JPS6219951A - 半導体デイスク装置 - Google Patents
半導体デイスク装置Info
- Publication number
- JPS6219951A JPS6219951A JP60157513A JP15751385A JPS6219951A JP S6219951 A JPS6219951 A JP S6219951A JP 60157513 A JP60157513 A JP 60157513A JP 15751385 A JP15751385 A JP 15751385A JP S6219951 A JPS6219951 A JP S6219951A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- line
- memory
- logic
- data
- disk device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
半導体ディスク装置であって、半導体記憶手段を論理的
に複数の論理ドライブに分割し、該当の論理ドライブに
オフライン指示があるとその内容を不揮発性記憶手段に
セーブし、オフラインで該当の論理ドライブを自由に診
断出来るように構成することにより、装置の保守性と信
頼性の向上が可能となる。
に複数の論理ドライブに分割し、該当の論理ドライブに
オフライン指示があるとその内容を不揮発性記憶手段に
セーブし、オフラインで該当の論理ドライブを自由に診
断出来るように構成することにより、装置の保守性と信
頼性の向上が可能となる。
本発明は、半導体メモリを記憶素子とする半導体ディス
ク装置に係り、特にその保守性と信頼性の向上を可能と
する半導体ディスク装置に関する。
ク装置に係り、特にその保守性と信頼性の向上を可能と
する半導体ディスク装置に関する。
情報処理技術及び集積回路技術の発展により、半導体メ
モリを記憶素子とし、しかも上位装置から見た場合は従
来の磁気ディスク装置等と同様な制御が可能な半導体デ
ィスク装置が情報処理システムの外部記憶装置として使
用されるようになって来た。
モリを記憶素子とし、しかも上位装置から見た場合は従
来の磁気ディスク装置等と同様な制御が可能な半導体デ
ィスク装置が情報処理システムの外部記憶装置として使
用されるようになって来た。
一般に、読み／書きが可能な半導体記憶手段は揮発性記
憶素子で構成されており、従って装置用パワーがオフに
なった場合のデータ保護用に半導体記憶手段の容量と同
等か、それ以上の容量を有する不揮発性記憶手段（例え
ば、５インチの磁気ディスク装置で構成）を備えている
。
憶素子で構成されており、従って装置用パワーがオフに
なった場合のデータ保護用に半導体記憶手段の容量と同
等か、それ以上の容量を有する不揮発性記憶手段（例え
ば、５インチの磁気ディスク装置で構成）を備えている
。
一方、半導体記憶手段には自然界に微小量存在する放射
線（α線）により記憶しているデータが変化させられる
ソフトエラーが発生することがあり、このソフトエラー
は現在の技術では避けることが出来ない。
線（α線）により記憶しているデータが変化させられる
ソフトエラーが発生することがあり、このソフトエラー
は現在の技術では避けることが出来ない。
これらのため、もしデータ転送時等にビットエラー等が
発生した半導体記憶手段はそのビットエラーの原因を詳
細に究明することが必要となる。
発生した半導体記憶手段はそのビットエラーの原因を詳
細に究明することが必要となる。
しかし、オンラインで運用されている半導体記憶手段に
直接診断用データを書込むことは現状では不可能であり
、又例えオフラインにしても直接診断用データを書込む
ことは出来ない。
直接診断用データを書込むことは現状では不可能であり
、又例えオフラインにしても直接診断用データを書込む
ことは出来ない。
かかる半導体記憶手段の診断が容易にしかも安全に行え
る処理方法の開発が待たれている。
る処理方法の開発が待たれている。
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕第３図
は従来例を説明するブロック図を示す。
は従来例を説明するブロック図を示す。
このブロック図は半導体ディスク装置の一部を示すもの
であり、 コントロールメモリ４に格納されているプログラムによ
り半導体ディスク装置の各種処理動作の実行を制御する
マイクロプロセッサ１ （以下ＭＰＵＩと称する）と、 ＭＰＵＩが各種処理動作の実行を制御するための制御プ
ログラムを格納しているコントロールメモリ４と、 保守装置６を共通バス１０等とインタフェースを取り接
続する保守用アダプタ５と、 各種ａｔ能の診断やエラー発生時の再現操作及びエラー
発生時のエラー表示等、半導体ディスク装置に対する各
種保守操作を行うための保守装置６と、 ＭＰＵ１等からの制御によりメモリ８に対するデータ書
込みやメモリ８に記憶しているデータの読出し動作を制
御するメモリ制御回路７ａと、読み／書きが可能な揮発
性半導体メモリで構成し、上位装置（図示してない）か
ら転送して来たデータを貯蔵するメモリ８と、 磁気ディスク１１とメモリ８との間のデータの遺り取り
を行う転送回路９ａと、 上位装置く図示してない）とメモリ８との間のデータの
遺り取りを行う転送回路９ｂと、ＭＰＵＩ 、メモリ８
等の相互間の転送データを運搬するための共通路である
共通バス１０と、メモリ８に記憶しているデータをセー
ブするための不揮発性記憶手段である磁気ディスク装置
１１とから構成される。
であり、 コントロールメモリ４に格納されているプログラムによ
り半導体ディスク装置の各種処理動作の実行を制御する
マイクロプロセッサ１ （以下ＭＰＵＩと称する）と、 ＭＰＵＩが各種処理動作の実行を制御するための制御プ
ログラムを格納しているコントロールメモリ４と、 保守装置６を共通バス１０等とインタフェースを取り接
続する保守用アダプタ５と、 各種ａｔ能の診断やエラー発生時の再現操作及びエラー
発生時のエラー表示等、半導体ディスク装置に対する各
種保守操作を行うための保守装置６と、 ＭＰＵ１等からの制御によりメモリ８に対するデータ書
込みやメモリ８に記憶しているデータの読出し動作を制
御するメモリ制御回路７ａと、読み／書きが可能な揮発
性半導体メモリで構成し、上位装置（図示してない）か
ら転送して来たデータを貯蔵するメモリ８と、 磁気ディスク１１とメモリ８との間のデータの遺り取り
を行う転送回路９ａと、 上位装置く図示してない）とメモリ８との間のデータの
遺り取りを行う転送回路９ｂと、ＭＰＵＩ 、メモリ８
等の相互間の転送データを運搬するための共通路である
共通バス１０と、メモリ８に記憶しているデータをセー
ブするための不揮発性記憶手段である磁気ディスク装置
１１とから構成される。
通常、上位装置（図示してない）から転送されて来るデ
ータはＭ Ｐ Ｕ １の制御のちとにメモリ制御回路７
ａで転送回路９ｂから引き込み、メモリ制御回路７ａで
指定するメモリ８のアドレス個所にそのデータを記憶さ
せる。
ータはＭ Ｐ Ｕ １の制御のちとにメモリ制御回路７
ａで転送回路９ｂから引き込み、メモリ制御回路７ａで
指定するメモリ８のアドレス個所にそのデータを記憶さ
せる。
一方、メモリ８に記憶しているデータを上位装置（図示
してない）に転送する場合は、同様に肝Ｕ１の制御のも
とにメモリ制御回路７ａで指示するメモリ８のアドレス
個所のデータを読取り、メモリ制御回路７ａを通じて転
送回路９ｂへ送出し、転送回路９ｂを通じて上位装置（
図示してない）に転送する。
してない）に転送する場合は、同様に肝Ｕ１の制御のも
とにメモリ制御回路７ａで指示するメモリ８のアドレス
個所のデータを読取り、メモリ制御回路７ａを通じて転
送回路９ｂへ送出し、転送回路９ｂを通じて上位装置（
図示してない）に転送する。
上記のような動作を行っている時、例えばパワーオフ指
示があると、ＭＰＬＩＩの制御のもとに転送回路９ａは
メモリ８に記憶しているデータを磁気ディスク１１に転
送（セーブ）して、その後パワーオフ状態となる。又、
次にパワーオン状態になった場合は、ＭＰｔｌｌの制御
のもとに転送回路９ａは磁気ディスク１１にセーブされ
たデータをメモリ８に転送（リストア）して、正常動作
に復帰させる。
示があると、ＭＰＬＩＩの制御のもとに転送回路９ａは
メモリ８に記憶しているデータを磁気ディスク１１に転
送（セーブ）して、その後パワーオフ状態となる。又、
次にパワーオン状態になった場合は、ＭＰｔｌｌの制御
のもとに転送回路９ａは磁気ディスク１１にセーブされ
たデータをメモリ８に転送（リストア）して、正常動作
に復帰させる。
一方、半導体ディスク装置の機能には、上位装置（図示
してない）とメモリ８とのデータの遺り取りを正常に実
施している状態（以下この状態をオフライン状態と称す
る）で、データエラー等が発生するために保守装置６か
ら保守用アダプタ５を通じてオフライン状態（上位装置
（図示してない）とのデータの遺り取りを停止した状態
）にし、半導体ディスク装置を診断することがある。
してない）とメモリ８とのデータの遺り取りを正常に実
施している状態（以下この状態をオフライン状態と称す
る）で、データエラー等が発生するために保守装置６か
ら保守用アダプタ５を通じてオフライン状態（上位装置
（図示してない）とのデータの遺り取りを停止した状態
）にし、半導体ディスク装置を診断することがある。
上記のようにオフライン状態にした場合、従来はメモリ
８に記憶しているデータを磁気ディスク１１ａに転送し
てセーブすることは実行出来ない。
８に記憶しているデータを磁気ディスク１１ａに転送し
てセーブすることは実行出来ない。
又、通常、装置診断は保守者が装置診断用プログラムを
流して行う。この時、保守者がもし誤操作等をするとメ
モリ８のデータを破壊することになる。
流して行う。この時、保守者がもし誤操作等をするとメ
モリ８のデータを破壊することになる。
更に、所定の装置診断用プログラムでは解鼾出来ないき
めこまかなエラー解析用データを得たい場合でもメモリ
８のデータを破壊することになるため実行出来ないと言
う問題点がある。
めこまかなエラー解析用データを得たい場合でもメモリ
８のデータを破壊することになるため実行出来ないと言
う問題点がある。
第１図は本発明の詳細な説明するプロ、ツタ図を示す。
本プロ・ツク図は、
第３図で説明したＭＰＵＩ、 コントロールメモリ４
゜保守用アダプタ５．保守装置６．メモリ８．転送回路
９ａ、９ｂ＋共通バス１０．磁気ディスク装置１１と、
メモリ８を複数の論理ドライブに分割するための設定を
行う論理分割設定回路２と、 論理分割設定回路２で分割した論理ドライブ単位に、そ
のオンライン／オフラインを指定するオンライン／オフ
ライン指示部３と、 論理分割設定回路２で設定した論理ドライブ単位にアド
レスを設定してデータの読み／Ｓきを制御するメモリ制
御回路７と、 メモ゛す８と磁気ディスク装置１１とのデータ転送の遺
り取りを論理ドライブ単位に実行する転送回路９とから
構成される。
゜保守用アダプタ５．保守装置６．メモリ８．転送回路
９ａ、９ｂ＋共通バス１０．磁気ディスク装置１１と、
メモリ８を複数の論理ドライブに分割するための設定を
行う論理分割設定回路２と、 論理分割設定回路２で分割した論理ドライブ単位に、そ
のオンライン／オフラインを指定するオンライン／オフ
ライン指示部３と、 論理分割設定回路２で設定した論理ドライブ単位にアド
レスを設定してデータの読み／Ｓきを制御するメモリ制
御回路７と、 メモ゛す８と磁気ディスク装置１１とのデータ転送の遺
り取りを論理ドライブ単位に実行する転送回路９とから
構成される。
゛ 〔作用〕
保守者が所定論理ドライブに対するオフラインを通知す
るとＭＰＵはオンライン／オフライン指示部によりメモ
リの所定論理ドライブをオフラインとする。この時、メ
モリ制御回路は転送回路を通じてオフラインになる所定
論理ドライブに記憶しているデータを磁気ディスク装置
１１の所定領域にセーブする。
るとＭＰＵはオンライン／オフライン指示部によりメモ
リの所定論理ドライブをオフラインとする。この時、メ
モリ制御回路は転送回路を通じてオフラインになる所定
論理ドライブに記憶しているデータを磁気ディスク装置
１１の所定領域にセーブする。
これに゛より、所定論理ドライブに対するエラー診断を
従来の診断用プログラム（リードのみ）だけでなく、各
種診断用データを書込むことにより、より解析能力の高
い診断が可能となる。
従来の診断用プログラム（リードのみ）だけでなく、各
種診断用データを書込むことにより、より解析能力の高
い診断が可能となる。
以下本発明の要旨を第１図、第２図に示す実施例により
具体的に説明する。尚、全図を通じて同一符号は同一対
象物を示す。
具体的に説明する。尚、全図を通じて同一符号は同一対
象物を示す。
本発明の実施例を図示する第１図のメモリ８は、第２図
（Ａ）に示すように論理ドライブ０〜７で分割されてお
り、それぞれにアドレスが割当てられているものとする
。
（Ａ）に示すように論理ドライブ０〜７で分割されてお
り、それぞれにアドレスが割当てられているものとする
。
又、５インチタイプの小型の磁気ディスク装置１１は第
２図（Ｂ）に示すように、各論理ドライブ０〜７のデー
タをセーブする領域０〜７が割付けられている。尚、メ
モリ８を論理ドライブＯ〜７に分割するのは事前に論理
分割設定回路２にて設定し、その内容がフォーマツティ
ングされているものとする。
２図（Ｂ）に示すように、各論理ドライブ０〜７のデー
タをセーブする領域０〜７が割付けられている。尚、メ
モリ８を論理ドライブＯ〜７に分割するのは事前に論理
分割設定回路２にて設定し、その内容がフォーマツティ
ングされているものとする。
保守者が例えば論理ドライブＯのデータエラーの詳細情
報を得るために、オンライン／オフライン指示部３を通
じて、論理ドライブ０をオフラインとすることをＭｐｕ
ｔに通知する。尚、オンライン／オフライン指示部３は
半導体ディスク装置上の図示してないスイッチ又は、上
位装置（図示してない）からの指示により動作するもの
とする。
報を得るために、オンライン／オフライン指示部３を通
じて、論理ドライブ０をオフラインとすることをＭｐｕ
ｔに通知する。尚、オンライン／オフライン指示部３は
半導体ディスク装置上の図示してないスイッチ又は、上
位装置（図示してない）からの指示により動作するもの
とする。
上記通知を受けたＭＰＵＩは、メモリ制御回路７と転送
回路９を起動して論理ドライブ０に該当するアドレスを
アクセスして、論理ドライブ０に記憶されているデータ
を磁気ディスク装置１１の論理ドライブＯのデータセー
ブ領域Ｏにセーブする。
回路９を起動して論理ドライブ０に該当するアドレスを
アクセスして、論理ドライブ０に記憶されているデータ
を磁気ディスク装置１１の論理ドライブＯのデータセー
ブ領域Ｏにセーブする。
この動作が終了すると、ＭＰＵＩは保守用アダプタ５を
経由して論理ドライブＯがオフラインになったことを保
守装置６に知らせる。これにより、オフラインとなった
論理ドライブＯの診断を保守者が行う。
経由して論理ドライブＯがオフラインになったことを保
守装置６に知らせる。これにより、オフラインとなった
論理ドライブＯの診断を保守者が行う。
保守者の診断が終了すると、次に保守者はオンライン／
オフライン指示部３を通じて論理ドライブＯのオンライ
ンを指示すると、ＭＰＵＩは磁気ディスク″ＡＷ１１の
論理ドライブ０のデータセーブ領域０からセーブデータ
をメモリ８の論理ドライブＯヘリスドアし、オンライン
とする。
オフライン指示部３を通じて論理ドライブＯのオンライ
ンを指示すると、ＭＰＵＩは磁気ディスク″ＡＷ１１の
論理ドライブ０のデータセーブ領域０からセーブデータ
をメモリ８の論理ドライブＯヘリスドアし、オンライン
とする。
尚、この間、論理ドライブ１〜７は通常のデータ処理が
続行されている。
続行されている。
上述のように、オフラインになった論理ドライブＯのデ
ータは磁気ディスク装置１１ヘセーブしているため、メ
モリ８の論理ドライブ０領域Ｏへは診断用データが自由
に書込むことが出来るため、より詳細な診断が可能であ
り、又メモリ８の所定領域のみオフラインにすることが
出来るため、システムに与える影響を最小限にしてメモ
リ８のデータを破壊することなく実行可能となる。
ータは磁気ディスク装置１１ヘセーブしているため、メ
モリ８の論理ドライブ０領域Ｏへは診断用データが自由
に書込むことが出来るため、より詳細な診断が可能であ
り、又メモリ８の所定領域のみオフラインにすることが
出来るため、システムに与える影響を最小限にしてメモ
リ８のデータを破壊することなく実行可能となる。
以上のような本発明によれば、所定論理ドライブに対す
るエラー診断を１つの診断用プログラムだけでなく、各
種診断用データを書込むことにより、より解析能力の高
い診断がシステムへの影響を最小限にして実行出来ると
言も効果がある。
るエラー診断を１つの診断用プログラムだけでなく、各
種診断用データを書込むことにより、より解析能力の高
い診断がシステムへの影響を最小限にして実行出来ると
言も効果がある。
第１図は本発明の詳細な説明するブロック図、第２図は
本発明の実施例であるメモリ分割状況図、第３図は従来
例を説明するプロ・ツク図、をそれぞれ示す。 図において、 １はｌ’ｌＰＵ、 ２は論理分割設定回路、
３はオンライン／オフライン指示部、 ４はコントロールメモリ、 ５は保守用アダプタ、６は保守装置、 ７．７ａはメモリ制御回路、 ８はメモリ、 ９．９ａ、９ｂは転送回路、１
０は共通バス、 １１は磁気ディスク装置、をそれ
ぞれ示す。
本発明の実施例であるメモリ分割状況図、第３図は従来
例を説明するプロ・ツク図、をそれぞれ示す。 図において、 １はｌ’ｌＰＵ、 ２は論理分割設定回路、
３はオンライン／オフライン指示部、 ４はコントロールメモリ、 ５は保守用アダプタ、６は保守装置、 ７．７ａはメモリ制御回路、 ８はメモリ、 ９．９ａ、９ｂは転送回路、１
０は共通バス、 １１は磁気ディスク装置、をそれ
ぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 上位装置からは磁気ディスク装置等と同等と見なし読み
／書き制御が出来、その記憶素子が半導体メモリからな
る装置において、 半導体記憶手段（８）を複数の論理ドライブに分割する
論理分割手段（２）と、 前記半導体記憶手段（８）の容量より大きい容量を有す
る不揮発性記憶手段（１１）と、 前記半導体記憶手段（８）と前記不揮発性記憶手段（１
１）との間でデータ転送を行うデータ転送手段（９）と
、 前記複数の論理ドライブに対応して、それら各論理ドラ
イブへの処理がオンラインで有効か又は無効かを指示す
るオンライン／オフライン指示手段（３）とを設け、 該論理ドライブをオンラインで無効とする指示があった
時、該論理ドライブに割当てられたデータを前記不揮発
性記憶手段（１１）の対応する領域に転送し、 該論理ドライブがオンラインで有効とする指示があれば
、前記不揮発性記憶手段（１１）の対応する領域からデ
ータを転送することを特徴とする半導体ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60157513A JPS6219951A (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 半導体デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60157513A JPS6219951A (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 半導体デイスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219951A true JPS6219951A (ja) | 1987-01-28 |
Family
ID=15651315
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60157513A Pending JPS6219951A (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 半導体デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6219951A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01318113A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-22 | Fujitsu Ltd | ライブラリ装置系ドライブ診断方式 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55113199A (en) * | 1979-02-23 | 1980-09-01 | Fujitsu Ltd | Diagnostic system for memory unit |
| JPS57205900A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-17 | Fujitsu Ltd | Testing method of memory |
| JPS6045857A (ja) * | 1983-08-24 | 1985-03-12 | Hitachi Ltd | 半導体フアイルのデ−タ保持方式 |
-
1985
- 1985-07-17 JP JP60157513A patent/JPS6219951A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55113199A (en) * | 1979-02-23 | 1980-09-01 | Fujitsu Ltd | Diagnostic system for memory unit |
| JPS57205900A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-17 | Fujitsu Ltd | Testing method of memory |
| JPS6045857A (ja) * | 1983-08-24 | 1985-03-12 | Hitachi Ltd | 半導体フアイルのデ−タ保持方式 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01318113A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-22 | Fujitsu Ltd | ライブラリ装置系ドライブ診断方式 |
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