JPH10165902A - チップ部品の選別装置 - Google Patents
チップ部品の選別装置Info
- Publication number
- JPH10165902A JPH10165902A JP8330527A JP33052796A JPH10165902A JP H10165902 A JPH10165902 A JP H10165902A JP 8330527 A JP8330527 A JP 8330527A JP 33052796 A JP33052796 A JP 33052796A JP H10165902 A JPH10165902 A JP H10165902A
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- JP
- Japan
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- magnet
- chip parts
- conveying means
- defective
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明はチップ部品の選別装置に関し、破壊
検査をせずに全数検査をし、且つ、良品取り出し選別を
することを目的とする。 【解決手段】 この目的を達成するために本発明の選別
装置は、第１搬送手段１２の上方に所定間隔をおいて設
けた第２搬送手段１４に磁石１３を設けたものである。
検査をせずに全数検査をし、且つ、良品取り出し選別を
することを目的とする。 【解決手段】 この目的を達成するために本発明の選別
装置は、第１搬送手段１２の上方に所定間隔をおいて設
けた第２搬送手段１４に磁石１３を設けたものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はチップ部品の選別装
置に関するものである。
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３はチップ部品の構造を示すものであ
る。図３において、１は本体、２は本体１に焼付けられ
た下地電極、３はチップ部品実装時の半田耐熱性を高め
るために下地電極２の上に形成されたニッケルなどの磁
性金属からなる中間電極、４はチップ部品実装時に半田
付け性を高めるために中間電極３の上に形成された表面
電極である。５は下地電極２と、中間電極３と、表面電
極４からなる外部電極を示す。
る。図３において、１は本体、２は本体１に焼付けられ
た下地電極、３はチップ部品実装時の半田耐熱性を高め
るために下地電極２の上に形成されたニッケルなどの磁
性金属からなる中間電極、４はチップ部品実装時に半田
付け性を高めるために中間電極３の上に形成された表面
電極である。５は下地電極２と、中間電極３と、表面電
極４からなる外部電極を示す。
【０００３】中間電極３は、その厚みによりチップ部品
実装時の半田耐熱性を大きく左右する為、その厚みによ
り良品、不良品を選別しなければならない。
実装時の半田耐熱性を大きく左右する為、その厚みによ
り良品、不良品を選別しなければならない。
【０００４】従来、この選別はチップ部品を研磨しその
研磨面（断面）に見える中間電極３の厚みを顕微鏡によ
り目視測定検査することにより行っていた。
研磨面（断面）に見える中間電極３の厚みを顕微鏡によ
り目視測定検査することにより行っていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の選別方法では、チップ部品を破壊検査しなければな
らない為、全数検査が不可能で、サンプル検査となるの
で、選別もれが発生するおそれがあった。
来の選別方法では、チップ部品を破壊検査しなければな
らない為、全数検査が不可能で、サンプル検査となるの
で、選別もれが発生するおそれがあった。
【０００６】そこで本発明は上記従来の問題点を解決す
るもので、破壊検査をせずに全数検査をし、且つ、良品
取り出し選別をすることを目的とする。
るもので、破壊検査をせずに全数検査をし、且つ、良品
取り出し選別をすることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の選別装置は、外部電極が複数層からなり、少
なくとも一層が磁性金属層であるチップ部品を搬送する
第１搬送手段と、この第１搬送手段の上方に、その一端
側が適切な間隔で設けられた第１の磁石を有する第２搬
送手段とでチップ部品の選別装置を構成したものであ
る。
に本発明の選別装置は、外部電極が複数層からなり、少
なくとも一層が磁性金属層であるチップ部品を搬送する
第１搬送手段と、この第１搬送手段の上方に、その一端
側が適切な間隔で設けられた第１の磁石を有する第２搬
送手段とでチップ部品の選別装置を構成したものであ
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１の発明は、外部
電極が複数層からなり、少なくとも一層が磁性金属層で
あるチップ部品を搬送する第１搬送手段と、この第１搬
送手段の上方に、その一端側が適切な間隔で設けられた
第１の磁石を有する第２搬送手段とで構成されたチップ
部品の選別装置であり、良品のみが第２搬送手段の磁石
で搬送されることとなる。
電極が複数層からなり、少なくとも一層が磁性金属層で
あるチップ部品を搬送する第１搬送手段と、この第１搬
送手段の上方に、その一端側が適切な間隔で設けられた
第１の磁石を有する第２搬送手段とで構成されたチップ
部品の選別装置であり、良品のみが第２搬送手段の磁石
で搬送されることとなる。
【０００９】また本発明の請求項２の発明は、第１搬送
手段の他端側の下方に第３搬送手段の一端側を設け、こ
の第３搬送手段の他端側の上方に適切な間隔で、第２の
磁石を有する第４搬送手段を設け、第２の磁石を第１の
磁石より磁力を強くした請求項１に記載のチップ部品の
選別装置であって、第１の磁石で電極形成時等に使用し
たスノーボール等の磁性体を第１の磁石で吸引除去でき
るものとなる。
手段の他端側の下方に第３搬送手段の一端側を設け、こ
の第３搬送手段の他端側の上方に適切な間隔で、第２の
磁石を有する第４搬送手段を設け、第２の磁石を第１の
磁石より磁力を強くした請求項１に記載のチップ部品の
選別装置であって、第１の磁石で電極形成時等に使用し
たスノーボール等の磁性体を第１の磁石で吸引除去でき
るものとなる。
【００１０】以下、本発明の一実施形態を、図面を用い
て説明する。 （実施形態１）図１において、１１はベルトコンベアで
あり、１２はベルトコンベア１１からなる第１搬送手段
である。１３は磁石で、１４はベルトコンベア１１に磁
石１３を内蔵させた第２搬送手段である。１５は不良品
受け皿、１６は良品受け皿である。
て説明する。 （実施形態１）図１において、１１はベルトコンベアで
あり、１２はベルトコンベア１１からなる第１搬送手段
である。１３は磁石で、１４はベルトコンベア１１に磁
石１３を内蔵させた第２搬送手段である。１５は不良品
受け皿、１６は良品受け皿である。
【００１１】この実施形態によれば、第１搬送手段１２
で搬送された図３に示すチップ部品を、第２搬送手段１
４に内蔵された磁石１３の磁力を調節することにより、
チップ部品の外部電極５内中間電極３の厚みによって良
品は磁石１３で吸引して良品受け皿１６に搬送し、不良
品は吸引せず不良品受け皿１５へと搬送する。従って、
チップ部品を破壊検査することなく全数検査が可能とな
る。
で搬送された図３に示すチップ部品を、第２搬送手段１
４に内蔵された磁石１３の磁力を調節することにより、
チップ部品の外部電極５内中間電極３の厚みによって良
品は磁石１３で吸引して良品受け皿１６に搬送し、不良
品は吸引せず不良品受け皿１５へと搬送する。従って、
チップ部品を破壊検査することなく全数検査が可能とな
る。
【００１２】なお、図３に示す外部電極構造を有するチ
ップ部品だけでなく、外部電極が複数層からなり、少な
くとも一層が磁性金属層であるチップ部品であれば全て
適用できる。
ップ部品だけでなく、外部電極が複数層からなり、少な
くとも一層が磁性金属層であるチップ部品であれば全て
適用できる。
【００１３】（実施形態２）図２に示すごとく、第１搬
送手段１２の他端側の下方に第３搬送手段１２Ａの一端
側を設け、この第３搬送手段１２Ａの他端側の上方に適
切な間隔で、第２の磁石１３Ａを有する第４搬送手段１
４Ａを設け、第２の磁石１３Ａの磁力を第１の磁石１３
よりも強くしている。したがって、第１搬送手段１２で
搬送された図３に示すチップ部品と電極形成時に使用さ
れたスチールボールなどの磁性体から、第２搬送手段１
４に内蔵された磁石１３の磁力を調節することにより、
磁性体を容易に選別し、磁性体受け皿２２に排出するこ
とができる。
送手段１２の他端側の下方に第３搬送手段１２Ａの一端
側を設け、この第３搬送手段１２Ａの他端側の上方に適
切な間隔で、第２の磁石１３Ａを有する第４搬送手段１
４Ａを設け、第２の磁石１３Ａの磁力を第１の磁石１３
よりも強くしている。したがって、第１搬送手段１２で
搬送された図３に示すチップ部品と電極形成時に使用さ
れたスチールボールなどの磁性体から、第２搬送手段１
４に内蔵された磁石１３の磁力を調節することにより、
磁性体を容易に選別し、磁性体受け皿２２に排出するこ
とができる。
【００１４】なおチップ部品は図１と同様に不良品、良
品受け皿１５，１６へと分離される。
品受け皿１５，１６へと分離される。
【００１５】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、第１搬送
手段とこの第１搬送手段の上に平行且つ適切な間隔で設
けた磁石を有する第２搬送手段を設けることにより、外
部電極が複数層からなり、少なくとも一層が磁性金属層
であるチップ部品を破壊検査をすることなく全数検査が
可能となる。
手段とこの第１搬送手段の上に平行且つ適切な間隔で設
けた磁石を有する第２搬送手段を設けることにより、外
部電極が複数層からなり、少なくとも一層が磁性金属層
であるチップ部品を破壊検査をすることなく全数検査が
可能となる。
【図１】本発明の実施形態１による選別装置の正面図
【図２】本発明の実施形態２の選別装置の正面図
【図３】チップ部品の外部電極部を断面で表わした斜視
図
図
【符号の説明】 １１ ベルトコンベア １２ 第１搬送手段 １３ 磁石 １４ 第２搬送手段 １５ 不良品受け皿 １６ 良品受け皿
Claims (2)
- 【請求項１】 外部電極が複数層からなり、少なくとも
一層が磁性金属層であるチップ部品を搬送する第１搬送
手段と、この第１搬送手段の上方に、その一端側が適切
な間隔で設けられた第１の磁石を有する第２搬送手段と
で構成されたチップ部品の選別装置。 - 【請求項２】 第１搬送手段の他端側の下方に第３搬送
手段の一端側を設け、この第３搬送手段の他端側の上方
に適切な間隔で、第２の磁石を有する第４搬送手段を設
け、第２の磁石を第１の磁石の磁力よりも強くした請求
項１に記載のチップ部品の選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8330527A JPH10165902A (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | チップ部品の選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8330527A JPH10165902A (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | チップ部品の選別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10165902A true JPH10165902A (ja) | 1998-06-23 |
Family
ID=18233639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8330527A Pending JPH10165902A (ja) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | チップ部品の選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10165902A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102315873B1 (ko) * | 2021-05-21 | 2021-10-22 | (주) 우성씰텍 | 금속 선별 장치 |
| JP2021530346A (ja) * | 2018-07-09 | 2021-11-11 | ノベリス・インコーポレイテッドNovelis Inc. | コンベヤ上で材料を分類するためのシステム及び方法 |
-
1996
- 1996-12-11 JP JP8330527A patent/JPH10165902A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021530346A (ja) * | 2018-07-09 | 2021-11-11 | ノベリス・インコーポレイテッドNovelis Inc. | コンベヤ上で材料を分類するためのシステム及び方法 |
| KR102315873B1 (ko) * | 2021-05-21 | 2021-10-22 | (주) 우성씰텍 | 금속 선별 장치 |
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