JPS62215856A - 基板検査装置 - Google Patents

基板検査装置

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JPS62215856A
JPS62215856A JP61059695A JP5969586A JPS62215856A JP S62215856 A JPS62215856 A JP S62215856A JP 61059695 A JP61059695 A JP 61059695A JP 5969586 A JP5969586 A JP 5969586A JP S62215856 A JPS62215856 A JP S62215856A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
inspected
board
section
Prior art date
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Pending
Application number
JP61059695A
Other languages
English (en)
Inventor
Tamio Miyake
三宅 民生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP61059695A priority Critical patent/JPS62215856A/ja
Publication of JPS62215856A publication Critical patent/JPS62215856A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、基板を搬像して得られたデータを処理して前
記基板上の部品を検査する基板検査装置に関する。
(従来の技術) プリント基板に抵抗器や半導体素子等の各種チップ部品
をマウントするときにおいて自動マウント装置を用いた
場合、マウント後においてマウントデータどうりに部品
がマウントされていないことがある。
このため、このような自動マウント装置等を用いる場合
には、マウント後にプリント基板をチェックして、この
プリント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正し
い姿勢(位置、方向)でマウントされているかどうか、
また脱落がないかどうかを検査する必要がある。
しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なっていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。
そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。
第6図は、このような自動検査装置の一例を示すブロッ
ク図である。
この図に示す自動検査装置は、被検査プリント基板1が
セットされるX−Yテーブル部2と、こ   ゛のX−
Yテーブル部2にセットされた被検査ブリント基板1を
撮像するTVカメラ3と、このTVカメラ3によって得
られた画像データと、キーボード4から入力されたデー
タとを比較して前記X−Yテーブル部2上2上ットされ
た被検査プリント基板1上に全ての部品5−1〜5−n
が有るかどうか、およびこれらの各部品5−1〜5−n
が位置ずれ等を起こしていないかどうかなど判定する処
理部6と、この処理部6の判定結果を表示する表示部7
とを備えている。
そして、第7図のフローチャートで示す如く、搬入側ベ
ルトコンベア8によって搬送されてきた被検査プリント
基板1を作業員がX−Yテーブル部2上にセットしてク
ランプ機構で、これを固定させて検査スタートスイッチ
(図示路)を操作すれば、処理部6がステップST1で
、これを検知して、ステップST2でX−Yテーブル部
2をスタート位置まで移動させて前記被検査プリント基
#fi1の一部を前記TVカメラ3の視野に入れる。
次いで、処理部6はステップST3で前記X−Yテーブ
ル部2上2上る前記被検査プリント基板1をTVカメラ
3によって11@させるとともに、この陽像動作により
得られた画像信号を取り込み、ステップST4でこの画
像信号を処理(例えば、2値化処理)した後、キーボー
ド4から入力された判定データに基づいて前記処理結果
をチェックして前記被検査プリント基板1上に全ての部
品5−1〜5−nが有るかどうか、またこれらの部品5
−1〜5−nが位置ずれ等を起こしているかどうかなど
を判定し、この判定結果を表示部7に表示させる。
この後、処理部6はステップST5で前記被検査プリン
ト基板1の全面について撮像処理が終了したかどうかを
チェックし、もしまだ搬t%!処理していないエリアが
残っていれば、前記ステップST3へ戻り、残りのエリ
アに対して上述した搬像処理を繰り返し実行する。
そして、被検査プリント基板1の全面についてIll像
処理が終了したとき、処理部6は前記ステップST5か
らステップST6へ分岐し、ここでメッセージ文等を表
示したり、音声で出力したりしてこの被検査プリント基
板1の処理が終了したことを作業員に知らせる。
そして、この作業員がX−Yテーブル部2から処理済の
被検査プリント基板1を外して搬出側ベルトコンベア9
に載せて、この被検査プリント基板1を次段の処理に送
出させれば、処理部6はステップST7でメッセージ文
を表示したり、音声を出力したりして、作業員に未処理
の被検査プリント基板1が残っているかどうかを聞く。
ここで、この作業員がキーボード4を介して未処理の被
検査プリント基板1が残っていることを入力すれば、処
理部6はこのステップST7から前記ステップSTIへ
戻り、残りの被検査プリント基板1の処理が全て終了す
るまで上述した処理を繰り返し実行する。
(発明が解決しようとする問題点) ところでこのような従来の自動検査装置においては、被
検査プリント基板1を搬像処理するとき、人手によりこ
の被検査プリント基板1をX−Yテーブル部2に取り付
けたり、取り外したすしなければならず、作業の簡素化
および処理の高速化を達成しにくいという問題があった
またこの自動検査装置では、高価なX−Yテーブル部を
必要とするため、装置全体のコストダウンを計りにくい
という問題があった。
本発明は上記の事情に鑑み、高価なX−Yテーブル部を
用いることなく被検査プリント基板を分割撮像処理して
、この被検査プリント基板上にある部品の脱落9位置ず
れ等を検査することができ、これによって前記部品を検
査するときにおける作業の簡素化、処理の高速化を達成
することができるとともに、装置全体の低コスト化を達
成することができる基板検査装置を提供することを目的
としている。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するために本発明による基板検査装置
においては、基板を撮像して得られたデータを処理して
前記基板上の部品を検査する基板検査装置において、前
記基板を一方向に移動させる基板搬送部と、この基板搬
送部の上方に配置される撮像部を前記基板搬送部の搬送
方向と異なる方向に移動させる慝像機搬送部とを備えた
ことを特徴としている。
(実施例) 第1図は本発明による基板検査装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
この図に示す基板検索装置は、ステージ1つ上に載せら
れた基準プリント基板1O−1(または、被検査プリン
ト基板10−2>上にある部品13−1 a 〜13−
na (または、部品13−1b〜l3−nb>の情報
を取り込んで、一方の部品13−1a〜l3−naに関
する情報と、他方の部品13−1b〜l3−nbに関す
る情報とを比較することにより、前記被検査プリント基
板10−2上に部品13−1b〜l3−nbが全である
かどうか、およびこれらの部品13−1b〜l3−nb
が位置ずれ等を起こしていないかどうかなどを検査する
ように構成されており、ベルトコンベア部11と、カメ
ラ搬送部12と、撮像部15と、処理部16とを備えて
いる。
ベルトコンベア部〈基板搬送部)11は、第2図に示す
如く前記処理部16から供゛給されるX方向位置制御信
号に基づいて動作するX方向用パルスモータ17と、こ
のX方向用パルスモータ17によって回転駆動される駆
動プーリ40と、この駆動プーリ40と平行に配置され
る従動プーリ41と、これら駆動プーリ40と従動プー
リ41との間に掛けられるベルト42とを備えており、
搬入側ベルトコンベア(図示路)によって搬入されてき
た基準プリント基板1O−1(または被検査プリント基
板1O−2)はこの搬入側ベルトコンベアからベルトコ
ンベア部11上に、自動的に移される。そしてこの状態
で、このベルトコンベア部11により、X方向にステッ
プ移動されなから撮像部15によって分割撮像され、こ
の分割搬像処理が終了したとき、このベルトコンベア部
11から搬出側ベルトコンベア(図示路)に自動的に移
されて、次工程に搬出される。
またカメラ搬送部12は、前記処理部16から供給され
るY方向位置制御信号に基づいて動作するY方向用パル
スモータ18とそのネジ軸44の一端がカブラ43を介
して前記Y方向用パルスモータ18の軸に接続されるボ
ールネジ機構45と、このボールネジ機構45のナツト
46が嵌入されるカメラ取付は台47と、このカメラ取
イ4け台47をY方向(前記X方向と直交する方向)に
移動自在にガイドする2本のガイドレール48とを備え
ており、前記処理部16からY方向位置制御信号を供給
されたときに、前記Y方向用パルスモータ18が動作し
て、前記カメラ取付は台47をY方向にステップ移動さ
せる。
また、撮像部15は前記カメラ取付は台47の下面に固
定されるTVカメラ21と、このTVカメラ21のレン
ズ前面に、これと同軸的に設けられるリング照明装置2
2とを備えており、前記基準プリント基板10−1 (
または、被検査プリント基板1O−2)は、前記ベルト
コンベア部11によってX方向にステップ移送されなが
ら前記カメラ搬送部12によってY方向にステップ移送
されている前記TVカメラ21でm四分割@像され、こ
のfi像動作により得られた画像信号が処理部16へ供
給される。
処理部16はティーチングモードのとき、前記Ia像部
15から供給される画像信号(前記基準プリント基板1
0−1の画像信号)から前記基準プリント基板10−1
上にある各部品13−1a〜l3−naのパラメータを
抽出して判定データファイルを作成し、また検査モード
のとき、前記撮像部15から供給される画像信号(前記
被検査プリント基板10−2の画像信号)から前記被検
査プリント基板10−2上にある各部品13−1 b〜
l3−nbのパラメータを抽出して被検査データファイ
ルを作成するとともに、この被検査データファイルと前
記判定データファイルとを比較して、この比較結果から
前記各部品13−1b〜l3−nbの脱落2位置ずれ等
を検出するものであり、A/D変換部23と、メモリ2
4と、ティーチングテーブル25と、画像処理部26と
、X−Yステージコントローラ27と、CRT表示器2
8と、プリンタ29と、キーボード30と、11(I部
上(CPU)31とを備えている。
A/D変換部23は前記搬像部15から画像信号を供給
されたときに、これをA/D変換(アナログ・デジタル
変換〉して画像データを作成し、これを制御部31へ供
給する。
またメモリ24は、RAM (ランダム・アクセス・メ
モリ)等を備えて構成されるものであり、前記制御部3
1の作業エリアとして使われる。
また画像処理部26は、前記制御部31を介して画像デ
ータを供給されたとき、この画像データを2値化して各
部品画像毎にラベル(識別番号)を付すものであり、こ
こで得られたラベル付きの各部品画像は前記制御部31
へ供給される。
またティーチングテーブル25は、フロッピーディスク
装置等を備えており、ティーチング時において前記制御
部31から判定データファイル等を供給されたときに、
これを記憶し、また検査時において、前記制御部31が
転送要求を出力したとき、この要求に応じて判定データ
ファイル等を読み出して、これを制御部31などへ供給
する。
またX−Yステージコントローラ27は前記制御部31
と前記ベルトコンベア部11.カメラ搬送部12とを接
続するインタフェース等を備えて構成されるものであり
、前記制御部31の出力に基づいて前記ベルトコンベア
部11と、カメラ搬送部12とを制御して前記搬像部1
5に前記基準プリント基板1O−1(または、被検査プ
リント基板1O−2)を分割撮像させる。
またCR7表示器28はブラウン管(CRT)を備えて
おり、前記制御部31から画像データ。
判定結果、キー人力データ等を供給されたとき、これを
画面上に表示させる。
またプリンタ29は、前記制a部31から判定結果等を
供給されたとき、これを予め決められた書式(フォーマ
ット)でプリントアウトする。
またキーボード30は操作情報や前記基準プリント基板
10−1に関するデータ、この基準プリント基板10−
1上にある部品13−1a〜l3−naに関するデータ
等を入力するのに必要な各種キーを備えており、このキ
ーボード30から入力された情報やデータ等は制御部3
1へ供給される。
制御部31は、マイクOブOセッサ等を備えており、次
に)ホベるように動作する。
まず、新たな被検査プリント基板10−2を検査すると
きには、制御部31は第3図(A)に示すようにメイン
フローチャートのステップST1で第3図(B)のフロ
ーチV−トで示されるティーチングルーチン32を呼び
出し、このティーチングルーチン32のステップST2
で搬入側ベルトコンベアからベルトコンベア部11に基
準プリント基板10−1が移されるまで待つ。
そしてベルトコンベア部11上に基準プリント基板1o
−1が移されれば、制御部31は前記ステップST2か
らステップST3へ分岐し、ここでこのベルトコンベア
部11と、カメラ搬送部12とを制御してTVカメラ2
1の下方に基準プリント基板10−1の撮像エリア33
−1a(第4図参照)を配置させる。
この後、制御部31はステップST4でTVカメラ21
によって得られた画像信号をA/D変換部23でA/D
変換させるとともに、このA/D変換結果(基準プリン
ト基板10−1の画像データ)をメモリ24にリアルタ
イムで記憶させる。
次いで、制御部31はステップST5で前記メモリ24
から基準プリント基板10−1の画像データを読み出し
、これを画像処理部26に供給して2値化させるととも
に、この2値化処理によって得られた各部品13−1 
a〜13−ia(2≦1≦n)の部品画像毎にラベルを
付けさせる。
次いで、制御部31はステップST6で前記画像処理部
26によって得られたラベル何きの各部品画像を取り込
み、各部品13−1a〜13−1aの位置1色、形状、
形態等のパラメータを抽出するとともに、ステップST
7でこれらの各パラメータから各部品13−1a〜13
−iaに関する判定データを作成する。
この後、制御部31はステップST8で各部品13−1
a〜13−iaの全てについて判定デー夕が得られたか
どうかをチェックし、部品13−1a〜13−iaの全
てについて判定データが得られるまで、前記ステップS
T6〜ステップST8を繰り返し実行する。
そして、これら各部品13−1a〜13−iaの全てに
ついて判定データが得られたとき、制御部31は前記ス
テップST8からステップST9へ分岐し、ここで基準
プリント基板10−1の全撤像エリア33−1 a〜3
3−maについて処理が終了したかどうかをチェックす
る。
そして、まだ処理されていない搬像エリアが残っていれ
ば、制御部31はこのステップST9から前記ステップ
ST3へ戻り、上述した動作を繰り返す。
そして、撮像エリア33−1〜33−mの全てについて
処理が終了したとき、制御部31は前記ステップST9
からステップ5T10へ分岐し、ここで前記各部品13
−1a〜13−naについての各判定データから被検査
プリント基板10−2を検査するのに必要な判定データ
ファイルを作成し、これをティーチングテーブル25に
記憶させた後、ベルトコンベア部11から搬出側コンベ
アに前記基準プリント基板10−1を移させて、このテ
ィーチングルーチン32を終了する。
また、このティーチングルーチン32が終了して、検査
モードにされれば、制御部31はメインフローチャート
のステップSTI 1で第3図(C)のフローチャート
で示される検査ルーチン34を呼び出し、この検査ルー
チン34のステップ5T12でティーチングテーブル2
5やキーボード30からその日の日付データ、被検査プ
リント基板10−2のIDナンバ(識別番号)を取り込
むとともに、ティーチングテーブル25 jp、ら判定
データファイルを読み出して、これらをメモリに記憶さ
せる。
次いで、制御部31はステップ5T13で搬入側ベルト
コンベアからベルトコンベア部11に被検査プリント基
板10−2が移されるまT′持つ。
そして、ベルトコンベア部11上に被検査プリント基板
10−2が移せられれば、制御部31は前記ステップ5
T13からステップ5T14へ分岐し、ここでこのベル
トコンベア部11と、カメラ搬送部12とを制御してT
Vカメラ21の下方に被検査プリント基板10−2のR
像エリア33−1b(第5図参照)を配置させる。
次いで、制御部31はステップ5T15でTVカメラ2
1によって得られた画像信号をA/D変換部23でA/
D変換させるとともに、このA/D変換結果(被検査プ
リント基板10−2の画像データ)をリアルタイムでメ
モリ24に記憶させる。
次いで、制御部31はステップ5T16で前記メモリ2
4から基準プリント基板10−2の画像データを読み出
し、これを画像処理部26に供給して2値化させるとと
もに、この2値化処理によって1りられた各部品13−
1b〜13−ib(2≦i≦n)の部品画像毎にラベル
を付けさせる。
次いで、制御部31はステップ5T17で前記画像処理
部26によって得られたラベル付きの各部品画像を取り
込み、各部品13−1b〜13−1bの位置1色、形状
、形態等のパラメータを抽出させるとともに、これらの
各パラメータに基づき、部品13−1b〜13−ibの
全てについて被検査データを作成する。
この後、制御部31はステップ5T18で前記メモリ2
4から判定データファイル中の撮像エリア33−1aに
関する各判定データを読み出すとともに、これらの各判
定データと前記各被検査データとを各々比較して、被検
査プリント基板1〇−2上の部品13−1b〜13−i
bが欠落1位置ずれ等を起こしているか否かを判定し、
この判定結果をメモリ24に記憶させる。
この後、制御部31はステップ5T19から前記ステッ
プ5T14へ戻り、被検査プリント基板1O−2(7)
11i像工IJ733−2b 〜33−mbについて上
述した処理を順次実行する。
そして、R像エリア33−1 b 〜33−nbの全て
について処理が終了したとぎ、制御部31は前記ステッ
プ5T19からステップ5T20へ分岐し、ここでメモ
リ24に記憶されている各部品13−1 b〜13−n
bの判定結果を読み出して、これをCR7表示器28に
表示させたり、プリンタ29からプリントアウトさけた
りする。
このようにこの実施例にJ3いては、ベルトコンベア部
11と、カメラ搬送部12とを制御して、TVカメラ2
1の視野内に、基準プリント基板10−1の第1〜第m
のI!1fllエリア33−1a〜33−ma (また
は、被検査プリン1一基板10−2の第1〜第mR@エ
リア33−1 b 〜33−mb、)を順次位置させて
、この基準プリント基板1〇−1(または、被検査プリ
ント基板1O−2)を分割撮像させるようにしたのでX
−Yテーブル部を用いることなく、基準プリント基板1
0−1の画像を取り込んで、判定データファイルを作成
したり、被検査プリント基板10−2の画像を取り込ん
で、この被検査プリント基板10−2上にある部品13
−1b〜l3−nbの脱落1位置ずれ等を検査すること
ができる。
また、X−Yテーブル部を必要としないので、インライ
ンで基準プリント基板10−1や被検査プリント基板1
0−2を処理することができ、これによって検査作業の
簡素化、処理の高速化を達成することができるとともに
、装置全体の低コスト化を達成することができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、高価なX−Yテー
ブル部を用いることなく被検査プリント基板を分割撮像
処理して、この被検査プリント基板上にある部品の脱落
1位置ずれ等を検査することができ、これによって前記
部品を検査するときにおける作業の簡素化、処理の高速
化を達成することができるとともに、装置全体の低コス
ト化を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による基板検査装置の一実施例を示すブ
ロック図、第2図は第1図に示すベルトコンベア部、カ
メラ搬送部、R像部部分の平面図、第3図(A)は同実
施例の動作例を説明するためのメインフローチャート、
第3図(B)は同実施例のティーチングルーチン例を示
すフローチャ−ク ト、第3図(C)は同実施例の検査ルーチン孕例を示す
フローチャート、第4図は同実施例の基準プリント基板
に対して設定される撮像エリアの一例を示す模式図、第
5図は同実施例の被検査プリント単板に対して設定され
る撮像エリアの一例を示す模式図、第6図は従来の自動
検査装置の一例を示すブロック図、第7図はこの自動検
査装置の動作例を示すフローチャートである。 10−1・・・基板(基準プリント基板>、1o−2・
・・基板(被検査プリント基板)、11・・・基板搬送
部、12・・・ti像像部搬送部カメラ搬送部)、15
・・・ml像部、16・・・処理部。 特許出願人   立石電機株式会社 代理人 弁理士 岩自百二(他1名) 第4図 第5図 \13−mb

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板を撮像して得られたデータを処理して前記基板上
    の部品を検査する基板検査装置において、前記基板を一
    方向に移動させる基板搬送部と、この基板搬送部の上方
    に配置される撮像部を前記基板搬送部の搬送方向と異な
    る方向に移動させる撮像機搬送部とを備えたことを特徴
    とする基板検査装置。
JP61059695A 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置 Pending JPS62215856A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61059695A JPS62215856A (ja) 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP61059695A JPS62215856A (ja) 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置

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Publication Number Publication Date
JPS62215856A true JPS62215856A (ja) 1987-09-22

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ID=13120598

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61059695A Pending JPS62215856A (ja) 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置

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JP (1) JPS62215856A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110363737A (zh) * 2018-04-08 2019-10-22 深圳技术大学(筹) 一种待检测图像获取方法及待检测图像获取系统

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