JPH0484741A

JPH0484741A - プリント配線板の検査装置及びプリント配線板の検査方法

Info

Publication number: JPH0484741A
Application number: JP19979990A
Authority: JP
Inventors: Takayuki Hinooka; 日野岡　高行
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1990-07-26
Filing date: 1990-07-26
Publication date: 1992-03-18

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、プリント配線板のスルーホールの欠陥の有
無を検査する検査装置及び検査方法に関するものである
。

（従来の技術）第４図は例えば電気学会誌１０５巻９号に報告されてい
る従来のプリント配線板の検査装置の原理を示す図であ
る。図において（１）は被検査プリント配線板であり、
（２）はスルーホール、（３）はスルーホールの欠陥、
（４）は欠陥からスルーホール内に漏れてくる漏れ光で
ある。また、（１２）は配線板の裏側から当てる照射光
であり、（１１）はその光豚である。（５）は漏れ光を
検出する光検出器、（６）は良否の判定を行うコントロ
ーラである。（１３）はスルーホールに照射光が入射し
ないようにするマスクである。ここでこのようなマスク
（１３）を設けたのは照射光（１２）がプリント配線板
（１）に広範囲にわたって照射され、スルーホール（２
）部分で当該照射光（１２）と漏れ光（４）が混ざり、
両者の判別が出来なくなるのを防止するためである。ま
た、照射光（１２）はスルーホール（２）及びマスク（
１３）を通過せず、被検査プリント配線板（１）を拡散
しながら通過する。

次に動作について説明する。スルーホールに照射光が入
らないような構造のマスクフィルム（１３）を別工程に
おいて作製し、プリント配線板（１）に精度よく密着さ
せる。次にプリント配線板（１）の下側から螢光灯の光
源（１１）により広範囲にわたって照射光（１２）を当
てる。当該照射光（１２）はプリント配線板中を拡散し
ながら進行し、スルーホールに欠陥（３）がある場合に
のみ当該欠陥部分（３）からスルーホール中に漏れる。

上側より工業用テレビカメラ等の光検出器でプリント配
線板（１）より出てくる拡散光を検出し、コントローラ
（６）へ信号を送る。コントローラ（６）にはスルーホ
ールの位置情報が記憶されており、このデータと光検出
器からの信号を照合する。従ってスルーホールの位置情
報を設計図等を基に予めコントローラに入力しておく必
要がある。スルーホールに欠陥（３）があるとスルーホ
ールの位置で漏れ光が検出される。このようにして良否
の判定がなされる。

（発明が解決しようとする課ＩＩ）従来のプリント配線板の検査装置は以上のように構成さ
れているので、第１に照射光がプリント配線板に広範囲
にわたって照射されることにより、スルーホール部分で
照射光と漏れ光が混ざり、判別が出来なくなるのを防止
す°るため、スルーホールを塞ぐマスクフィルムを設計
図等の位置情報を基に、予め作製し、プリント配線板に
精度よく密着させる必要があった。

また、第２にコントローラにスルーホールの位置を設計
図等を基に事前に入力する必要があり、生産性が低かっ
た。

第１の発明は上記第１の問題点を解消するためになされ
たもので、マスクフィルムが不要であるプリント配線板
の検査装置を提供するものである。

また、第２の発明は上記第２の問題点を解消するために
なされたものでスルーホールの位置の設計図等を基にし
た事前入力も不要なプリント配線板の検査方法を提供す
るものである。

（課題を解決するための手段）第１の発明に係るプリント配線板の検査装置は、プリン
ト配線板のスルーホールの近傍に選択的に光を照射する
光学系とスルーホールからの光を検出する検出響を備え
たものである。

第２の発明に係る検査方法は、スルーホールに光を照射
し、スルーホールからの光を検出し、スルーホール位置
情報を得る第１のステップと、得られた位置情報に応じ
てスルーホールの近傍に選択的に光を照射し、スルーホ
ールからの光を検出し、スルーホールの欠陥部分を検出
する第２のステップを設けたものである。

（作用）第１の発明においては、スルーホールの近傍にスルーホ
ール部分で照射光と漏れ光が混ざらないように選択的に
照射された光がスルーホールの欠陥部を通過し、光検出
器によりスルーホールから検出される。

第２の発明においては事前の設計図等による入力をせず
に第１のステップでスルーホールに光を照射し、スルー
ホールからの光を検出し、第２のステップでそれにより
得られた位置情報に応じてスルーホールの近傍に選択的
に光を照射し、スルーホールからの光を光検出器により
検出する。

（発明の実施例）以下、この２つの発明の双方を具備する検査装置の一実
施例を図について説明する。第１図において、（１）は
被検査プリント配線板であり、（２１はスルーホール、
（３）はスルーホールの欠陥部分、（４）は欠陥からス
ルーホール内に漏れてくる漏れ光である。（８）はｏｎ
１０ｆｆ可能なレーザ発振器系であり、（７）は選択的
にレーザ光を照射することのできる走査光学系である。

また（５）は透過光および漏れ光を検出する光検出器、
（６）は光検出器からの信号により、第１のステップに
おいては、スルーホールの位置を学習し、第２のステッ
プにおいてはスルーホール位置での漏れ光から欠陥の有
無を検出するコントローラである。

次に動作を第１図について説明する。

この実施例に係るスルーホール検査はスルーホールの位
置を記憶する第１のステップと欠陥の有無を判定する第
２のステップの２ステツプで行われる。レーザ発信晋系
（８）から出たレーザ光は走査光学系（７）の回転多面
鏡（７ａ）により選択的にプリント配線板（１）の下側
で左から右へ走査される。左端には始点検出！　（７ｅ
）があり、検出信号がコントローラ（６）に出力される
。コントローラでは該信号から同期信号を作成し、処理
を開始する。まず第１のステップが始まるが第２図にそ
の様子を示す。

コントローラ（６）は同期信号をもとに光検出Ｎ（５）
からの信号を順次、ラッチして行く。第２図においてプ
リント配線板（１）の位置を■〜■で示しているが位置
■と■にはスルーホールがあるため光検出Ｎ（５）から
の出力はスレッショルドレベルを越えておす、コントロ
ーラ（６）　内のスルール位置メモリーにスルーホール
有りとして「１」の信号が記憶され、第１のステップが
終了する。従って設計図等により入力していた従来の検
査と比較して単一の検査装置かつ簡易な操作によりスル
ーホールの位置情報を得ることができ、生産性が向上す
る。

次に第２ステツプに移行する。第３図に第２のステップ
の様子を示す。コントローラ（６）は同期信号によりス
ルーホール位置メモリーを順次読み出し、スルーホール
の近傍に選択的にレーザ光が照射されたとき光検出！　
（５）の出力をラッチする。ここでスルーホールの近傍
とは照射光がプリント配線板内を拡散しながら進行し、
スルーホールの欠陥部分から漏れ、光検出器により検出
できるに十分な範囲をいう。また、選択的にとは特定範
囲内にのみ照射を限定することをいい、最低限、スルー
ホール（２）部分とその他のプリント配線板部分への照
射を区別できることを要する。従って、本実施例におい
ては、従来の検査装置のようなマスクをしなくても、照
射光（１２）と漏れ光（４）が混ざることがない。

もし、スルーホールの左側に欠陥があるとするとレーザ
ー光がスルーホールの近傍にある図中■の位置に照射さ
れたときスルーホール上の光検出器（５）に漏れ光が入
る。逆に右側に欠陥があるとするとレーザ光がスルーホ
ール上を通過した後の同じくスルーホールの近傍にある
図中■の（［に照射されたときに漏れ光が入る。従って
コントローラ（６）はレーザ光がスルーホールの近傍に
来る時刻においてスルーホール上の光検出１！　（５１
の出力をラッチする。第３図では■の位置のスルーホー
ルの左側に欠陥があり、スレッシ■ルドレベルを越えた
ため、検査結果メモリーは欠陥スルーホール有りとして
「１」の信号が記憶された様子を示す。

尚、係るスレッショルドレベルは上記第１のステップに
おけるスレッショルドレベルよりも低い。

レーザ光がプリント配線板を通過し、欠陥部（３）に到
達するまでに弱められることを考慮する必要があるから
である。プリント配線板（１）をレーザ光走査と垂直方
向に移動させ、順次全面にわたり検査が行われ、第２の
ステップが終了する。

尚、スルーホールの位置情報によりスルーホールなしの
位置ではレーザ光をＯｎにし、スルーホール有りの位置
ではレーザ光をｏｆｆにすることにより、スルーホール
を抜けて来たレーザ光により光検出Ｍ（５）が飽和し、
右側の欠陥を検出できなくなるのを防ぎ、漏れ光を検出
するときの増幅率を上げることができる。

上記実施例では光源としてレーザ光を用いたがこれらに
限らず、螢光灯等、プリント配線板をある程度通過し、
光検出器により検出されるものであればよい。

走査光学系としては回転多面鏡を用いたが電磁振動鏡や
板上部材等に小穴を設けたフィルタ等、選択的に光を照
射できるものであればよい。

プリント配線板と光検出器の間には何も設けていないが
反射蜆や集光レンズ等を用いてもよい。

また、光検出器の種類については、特に言及しなかった
が照射光及び漏れ光を検出し得るものであればよい。

要するにこの発明の主旨を逸脱しない限り、どのような
変形をもこの発明に含まれる。

（発明の効果）第１の発明は以上のように構成されているので、マスク
フィルムが不要となり、マスクフィルムを製造し、精度
よく取り付けるという工程を省略することができる。

第２の発明は事前にスルーホールの位置情報を設計図等
を基に入力せずにスルーホールの欠陥を検査することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の１実施例によるプリント基板の検査
装置を示す。第２図はこの発明の動作のうち、第１のス
テップを示し、第３図は第２のステップを示す。第４図
は従来例のプリント基板の検査装置を示すものである。（１）はプリント配線板、（２）はスルーホール、（３
）はスルーホールの欠陥、（４）ハ漏れ光、（５）は光
検出譬、（１３１はコントローラ、（７）は走査光学系
、（８）はレーザ発振譬系、（９）は第１ステツプにお
けるレーザ光、頭は第２のステップにおけるレーザ光で
ある。なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）プリント配線板のスルーホールの近傍に選択的に
光を照射する光学系と前記スルーホールからの光を検出
する光検出器とを備えたことを特徴とするプリント配線
板の検査装置。
（２）プリント配線板のスルーホールに光を照射し、前
記スルーホールからの光を検出することにより前記スル
ーホールの位置を検出するステップと、この第一のステ
ップで位置を検出した前記スルーホールの近傍に選択的
に光を照射し、前記スルーホールからの光を検出する第
２のステップとを備えたプリント配線板の検査方法。