において、はじめて、酸化イリジウム膜が
低温、短時間の熱処理で得られることが分かる。
第1図に示すように加熱Q化したままの酸化イリジウム
膜の透過率は40%程度で低いが、これは、熱酸化した
ままの酸化イリジウム膜が発色状態にあるためで、電解
還元することによって更に透過率の高い状態となる。例
えば、本発明によりて作製したroo人の膜厚の酸化イ
リジウム膜は潤色状態において80%以上の透過率を示
す。
膜の透過率は40%程度で低いが、これは、熱酸化した
ままの酸化イリジウム膜が発色状態にあるためで、電解
還元することによって更に透過率の高い状態となる。例
えば、本発明によりて作製したroo人の膜厚の酸化イ
リジウム膜は潤色状態において80%以上の透過率を示
す。
本発明で得られた酸化イリジウム膜を破戒水溶液に浸し
、飽和せコウ電極を基準電極として1〜−〇、 2 V
の範囲で電位を走査させたところ、薄膜の発消色が認め
られた。第2図A及びBは電位走査を行った時の電流密
度及び透過率変化を示す。
、飽和せコウ電極を基準電極として1〜−〇、 2 V
の範囲で電位を走査させたところ、薄膜の発消色が認め
られた。第2図A及びBは電位走査を行った時の電流密
度及び透過率変化を示す。
電位走査速度は10 mV/秒であった。c 、 d。
0曲線はそれぞれ、熱処理時間を20分間一定とし、大
気中での熱酸化温度250,800,850℃の条件下
で得た酸化イリジウム膜にあける電流密度変化を示す。
気中での熱酸化温度250,800,850℃の条件下
で得た酸化イリジウム膜にあける電流密度変化を示す。
また、f、g、h曲線はそれぞれ、c、d、0曲線に対
応する透過率変化を示す。
応する透過率変化を示す。
熱酸化温度を250℃とした場合、もつとも顕著な発、
消色変化が認められたが、850℃までの熱酸化温度に
#いても発、消色変化が認められた。
消色変化が認められたが、850℃までの熱酸化温度に
#いても発、消色変化が認められた。
熱酸化温度が250℃よシも低い場合、例えば225℃
の熱酸化温度においては、処理時間が1時間程度必要で
あるという欠点を有しているが、エレクトロクロミズム
を示す膜が得られた。すなわち本発明において225〜
850℃という広い加熱温度範囲でエレクトロクロミズ
ムを示す酸化イリジウム膜が得られた。
の熱酸化温度においては、処理時間が1時間程度必要で
あるという欠点を有しているが、エレクトロクロミズム
を示す膜が得られた。すなわち本発明において225〜
850℃という広い加熱温度範囲でエレクトロクロミズ
ムを示す酸化イリジウム膜が得られた。
本発明で得た酸化イリジウム膜は極めて安定であシ、0
.5M Na2SO4溶液中に詔いて、飽和せコウ電極
を基準電極として−0,5〜0.5vの印加電位条件下
での4X105回以上の発、消色の繰シ返しで劣化や膜
のはぐ離は認められなかった。
.5M Na2SO4溶液中に詔いて、飽和せコウ電極
を基準電極として−0,5〜0.5vの印加電位条件下
での4X105回以上の発、消色の繰シ返しで劣化や膜
のはぐ離は認められなかった。
第1因は本発明実施例によるイリジウム−炭素複合膜の
加熱酸化後の透過率及び、比較として、炭素単体膜の加
熱酸化後の透過率を示す。 第2図A及びBは本発明実施例によるそれぞれ所定め熱
酸化条件で得た麹化イリジウム膜の℃流密度及び透過率
変化を示す。 第1因 冬畝イし逼慶
加熱酸化後の透過率及び、比較として、炭素単体膜の加
熱酸化後の透過率を示す。 第2図A及びBは本発明実施例によるそれぞれ所定め熱
酸化条件で得た麹化イリジウム膜の℃流密度及び透過率
変化を示す。 第1因 冬畝イし逼慶
Claims (1)
- (1)金属イリジウムと炭素とからなる複合膜を加熱酸
化することを特徴とする酸化イリジウム膜の製造方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60298123A JPS62156261A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60298123A JPS62156261A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62156261A true JPS62156261A (ja) | 1987-07-11 |
| JPS6257707B2 JPS6257707B2 (ja) | 1987-12-02 |
Family
ID=17855470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60298123A Granted JPS62156261A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 加熱酸化による酸化イリジウム膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62156261A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5798134A (en) * | 1994-10-11 | 1998-08-25 | Agency Of Industrial Science & Technology | Process for producing nickel oxide film |
| US20100000673A1 (en) * | 2006-08-02 | 2010-01-07 | Ulvac, Inc. | Film forming method and film forming apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0552203U (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-13 | 株式会社クボタ | エンジンの吸排気弁装置 |
-
1985
- 1985-12-27 JP JP60298123A patent/JPS62156261A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5798134A (en) * | 1994-10-11 | 1998-08-25 | Agency Of Industrial Science & Technology | Process for producing nickel oxide film |
| US20100000673A1 (en) * | 2006-08-02 | 2010-01-07 | Ulvac, Inc. | Film forming method and film forming apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6257707B2 (ja) | 1987-12-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |