JPS62264449A - ジツタ−量測定装置 - Google Patents
ジツタ−量測定装置Info
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- JPS62264449A JPS62264449A JP10817286A JP10817286A JPS62264449A JP S62264449 A JPS62264449 A JP S62264449A JP 10817286 A JP10817286 A JP 10817286A JP 10817286 A JP10817286 A JP 10817286A JP S62264449 A JPS62264449 A JP S62264449A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
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- 101001098066 Naja melanoleuca Basic phospholipase A2 1 Proteins 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
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- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［−産業上の利用分野］
本発明はジッター＜ｉｋ測定装置、特に光学式情記録Ｉ
ｒ）主装置の光ディスクにより再生されたＥ Ｆ Ｍ信
号のある成分（一般に３Ｔ周期の信号成分）の時間的な
ゆらぎ量であるジッター量の測定装置に関するものであ
る。
ｒ）主装置の光ディスクにより再生されたＥ Ｆ Ｍ信
号のある成分（一般に３Ｔ周期の信号成分）の時間的な
ゆらぎ量であるジッター量の測定装置に関するものであ
る。
［従来の技術］
一般に、光学式情報記録再生装置に用いる光ピックアッ
プの評価にはジッターが目安とされており、その測定は
従来オシロスコーウブで時間軸の振れ幅を７１１１１定
するか又はタイムインターバルカウンタにより変動幅を
測定することにより行っていた。
プの評価にはジッターが目安とされており、その測定は
従来オシロスコーウブで時間軸の振れ幅を７１１１１定
するか又はタイムインターバルカウンタにより変動幅を
測定することにより行っていた。
［発明が解決しようとする問題点］
かかる従来のジッターｈχ測定において、これをオシ〔
１スコープで視覚にだよ−て行う場合には測定値の変動
を読取るのが困難であり読取りに個人差があり、従って
熟練を必要とし疲れる作業であった。更にジッター４１
を標塾偏差値として測定することはできなかった。
１スコープで視覚にだよ−て行う場合には測定値の変動
を読取るのが困難であり読取りに個人差があり、従って
熟練を必要とし疲れる作業であった。更にジッター４１
を標塾偏差値として測定することはできなかった。
又ジッター量のホ１１定を時間幅測定器、例えば、タイ
１１インターバルカウンタを用いて行う場合には申請な
繰返し信号或は発生タイミングがＴ期できる信号のジッ
ターでなければ測定が不ｉ”Ｊ能であった。しかもかか
る測定値は高価であった。
１１インターバルカウンタを用いて行う場合には申請な
繰返し信号或は発生タイミングがＴ期できる信号のジッ
ターでなければ測定が不ｉ”Ｊ能であった。しかもかか
る測定値は高価であった。
本発明は符号化信号のジッターを、直接簡単に標準偏差
として迅速に且つ回路的に簡単に、しかも高精度に測定
し得るように構成配置したジッター量測定装置を提供す
ることを目的とする。
として迅速に且つ回路的に簡単に、しかも高精度に測定
し得るように構成配置したジッター量測定装置を提供す
ることを目的とする。
［問題点を解決するための手段及び作用］本発明は、時
間軸変動のジッター量を電圧変動値に変換し、この電圧
のＲＭＳ （自乗平均平方根）値を求めたところ、電圧
のＲＭＳ値の数式が標準偏差の計算式に一致する事実を
確かめて成したものであり、ジッター量をＲＭＳ値の算
出回路に通ずことによりジッター量の標準偏差値を、Ｒ
Ｍ Ｓ値の直流分に置換して簡単量っ連続量で測定する
ようにしたことを特徴とする。
間軸変動のジッター量を電圧変動値に変換し、この電圧
のＲＭＳ （自乗平均平方根）値を求めたところ、電圧
のＲＭＳ値の数式が標準偏差の計算式に一致する事実を
確かめて成したものであり、ジッター量をＲＭＳ値の算
出回路に通ずことによりジッター量の標準偏差値を、Ｒ
Ｍ Ｓ値の直流分に置換して簡単量っ連続量で測定する
ようにしたことを特徴とする。
本発明によればジッター量の標準偏差をＲＭ Ｓ値の直
流分に単に置換するだけで回路的に簡単量つ高精度にジ
ッター量を測定することかできる。
流分に単に置換するだけで回路的に簡単量つ高精度にジ
ッター量を測定することかできる。
［実施例］
図面につき本発明を説明する。
第１図は本発明ジッター量測定装置の構成を示し第２図
はその種々の個所の信号の波形のタイムチャートを示す
。
はその種々の個所の信号の波形のタイムチャートを示す
。
第１図に示す本発明ジッター量測定装置は人力信号の周
期弁別を行うサンプリングパルス発生回路Ｉを備え、こ
れに、光ディスクから光ピックアップによってＥＦＭ変
調方式により再生したＥ Ｆ Ｍ信号の２値化されたデ
ィジタルＥ Ｆ Ｍ信号Ｑｌ（第２図（ａ））を供給す
る。このサンプリングパルス発生回路Ｉをサンプリング
パルス補正回路２に接続しこれによりサンプリングパル
スがミスサンプリングを行うのを防ＩＥシてパルス幅の
補償を行うようにする。
期弁別を行うサンプリングパルス発生回路Ｉを備え、こ
れに、光ディスクから光ピックアップによってＥＦＭ変
調方式により再生したＥ Ｆ Ｍ信号の２値化されたデ
ィジタルＥ Ｆ Ｍ信号Ｑｌ（第２図（ａ））を供給す
る。このサンプリングパルス発生回路Ｉをサンプリング
パルス補正回路２に接続しこれによりサンプリングパル
スがミスサンプリングを行うのを防ＩＥシてパルス幅の
補償を行うようにする。
サンプリングパルス発生回路１によって人力ＤＥ Ｉ”
Ｍ信号Ｑｌの周期３Ｔの信号成分のみを検出しサンプ
リングパルスＱ１４（第２図（ｎ））を発生ずる。
Ｍ信号Ｑｌの周期３Ｔの信号成分のみを検出しサンプ
リングパルスＱ１４（第２図（ｎ））を発生ずる。
又サンプリングパルス発生回路１を鋸歯状波発生回路３
に接続しこれに駆動パルスＱ９（第２図（ｉ））を供給
する。鋸歯状態発生回路３の鋸歯状態出力パルスＱ１５
（第２図（０））をサンプルホールド回路４に供給する
と共に、これに前期サンプリングパルス補正回路２の補
正サンプリングパルスＱ１４（第２図（ｎ））をも供給
し、これによって鋸歯状波をサンプルホールドして周期
３Ｔの信号成分の時間軸変動を電圧変動Ｑ１６（第２図
（ｐ））に変換する。この電圧変動分Ｑ１６を低周波雑
音除去フィルタ５、増幅器６、高周波雑音除去フィルタ
７を経てＲＭ Ｓ −Ｄ Ｃ変換器８に供給してＲ９Ｍ
値をＤＣ（直流分）として取出し、このＤＣ信号をロー
パスフィルタ９に供給して光ディスクの再生時の面ふれ
、偏心等の影響を除去し最終的にジッター晴として出力
する。
に接続しこれに駆動パルスＱ９（第２図（ｉ））を供給
する。鋸歯状態発生回路３の鋸歯状態出力パルスＱ１５
（第２図（０））をサンプルホールド回路４に供給する
と共に、これに前期サンプリングパルス補正回路２の補
正サンプリングパルスＱ１４（第２図（ｎ））をも供給
し、これによって鋸歯状波をサンプルホールドして周期
３Ｔの信号成分の時間軸変動を電圧変動Ｑ１６（第２図
（ｐ））に変換する。この電圧変動分Ｑ１６を低周波雑
音除去フィルタ５、増幅器６、高周波雑音除去フィルタ
７を経てＲＭ Ｓ −Ｄ Ｃ変換器８に供給してＲ９Ｍ
値をＤＣ（直流分）として取出し、このＤＣ信号をロー
パスフィルタ９に供給して光ディスクの再生時の面ふれ
、偏心等の影響を除去し最終的にジッター晴として出力
する。
次に入力信号の周期弁別を行うサンプリングパルス発生
回路ｌの更に詳細な説明を行う。
回路ｌの更に詳細な説明を行う。
このサンプリングパルス発生回路ｌは第１図の点線内に
示すように排他的０１Ｎゲート、禁止ＮＡＮＤゲートＩ
、２．ＡＮＤゲー ト、０１退ゲート１゜２、Ｎ Ａ
Ｎ Ｄゲート、遅延素子τＩ、τ２、τ３、τ４、モノ
ステ−ブルマルヂバイブレークＭＭＩ。
示すように排他的０１Ｎゲート、禁止ＮＡＮＤゲートＩ
、２．ＡＮＤゲー ト、０１退ゲート１゜２、Ｎ Ａ
Ｎ Ｄゲート、遅延素子τＩ、τ２、τ３、τ４、モノ
ステ−ブルマルヂバイブレークＭＭＩ。
ＭＭ ２ 、 ＭＭ ３ 、を図示の如く接続配置して
構成し、各素子の出力パルスＱ２〜Ｑ＋４のタイムア、
−トを第２図に゛示す。サンプリングパルス発生回路ｌ
はＥＦＭ信号のＤ（ディジタル）ＥＦＭ信号（ＲＴｉ’
（Ａ′号を符号化即ち２値化した信号）Ｑｌを受けて
以下に示す動作を行ってサンプリングパルスを発生ずる
。即ちＤＥＦＭＱＩの立ち上がり、ｑちドがり両エツジ
でパルスＱ３を生成し、そのパルス幅は遅延回路で１に
より決まる。遅延回路τ１はその遅延時間をτＩ＝６０
［ｎ５ｃｃ］とするが、その理由は、モノステイブル
・マルチバイブレータＭＭの入力パルス幅が４０ｎｓｅ
ｃ以上なければＭＭが動作しないがらである。鋸歯状波
ＱＩ５をこのパルスＱ３でサンプルするには、パルス幅
が広すぎて精度的に問題となるから、遅延回路τ２で、
サンプリングパルスＱ＋３を生成しなおしている。中央
付近のフリップフロップＦ１・’は、パルスＱ４とＱｌ
ｌとのパルスエツジが重なった場合の誤動作防止用のも
のである。サンプリングパルス補正回路２とは、サノブ
リングパノ１ノスＱＩ３が３Ｔの時間窓Ｑ８の両側に重
な−）た場合にサンプリングパルスＱＩ４のパルス幅が
挟まり、その結果、ミスサンプリングを呈するようにな
るためこれをサンプリングパルス補正回路２によって補
償し、人力パルス幅が狭くなっても一定のパルス幅を出
力させるものである。
構成し、各素子の出力パルスＱ２〜Ｑ＋４のタイムア、
−トを第２図に゛示す。サンプリングパルス発生回路ｌ
はＥＦＭ信号のＤ（ディジタル）ＥＦＭ信号（ＲＴｉ’
（Ａ′号を符号化即ち２値化した信号）Ｑｌを受けて
以下に示す動作を行ってサンプリングパルスを発生ずる
。即ちＤＥＦＭＱＩの立ち上がり、ｑちドがり両エツジ
でパルスＱ３を生成し、そのパルス幅は遅延回路で１に
より決まる。遅延回路τ１はその遅延時間をτＩ＝６０
［ｎ５ｃｃ］とするが、その理由は、モノステイブル
・マルチバイブレータＭＭの入力パルス幅が４０ｎｓｅ
ｃ以上なければＭＭが動作しないがらである。鋸歯状波
ＱＩ５をこのパルスＱ３でサンプルするには、パルス幅
が広すぎて精度的に問題となるから、遅延回路τ２で、
サンプリングパルスＱ＋３を生成しなおしている。中央
付近のフリップフロップＦ１・’は、パルスＱ４とＱｌ
ｌとのパルスエツジが重なった場合の誤動作防止用のも
のである。サンプリングパルス補正回路２とは、サノブ
リングパノ１ノスＱＩ３が３Ｔの時間窓Ｑ８の両側に重
な−）た場合にサンプリングパルスＱＩ４のパルス幅が
挟まり、その結果、ミスサンプリングを呈するようにな
るためこれをサンプリングパルス補正回路２によって補
償し、人力パルス幅が狭くなっても一定のパルス幅を出
力させるものである。
モノステイブル・マルチバイブレータＭＭ３（１０μ５
ｅｃ）は、鋸歯状波Ｑ１５の立ち下がり時゛。
ｅｃ）は、鋸歯状波Ｑ１５の立ち下がり時゛。
に負方向へのオーバーシュートかあり、この影響が次ぎ
の鋸歯状波のオフセットとならないように、１０μＳＱ
Ｃ待つためのものである。
の鋸歯状波のオフセットとならないように、１０μＳＱ
Ｃ待つためのものである。
鋸歯状波の傾斜は２．０ ［ｖ／μ５ｅｃｌ、後段のア
ンプゲインは、１０．０倍である。従って、測定値から
ジッター量への変換係数は、２０．０［ｎ５ｅｃ／Ｖ］
である。
ンプゲインは、１０．０倍である。従って、測定値から
ジッター量への変換係数は、２０．０［ｎ５ｅｃ／Ｖ］
である。
次に、ＲＭＳ−ＤＣ変換器を用いたジッター測定と従来
から行われているタイムインターバルカウンタによる標
準偏差σによるジッター量とを考察してみる。タイムイ
ンターバルカウンタによる標準偏差σの算出式は次式で
表される。
から行われているタイムインターバルカウンタによる標
準偏差σによるジッター量とを考察してみる。タイムイ
ンターバルカウンタによる標準偏差σの算出式は次式で
表される。
■
一■二式で、Ｎ［均値Ｔを零と考えて、更に、連続系で
の表現に書き直すと、次式で示すようになる。
の表現に書き直すと、次式で示すようになる。
σ−−ｉＴ’（ｉ）ｄｉ ’山 （２）］１式は、時間
軸変動を電圧変動ｆ（Ｌ）に変更した本発明によるサン
プルホールド回路の次式で示す値と一致する。
軸変動を電圧変動ｆ（Ｌ）に変更した本発明によるサン
プルホールド回路の次式で示す値と一致する。
Ｖ−” −５［ｆ（ｔ）］ ’ｃ＋ ｔ ・・・
（３）最後に、最終段に使用されている、２次のローパ
スフィルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の
影響が測定値に表れるのを防止する。
（３）最後に、最終段に使用されている、２次のローパ
スフィルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の
影響が測定値に表れるのを防止する。
」−述した例ではＥ Ｆ Ｍ信号のアイパターン中のｎ
Ｔ信号成分のうち周期３Ｔの信号成分のジッターへｔを
測定する場合について説明したが、この周期は２０ ’
Ｉ’周期以内であれば任意の周期に変更することかでき
る。
Ｔ信号成分のうち周期３Ｔの信号成分のジッターへｔを
測定する場合について説明したが、この周期は２０ ’
Ｉ’周期以内であれば任意の周期に変更することかでき
る。
「発明の効果コ
上述したように本発明によれば再生した信号の時間軸変
動を電圧変動に変換されたジッター量のＲＭＳ値を取出
すことにより簡単且つ迅速にジッター量の標準偏差を取
出すことができる。
動を電圧変動に変換されたジッター量のＲＭＳ値を取出
すことにより簡単且つ迅速にジッター量の標準偏差を取
出すことができる。
第１図は本発明ジッター量測定値の構成を示すブロック
図、 第２図は第１図の装置の種々の個所の信号波形を示すタ
イムチャート図である。 ｌ・・サンプリングパルス発生回路 ２・・・サンプリングパルス補正回路 ３・・・鋸歯状波発生回路 ４・・・サンプルホールド回路 ５．７・・・フィルタ ６・・増幅器 ８・・・ＲＭ Ｓ−Ｄ Ｃ変換器 ９・・・ローパスフィルタ 第２図 １戸２
“ −手続補正書く自発
） 昭和６１年９月５ 日 ｌ、事件の表示 昭和６１年特許願第１０８１７２号 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代
理 人 ６、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明−」の欄 ７、補正の内容 （１）明細書第８頁を別紙の通り補正する。 ８、添付書類の目録 （１）別 紙 １通」一式で、
１１均値Ｔを零と考えて、更に、連続系での表現に古き
直すと、次式で示すようになる。 」二人は、時間軸変動を電圧変動ｆ （ｔ）に変更した
本発明のサンプルホールドされた値をｒＬＭＳ−Ｄ Ｃ
’＆換する回路の次式で示す値と一致する。 最後に、最終段に使用されている、２次のローパスフィ
ルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の影響が
測定値に表れるのを防止する。
図、 第２図は第１図の装置の種々の個所の信号波形を示すタ
イムチャート図である。 ｌ・・サンプリングパルス発生回路 ２・・・サンプリングパルス補正回路 ３・・・鋸歯状波発生回路 ４・・・サンプルホールド回路 ５．７・・・フィルタ ６・・増幅器 ８・・・ＲＭ Ｓ−Ｄ Ｃ変換器 ９・・・ローパスフィルタ 第２図 １戸２
“ −手続補正書く自発
） 昭和６１年９月５ 日 ｌ、事件の表示 昭和６１年特許願第１０８１７２号 住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代
理 人 ６、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明−」の欄 ７、補正の内容 （１）明細書第８頁を別紙の通り補正する。 ８、添付書類の目録 （１）別 紙 １通」一式で、
１１均値Ｔを零と考えて、更に、連続系での表現に古き
直すと、次式で示すようになる。 」二人は、時間軸変動を電圧変動ｆ （ｔ）に変更した
本発明のサンプルホールドされた値をｒＬＭＳ−Ｄ Ｃ
’＆換する回路の次式で示す値と一致する。 最後に、最終段に使用されている、２次のローパスフィ
ルタによってディスクの再生時の面ブレ偏心等の影響が
測定値に表れるのを防止する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光学式情報記録再生装置の光ピックアップにより再
生された符号化信号のジッター量を測定するに当たり、
ジッター量の標準偏差をＲＭＳ値の直流分に置換する手
段を備えることを特徴とするジッター量測定装置。 ２、符号化信号の標準偏差をＲＭＳ値の直流分に置換す
る手段は、符号化信号の時間軸変動を電圧変動分に変換
する手段と、この電圧変動分を受けてＲＭＳ値の直流分
に変換する手段とを備えることを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載のジッター量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61108172A JP2533852B2 (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | ジツタ−量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61108172A JP2533852B2 (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | ジツタ−量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62264449A true JPS62264449A (ja) | 1987-11-17 |
| JP2533852B2 JP2533852B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=14477810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61108172A Expired - Lifetime JP2533852B2 (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | ジツタ−量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2533852B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006227009A (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-31 | Advantest Corp | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス |
| JP2007040742A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Yokogawa Electric Corp | ジッタ測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5613884A (en) * | 1979-07-12 | 1981-02-10 | Pioneer Video Corp | Tangential servo control signal generator for recorded information reproducer |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP61108172A patent/JP2533852B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5613884A (en) * | 1979-07-12 | 1981-02-10 | Pioneer Video Corp | Tangential servo control signal generator for recorded information reproducer |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006227009A (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-31 | Advantest Corp | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス |
| JP2007040742A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Yokogawa Electric Corp | ジッタ測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2533852B2 (ja) | 1996-09-11 |
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