JPS6218779A - ホ−ル素子 - Google Patents
ホ−ル素子Info
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- JPS6218779A JPS6218779A JP60159117A JP15911785A JPS6218779A JP S6218779 A JPS6218779 A JP S6218779A JP 60159117 A JP60159117 A JP 60159117A JP 15911785 A JP15911785 A JP 15911785A JP S6218779 A JPS6218779 A JP S6218779A
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- Pending
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N52/00—Hall-effect devices
- H10N52/101—Semiconductor Hall-effect devices
Landscapes
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
fイ)産業上の利用分野
本発明は化合物半導体材料を用いたホール素子に関する
ものである。
ものである。
(ロ)従来の技術
ホール素子は第2図に示す如く、十字形状の化合物半導
体薄膜(4)の入力端子間に電流を流しておき、この薄
膜(4)の面に垂直な方向に磁界な作用させると、出力
端子に磁束密度に応じた電圧す一発生するものであり、
磁気の検出や測定に利用される。
体薄膜(4)の入力端子間に電流を流しておき、この薄
膜(4)の面に垂直な方向に磁界な作用させると、出力
端子に磁束密度に応じた電圧す一発生するものであり、
磁気の検出や測定に利用される。
従来のホール素子(1)は特願昭58−61939号公
報(・、第3図)の如く、磁性体よりなる基板(2)上
にインジウム・アンモナイド(In5b)の様な化合物
半導体層(4)を蒸着し、第2図に示す如く十字状にエ
ツチングし、化合物半導体層(4)を形成し、その端部
にその一部を重畳し基板(2)上に延在される金属を蒸
着して取出電極(5)を形成する。取出電極(5)はチ
タン層(5a)とニッケル層(5b)を蒸着して形成し
ている。この取出電極(5)上には金を蒸着して電極パ
ッド(5C)を形成する。電極パッド(5C)は基板(
2)上の取出電極(5)と重畳して形成され、取出電極
(5)により化合物半導体1m (4)とは完全に離間
されている。電極パッド(5C)には外部との接続のた
め金属線f616′hボンデイングされている。
報(・、第3図)の如く、磁性体よりなる基板(2)上
にインジウム・アンモナイド(In5b)の様な化合物
半導体層(4)を蒸着し、第2図に示す如く十字状にエ
ツチングし、化合物半導体層(4)を形成し、その端部
にその一部を重畳し基板(2)上に延在される金属を蒸
着して取出電極(5)を形成する。取出電極(5)はチ
タン層(5a)とニッケル層(5b)を蒸着して形成し
ている。この取出電極(5)上には金を蒸着して電極パ
ッド(5C)を形成する。電極パッド(5C)は基板(
2)上の取出電極(5)と重畳して形成され、取出電極
(5)により化合物半導体1m (4)とは完全に離間
されている。電極パッド(5C)には外部との接続のた
め金属線f616′hボンデイングされている。
(ハ)発明b−解決しようとする問題点斯上したホール
素子(1)に於いては、磁性体よりなる基板(2)上に
化合物半導体層(4)を蒸着しているため、良好な特性
の膜が得られず高出力のホール素子を作製することがで
きなかった。
素子(1)に於いては、磁性体よりなる基板(2)上に
化合物半導体層(4)を蒸着しているため、良好な特性
の膜が得られず高出力のホール素子を作製することがで
きなかった。
(−1:1 問題点を解決するための手段本発明は斯
上した従来の欠点に鑑みてなされ、フェライト基板(2
)上に絶縁層(3)を形成し、前記絶縁層をシリコン酸
化膜(3)とすることで解決するものである。
上した従来の欠点に鑑みてなされ、フェライト基板(2
)上に絶縁層(3)を形成し、前記絶縁層をシリコン酸
化膜(3)とすることで解決するものである。
(ホ)作用
一般にホール素子は、固体内で運動する電子もしくは正
孔に磁束が作用すると、磁束の方向と直角の向きにロー
レンツの力な受けるという原理に基づく、化合物半導体
薄膜の入力端子へ制御電流ICを流し、それと垂直な方
向へ入力信号として磁束Bを加えると、両者に直角の方
向に位置する出力端子へv!Iなるホール電圧が誘起さ
れる。ここで前記ホール素子が定電圧駆動する場合ホー
ル電圧VIlはキャリアの移動度μに比例する。従って
絶縁膜(3)をシリコン酸化膜とし、その上に化合物半
導体層(4)を形成すると移動度μが高い値となり、ホ
ール電圧v、Iの高いものb”−得られる。本方法によ
り形成されたシリコン酸化膜は結晶性b;良く化合物半
導体層を熱処理した時に化合物半導体の結晶化が容易に
進み移動度の高い半導体層を得ることができる。
孔に磁束が作用すると、磁束の方向と直角の向きにロー
レンツの力な受けるという原理に基づく、化合物半導体
薄膜の入力端子へ制御電流ICを流し、それと垂直な方
向へ入力信号として磁束Bを加えると、両者に直角の方
向に位置する出力端子へv!Iなるホール電圧が誘起さ
れる。ここで前記ホール素子が定電圧駆動する場合ホー
ル電圧VIlはキャリアの移動度μに比例する。従って
絶縁膜(3)をシリコン酸化膜とし、その上に化合物半
導体層(4)を形成すると移動度μが高い値となり、ホ
ール電圧v、Iの高いものb”−得られる。本方法によ
り形成されたシリコン酸化膜は結晶性b;良く化合物半
導体層を熱処理した時に化合物半導体の結晶化が容易に
進み移動度の高い半導体層を得ることができる。
(へ)実施例
以下に本発明による一実施例を第1図を参照しながら説
明する。
明する。
まず約0.3nのフェライト基板(2)を用意し、前記
フェライト基板(2)上の主面に有機溶剤でケイ素化合
物を溶かした二酸化シリコン系被膜形成用塗布液をスピ
ンコードにより塗布する。前記塗布液がコートされたフ
ェライト基板(2)な約数百度で焼結をする。従って有
機溶剤は蒸発をしフェライト基板(2)上に約400O
Aの焼結された二酸化シリコン膜(3)が形成される。
フェライト基板(2)上の主面に有機溶剤でケイ素化合
物を溶かした二酸化シリコン系被膜形成用塗布液をスピ
ンコードにより塗布する。前記塗布液がコートされたフ
ェライト基板(2)な約数百度で焼結をする。従って有
機溶剤は蒸発をしフェライト基板(2)上に約400O
Aの焼結された二酸化シリコン膜(3)が形成される。
この二酸化シリコン膜(3)上にインジウム・アンチモ
ナイド(工n5b)層(4)を約1μm程度蒸着し、約
500℃で熱処理して結晶化する。然る後ホトエツチン
グにより第2図に示す十字形状にエツチングして化合物
半導体層(4)を形成し、その端部にその一部を重畳し
フェライト基板(3)上に延在される高融点金属を蒸着
して電極(5)を形成する。電極(5)は約500A厚
のチタン層と約50OA厚のニッケル層を蒸着している
。
ナイド(工n5b)層(4)を約1μm程度蒸着し、約
500℃で熱処理して結晶化する。然る後ホトエツチン
グにより第2図に示す十字形状にエツチングして化合物
半導体層(4)を形成し、その端部にその一部を重畳し
フェライト基板(3)上に延在される高融点金属を蒸着
して電極(5)を形成する。電極(5)は約500A厚
のチタン層と約50OA厚のニッケル層を蒸着している
。
更にこの電極(5)には金を蒸着して電極パッドを形成
する。電極パッドはフェライト基板(2)上の前記電極
(5)と重畳して形成され、外部との接続のため金属線
(6) b′−ワイヤボンドされている。前述の構成で
形成されたホール素子(1)の上に(ここでは図示して
ないが)樹脂層を介して約0.3flのフェライトを接
着する。ここでこの樹脂層はホール素子(1)に加わる
ストレスを軽減するととも(耐湿性を向上させている。
する。電極パッドはフェライト基板(2)上の前記電極
(5)と重畳して形成され、外部との接続のため金属線
(6) b′−ワイヤボンドされている。前述の構成で
形成されたホール素子(1)の上に(ここでは図示して
ないが)樹脂層を介して約0.3flのフェライトを接
着する。ここでこの樹脂層はホール素子(1)に加わる
ストレスを軽減するととも(耐湿性を向上させている。
斯上の構造に依れば、前記フェライト基板(2)上の主
面に有機溶剤でケイ素化合物を溶かした二酸化シリコン
系被膜形成用塗布液をスピンコードにより塗布し、約数
百度で焼結して形成される二酸化シリコン膜(4)をフ
ェライト基板(2)上に形成することで、前記二酸化シ
リコン膜(4)上のインジウムeアンチモナイド(In
5b)膜な良好に形成することが可能となり、特にキャ
リアの移動度b;回向上る。従って作用の項においても
説明したように、ホール電圧V、の高いものが得られる
。
面に有機溶剤でケイ素化合物を溶かした二酸化シリコン
系被膜形成用塗布液をスピンコードにより塗布し、約数
百度で焼結して形成される二酸化シリコン膜(4)をフ
ェライト基板(2)上に形成することで、前記二酸化シ
リコン膜(4)上のインジウムeアンチモナイド(In
5b)膜な良好に形成することが可能となり、特にキャ
リアの移動度b;回向上る。従って作用の項においても
説明したように、ホール電圧V、の高いものが得られる
。
(ト)発明の詳細
な説明した如く、前記フェライト基板(2)上の主面に
二酸化シリコン系被膜形成用塗布液をスピンコードし、
このコートされたフェライト基板(2)を数百度で焼結
することでフェライト基板(2)上に二酸化シリコン膜
(3)b:形成される。そのため前記二酸化シリコン膜
(3)上の化合物半導体層が良好に形成されキャリアの
移動度μの高いものが得られる。従ってホール電圧■ヨ
の高いホール素子b1得られる。
二酸化シリコン系被膜形成用塗布液をスピンコードし、
このコートされたフェライト基板(2)を数百度で焼結
することでフェライト基板(2)上に二酸化シリコン膜
(3)b:形成される。そのため前記二酸化シリコン膜
(3)上の化合物半導体層が良好に形成されキャリアの
移動度μの高いものが得られる。従ってホール電圧■ヨ
の高いホール素子b1得られる。
第1図は本発明の一実施例であるホール素子の断面図、
第2図はホール素子の原理を説明する上面図、第3図は
従来のホール素子ケ説明する断面図である。 主な図番の説明 (1)はホール素子、(2)はフェライト基板、(3)
は二酸化シリコン膜、(4)は化合物半導体層、(51
k−!、 を極、 (6)は金属線である。 出願人 三洋電機株式会社 外1名 代理人 弁理士 佐 野 靜 夫 第1図 第3図
第2図はホール素子の原理を説明する上面図、第3図は
従来のホール素子ケ説明する断面図である。 主な図番の説明 (1)はホール素子、(2)はフェライト基板、(3)
は二酸化シリコン膜、(4)は化合物半導体層、(51
k−!、 を極、 (6)は金属線である。 出願人 三洋電機株式会社 外1名 代理人 弁理士 佐 野 靜 夫 第1図 第3図
Claims (1)
- (1)少なくとも磁性基板上の絶縁層上に設けた化合物
半導体層を具備するホール素子に於いて、前記絶縁層が
シリコン酸化膜より成ることを特徴としたホール素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159117A JPS6218779A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | ホ−ル素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159117A JPS6218779A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | ホ−ル素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6218779A true JPS6218779A (ja) | 1987-01-27 |
Family
ID=15686608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60159117A Pending JPS6218779A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | ホ−ル素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6218779A (ja) |
-
1985
- 1985-07-18 JP JP60159117A patent/JPS6218779A/ja active Pending
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