JPS62190816A - 電圧非直線性素子の製造方法 - Google Patents
電圧非直線性素子の製造方法Info
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- JPS62190816A JPS62190816A JP61034653A JP3465386A JPS62190816A JP S62190816 A JPS62190816 A JP S62190816A JP 61034653 A JP61034653 A JP 61034653A JP 3465386 A JP3465386 A JP 3465386A JP S62190816 A JPS62190816 A JP S62190816A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は印加電圧によって抵抗値が変化する電圧非直線
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリウクス駆動の液晶、KLなどの表示デバイ
スのスイッチング素子などに利用されるものである。
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリウクス駆動の液晶、KLなどの表示デバイ
スのスイッチング素子などに利用されるものである。
従来の技術
従来の電圧非直線性素子は、酸化亜鉛(ZnO)に酸化
ビス−vス(B12o3)、酸化コバルト(Cjo 2
03 )、酸化マンガン(Mn02)、酸化アンチモン
(31)20s)などの酸化物を添加して、10oO〜
1350℃で焼結したZnOバリスタなど、種々のもの
がある。その中で、ZnOバリスタは電圧非直線指数α
、サージ耐量が大きいことから、最も一般的に使われて
いる。(特公昭46−19472号公報参照) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mA’i流した時の電圧V1mAで表される)を低くす
ることに限界があり、低電圧用ICの保護素子や低い電
圧における電圧安定化素子として使えないものであった
。また、上述したように焼成する際に1000’C以上
の高温プロセスを必要とするため、ガラス基板上あるい
は回路基板上に電圧非直線性素子を直接形成できないと
いう問題があった。さらに、従来のものは並列静電容量
が大きく、例えば液晶などのスイッチング素子としては
不適当なものであるなどの問題点を有していた。
ビス−vス(B12o3)、酸化コバルト(Cjo 2
03 )、酸化マンガン(Mn02)、酸化アンチモン
(31)20s)などの酸化物を添加して、10oO〜
1350℃で焼結したZnOバリスタなど、種々のもの
がある。その中で、ZnOバリスタは電圧非直線指数α
、サージ耐量が大きいことから、最も一般的に使われて
いる。(特公昭46−19472号公報参照) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mA’i流した時の電圧V1mAで表される)を低くす
ることに限界があり、低電圧用ICの保護素子や低い電
圧における電圧安定化素子として使えないものであった
。また、上述したように焼成する際に1000’C以上
の高温プロセスを必要とするため、ガラス基板上あるい
は回路基板上に電圧非直線性素子を直接形成できないと
いう問題があった。さらに、従来のものは並列静電容量
が大きく、例えば液晶などのスイッチング素子としては
不適当なものであるなどの問題点を有していた。
問題点を解決するための手段
この問題点を解決するために本発明は、無機質半導体の
微粉末にBiを含有する無機または有機化合物を添加し
、混合した後、600〜1360℃で熱処理を行い、無
機質半導体微粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させる
と共に、その絶縁被膜を表面に有した微粉末状の上記無
機質半導体の全部またはほとんどがそれぞれ複数個集ま
った状態となるようにし、その後微粉末状の無機質半導
体が複数個集まった状態の粉末または一部に上記微粉末
を含む粉末に絶縁性の有機接着剤かまたはガラス粉末と
有機バインダーを加え、ペイント状にし、次いで上記ペ
イントを電極を配した絶縁基板上に印刷、スプレーまた
は浸漬などによって塗布した後、熱処理を行って硬化さ
せることを特徴とするものである。
微粉末にBiを含有する無機または有機化合物を添加し
、混合した後、600〜1360℃で熱処理を行い、無
機質半導体微粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させる
と共に、その絶縁被膜を表面に有した微粉末状の上記無
機質半導体の全部またはほとんどがそれぞれ複数個集ま
った状態となるようにし、その後微粉末状の無機質半導
体が複数個集まった状態の粉末または一部に上記微粉末
を含む粉末に絶縁性の有機接着剤かまたはガラス粉末と
有機バインダーを加え、ペイント状にし、次いで上記ペ
イントを電極を配した絶縁基板上に印刷、スプレーまた
は浸漬などによって塗布した後、熱処理を行って硬化さ
せることを特徴とするものである。
作用
この方法によれば、低電流域においても電圧非直線指数
αの大きなものが得られ、かつ電極間距離を狭く(数十
μm以下)して素子を形成することができ、低電圧化に
適した素子がきわめて容易に得られることとなる。また
、塗布したペイントを低い温度で硬化させて作ることが
できるため、回路基板上に素子を直接形成することがで
き、ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が
期待できるものである。さらに、得られた素子は微粉末
状の半導体物質を固めたものであるため、それぞれの半
導体物質の微粉末間は点接触となり、接触面積が小さい
ことから並列静電容量の小さなものが得られ、液晶など
のデバイスのスイッチング素子として最適な素子が提供
できることとなる。
αの大きなものが得られ、かつ電極間距離を狭く(数十
μm以下)して素子を形成することができ、低電圧化に
適した素子がきわめて容易に得られることとなる。また
、塗布したペイントを低い温度で硬化させて作ることが
できるため、回路基板上に素子を直接形成することがで
き、ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が
期待できるものである。さらに、得られた素子は微粉末
状の半導体物質を固めたものであるため、それぞれの半
導体物質の微粉末間は点接触となり、接触面積が小さい
ことから並列静電容量の小さなものが得られ、液晶など
のデバイスのスイッチング素子として最適な素子が提供
できることとなる。
実施例
以下、本発明を実施例にもとすいて詳細に説明する。
第1図は本発明の製造方法による製造工程の一実施例を
示している。まず、粒子径がO,OS〜1μmの微粒子
状の酸化亜鉛を700〜1300℃で焼成した後、その
焼結されたZnOを0.5〜50μmの粒子径(平均粒
子径1〜10μm)に粉砕し、そのZnO微粉末に酸化
ビスマスを0.05〜10mo1チ添加し、600〜1
350℃で10〜60分間、熱処理し、そのZnO微粉
末表面に酸化ビスマスの絶縁被膜を形成した。この時、
微粉末状のZnOの表面にはBi2O5絶縁被膜がほぼ
数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが認めら
れた。次いで、このようにして作成したBi2O3絶縁
被膜が表面についたZnO微粉末は弱い力で互いに接着
しているので、これを乳鉢あるいはポヮト°ミルでほぐ
し上記ZnO微粉末がそれぞれ複数個集まった微粉末群
の状態とした(以下、この状態のものを粉末状という)
。この時、一部に上記ZnO微粉末が単独で存在しても
差支えないものであり、このようなZnO微粉末を一部
に含んでの状態のものも粉末状という。次に、上記のよ
うにして得られたBizO老縁被腰縁被膜に形成された
粉末状のZnOに、粉末間の結合を図る結合剤(バイン
ダー)としてポリイミド樹脂を添加し、混合した。ここ
で、結合剤としてはポリイミド樹脂の固形分が溶剤(例
えばn−メチル−2−ピロリドン)に対して5wt%と
なるように薄めたものとし、それをZnO粉末と例えば
等重量で混合し、ペイント状とした。次いで、上記のよ
うにして得られたペイントを第3図に示すようにITO
(≧ンジウム・スズ酸化物)電極1の設けられたガラス
基板3上に例えばスクリーン印刷で塗布し、その上に同
じ(ITO電極2の設けられたガラス基板4を載置し、
280〜400℃で30分間、大気中で硬化させ、電極
1.2間に電圧非直線性素子6を設けた。第2図は、電
圧非直線性素子5の拡大断面図であシ、6はZnO粉末
、7はZnO粉末6の表面に施されたBizOs絶縁被
膜、8はそれらZnO粉末6間を機械的に結合している
結合剤であり、この結合剤8でもってZnO粉末6の間
は互いに固められている。第4図はITO電極1a、1
bが設けられたガラス基板32L上に電圧非直線性素子
5を構成した場合を示している。
示している。まず、粒子径がO,OS〜1μmの微粒子
状の酸化亜鉛を700〜1300℃で焼成した後、その
焼結されたZnOを0.5〜50μmの粒子径(平均粒
子径1〜10μm)に粉砕し、そのZnO微粉末に酸化
ビスマスを0.05〜10mo1チ添加し、600〜1
350℃で10〜60分間、熱処理し、そのZnO微粉
末表面に酸化ビスマスの絶縁被膜を形成した。この時、
微粉末状のZnOの表面にはBi2O5絶縁被膜がほぼ
数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが認めら
れた。次いで、このようにして作成したBi2O3絶縁
被膜が表面についたZnO微粉末は弱い力で互いに接着
しているので、これを乳鉢あるいはポヮト°ミルでほぐ
し上記ZnO微粉末がそれぞれ複数個集まった微粉末群
の状態とした(以下、この状態のものを粉末状という)
。この時、一部に上記ZnO微粉末が単独で存在しても
差支えないものであり、このようなZnO微粉末を一部
に含んでの状態のものも粉末状という。次に、上記のよ
うにして得られたBizO老縁被腰縁被膜に形成された
粉末状のZnOに、粉末間の結合を図る結合剤(バイン
ダー)としてポリイミド樹脂を添加し、混合した。ここ
で、結合剤としてはポリイミド樹脂の固形分が溶剤(例
えばn−メチル−2−ピロリドン)に対して5wt%と
なるように薄めたものとし、それをZnO粉末と例えば
等重量で混合し、ペイント状とした。次いで、上記のよ
うにして得られたペイントを第3図に示すようにITO
(≧ンジウム・スズ酸化物)電極1の設けられたガラス
基板3上に例えばスクリーン印刷で塗布し、その上に同
じ(ITO電極2の設けられたガラス基板4を載置し、
280〜400℃で30分間、大気中で硬化させ、電極
1.2間に電圧非直線性素子6を設けた。第2図は、電
圧非直線性素子5の拡大断面図であシ、6はZnO粉末
、7はZnO粉末6の表面に施されたBizOs絶縁被
膜、8はそれらZnO粉末6間を機械的に結合している
結合剤であり、この結合剤8でもってZnO粉末6の間
は互いに固められている。第4図はITO電極1a、1
bが設けられたガラス基板32L上に電圧非直線性素子
5を構成した場合を示している。
次に、上記のようにして作成された電圧非直線性素子の
電圧−電流特性について説明する。まず、第5図は第3
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛2!l−7oo″Cで焼成し、これにBi2O
,を0.5 mol %添加したものを900’C,8
0分間熱処理した後、この平均粒子径6〜10μmのZ
nO粉末と結合剤とを等重量で混合したものにおいて、
素子面積を1−9電極間距離を30μmとした場合にお
ける特性を示している。さて、電圧非直線性素子の電圧
−電流特性は、よく知られているように近似的に次式で
示されている。
電圧−電流特性について説明する。まず、第5図は第3
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛2!l−7oo″Cで焼成し、これにBi2O
,を0.5 mol %添加したものを900’C,8
0分間熱処理した後、この平均粒子径6〜10μmのZ
nO粉末と結合剤とを等重量で混合したものにおいて、
素子面積を1−9電極間距離を30μmとした場合にお
ける特性を示している。さて、電圧非直線性素子の電圧
−電流特性は、よく知られているように近似的に次式で
示されている。
工=に’/C1
ここで、工は素子に流れる電流、Vは素子の電極間の電
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示してお9、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示してお9、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
第5図の特性に示されるように、特性Bで示される従来
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、10=A以下の電流では良好な電圧非直線性
素子としての機能を発揮し得ない。−力、特性ムで示さ
れる本発明の素子では低電流域においても電圧非直線指
数αが大きく、1o−10ム程度の電流域でも十分に電
圧非直線性素子としての機能を発揮することができるこ
とを示している。また、通常、ZnOバリスタにおいて
はバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mムの電
流を流した時の電極間に現れる電圧をバリスタ電圧V1
111Aと呼び、このバリスタ電圧Y1mAと上記電圧
非直線指数αとを使用している。本発明の素子では、上
述したように、低電流域においても電圧非直線指数αが
大きく、バリスタ電圧を第6図に示すように、例えばv
1μ人で表わすことができる。
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、10=A以下の電流では良好な電圧非直線性
素子としての機能を発揮し得ない。−力、特性ムで示さ
れる本発明の素子では低電流域においても電圧非直線指
数αが大きく、1o−10ム程度の電流域でも十分に電
圧非直線性素子としての機能を発揮することができるこ
とを示している。また、通常、ZnOバリスタにおいて
はバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mムの電
流を流した時の電極間に現れる電圧をバリスタ電圧V1
111Aと呼び、このバリスタ電圧Y1mAと上記電圧
非直線指数αとを使用している。本発明の素子では、上
述したように、低電流域においても電圧非直線指数αが
大きく、バリスタ電圧を第6図に示すように、例えばv
1μ人で表わすことができる。
このように本発明において、バリスタ電圧を低いものと
することができるのは、電極間距離を狭くして素子を形
成することができるためである。
することができるのは、電極間距離を狭くして素子を形
成することができるためである。
また、本発明素子釦おいて低電流域でも電圧非直線指数
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、粉末状の半導体物質(ZnO)を結合剤でも
って固めたものであるため、それぞれの半導体物質の間
は点接触となシ、接触面積が小さいこと、また結合剤が
絶縁性のため、漏れ電流が小さくなっていることによる
ものと考えられる。
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、粉末状の半導体物質(ZnO)を結合剤でも
って固めたものであるため、それぞれの半導体物質の間
は点接触となシ、接触面積が小さいこと、また結合剤が
絶縁性のため、漏れ電流が小さくなっていることによる
ものと考えられる。
ここで、第5図の特性は上述したように電極間距離を3
0μmとした素子についてのものであるが、これはZn
O粉末の平均粒子径が5〜10μmという比較的大きな
粒子径のためにこれ以上狭くすることができないからで
ある。すなわち、ZnO粉末の平均粒子径が0.3〜3
μmのものを使えば、電極間距離が10μm程度もしく
はそれ以下の素子を作ることができるのであり、その場
合においても第5図に示すような良好な特性が得られる
ことを本発明者らは実験により確認した。
0μmとした素子についてのものであるが、これはZn
O粉末の平均粒子径が5〜10μmという比較的大きな
粒子径のためにこれ以上狭くすることができないからで
ある。すなわち、ZnO粉末の平均粒子径が0.3〜3
μmのものを使えば、電極間距離が10μm程度もしく
はそれ以下の素子を作ることができるのであり、その場
合においても第5図に示すような良好な特性が得られる
ことを本発明者らは実験により確認した。
第6図は本発明において、酸化ビスマスの添加量を変え
た場合のバリスタ電圧v1μA2電圧非直線指数αおよ
び並列静電容量Cの変化する様子を示している。ここで
、酸化亜鉛の焼成温度など、その他の条件は第6図の場
合の条件と同一とした。
た場合のバリスタ電圧v1μA2電圧非直線指数αおよ
び並列静電容量Cの変化する様子を示している。ここで
、酸化亜鉛の焼成温度など、その他の条件は第6図の場
合の条件と同一とした。
第6図に示されるように、本発明素子においては並列静
電容量が従来のZnOバリスタが1oO0〜20000
PFであるのに対して非常に小さいものとなっている
。この並列静電容量Cが本発明素子において小さい理由
は、上述したように半導体物質間の接触面積が小さいこ
とによるものである。また第1表は、本発明において酸
化ビスマスの添加量と熱処理温度を変えた場合のバリス
タ電圧v、ハ、電圧非直線指数αおよび並列静電容量C
の変化する様子を示した表である。
電容量が従来のZnOバリスタが1oO0〜20000
PFであるのに対して非常に小さいものとなっている
。この並列静電容量Cが本発明素子において小さい理由
は、上述したように半導体物質間の接触面積が小さいこ
とによるものである。また第1表は、本発明において酸
化ビスマスの添加量と熱処理温度を変えた場合のバリス
タ電圧v、ハ、電圧非直線指数αおよび並列静電容量C
の変化する様子を示した表である。
く第 1 表〉
上記第1表および第6図よシ明らかなように、各特性値
は酸化ビスマスの添加量と熱処理温度に依存しているこ
とがわかる。ここで、酸化ビスマスの添加量はO,OS
〜3mo1%で特に良好な特性を示した。また、熱処理
温度は酸化ビスマスの添加量にもよるが600〜135
0’Cの範囲で良好な特性を示した。この熱処理温度が
上記温度範囲以外、例えば600℃未満では十分な絶縁
被膜の形成が困難であることや1350’Cを超えた温
度では電圧非直線指数αが必要とする値以下になるなど
の原因で良好な特性が得られないのである。
は酸化ビスマスの添加量と熱処理温度に依存しているこ
とがわかる。ここで、酸化ビスマスの添加量はO,OS
〜3mo1%で特に良好な特性を示した。また、熱処理
温度は酸化ビスマスの添加量にもよるが600〜135
0’Cの範囲で良好な特性を示した。この熱処理温度が
上記温度範囲以外、例えば600℃未満では十分な絶縁
被膜の形成が困難であることや1350’Cを超えた温
度では電圧非直線指数αが必要とする値以下になるなど
の原因で良好な特性が得られないのである。
なお、上記の実施例においては、半導体物質としては、
ZnOを例にとり説明したが、それ以外の半導体物質
であっても差支えないことはもちろんである。また、同
様に絶縁被膜を構成する材料としては、Bi2O5単独
に限られることはなく、Bi2O3@主成分として、ム
l 、Ti 、3r 、Mg。
ZnOを例にとり説明したが、それ以外の半導体物質
であっても差支えないことはもちろんである。また、同
様に絶縁被膜を構成する材料としては、Bi2O5単独
に限られることはなく、Bi2O3@主成分として、ム
l 、Ti 、3r 、Mg。
Ni、cr 、siなどの金属酸化物またはこれら金属
の有機金属化合物を単独または組合せて使用することが
できるものである。
の有機金属化合物を単独または組合せて使用することが
できるものである。
さらに、粉末状の半導体物質を固める結合剤としては、
ポリイミド樹脂以外の絶縁性の有機接着剤でもよく、熱
硬化性樹脂、たとえばフェノール樹脂、フラン樹脂、エ
リア樹脂、メラミン樹脂。
ポリイミド樹脂以外の絶縁性の有機接着剤でもよく、熱
硬化性樹脂、たとえばフェノール樹脂、フラン樹脂、エ
リア樹脂、メラミン樹脂。
不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、エ
ポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ケイ素樹脂などでも良
いものであり、さらにはガラス粉末と有機バインダーと
を組合せた形で用いてもよいものである。
ポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ケイ素樹脂などでも良
いものであり、さらにはガラス粉末と有機バインダーと
を組合せた形で用いてもよいものである。
また、上記の実施例では素子の形成をスクリーン印刷法
により行ったが、それ以外の塗布法、例えばスプレー、
浸漬などの方法で行ってもよいものである。
により行ったが、それ以外の塗布法、例えばスプレー、
浸漬などの方法で行ってもよいものである。
さらにまた、上記実施例による製造方法では、まず最初
に無機質半導体である微粒子状のZnOを熱処理、粉砕
し、粉末とした後に、絶縁性の無機質化合物であるBi
2O3を添加し、その後熱処理を行ったが、これは無機
質半導体の微粉末に直接無機質化合物を添加するように
し、上記無機質半導体微粒子の焼成、粉砕という処理工
程を省略しても差支えないものである。
に無機質半導体である微粒子状のZnOを熱処理、粉砕
し、粉末とした後に、絶縁性の無機質化合物であるBi
2O3を添加し、その後熱処理を行ったが、これは無機
質半導体の微粉末に直接無機質化合物を添加するように
し、上記無機質半導体微粒子の焼成、粉砕という処理工
程を省略しても差支えないものである。
発明の効果
以上の説明よシ明らかなように本発明方法によシ得られ
た電圧非直線性素子は、低電流域における電圧非直線指
数αが犬きく、また並列静電容量の小さな素子が得られ
ることから、消費電流の小さい液晶、XL;4どのデバ
イスのスイッチング素子として最適な素子を提供できる
ものである。また、電極間距離を狭くして素子を形成す
ることができるため、バリスタ電圧の低いものが得られ
、上記電圧非直線指数αが大きいことと相まって従来の
ZnOバリスタでは対応することのできなかった低電圧
用ICの保護素子や低い電圧における電圧安定化素子と
して使用することができる。さらに、塗布したペイント
を低い温度で硬化させて簡単にして作ることができるた
め、回路基板上やガラス基板上に素子を直接形成するこ
とができるものである。このように種々の特徴を有する
本発明の電圧非直線性素子は、今までのZnOバリスタ
などでは考えられない幅広い用途が期待できるものであ
り、その産業性は犬なるものである。
た電圧非直線性素子は、低電流域における電圧非直線指
数αが犬きく、また並列静電容量の小さな素子が得られ
ることから、消費電流の小さい液晶、XL;4どのデバ
イスのスイッチング素子として最適な素子を提供できる
ものである。また、電極間距離を狭くして素子を形成す
ることができるため、バリスタ電圧の低いものが得られ
、上記電圧非直線指数αが大きいことと相まって従来の
ZnOバリスタでは対応することのできなかった低電圧
用ICの保護素子や低い電圧における電圧安定化素子と
して使用することができる。さらに、塗布したペイント
を低い温度で硬化させて簡単にして作ることができるた
め、回路基板上やガラス基板上に素子を直接形成するこ
とができるものである。このように種々の特徴を有する
本発明の電圧非直線性素子は、今までのZnOバリスタ
などでは考えられない幅広い用途が期待できるものであ
り、その産業性は犬なるものである。
第1図は本発明方法による電圧非直線性素子の製造方法
の工程を示す図、第2図は本発明方法により得られた電
圧非直線性素子の一実施例を示す拡大断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の素子をガラス基板上に設
けた実施例を示す断面図、第5図は本発明方法により得
られた素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流特性を
示す図、第6図は本発明方法による素子においてBi2
O5の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリス
タ電圧v1μAおよび並列静電容量Gの変化する様子を
示す図である。 1 、 f IL 、 1 b 、 2−−−−−4T
O電極、3,31L。 4・・・・・・ガラス基板、6・・・・・・電圧非直線
性素子、e・・・・・・ZnO粉末、T・・・・・・B
i 205絶縁被膜、8・・・・・・結合剤。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 電極 5 第5図 一力 電圧(V)
の工程を示す図、第2図は本発明方法により得られた電
圧非直線性素子の一実施例を示す拡大断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の素子をガラス基板上に設
けた実施例を示す断面図、第5図は本発明方法により得
られた素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流特性を
示す図、第6図は本発明方法による素子においてBi2
O5の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリス
タ電圧v1μAおよび並列静電容量Gの変化する様子を
示す図である。 1 、 f IL 、 1 b 、 2−−−−−4T
O電極、3,31L。 4・・・・・・ガラス基板、6・・・・・・電圧非直線
性素子、e・・・・・・ZnO粉末、T・・・・・・B
i 205絶縁被膜、8・・・・・・結合剤。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 電極 5 第5図 一力 電圧(V)
Claims (1)
- 無機質半導体の微粉末にBiを含有する無機または有
機化合物を添加し、混合した後、600〜1350℃で
熱処理を行い、無機質半導体微粉末の表面に無機質絶縁
被膜を形成させると共に、その絶縁被膜を表面に有した
微粉末状の上記無機質半導体の全部またはほとんどがそ
れぞれ複数個集まった状態となるようにし、その後微粉
末状の無機質半導体が複数個集まった状態の粉末または
一部に上記微粉末を含む粉末に絶縁性の有機接着剤かま
たはガラス粉末と有機バインダーを加え、ペイント状に
し、次いで上記ペイントを電極を配した絶縁基板上に印
刷、スプレーまたは浸漬などによって塗布した後、熱処
理を行って硬化させることを特徴とする電圧非直線性素
子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61034653A JPS62190816A (ja) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61034653A JPS62190816A (ja) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62190816A true JPS62190816A (ja) | 1987-08-21 |
Family
ID=12420397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61034653A Pending JPS62190816A (ja) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62190816A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010521058A (ja) * | 2006-09-24 | 2010-06-17 | ショッキング テクノロジーズ,インコーポレイテッド | ステップ電圧応答を有する電圧切り換え可能な誘電体材料の組成及び該誘電体材料の製造方法 |
-
1986
- 1986-02-18 JP JP61034653A patent/JPS62190816A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010521058A (ja) * | 2006-09-24 | 2010-06-17 | ショッキング テクノロジーズ,インコーポレイテッド | ステップ電圧応答を有する電圧切り換え可能な誘電体材料の組成及び該誘電体材料の製造方法 |
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