JPS62193227A - 電圧非直線性素子の製造方法 - Google Patents
電圧非直線性素子の製造方法Info
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- JPS62193227A JPS62193227A JP61036001A JP3600186A JPS62193227A JP S62193227 A JPS62193227 A JP S62193227A JP 61036001 A JP61036001 A JP 61036001A JP 3600186 A JP3600186 A JP 3600186A JP S62193227 A JPS62193227 A JP S62193227A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は印加電圧によって抵抗値が変化する電圧非直線
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス駆動の液晶、KL7iどの表示デバ
イスのスイッチング素子などに利用されるものである。
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス駆動の液晶、KL7iどの表示デバ
イスのスイッチング素子などに利用されるものである。
従来の技術
従来の電圧非直線性素子は、酸化亜鉛(ZnO)に酸化
ビスヤス(BizOs ) 、酸化コバルト(CO2
05)、酸化マンゴy (MnO2)、酸化アンチモン
(5b203 )などの酸化物を添加して、100C
)〜1350°Cで焼結したZnOバリスタなど、種々
のものがある。その中で、ZnOバリスタは?E圧非直
線指数α、サージ耐量が大きいことから、最も一般的に
使われている。(特公昭46−19472号公報参照) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流しまた時の電圧VilllAで表される)を
低くすることに限界があり、低電圧用ICの保護素子や
低い電圧における電圧安定化素子として使えないもので
あった。また、上述したように焼成する際に1000’
C以上の高温プロセスを必要とするため、ガラス基板上
あるいは回路基板上に電圧非直線性素子を直接形成でき
ないという問題があった。さらに、従来のものは並列静
電容量が大きく、例えば液晶などのスイッチング素子と
しては不適当なものであるなどの問題点を有していた。
ビスヤス(BizOs ) 、酸化コバルト(CO2
05)、酸化マンゴy (MnO2)、酸化アンチモン
(5b203 )などの酸化物を添加して、100C
)〜1350°Cで焼結したZnOバリスタなど、種々
のものがある。その中で、ZnOバリスタは?E圧非直
線指数α、サージ耐量が大きいことから、最も一般的に
使われている。(特公昭46−19472号公報参照) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流しまた時の電圧VilllAで表される)を
低くすることに限界があり、低電圧用ICの保護素子や
低い電圧における電圧安定化素子として使えないもので
あった。また、上述したように焼成する際に1000’
C以上の高温プロセスを必要とするため、ガラス基板上
あるいは回路基板上に電圧非直線性素子を直接形成でき
ないという問題があった。さらに、従来のものは並列静
電容量が大きく、例えば液晶などのスイッチング素子と
しては不適当なものであるなどの問題点を有していた。
問題点を解決するだめの手段
この問題点を解決するために本発明は、無機質半導体の
微粉末に無機または有機化合物を添加し、混合した後、
600〜1360°Cで熱処理を行い、無機質半導体微
粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させると共に、その
絶縁性被膜を表面に有した微粉末状の上記無機質半導体
の全部またはほとんどがそれぞれ複数個集まった状態と
なるようにし、その後微粉末状無機質半導体が複数個集
まった状態の粉末または一部に上記微粉末を含む粉末と
金属または導電性の金属酸化物の微粉末を加えたものに
絶縁性の有機接着剤かまたはガラス粉末と有機バインダ
ー全部え、ペイント状にし、次いで上記ペイントを電極
を配した絶縁基板上に印刷、スプレー−!たは浸mなど
によって塗布した後、熱処理を行って硬化させることを
特徴とするものである。
微粉末に無機または有機化合物を添加し、混合した後、
600〜1360°Cで熱処理を行い、無機質半導体微
粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させると共に、その
絶縁性被膜を表面に有した微粉末状の上記無機質半導体
の全部またはほとんどがそれぞれ複数個集まった状態と
なるようにし、その後微粉末状無機質半導体が複数個集
まった状態の粉末または一部に上記微粉末を含む粉末と
金属または導電性の金属酸化物の微粉末を加えたものに
絶縁性の有機接着剤かまたはガラス粉末と有機バインダ
ー全部え、ペイント状にし、次いで上記ペイントを電極
を配した絶縁基板上に印刷、スプレー−!たは浸mなど
によって塗布した後、熱処理を行って硬化させることを
特徴とするものである。
作用
この方法によれば、低電流域においても電圧非直線指数
αの大きなものが得られ、また粉末状の導電性物質を介
在させていることによって、粉末状の半導体物質間の電
気的接続を安定にし、特性バラツキの少ない素子が得ら
れ、かつこの導電性物質の介在量によってバリスタ電圧
を制御することもできること左なるため、電極間距離に
制約されることなく、上記のように極端に狭く(数十μ
m以下)して素子を形成しなくても、低電圧化に適した
素子がきわめて容易に得られることとなる。
αの大きなものが得られ、また粉末状の導電性物質を介
在させていることによって、粉末状の半導体物質間の電
気的接続を安定にし、特性バラツキの少ない素子が得ら
れ、かつこの導電性物質の介在量によってバリスタ電圧
を制御することもできること左なるため、電極間距離に
制約されることなく、上記のように極端に狭く(数十μ
m以下)して素子を形成しなくても、低電圧化に適した
素子がきわめて容易に得られることとなる。
また、塗布したペイントを低い温度で硬化させて作るこ
とができるため、回路基板上に素子を直接形成すること
ができ、ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用
途が期待できるものである。
とができるため、回路基板上に素子を直接形成すること
ができ、ZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用
途が期待できるものである。
さらに、得られた素子は粉末状の半導体物質を固めたも
のであるため、それぞれの半導体物質の粉末間は粉末状
導電性物質が介在されているものの点接触となり、接触
面積が基本的に小さいことから並列静電容量の小さなも
のが得られ、液晶などのデバイスのスイッチング素子と
して最適な素子が提供できることとなる。
のであるため、それぞれの半導体物質の粉末間は粉末状
導電性物質が介在されているものの点接触となり、接触
面積が基本的に小さいことから並列静電容量の小さなも
のが得られ、液晶などのデバイスのスイッチング素子と
して最適な素子が提供できることとなる。
実施例
以下、本発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
@1図は本発明の製造方法による製造工程の一実施例を
示している。まず、粒子径が0.05〜1/Zmの微粒
子状の酸化亜鉛を700〜1300℃で焼成した後、そ
の焼結されたZnOを0.5〜601tmの粒子径(平
均粒子径1〜10μm)に粉砕し、そのZnO微粉末に
酸化コバルトヲ。、06〜10mo1%添加し、6oo
〜135o℃で1゜〜6o分間、熱処理し、そのZnO
微粉末表面に酸化コバルトの絶縁被膜を形成した。この
時、微粉末状のZnOの表面にはco2o5絶縁被膜が
ほぼ数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが認
められた。次いで、このようにして作成したC o 2
05 絶縁被膜が表面についたZnO微粉末は弱い力で
互いに接着しているので、これを乳鉢あるいはボットミ
ルでほぐし、上記ZnO微粉末がそれぞれ複数個集まっ
た微粉末群の状態とした(以下、この状態のものを粉末
状という)。この時、一部に上記ZnO微粉末が単独で
存在しても差支えないものであり、このようなZnO微
粉末を一部に含んでの状態のものも粉末状という。次に
、上記のようにして得られたCo2O3絶縁被膜が表面
に形成された粉末状のZnOに、粉末状の導電性物質と
して銀粉末とそれら粉末間の結合を図る絶縁性の結合剤
(バインダー)としてポリイミド樹脂を添加し、混合し
た。ここで、結合剤としてはポリイミド樹脂の固形分が
溶剤(例えばn−メチル−2−ピロリドン)に対してS
wt%となるように薄めたものとし、それをZnO粉
末と銀粉末との合計分に対して例えば等重量で混合し、
ペイント状とした。
示している。まず、粒子径が0.05〜1/Zmの微粒
子状の酸化亜鉛を700〜1300℃で焼成した後、そ
の焼結されたZnOを0.5〜601tmの粒子径(平
均粒子径1〜10μm)に粉砕し、そのZnO微粉末に
酸化コバルトヲ。、06〜10mo1%添加し、6oo
〜135o℃で1゜〜6o分間、熱処理し、そのZnO
微粉末表面に酸化コバルトの絶縁被膜を形成した。この
時、微粉末状のZnOの表面にはco2o5絶縁被膜が
ほぼ数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが認
められた。次いで、このようにして作成したC o 2
05 絶縁被膜が表面についたZnO微粉末は弱い力で
互いに接着しているので、これを乳鉢あるいはボットミ
ルでほぐし、上記ZnO微粉末がそれぞれ複数個集まっ
た微粉末群の状態とした(以下、この状態のものを粉末
状という)。この時、一部に上記ZnO微粉末が単独で
存在しても差支えないものであり、このようなZnO微
粉末を一部に含んでの状態のものも粉末状という。次に
、上記のようにして得られたCo2O3絶縁被膜が表面
に形成された粉末状のZnOに、粉末状の導電性物質と
して銀粉末とそれら粉末間の結合を図る絶縁性の結合剤
(バインダー)としてポリイミド樹脂を添加し、混合し
た。ここで、結合剤としてはポリイミド樹脂の固形分が
溶剤(例えばn−メチル−2−ピロリドン)に対してS
wt%となるように薄めたものとし、それをZnO粉
末と銀粉末との合計分に対して例えば等重量で混合し、
ペイント状とした。
次いで、上記のようにして得られたベイン[r第3図に
示すようにITO(インジウム・スズ酸化物)を極1の
設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で塗
布し、その上に同じ(ITO電極2の設けられたガラス
基板4を載置し、280〜400°Cで30分間、大気
中で硬化させ、電極1.2間に電圧非直線性素子6を設
は友。第2図は、電圧非直線性素子6の拡大断面図であ
り、eはZnO粉末、7は粉末状の導電性物質としての
銀粉末で、ZnO粉末6問およびそのZnO粉末6と電
極1.2との間の電気的接続を良好にしている。8はそ
れら粉末6.7間を機械的に結合している絶縁性の結合
剤であり、この結合剤8でもって粉末6.7は互いに固
められている。9はZnO粉末6の表面に施されたCo
2O3絶縁被膜である。第4図はITO電極11L、1
bが設けられたガラス基板3a上に電圧非直線性素子6
を構成した場合を示している。
示すようにITO(インジウム・スズ酸化物)を極1の
設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で塗
布し、その上に同じ(ITO電極2の設けられたガラス
基板4を載置し、280〜400°Cで30分間、大気
中で硬化させ、電極1.2間に電圧非直線性素子6を設
は友。第2図は、電圧非直線性素子6の拡大断面図であ
り、eはZnO粉末、7は粉末状の導電性物質としての
銀粉末で、ZnO粉末6問およびそのZnO粉末6と電
極1.2との間の電気的接続を良好にしている。8はそ
れら粉末6.7間を機械的に結合している絶縁性の結合
剤であり、この結合剤8でもって粉末6.7は互いに固
められている。9はZnO粉末6の表面に施されたCo
2O3絶縁被膜である。第4図はITO電極11L、1
bが設けられたガラス基板3a上に電圧非直線性素子6
を構成した場合を示している。
次に、上記のようにして作成された電圧非直線性素子の
電圧−電流特性について説明する。まず、第6図は第3
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛を700’Cで焼成1−これにOo 205全
0.5mo1%添加したものを900 ’C、80分間
熱処理した後、この平均粒子径5〜10μmのZnO粉
末と銀粉末(平均粒子径6μm)との合計分(銀粉末は
全体の20F+。
電圧−電流特性について説明する。まず、第6図は第3
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。本発明の素子は、まず
酸化亜鉛を700’Cで焼成1−これにOo 205全
0.5mo1%添加したものを900 ’C、80分間
熱処理した後、この平均粒子径5〜10μmのZnO粉
末と銀粉末(平均粒子径6μm)との合計分(銀粉末は
全体の20F+。
チ)に等重量の上記結合剤をいれ、混合したものにおい
て、素子面積を1−1電極間距離を30μmとした場合
における特性を示している。さて、電圧非直線性素子の
電圧−電流特性は、よく知られているように近似的に次
式で示されている。
て、素子面積を1−1電極間距離を30μmとした場合
における特性を示している。さて、電圧非直線性素子の
電圧−電流特性は、よく知られているように近似的に次
式で示されている。
X=KV“
ここで、工は素子に流れる電流、■は素子の電極間の電
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示しており、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示しており、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
第5図の特性に示されるように、特性Bで示される従来
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、1o−4A以下の電流では良好な電圧非直線
性素子としての機能を発揮し得ない。一方、特性ムで示
される本発明の素子では低電流域においても電圧非直線
指数αが大きく、10−”A程度の電流域でも十分に電
圧非直線性素子としての機能を発揮することができるこ
とを示している。また、通常、ZnOバリスタにおいて
はバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mAの電
流を流した時の電極間に現れる電圧をバリスタ電圧v
+mAと呼び、このバリスタ電圧V1mAと上記電圧非
直線指数αとを使用している。本発明の素子では、上述
したように、低電流域においても電圧非直線指数αが大
きく、バリスタ電圧を第5図に示すように例えばv1μ
Aで表わすことができる。
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、1o−4A以下の電流では良好な電圧非直線
性素子としての機能を発揮し得ない。一方、特性ムで示
される本発明の素子では低電流域においても電圧非直線
指数αが大きく、10−”A程度の電流域でも十分に電
圧非直線性素子としての機能を発揮することができるこ
とを示している。また、通常、ZnOバリスタにおいて
はバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1mAの電
流を流した時の電極間に現れる電圧をバリスタ電圧v
+mAと呼び、このバリスタ電圧V1mAと上記電圧非
直線指数αとを使用している。本発明の素子では、上述
したように、低電流域においても電圧非直線指数αが大
きく、バリスタ電圧を第5図に示すように例えばv1μ
Aで表わすことができる。
このように本発明において、バリスタ電圧を低いものと
することができるのは、銀粉末を素子内に分散させてい
るため、これが電気的短絡路を作ることになり、実質的
に電極間距離が短くなったことに相当する、いわゆる橋
渡しの効果(電気的バイパス効果)をしているためであ
る。従−て、導電性物質を適当な量で添加すれば、電極
間距離に制約されることなく、たとえば電極間距離を極
度に狭くしないでも素子を形成することができる。
することができるのは、銀粉末を素子内に分散させてい
るため、これが電気的短絡路を作ることになり、実質的
に電極間距離が短くなったことに相当する、いわゆる橋
渡しの効果(電気的バイパス効果)をしているためであ
る。従−て、導電性物質を適当な量で添加すれば、電極
間距離に制約されることなく、たとえば電極間距離を極
度に狭くしないでも素子を形成することができる。
また、本発明素子において低電流域でも電圧非直線指数
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、粉末状の半導体物質(ZnO)i絶縁性の結
合剤でもって固めたものであるため、それぞれの半導体
物質の間は点接触となり、接触面積が小さいこと、また
結合剤が絶縁性のため、漏れ電流が小さくなっているこ
とによるものと考えられる。
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、粉末状の半導体物質(ZnO)i絶縁性の結
合剤でもって固めたものであるため、それぞれの半導体
物質の間は点接触となり、接触面積が小さいこと、また
結合剤が絶縁性のため、漏れ電流が小さくなっているこ
とによるものと考えられる。
第6図は本発明において、粉末状の導電性物質としての
銀粉末の添加量を変えた場合のバリスタ電圧v1μA1
電圧非直線指数αおよび並列静電容量Cの変化する様子
を示している。ここで、酸化亜鉛の焼成温度など、その
他の条件は第5図の場合の条件と同一とした。第6図に
示されるように、本発明素子においては並列静電容量が
従来のZnOバリスタが1o○0〜20000PFであ
るのに対して非常に小さいものとなっている。この並列
静電容量Cが本発明素子において小さい理由は、上述し
たように半導体物質間の接触面積が小さいことによるも
のである。また、第6図より銀粉末の添加量によってバ
リスタ電圧が変化する様子が認められるが、これは上述
しtように銀粉末の添加量によって電気的なバイパスが
変るためと考えられる。
銀粉末の添加量を変えた場合のバリスタ電圧v1μA1
電圧非直線指数αおよび並列静電容量Cの変化する様子
を示している。ここで、酸化亜鉛の焼成温度など、その
他の条件は第5図の場合の条件と同一とした。第6図に
示されるように、本発明素子においては並列静電容量が
従来のZnOバリスタが1o○0〜20000PFであ
るのに対して非常に小さいものとなっている。この並列
静電容量Cが本発明素子において小さい理由は、上述し
たように半導体物質間の接触面積が小さいことによるも
のである。また、第6図より銀粉末の添加量によってバ
リスタ電圧が変化する様子が認められるが、これは上述
しtように銀粉末の添加量によって電気的なバイパスが
変るためと考えられる。
才た、下記に示す第1表は本発明において酸化コバルト
の添加量と熱処理温度を変えた場合のバリスタ電圧v1
μA1電圧非直線指数αおよび並列静電容量Cの変化す
る様子を示した表である。
の添加量と熱処理温度を変えた場合のバリスタ電圧v1
μA1電圧非直線指数αおよび並列静電容量Cの変化す
る様子を示した表である。
(以下余 白)
上記第1表および第6図より明らかなように、各特性値
は酸化コバルトおよび銀粉末の添加量と熱処理温度に依
存していることがわかる。ここで酸化コバルトの添加量
は0.05〜3mo1%で特に良好な特性を示した。ま
t1熱熱処理度は酸化コバルトの添加量にもよるが60
0〜1350’Cの範囲で良好な特性を示した。この熱
処理温度が上記温度範囲以外、例えば600°C未満で
は十分な絶縁被膜の形成が困難であることや136o℃
を超えた温度では電圧非直線指数αが必要とする値以下
になるなどの原因で良好な特性が得られないのである。
は酸化コバルトおよび銀粉末の添加量と熱処理温度に依
存していることがわかる。ここで酸化コバルトの添加量
は0.05〜3mo1%で特に良好な特性を示した。ま
t1熱熱処理度は酸化コバルトの添加量にもよるが60
0〜1350’Cの範囲で良好な特性を示した。この熱
処理温度が上記温度範囲以外、例えば600°C未満で
は十分な絶縁被膜の形成が困難であることや136o℃
を超えた温度では電圧非直線指数αが必要とする値以下
になるなどの原因で良好な特性が得られないのである。
なお、上記の実施例においては、半導体物質としては、
ZnOを例にとり説明したが、それ以外の半導体物質で
あっても差支えないことはもちろんである。また、同様
に絶縁被膜を構成する材料としては、Co2O3に限ら
れることはな(、Bi。
ZnOを例にとり説明したが、それ以外の半導体物質で
あっても差支えないことはもちろんである。また、同様
に絶縁被膜を構成する材料としては、Co2O3に限ら
れることはな(、Bi。
Mn、Sb 、Al 、Ti 、Sr 0Mg 、Mi
、Cr。
、Cr。
Sl、などの金属酸化物またはこれら金属の有機金属酸
化物などでもよいもので多・す、それらを単独1fcは
組合せて使用することができるものである。また、導電
性物質としては本実施例の銀単独以外に、たとえばxu
、 Al 、Zn 、 Ni 、 w 。
化物などでもよいもので多・す、それらを単独1fcは
組合せて使用することができるものである。また、導電
性物質としては本実施例の銀単独以外に、たとえばxu
、 Al 、Zn 、 Ni 、 w 。
Cu 、 Sn 、 In 、 Mn 、 Or 、
fr、どの金属またはこれら金属の酸化物を単独また
は組合せて使用することもできる。
fr、どの金属またはこれら金属の酸化物を単独また
は組合せて使用することもできる。
さらに、粉末状の半導体物質を固める結合剤としては、
ポリイミド樹脂以外の絶縁性の有機接着剤でもよく、熱
硬化性樹脂、たとえばフェノール樹脂、フラン樹脂、ユ
リア樹脂、メラミン樹脂。
ポリイミド樹脂以外の絶縁性の有機接着剤でもよく、熱
硬化性樹脂、たとえばフェノール樹脂、フラン樹脂、ユ
リア樹脂、メラミン樹脂。
不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、エ
ポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ケイ素樹脂などでも良
いものであり、さらにはガラス粉末と有機バインダーと
を組合せ几形で用いてもよいものである。
ポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂、ケイ素樹脂などでも良
いものであり、さらにはガラス粉末と有機バインダーと
を組合せ几形で用いてもよいものである。
また、上記の実施例では素子の形成をスクリーン印刷法
により行ったが、それ以外の塗布法、例えばスプレー、
浸漬などの方法で行ってもよいものである。
により行ったが、それ以外の塗布法、例えばスプレー、
浸漬などの方法で行ってもよいものである。
さらにまた、上記実施例による製造方法では、まず最初
に無機質半導体である微粒子状のZnOを熱処理、粉砕
し、粉末とした後に、絶縁性の無機質化合物であるCo
2O3を添加し、その後熱処理を行ったが、これは無機
質半導体の粉末に直接無機質化合物を添加するようにし
、上記無機質半導体微粒子の焼成、粉砕という処理工程
を省略しても差支えないものである。
に無機質半導体である微粒子状のZnOを熱処理、粉砕
し、粉末とした後に、絶縁性の無機質化合物であるCo
2O3を添加し、その後熱処理を行ったが、これは無機
質半導体の粉末に直接無機質化合物を添加するようにし
、上記無機質半導体微粒子の焼成、粉砕という処理工程
を省略しても差支えないものである。
発明の効果
以上の説明より明らかなように本発明方法により得られ
た電圧非直線性素子は、低電流域における電圧非直線指
数αが大きく、また並列静電容量の小さな素子が得られ
ることから、消費電流の小さい液晶、KLなどのデバイ
スのスイッチング素子として最適な素子を提供できるも
のである。まt、粉末状の導電性物質を介在させている
ことによって粉末状の半導体物質間の電気的接続を安定
にし、特性バラツキの少ない素子を得ることができ、か
つこの導電性物質の介在量によってハIJスタ電圧を制
御することができるという利点が得られるため、電極間
距離に制約されることなく、たとえば電極間距離を極度
に狭くしないでも、バリスタ電圧の低いものが得られ、
上記電圧非直線指数αが大きいことと相まって従来のZ
nOバリスタでは対応することのできなかった低電圧用
ICの保護素子や低い電圧における電圧安定化素子とし
て使用することができる。さらに、塗布したペイント’
を低い温度で硬化させて簡単にして作ることができるた
め、回路基板上やガラス基板上に素子を直接形成するこ
とができるものである。このように種々の特徴を有する
本発明の電圧非直線性素子は、今までのZnOバリスタ
などでは考えられない幅広い用途が期待できるものであ
り、その産業性は大なるものである。
た電圧非直線性素子は、低電流域における電圧非直線指
数αが大きく、また並列静電容量の小さな素子が得られ
ることから、消費電流の小さい液晶、KLなどのデバイ
スのスイッチング素子として最適な素子を提供できるも
のである。まt、粉末状の導電性物質を介在させている
ことによって粉末状の半導体物質間の電気的接続を安定
にし、特性バラツキの少ない素子を得ることができ、か
つこの導電性物質の介在量によってハIJスタ電圧を制
御することができるという利点が得られるため、電極間
距離に制約されることなく、たとえば電極間距離を極度
に狭くしないでも、バリスタ電圧の低いものが得られ、
上記電圧非直線指数αが大きいことと相まって従来のZ
nOバリスタでは対応することのできなかった低電圧用
ICの保護素子や低い電圧における電圧安定化素子とし
て使用することができる。さらに、塗布したペイント’
を低い温度で硬化させて簡単にして作ることができるた
め、回路基板上やガラス基板上に素子を直接形成するこ
とができるものである。このように種々の特徴を有する
本発明の電圧非直線性素子は、今までのZnOバリスタ
などでは考えられない幅広い用途が期待できるものであ
り、その産業性は大なるものである。
第1図は本発明方法による電圧非直線性素子の製造方法
の工程を示す図、第2図は本発明方法により得られた電
圧非直線性素子の一実施例を示す拡大断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の素子をガラス基板上に設
けた実施例を示す断面図、第5図は本発明方法により得
られた素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流特性を
示す図、第6図は本発明方法による素子において銀粉末
の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリスタ電
圧LztAおよび並列静電容量Cの変化する様子を示す
図である。 1.1&、1b、2・・・・・・ITOTL極、3,3
亀。 4・・・・・ガラス基板、5・・・・・・電圧非直線性
素子、6・・・・・・ZnO粉末、7・・・・・・銀粉
末、8・・・・・・結合剤、9・・・・・・CO2O3
絶縁被膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第
】(21 第2図 第 5 図 一力 電圧(1’) 第 6 図
の工程を示す図、第2図は本発明方法により得られた電
圧非直線性素子の一実施例を示す拡大断面図、第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の素子をガラス基板上に設
けた実施例を示す断面図、第5図は本発明方法により得
られた素子と従来のZnOバリスタの電圧−電流特性を
示す図、第6図は本発明方法による素子において銀粉末
の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリスタ電
圧LztAおよび並列静電容量Cの変化する様子を示す
図である。 1.1&、1b、2・・・・・・ITOTL極、3,3
亀。 4・・・・・ガラス基板、5・・・・・・電圧非直線性
素子、6・・・・・・ZnO粉末、7・・・・・・銀粉
末、8・・・・・・結合剤、9・・・・・・CO2O3
絶縁被膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第
】(21 第2図 第 5 図 一力 電圧(1’) 第 6 図
Claims (1)
- 無機質半導体の微粉末に無機または有機化合物を添加
し、混合した後、600〜1350℃で熱処理を行い、
無機質半導体微粉末の表面に無機質絶縁被膜を形成させ
ると共に、その絶縁性被膜を表面に有した微粉末状の上
記無機質半導体の全部またはほとんどがそれぞれ複数個
集まった状態となるようにし、その後微粉末状無機質半
導体が複数個集まった状態の粉末または一部に上記微粉
末を含む粉末と金属または導電性の金属酸化物の粉末を
加えたものに絶縁性の有機接着剤かまたはガラス粉末と
有機バインダーを加え、ペイント状にし、次いで上記ペ
イントを電極を配した絶縁基板上に印刷、スプレーまた
は浸漬などによって塗布した後、熱処理を行って硬化さ
せることを特徴とする電圧非直線性素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61036001A JPS62193227A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61036001A JPS62193227A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62193227A true JPS62193227A (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=12457547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61036001A Pending JPS62193227A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62193227A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02161881A (ja) * | 1989-08-03 | 1990-06-21 | Minolta Camera Co Ltd | 電子スチルカメラ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5358695A (en) * | 1976-11-08 | 1978-05-26 | Taiyo Yuden Kk | Film varistor |
-
1986
- 1986-02-20 JP JP61036001A patent/JPS62193227A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5358695A (en) * | 1976-11-08 | 1978-05-26 | Taiyo Yuden Kk | Film varistor |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02161881A (ja) * | 1989-08-03 | 1990-06-21 | Minolta Camera Co Ltd | 電子スチルカメラ |
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