JPS622609A

JPS622609A - チツプ選別装置

Info

Publication number: JPS622609A
Application number: JP60143167A
Authority: JP
Inventors: 眞人土井
Original assignee: Rohm Co Ltd
Current assignee: Rohm Co Ltd
Priority date: 1985-06-28
Filing date: 1985-06-28
Publication date: 1987-01-08

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野この発明は、抵抗器、半導体などの各種チップにおける
メッキ処理が規格どおり行われたか否かを判別するチッ
プ選別装置に関する。

（ロ）従来の技術一般に、チップのメッキ処理の判別は目視検査で行われ
ていた。つまり、従来、このメ・ツキ処理は基板より切
断された棒状部材の状態で行われ、処理後にチップに切
断されていた。そして、この棒状部材の状態で、目視検
査によりメッキ処理が規格どおり行われているか否かを
判別していた。

また、抜取り検査を行って、メッキ処理が正確に行われ
ているか否かチェックしていた。

（ハ）発明が解決しようとする問題点上述したように、メッキ処理の検査は目視で行っている
ため、見逃しなどもあり、不充分で信頼性が低いという
問題があった。特に近年、メッキ処理に高精度が要求さ
れるようになり、メッキ厚さの薄いチップがあると、半
田の付着不良が生じることになっている。

また、抜取り検査でも、検査精度が向上せず、信頼性が
低かった。

この発明は、斯かる点に鑑み、メッキ材等の磁性を利用
してチップを良品・不良品に確実に振り分けるようにし
たチップ選別装置を提供することを目的としている。

（ニ）問題点を解決するための手段及び作用この発明は
、駆動ローラと従動ローラとが設けられ、これらのロー
ラ間に張架されたベルトを駆動してチップを搬送する搬
送手段と、前記搬送手段の終端側ローラに設けられた磁
気手段とを備え、前記終端側ローラの下方に良品受け部
と不良品受は部とが設け部とが設けられ、この良品受け
部が、例えば終端側ローラより搬送ベルトが離反する離
反部の下方に、不良品受は部が従動ローラの先端部の下
方にそれぞれ配置されて成り、従動ローラに搬送された
チップのメッキ処理が薄い場合、磁気手段の吸引力が弱
く、先端からそのまま落下して不良品受は部に、メッキ
処理が充分な場合、磁気手段の吸引力が強く、終端側ロ
ーラの下部まで吸着保持されし落下し、良品受け部に収
納されるように構成されている。

（ホ）実施例以下、この発明の一実施例を、゛図面に基づいて詳細に
説明する。

第１図に示すように、■はチップ選別装置であって、チ
ップ２のメッキ処理が所定厚さになされ・たか否かを選
別するものである。

このチップ選別装置１は、駆動ローラ３と従動ローラ４
間に搬送ベルト５が懸回されて成り、この駆動ローラ３
にモータ６が連繋されている。そして、この駆動ローラ
３側よりチップ２が搬送ベルト５上に供給され、従動ロ
ーラ４側に搬送されるように構成されている。

この従動ローラ４には、永久磁石７が中央部に設けられ
ており、チップ２を吸引するようになっている。更に、
従動ローラ４の下方には、チップ２の良品受け部８と不
良品受は部９と選別板１０とが設けられている。この両
受は部８．９は、上部が開放された箱体であり、良品受
け部８は搬送ベルト５が従動ローラ４より離反する離反
部の下方、つまり従動ローラ４の中心を通る鉛直方向に
配置されている。また、不良品受は部９は、従動ローラ
４の先端部下方に配置されている。

選別板１０は、逆Ｖ字状に形成され、両受は部８．９に
亘って設けられている。そして、選別板１０の頂点は搬
送ベルト５と所定間隔を存して配置され、この間隔はチ
ップ２のメッキ厚さに設定されている。

一方、チップ２は、例えばチップ抵抗器であり、第２図
に示すように、絶縁体２ａの上面に抵抗体層２ｂが形成
されると共に、両側に端子部２Ｃがメッキ処理して形成
されている。この端子部２Ｃは、Ａｇ−Ｐｄの第１層２
ｄ、Ｎｉの第２層２ｅ、Ｓｎ又は５ｎ−Ｐｄの第３層２
ｆの順に積層形成されて構成されている。そして、この
Ｎｉの第２層２ｅにより、チップ２が永久磁石７に吸引
されることになる。なお、２ｇは保護ガラス層である。

次に、このチップ選別装置１の選別動作について説明す
る。

先ず、チップ２は、端子部２０等がメッキ処理されて形
成された後、フィーダ等より搬送ベルト５上に駆動ロー
ラ３側より供給される。そして、このチップ２は、搬送
ベルト５と共に従動ローラ４に搬送される。

この従動ローラ４に対する搬送ベルト５の接触部近傍に
チップ２が達すると、永久磁石７の磁力の影響を受け、
この永久磁石の強さは、例えば６Ｑ　ＱＧａｕｓｓで、
Ｎｉの第２層２ｅによりチップ２は搬送ベルト５に吸着
されることになる。そして、チップ２は吸着したまま、
従動ローラ４に沿って反転することになる。

この際、メッキ厚さが薄い場合、吸着力が弱いので、チ
ップ２は従動ローラ４の先端より自然に落下して、不良
品受は部９に収納される。一方、メッキ厚さが所定以上
の場合、チップ２は搬送ベルト５に吸着したまま反転す
る。

次に、所定厚さにメッキ処理されたチップ２は、従動ロ
ーラ４の真下まで搬送ベルト５に吸着し、搬送ベルト５
が従動ローラ４より離反すると、永久磁石７の磁力の影
響がなくなり、落下して良品受け部８に収納される。

この動作を繰返して、全てのチップ２を選別する。

また、チップ状でメッキ処理、例えばバレルメッキして
も、すべてのチップについて検査することができるので
、信転性が著しく向上する。

第３図は、メッキ厚さ５μｍ近傍を基準にして選別する
様に設定した実験例の不良品回収率のグラフを示してい
る。チップは、縦３．２ｍｔａ、横１．６ｍ１％高さ０
．５ｍｍのサイズのもので、メッキ厚さが５μｍ以下に
なると、急激に不良品受は部９に回収されだし、２μｍ
程度で１００％回収される。

このように、メツキネ良検出精度が目視検査や抜取り検
査と比べて格段に高い。

尚、この実施例において、磁気手段は永久磁石７を用い
たが、電磁石でもよい。

また、選別板１０の設置位置は実施例に限られず、従動
ローラ４の先端部や上方でもよい。

（へ）発明の効果以上のように、この発明のチップ選別装置によれば、チ
ップのメッキ材等の磁性を利用し、磁気手段によりロー
ラに吸着するか否かでチップの良否を判別するようにし
たため、目視検査や抜取り検査に比して正確な選別を全
チップについて行って、精度の良いチップを提供するこ
とができるとともに、半田の付着不良等を未然に防止す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

図面は、この発明の一実施例を示し、第１図は、チップ
選別装置の概略構成図、第２図は、チップの一部省略断
面図、第３図は、メッキ厚さ一不良品回収率のグラフで
ある。１ニガツブ選別装置、２：チップ、３：駆動ローラ、　　　４：従動ローラ、５：搬送ベル
ト、　　　７：永久磁石、８：良品受は部、　　９：不
良品受は部。特許出願人　　　　　　ローム株式会社代理人　　　　
弁理士　中　村　茂　信第１区１：チツア壌別發工第２図第３図Ｎｔメ・ツキ厚〔μｍ〕

Claims

【特許請求の範囲】

（１）駆動ローラと従動ローラとが設けられ、これらの
ローラ間に張架されたベルトを駆動してチップを搬送す
る搬送手段と、前記搬送手段の終端側ローラに設けられ
た磁気手段とを備え、前記終端側ローラの下方に良品受
け部と不良品受け部とが設けられ、この良品受け部が前
記終端側ローラより前記ベルトが離反する離反部の下方
に、不良品受け部がそのローラの先端部の下方にそれぞ
れ配置されていることを特徴とするチップ選別装置。