JPS6221045A - スル−ホ−ル検査装置 - Google Patents
スル−ホ−ル検査装置Info
- Publication number
- JPS6221045A JPS6221045A JP60159824A JP15982485A JPS6221045A JP S6221045 A JPS6221045 A JP S6221045A JP 60159824 A JP60159824 A JP 60159824A JP 15982485 A JP15982485 A JP 15982485A JP S6221045 A JPS6221045 A JP S6221045A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- hole
- inspection
- lens
- inspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
印刷配線板に形成されたスルーホールの欠陥部からスル
ーホール内部に漏れてくる光を検知するスルーホール検
査装置は、検知画像の像ぶれを防止ために被検物体を瞬
間的に静止させたり、瞬間的に発光する光で被検領域を
照射したりしている。
ーホール内部に漏れてくる光を検知するスルーホール検
査装置は、検知画像の像ぶれを防止ために被検物体を瞬
間的に静止させたり、瞬間的に発光する光で被検領域を
照射したりしている。
しかし前者は検査時間が長くなり後者は十分な光量を有
する光源が得られない。そこで定當的に発光する光源か
らの光を回転多面体で偏向し、瞬間的に被検査領域を照
射することによって検査時間の高速化と光量の増大を図
ったものである。
する光源が得られない。そこで定當的に発光する光源か
らの光を回転多面体で偏向し、瞬間的に被検査領域を照
射することによって検査時間の高速化と光量の増大を図
ったものである。
本発明は印刷配線板の検査方法に係り、特にスルーホー
ルの導電層に生ずるピンホール等の欠陥を検知するスル
ーホール検査方法に関する。
ルの導電層に生ずるピンホール等の欠陥を検知するスル
ーホール検査方法に関する。
両面印刷配線板や多層印刷配線板には、異なった層に形
成された導体パターンの間の電気的接続のためにスルー
ホールが設けられており、スルーホールの内壁には電気
的或いは化学的めっき法により導電層が形成されている
。
成された導体パターンの間の電気的接続のためにスルー
ホールが設けられており、スルーホールの内壁には電気
的或いは化学的めっき法により導電層が形成されている
。
このスルーホールの内壁に形成された導電層は常に良好
な状態にあるとは限らず、亀裂やピンホール等の欠陥が
発生することがあり、かかる欠陥の発生はその接続目的
を阻害し印刷配線板の信頼性を低下せしめる。したがっ
て製造された全ての印刷配線板に関し上記欠陥の有無を
予め検査する必要がある。
な状態にあるとは限らず、亀裂やピンホール等の欠陥が
発生することがあり、かかる欠陥の発生はその接続目的
を阻害し印刷配線板の信頼性を低下せしめる。したがっ
て製造された全ての印刷配線板に関し上記欠陥の有無を
予め検査する必要がある。
かかるスルーホールの欠陥を検査するために各種のヰ★
査方法に基づいた検査装置が開発されているが、高密度
化し細緻化する印刷配線板の検査に対処するために、例
えば検査の高速化や信頼性向上等、なお一層改良された
検査装置の実現が望まれている。
査方法に基づいた検査装置が開発されているが、高密度
化し細緻化する印刷配線板の検査に対処するために、例
えば検査の高速化や信頼性向上等、なお一層改良された
検査装置の実現が望まれている。
第4図は漏光検査法の原理を示す図である。
図においてlは内壁面に導電層11を有するスルーホー
ル12を透光性基板13に形成してなる電気部材(以下
印刷配線板と称する)を示す。かかる印刷配線板を検査
する装置は少なくともスルーホール12を覆う遮光部体
2と、遮光部体2の背面から被検査領域を照射する照明
光3と、スルーホール12の内部における光を検知する
光検出部4とを具えている。遮光部体2は印刷配線板1
の照明側(照明光3によって照射される側)において印
刷配線板1に密着するように配設されており、光検出部
4は遮光部体2の反対側に配設されていてレンズ41と
光検知器例えばTVカメラ42とで構成されている。
ル12を透光性基板13に形成してなる電気部材(以下
印刷配線板と称する)を示す。かかる印刷配線板を検査
する装置は少なくともスルーホール12を覆う遮光部体
2と、遮光部体2の背面から被検査領域を照射する照明
光3と、スルーホール12の内部における光を検知する
光検出部4とを具えている。遮光部体2は印刷配線板1
の照明側(照明光3によって照射される側)において印
刷配線板1に密着するように配設されており、光検出部
4は遮光部体2の反対側に配設されていてレンズ41と
光検知器例えばTVカメラ42とで構成されている。
かかる装置において遮光部体2の背面から被検査領域に
照明光3を照射すると、照明光3は遮光部体2以外の部
分から透光性基板13に入光する。
照明光3を照射すると、照明光3は遮光部体2以外の部
分から透光性基板13に入光する。
ここで導電層11に亀裂やピンホール等の欠陥部が無け
れば、遮光部体2で覆われているスルーホール12の内
部に光が漏れてくることは無い。しかし導電層11に欠
陥部14が発生していれば透光性基板13に入光し内部
を伝播してきた光は、その欠陥部14を通してスルーホ
ール12の内部に漏れる。その漏洩光をレンズ41を経
て光検知器42で検知することによって導電層11に生
じる欠陥の有無を検出することができる。
れば、遮光部体2で覆われているスルーホール12の内
部に光が漏れてくることは無い。しかし導電層11に欠
陥部14が発生していれば透光性基板13に入光し内部
を伝播してきた光は、その欠陥部14を通してスルーホ
ール12の内部に漏れる。その漏洩光をレンズ41を経
て光検知器42で検知することによって導電層11に生
じる欠陥の有無を検出することができる。
遮光部体2、照明光3、および光検出部4と印刷配線板
1との相対位置を順次移動させながら、上記漏光検査法
によりスルーホールの欠陥を検査することによって、ス
ルーホールの欠陥検査を自動化し高速度化することが可
能である。しかしその相対位置を連続的に移動させると
振動等によって検知画像に像ぶれが発生し信頼度が低下
する。
1との相対位置を順次移動させながら、上記漏光検査法
によりスルーホールの欠陥を検査することによって、ス
ルーホールの欠陥検査を自動化し高速度化することが可
能である。しかしその相対位置を連続的に移動させると
振動等によって検知画像に像ぶれが発生し信頼度が低下
する。
そこで従来の漏光検査法においては検知画像の像ぶれを
防止ために、被検物体を瞬間的に静止させたり、被検査
領域を瞬間的に発光する光で照射したりする方法がとら
れている。
防止ために、被検物体を瞬間的に静止させたり、被検査
領域を瞬間的に発光する光で照射したりする方法がとら
れている。
しかし従来の漏光検査法において被検物体を瞬間的に静
止させる方法は検査に要する時間が長くなり、一方被検
査領域を瞬間的に発光する光で照射する方法は照射する
光量が不足し信頼度が低下するという問題があった。
止させる方法は検査に要する時間が長くなり、一方被検
査領域を瞬間的に発光する光で照射する方法は照射する
光量が不足し信頼度が低下するという問題があった。
一実施例を示すブロック図である。
上記問題点は第1図に示す内壁面に導電層11を有する
スルーホール12を、透光性基板13に形成してなる印
刷配線板1の片面に、少なくともスルーホール12を覆
う遮光部体2を載置し、定常的、に発光する光源51か
らの光を回転多面体52で複数個の光ガイド53に振り
分け、遮光部体2の背面から光ガイド53からの出射光
を、被検査領域に照射して透光性基板13内に光を注入
し、導電層11の欠陥部14からスルーホール12の内
部に漏れて(る光を、撮像素子42で映す本発明になる
スルーホール検査装置によって解決される。
スルーホール12を、透光性基板13に形成してなる印
刷配線板1の片面に、少なくともスルーホール12を覆
う遮光部体2を載置し、定常的、に発光する光源51か
らの光を回転多面体52で複数個の光ガイド53に振り
分け、遮光部体2の背面から光ガイド53からの出射光
を、被検査領域に照射して透光性基板13内に光を注入
し、導電層11の欠陥部14からスルーホール12の内
部に漏れて(る光を、撮像素子42で映す本発明になる
スルーホール検査装置によって解決される。
第1図において定常的に発光する光源51の光を回転多
面体52で偏向して得た照明光は、瞬間的に発光させる
光源に比べて照明時間が同じ程度で光量を十分に増大す
ることが可能である。したがってスルーホールの検査を
高速化すると共に検査の信頼性を一層向上させることが
できる。
面体52で偏向して得た照明光は、瞬間的に発光させる
光源に比べて照明時間が同じ程度で光量を十分に増大す
ることが可能である。したがってスルーホールの検査を
高速化すると共に検査の信頼性を一層向上させることが
できる。
以下第1図により本発明の実施例について詳細に説明す
る。また第2図は本発明の他の実施例を示す図であり、
第3図は本発明の変形例を示す図である。なお全図を通
し同じ対象物は同一記号で表している。
る。また第2図は本発明の他の実施例を示す図であり、
第3図は本発明の変形例を示す図である。なお全図を通
し同じ対象物は同一記号で表している。
第1図において定常的に発光する光源51からの光は回
転多面体52で偏向されており、偏向された光はレンズ
54を透過して複数個の光ファイバ53に入力される。
転多面体52で偏向されており、偏向された光はレンズ
54を透過して複数個の光ファイバ53に入力される。
光ファイバ53を伝播してきた光はそれぞれレンズ55
を透過して遮光物体2の背面かうする発振回路62とで
構成されている。
を透過して遮光物体2の背面かうする発振回路62とで
構成されている。
前述のレンズ55と印刷配線板1の間には少なくともス
ルーホール12を遮光する遮光物体2が配設されており
、遮光物体2以外の部分から透光性基板13内に入った
光は導電[11に欠陥があると欠陥部I4からスルーホ
ール12の内部に漏れ、スルーホール12の内部は欠陥
部14から漏れる光によって明るくなる。この光はレン
ズ41を経て回転多面体52と同期して作動するTVカ
メラ42によって撮影され、欠陥の有無を判定する欠陥
判定回路7に入力される。
ルーホール12を遮光する遮光物体2が配設されており
、遮光物体2以外の部分から透光性基板13内に入った
光は導電[11に欠陥があると欠陥部I4からスルーホ
ール12の内部に漏れ、スルーホール12の内部は欠陥
部14から漏れる光によって明るくなる。この光はレン
ズ41を経て回転多面体52と同期して作動するTVカ
メラ42によって撮影され、欠陥の有無を判定する欠陥
判定回路7に入力される。
定常的に発光する光源51からの光を回転多面体52で
偏向しパルス化した光は、瞬間的に発光する光源に比べ
て照明時間が同じ程度で光量を十分に増大することが可
能である。したがって印刷配線板1を紙面と垂直な方向
に常に定速度で移動させながら検査しても、瞬間的に発
光する光源を用いた場合と同様に検知画像に発生する像
ぶれを防止でき検査の高速化を維持することができる。
偏向しパルス化した光は、瞬間的に発光する光源に比べ
て照明時間が同じ程度で光量を十分に増大することが可
能である。したがって印刷配線板1を紙面と垂直な方向
に常に定速度で移動させながら検査しても、瞬間的に発
光する光源を用いた場合と同様に検知画像に発生する像
ぶれを防止でき検査の高速化を維持することができる。
また光量が大きいため漏洩光をTVカメラ42によって
確実に撮影でき検査の信頼度が向上する。
確実に撮影でき検査の信頼度が向上する。
また第2図に示す他の実施例において定常的に発光する
光源51からの光は回転多面体52で偏向されており、
偏向された光はレンズ54を透過して複数個のスリット
56、スリット56と対向して設けられた反射鏡57お
よび58によって導かれ、それぞれレンズ55を透過し
て遮光物体2の背面から被検査領域を照射する。
光源51からの光は回転多面体52で偏向されており、
偏向された光はレンズ54を透過して複数個のスリット
56、スリット56と対向して設けられた反射鏡57お
よび58によって導かれ、それぞれレンズ55を透過し
て遮光物体2の背面から被検査領域を照射する。
更に第3図に示す本発明の変形例において定常的に発光
する光源51からの光は回転多面体52で偏向されてお
り、偏向された光はレンズ54を透過して複数個のスリ
ット56に入射され、スリット56を通過した光が直接
遮光物体2の背面から被検査領域を照射する。
する光源51からの光は回転多面体52で偏向されてお
り、偏向された光はレンズ54を透過して複数個のスリ
ット56に入射され、スリット56を通過した光が直接
遮光物体2の背面から被検査領域を照射する。
第2図および第3図の実施例に示した方法を用いても第
1図における実施例と同様に、印刷配線板1を紙面と垂
直な方向に常に定速度で移動させながら検査しても、瞬
間的に発光する光源を用いた場合と同様に検知画像に発
生する像ぶれを防止でき検査の高速化を維持することが
できる。また光量が大きいため漏洩光をTVカメラ42
によって確実に撮影でき検査の信頼度を向上させること
ができるJ 〔発明の効果〕 上述の如く本発明によれば高速度で検査でき、しかも信
頼度の高いスルーホール検査装置を提供することができ
る。
1図における実施例と同様に、印刷配線板1を紙面と垂
直な方向に常に定速度で移動させながら検査しても、瞬
間的に発光する光源を用いた場合と同様に検知画像に発
生する像ぶれを防止でき検査の高速化を維持することが
できる。また光量が大きいため漏洩光をTVカメラ42
によって確実に撮影でき検査の信頼度を向上させること
ができるJ 〔発明の効果〕 上述の如く本発明によれば高速度で検査でき、しかも信
頼度の高いスルーホール検査装置を提供することができ
る。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本発明の他の実施例を示すブロック図、第3図は本発明
の変形例を示すブロック図、第4図は漏光検査法の原理
を示す図、 である。図において 1は印刷配線板、 2は遮光物体、3は照明光、
4は光検出部、6は回転多面体 7は欠
陥判定回路、駆動機構、 11は導電層、 12はスルーホール、13は
透光性基板、 14は欠陥部、41.54.55は
レンズ、 42はTVカメラ(撮(象素子)、 51は光源、 52は回転多面体、62は発
振回路、 をそれぞれ表す。 券1図 本錆呵0麦形存・1合示す7でツク珂 草3図
本発明の他の実施例を示すブロック図、第3図は本発明
の変形例を示すブロック図、第4図は漏光検査法の原理
を示す図、 である。図において 1は印刷配線板、 2は遮光物体、3は照明光、
4は光検出部、6は回転多面体 7は欠
陥判定回路、駆動機構、 11は導電層、 12はスルーホール、13は
透光性基板、 14は欠陥部、41.54.55は
レンズ、 42はTVカメラ(撮(象素子)、 51は光源、 52は回転多面体、62は発
振回路、 をそれぞれ表す。 券1図 本錆呵0麦形存・1合示す7でツク珂 草3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 内壁面に導電層(11)を有するスルーホール(12)
を、透光性基板(13)に形成してなる電気部材(1)
の片面に、少なくとも該スルーホール(12)を覆う遮
光物体(2)を載置し、 定常的に発光する光源(51)からの光を回転多面体(
52)で複数個の光ガイド(53)に振り分け、該遮光
物体(2)の背面から該光ガイド(53)からの出射光
を、被検査領域に照射して該透光性基板(13)内に光
を注入し、 該導電層(11)の欠陥部(14)から該スルーホール
(12)の内部に漏れてくる光を、撮像素子(42)で
映すことを特徴とするスルーホール検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159824A JPS6221045A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | スル−ホ−ル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159824A JPS6221045A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | スル−ホ−ル検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6221045A true JPS6221045A (ja) | 1987-01-29 |
Family
ID=15702049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60159824A Pending JPS6221045A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | スル−ホ−ル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6221045A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5255286A (en) * | 1991-05-17 | 1993-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Multi-point pyrometry with real-time surface emissivity compensation |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP60159824A patent/JPS6221045A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5255286A (en) * | 1991-05-17 | 1993-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Multi-point pyrometry with real-time surface emissivity compensation |
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