JPS62189694A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPS62189694A JPS62189694A JP61033274A JP3327486A JPS62189694A JP S62189694 A JPS62189694 A JP S62189694A JP 61033274 A JP61033274 A JP 61033274A JP 3327486 A JP3327486 A JP 3327486A JP S62189694 A JPS62189694 A JP S62189694A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 6
- HCUOEKSZWPGJIM-YBRHCDHNSA-N (e,2e)-2-hydroxyimino-6-methoxy-4-methyl-5-nitrohex-3-enamide Chemical compound COCC([N+]([O-])=O)\C(C)=C\C(=N/O)\C(N)=O HCUOEKSZWPGJIM-YBRHCDHNSA-N 0.000 abstract 1
- 101001109689 Homo sapiens Nuclear receptor subfamily 4 group A member 3 Proteins 0.000 abstract 1
- 101000598778 Homo sapiens Protein OSCP1 Proteins 0.000 abstract 1
- 101001067395 Mus musculus Phospholipid scramblase 1 Proteins 0.000 abstract 1
- 102100022673 Nuclear receptor subfamily 4 group A member 3 Human genes 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 3
- 241000272814 Anser sp. Species 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 210000003205 muscle Anatomy 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/12—Bit line control circuits, e.g. drivers, boosters, pull-up circuits, pull-down circuits, precharging circuits, equalising circuits, for bit lines
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/12—Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、牛導禄記憶装置に係シ、アドレス信号の変化
を検出し、グリチャージ、バランス用のパルス発生回路
の構成及び制御に関するものであるO 〔従来の技術〕 従来、半導体記憶装置(以下LSIメモリと略す)rl
、、アトルス信号の変化を検出し、プリチャージ、バラ
ンス用のパルス発生回路の構成が、第2図に示すよう罠
なっている。すなわち、アドレスが変化すると、プリチ
ャージ、バランス用のバルス発生回路から、プリチャー
ジ、バランス用信号φが、ワード線が立ち上がる前に発
生し、全ビット線、及び、リードバスのプリチャージ、
バランスを行なう。
を検出し、グリチャージ、バランス用のパルス発生回路
の構成及び制御に関するものであるO 〔従来の技術〕 従来、半導体記憶装置(以下LSIメモリと略す)rl
、、アトルス信号の変化を検出し、プリチャージ、バラ
ンス用のパルス発生回路の構成が、第2図に示すよう罠
なっている。すなわち、アドレスが変化すると、プリチ
ャージ、バランス用のバルス発生回路から、プリチャー
ジ、バランス用信号φが、ワード線が立ち上がる前に発
生し、全ビット線、及び、リードバスのプリチャージ、
バランスを行なう。
ところが、近年、LSIメモリの集積度が増大し、ビッ
ト線の数も増え、プリチャージ、バランス用のパルス発
生回路の負荷容量が増大し、プリチャージ、バランス信
号φの高速動作が困難になシ、従って、アクセスの高速
化ができないという欠点がある。また、ワード線が立ち
上がる前にビ、ト線をプリチャージ、バランスしなけれ
ばならないため、アクセスの高速化ができないという欠
点がある。さらに、全ビット線、及び、リードバスをプ
リチャージ、バランスするため、消費電力も増大すると
いう欠点がある。
ト線の数も増え、プリチャージ、バランス用のパルス発
生回路の負荷容量が増大し、プリチャージ、バランス信
号φの高速動作が困難になシ、従って、アクセスの高速
化ができないという欠点がある。また、ワード線が立ち
上がる前にビ、ト線をプリチャージ、バランスしなけれ
ばならないため、アクセスの高速化ができないという欠
点がある。さらに、全ビット線、及び、リードバスをプ
リチャージ、バランスするため、消費電力も増大すると
いう欠点がある。
本発明は、アドレスの変化を検出し、プリチャージ、バ
ランス用のパルス発生回路から発生されるプリチャージ
、バランス信号用パルスφを、選択されていたブロック
の中のメモリセルがデータを出力した後、外部アドレス
入力によってブロックチェンジが行なわれる直前に、い
ままで選択されていたブロックのみに、プリチャージ、
バランス用信号φiとして与えるように、列デコーダの
出力をタイミング制御するタイばング発生回路と。
ランス用のパルス発生回路から発生されるプリチャージ
、バランス信号用パルスφを、選択されていたブロック
の中のメモリセルがデータを出力した後、外部アドレス
入力によってブロックチェンジが行なわれる直前に、い
ままで選択されていたブロックのみに、プリチャージ、
バランス用信号φiとして与えるように、列デコーダの
出力をタイミング制御するタイばング発生回路と。
論理ゲートを有する。
次に、本発明について1図面を参照して説明する。第1
図は、本発明によるプリチャージ、バランス用のパルス
発生回路の構成の一実施例である。
図は、本発明によるプリチャージ、バランス用のパルス
発生回路の構成の一実施例である。
この構成において、第2図に示した従来例と異なるのは
、ビット線対群mxn組を1m個の論理グー)NOR1
〜NORmでm個のブロックに分割した点、及び、アド
レス入力信号Aiyの変化を受けて。
、ビット線対群mxn組を1m個の論理グー)NOR1
〜NORmでm個のブロックに分割した点、及び、アド
レス入力信号Aiyの変化を受けて。
列デコーダの出力タイミングを制御するタイミング発生
回路を有している点である。
回路を有している点である。
第1図の構成は、NORゲートの一方の入力を。
プリチャージ、バランス用のパルス発生回路13から出
力される。プリチャージ、バランス用パルスφとし、他
方の入力を、列デコーダ15の出力Y1〜Ymとする。
力される。プリチャージ、バランス用パルスφとし、他
方の入力を、列デコーダ15の出力Y1〜Ymとする。
各7°ロツクのNORゲーグーNOR,〜NORm)の
出力はそれぞれのインバータ。
出力はそれぞれのインバータ。
(I NV+ −I NVm )に入力され、イ:/I
<−夕O出力は、い組のビット線対をプリチャージ、バ
ランスする回路にそれぞれ入力される。アドレス入力信
号Aixの変化がアドレス変化検出回路12によって検
出され、その出力φ人は記憶装置の内部制御信号となり
、プリチャージ、バランス用のパルス発生回路13に人
力され、プリチャージ、バランス用のパルス発生回路1
3の出力であるプリチャージ、バランス用信号φが、各
論理ゲートNORB−NORmの入力に与えられる。ま
た、アドレス入力信号Aiyが変化することによって、
アドレス入力信号Aiyの変化が、タイミング発生回路
14に入力され、タイミング発生回路14によって、タ
イミング制御された出力φBtd、記憶装置の内部制御
信号となり、列デコーダ15に入力され、列デコーダ1
5の出力Y1〜Ymが、各論理ゲートNo凡、〜N0I
(、mの人力に与えられる。ここで、プリチャージ、バ
ランス用のパルス発生回路13の出力である。プリチャ
ージ、バランス用パルスφ妙ζLowレベルになってい
る時に、列デコーダ15の出力YlがLowレベルにな
りているとすると、プリチャージ、バランス用信号φ1
だけが発生され、ビット線対mxn組中、n組だけを1
リチヤージ、バランスする。
<−夕O出力は、い組のビット線対をプリチャージ、バ
ランスする回路にそれぞれ入力される。アドレス入力信
号Aixの変化がアドレス変化検出回路12によって検
出され、その出力φ人は記憶装置の内部制御信号となり
、プリチャージ、バランス用のパルス発生回路13に人
力され、プリチャージ、バランス用のパルス発生回路1
3の出力であるプリチャージ、バランス用信号φが、各
論理ゲートNORB−NORmの入力に与えられる。ま
た、アドレス入力信号Aiyが変化することによって、
アドレス入力信号Aiyの変化が、タイミング発生回路
14に入力され、タイミング発生回路14によって、タ
イミング制御された出力φBtd、記憶装置の内部制御
信号となり、列デコーダ15に入力され、列デコーダ1
5の出力Y1〜Ymが、各論理ゲートNo凡、〜N0I
(、mの人力に与えられる。ここで、プリチャージ、バ
ランス用のパルス発生回路13の出力である。プリチャ
ージ、バランス用パルスφ妙ζLowレベルになってい
る時に、列デコーダ15の出力YlがLowレベルにな
りているとすると、プリチャージ、バランス用信号φ1
だけが発生され、ビット線対mxn組中、n組だけを1
リチヤージ、バランスする。
次に、第3図を用いて、プリチャージ、バランス用信号
φ1.φ3の動作タイピングを説明する。
φ1.φ3の動作タイピングを説明する。
ここで、簡略化のために、第3図のFmFmFでは、そ
れぞれ、第1図のブロック2.ブロックl、ブロック2
が選択されているものとする。アドレス入力信号Aix
が変化することによって、第3図のφのようなプリチャ
ージ、バランス信号用パルスが発生する。また、アドレ
ス入力信号Aiyが変化することによって、第1図のタ
イミング発生回路14によりてタイミング制御された列
デコーダの出力Y1.Y鵞が第3図のYl、Y、のよう
に出力される。ここで、プリチャージ、バランス信号用
パルスφと列デコーダの出力Y、、Y、を、第1図のN
OR,ゲート、NOR,ゲートで論理をと)第3図のφ
1 φづのような、プリチャージ、バランス信号が発生
する。すなわち、プリチャージ。
れぞれ、第1図のブロック2.ブロックl、ブロック2
が選択されているものとする。アドレス入力信号Aix
が変化することによって、第3図のφのようなプリチャ
ージ、バランス信号用パルスが発生する。また、アドレ
ス入力信号Aiyが変化することによって、第1図のタ
イミング発生回路14によりてタイミング制御された列
デコーダの出力Y1.Y鵞が第3図のYl、Y、のよう
に出力される。ここで、プリチャージ、バランス信号用
パルスφと列デコーダの出力Y、、Y、を、第1図のN
OR,ゲート、NOR,ゲートで論理をと)第3図のφ
1 φづのような、プリチャージ、バランス信号が発生
する。すなわち、プリチャージ。
バランス信号φ!は、アドレス入力信号、Aix。
!’tiYの変化によって、ブロックlが非選択になる
直前に、ブロック1のみに発生され、プリチャージ、バ
ランス信号φ2は、アドレス人力信号Aix。
直前に、ブロック1のみに発生され、プリチャージ、バ
ランス信号φ2は、アドレス人力信号Aix。
4iyの変化によって、ブロック2が非選択になる直前
に、ブロック2のみに発生される。また、第3図におい
て、ブロック1が選択されている時は、ワード線1が上
がり、ブロック2が選択されている時はワード線2が上
がるとすれば、プリチャージ、バランス信号φ!は、ブ
ロック1から、データが出力された後、ワード線1が立
ち下がる時に発生され、プリチャージ、バランス信号φ
2 ri&7′ロック2からデータが出力された後、ワ
ード線2が立ち下がる時に発生される。つまり、プリチ
ャージ、バランス信号φ1〜φmは、第1図の列デコー
ダ15を制御するタイミング発生回路14によって、選
択されていたブロックが、データを出、 力した後、
アドレス入力信号Aix、AiYの変化によって、ブロ
ックチェンジが行なわれる直前に、いままで選択されて
いたブロックにのみ発生する。
に、ブロック2のみに発生される。また、第3図におい
て、ブロック1が選択されている時は、ワード線1が上
がり、ブロック2が選択されている時はワード線2が上
がるとすれば、プリチャージ、バランス信号φ!は、ブ
ロック1から、データが出力された後、ワード線1が立
ち下がる時に発生され、プリチャージ、バランス信号φ
2 ri&7′ロック2からデータが出力された後、ワ
ード線2が立ち下がる時に発生される。つまり、プリチ
ャージ、バランス信号φ1〜φmは、第1図の列デコー
ダ15を制御するタイミング発生回路14によって、選
択されていたブロックが、データを出、 力した後、
アドレス入力信号Aix、AiYの変化によって、ブロ
ックチェンジが行なわれる直前に、いままで選択されて
いたブロックにのみ発生する。
なお、第1図に示した実施例における論理ゲートNOR
,〜NORmは、他の論理ゲートでもかまわないO 〔発明の効果〕 以上、説明したように、本発明は、ビット線対群をm個
に分割することにより、プリチャージ。
,〜NORmは、他の論理ゲートでもかまわないO 〔発明の効果〕 以上、説明したように、本発明は、ビット線対群をm個
に分割することにより、プリチャージ。
バランス用のパルス発生回路の負荷容量を従来例よシ軽
くでき、プリチャージ、バランス用信号の高速動作が可
能である。また、本発明は、選択されていたブロックが
データを出力した後、非選択になる直前に、そのブロッ
クのワード線が立ち下がる時、プリチャージ、バランス
信号なうので。
くでき、プリチャージ、バランス用信号の高速動作が可
能である。また、本発明は、選択されていたブロックが
データを出力した後、非選択になる直前に、そのブロッ
クのワード線が立ち下がる時、プリチャージ、バランス
信号なうので。
従来例のように、ワード線が上がる前に、プリチャージ
、バランスをしなければならな−といった制約がなく、
ひとつの10ツクだけに与えられるので、そのブロック
だけが、プリチャージ、バランスされるため、従来例よ
シも消費電力が低減できる。
、バランスをしなければならな−といった制約がなく、
ひとつの10ツクだけに与えられるので、そのブロック
だけが、プリチャージ、バランスされるため、従来例よ
シも消費電力が低減できる。
第1図は、本発明のプリチャージ、バランス用のパルス
発生回路の構成を示す図である。第2図は従来のプリチ
ャージ、バランス用のパルス発生回路の構成を示す図で
ある。第3図はタイミング図である。 第1.第2において% 1,2.rt・・川・ビット
線対、1)・・・・・・アドレスバッファ回路、12・
・・・・・アドレス変化検出回路、13・曲・プリチャ
ージ、バランス用のパルス発生回路、14・・・・・・
タイミング発生回路、15・・・・・・列デコーダ、
Aix・・・・・・Xアドレス入力信号、Aiy・・・
・・・Xアドレス入力信号。 φ人・・・・・・アドレス変化検出回路出力、φB・・
・・・・タイミング発生回路出力、φ・曲・プリチャー
ジ、バランス信号%Y1〜Ym・・・・・・列デコーダ
の出カ悟号、φ獄〜φm・・印・各ブロックのプリチャ
ージ、バランl″r′1N \ \ \ )
N筋30
発生回路の構成を示す図である。第2図は従来のプリチ
ャージ、バランス用のパルス発生回路の構成を示す図で
ある。第3図はタイミング図である。 第1.第2において% 1,2.rt・・川・ビット
線対、1)・・・・・・アドレスバッファ回路、12・
・・・・・アドレス変化検出回路、13・曲・プリチャ
ージ、バランス用のパルス発生回路、14・・・・・・
タイミング発生回路、15・・・・・・列デコーダ、
Aix・・・・・・Xアドレス入力信号、Aiy・・・
・・・Xアドレス入力信号。 φ人・・・・・・アドレス変化検出回路出力、φB・・
・・・・タイミング発生回路出力、φ・曲・プリチャー
ジ、バランス信号%Y1〜Ym・・・・・・列デコーダ
の出カ悟号、φ獄〜φm・・印・各ブロックのプリチャ
ージ、バランl″r′1N \ \ \ )
N筋30
Claims (2)
- (1)半導体記憶装置において、全ビット線、もしくは
、リードバスを複数のブロック群に分割し、各ブロック
を任意に選択するためのアドレスバッファを有し、かつ
、アドレスの変化を検出し、プリチャージ、バランス用
信号を発生する、プリチャージバランス用のパルス発生
回路を有し、前記プリチャージバランス用のパルス発生
回路から出力されるプリチャージ、バランス用信号を、
選択されたブロックのみに与えるための論理ゲートを有
していることを特徴とする半導体記憶装置。 - (2)選択されていたブロックの中のセルのデータが出
力された後、外部アドレス入力によってブロックチェン
ジが行なわれる直前に、選択されていたブロックのみに
前記プリチャージ、バランス用のパルス発生回路から出
力されるプリチャージ、バランス信号を与えるように、
前記論理ゲートに入力される列デコーダの出力を、タイ
ミング制御するタイミング発生回路を有していることを
特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の半導体記憶
装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61033274A JPH0640439B2 (ja) | 1986-02-17 | 1986-02-17 | 半導体記憶装置 |
| US07/015,465 US4817057A (en) | 1986-02-17 | 1987-02-17 | Semiconductor memory device having improved precharge scheme |
| EP87102241A EP0237813A3 (en) | 1986-02-17 | 1987-02-17 | Semiconductor memory device having improved precharge scheme |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61033274A JPH0640439B2 (ja) | 1986-02-17 | 1986-02-17 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62189694A true JPS62189694A (ja) | 1987-08-19 |
| JPH0640439B2 JPH0640439B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=12381952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61033274A Expired - Lifetime JPH0640439B2 (ja) | 1986-02-17 | 1986-02-17 | 半導体記憶装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4817057A (ja) |
| EP (1) | EP0237813A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0640439B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH0192990A (ja) * | 1987-10-02 | 1989-04-12 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
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| JPH03254498A (ja) * | 1990-03-02 | 1991-11-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
| JPH05217378A (ja) * | 1991-11-19 | 1993-08-27 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体メモリ装置 |
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| DE68928270T2 (de) * | 1988-05-18 | 1998-01-15 | Sgs Thomson Microelectronics | SRAM mit Flash-Rücksetzung für auswählbare E/A-Leitungen |
| KR910002034B1 (ko) * | 1988-07-21 | 1991-03-30 | 삼성전자 주식회사 | 다분할형 메모리 어레이의 충전등화회로 |
| JP2805761B2 (ja) * | 1988-08-29 | 1998-09-30 | 日本電気株式会社 | スタティックメモリ |
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| US5022010A (en) * | 1989-10-30 | 1991-06-04 | International Business Machines Corporation | Word decoder for a memory array |
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| DE69015371T2 (de) * | 1990-05-17 | 1995-07-13 | Ibm | Lese-/schreibe-/wiederherstellungsschaltung für speichermatrizen. |
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