JPS6227418B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6227418B2 JPS6227418B2 JP57113463A JP11346382A JPS6227418B2 JP S6227418 B2 JPS6227418 B2 JP S6227418B2 JP 57113463 A JP57113463 A JP 57113463A JP 11346382 A JP11346382 A JP 11346382A JP S6227418 B2 JPS6227418 B2 JP S6227418B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- processing system
- test program
- devices
- attribute data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、情報処理システムの汎用的な自動試
験方式に関し、特に試験対象の情報処理システム
について、オペレータとの会話を必要とせずに、
Ｉ／Ｏ等の試験対象装置の機番、版数、記憶容
量、媒体形式などの構成情報を対象システムから
取得し、必要となる試験プログラムを自動的に編
成して、人手を介さずに試験を連続的に実行でき
る試験方式に関する。
験方式に関し、特に試験対象の情報処理システム
について、オペレータとの会話を必要とせずに、
Ｉ／Ｏ等の試験対象装置の機番、版数、記憶容
量、媒体形式などの構成情報を対象システムから
取得し、必要となる試験プログラムを自動的に編
成して、人手を介さずに試験を連続的に実行でき
る試験方式に関する。
技術の背景
従来の情報処理システムでは、定期保守点検、
出荷検査、障害発生などの際に、Ｉ／Ｏデバイス
等の各構成機器について系統的な試験が実施され
る。しかし、情報処理システムは、ユーザによ
り、また時期により、その構成内容は著しく異な
るので、画一的な試験を行なうことはできず、
個々のシステムについて、その都度試験の条件、
すなわちシステム構成、機器の属性等を設定して
やらなければならない。
出荷検査、障害発生などの際に、Ｉ／Ｏデバイス
等の各構成機器について系統的な試験が実施され
る。しかし、情報処理システムは、ユーザによ
り、また時期により、その構成内容は著しく異な
るので、画一的な試験を行なうことはできず、
個々のシステムについて、その都度試験の条件、
すなわちシステム構成、機器の属性等を設定して
やらなければならない。
第１図は、このような試験対象となる情報処理
システムの典型的な構成例を示す。図示されたシ
ステムは、中央処理装置１、主記憶装置２、ｍ台
の入出力制御装置３−１乃至３−ｍ、各入出力制
御装置に接続されたそれぞれｎ台、３台、２台、
…、ｒ台のＩ／Ｏデバイス４−１１乃至４−mr
により構成されている。各Ｉ／Ｏデバイス４−１
１乃至４−mrは、ユーザシステムにより、主記
憶の容量やＩ／Ｏ種別、台数など、様々な構成を
とり、また磁気デイスク、磁気テープなどの装置
では規格、性能の異なる機種が混在している場合
がある。たとえば記憶媒体では、その記憶容量、
転送速度、フオーマツトなどが機種によつて異つ
ている。また同一の情報処理システムでも、改訂
があればその版数により異なつてくるというよう
な状況にある。
システムの典型的な構成例を示す。図示されたシ
ステムは、中央処理装置１、主記憶装置２、ｍ台
の入出力制御装置３−１乃至３−ｍ、各入出力制
御装置に接続されたそれぞれｎ台、３台、２台、
…、ｒ台のＩ／Ｏデバイス４−１１乃至４−mr
により構成されている。各Ｉ／Ｏデバイス４−１
１乃至４−mrは、ユーザシステムにより、主記
憶の容量やＩ／Ｏ種別、台数など、様々な構成を
とり、また磁気デイスク、磁気テープなどの装置
では規格、性能の異なる機種が混在している場合
がある。たとえば記憶媒体では、その記憶容量、
転送速度、フオーマツトなどが機種によつて異つ
ている。また同一の情報処理システムでも、改訂
があればその版数により異なつてくるというよう
な状況にある。
このため、オペレータが、何らかの手段によ
り、試験に必要な上述したような環境条件を外部
から設定する操作が必要となる。したがつて、情
報処理システムが複数の装置で構成されているも
のにおいては、１つの装置の試験が終了する度
に、次の装置の試験に入る前に、オペレータとの
会話が必要となり、たとえば工場出荷試験などで
は、１回に試験できる台数が制限されたり、試験
が夜間にかかつた場合にはオペレータの勤務の問
題が生じ、特に試験の実施を短期間で終了させた
い場合などには、大きな困難があつた。
り、試験に必要な上述したような環境条件を外部
から設定する操作が必要となる。したがつて、情
報処理システムが複数の装置で構成されているも
のにおいては、１つの装置の試験が終了する度
に、次の装置の試験に入る前に、オペレータとの
会話が必要となり、たとえば工場出荷試験などで
は、１回に試験できる台数が制限されたり、試験
が夜間にかかつた場合にはオペレータの勤務の問
題が生じ、特に試験の実施を短期間で終了させた
い場合などには、大きな困難があつた。
発明の目的および構成
本発明の目的は、情報処理システムの試験に必
要な構成要素に関する各種の属性データを、外部
から与える代りに、試験プログラムに自動認識さ
せることにより、オペレータの介在を不要にし
て、無人の自動連続試験を可能にする手段を提供
することにある。
要な構成要素に関する各種の属性データを、外部
から与える代りに、試験プログラムに自動認識さ
せることにより、オペレータの介在を不要にし
て、無人の自動連続試験を可能にする手段を提供
することにある。
そして本発明は、そのための構成として、シス
テムを構成する各装置を試験するための複数の試
験プログラムを有するデータ処理システムにおい
て、IPL時にシステムを構成する各装置の属性デ
ータを収集して処理システム構成テーブルを作成
し、該処理システム構成テーブルと、予め格納さ
れている試験プログラム毎の実行可能な装置の属
性データを保持する試験プログラムテーブルとを
突き合わせることにより、順次各試験プログラム
について実行可能な装置を選択して連続的に試験
を進めることを特徴としている。
テムを構成する各装置を試験するための複数の試
験プログラムを有するデータ処理システムにおい
て、IPL時にシステムを構成する各装置の属性デ
ータを収集して処理システム構成テーブルを作成
し、該処理システム構成テーブルと、予め格納さ
れている試験プログラム毎の実行可能な装置の属
性データを保持する試験プログラムテーブルとを
突き合わせることにより、順次各試験プログラム
について実行可能な装置を選択して連続的に試験
を進めることを特徴としている。
発明の実施例
以下に、本発明を実施例にしたがつて説明す
る。
る。
第２図は、本発明方式により情報処理システム
の試験を実施する場合の、概念的構成を示したも
のである。同図は、第１図に示したシステムと対
照可能な構成要素には同一番号を付して示してあ
る。なお、以後の説明、図面においては、「試験
プログラム」を、便宜上TPと表わす場合があ
る。
の試験を実施する場合の、概念的構成を示したも
のである。同図は、第１図に示したシステムと対
照可能な構成要素には同一番号を付して示してあ
る。なお、以後の説明、図面においては、「試験
プログラム」を、便宜上TPと表わす場合があ
る。
図中、１は中央処理装置、２は主記憶装置、４
−１１，４−１２，…，４−mrはＩ／Ｏデバイ
スであり、この場合は磁気デイスク装置として示
してある。なお、デバイス４−１１は試験プログ
ラムを格納しているシステムレジデンスボリユー
ムとする。中央処理装置内の５は試験プログラム
管理部であり、試験プログラム（TP）の選択と
実行に必要な管理を行なう。また６は、試験プロ
グラム実行部であり、試験プログラム管理部５に
より選択された試験プログラム（TP）を実行す
る。主記憶装置２内の７は処理システム構成テー
ブルであり、処理システム内の構成要素の編成と
試験に必要な各構成要素の属性とを保持してい
る。８はTP（試験プログラム）テーブルであ
り、各TP毎に試験可能な装置の範囲を表示す
る。９は実行のためにロードされたTPであり、
試験プログラム実行部６により実行される。
−１１，４−１２，…，４−mrはＩ／Ｏデバイ
スであり、この場合は磁気デイスク装置として示
してある。なお、デバイス４−１１は試験プログ
ラムを格納しているシステムレジデンスボリユー
ムとする。中央処理装置内の５は試験プログラム
管理部であり、試験プログラム（TP）の選択と
実行に必要な管理を行なう。また６は、試験プロ
グラム実行部であり、試験プログラム管理部５に
より選択された試験プログラム（TP）を実行す
る。主記憶装置２内の７は処理システム構成テー
ブルであり、処理システム内の構成要素の編成と
試験に必要な各構成要素の属性とを保持してい
る。８はTP（試験プログラム）テーブルであ
り、各TP毎に試験可能な装置の範囲を表示す
る。９は実行のためにロードされたTPであり、
試験プログラム実行部６により実行される。
第３図は、処理システム構成テーブル７の１実
施例を示している。このテーブルは、情報処理シ
ステム種別、その版数、主記憶容量、および各入
出力制御装置〔１〕，〔２〕，…毎に、系列下のデ
バイスの属性、たとえば磁気デイスクでは、アド
レス、転送速度、容量、デバイス名などを保持し
ている。これらのデータは、そのデバイスに適合
する試験プログラム（TP）を選択し、実行する
際に使用される。
施例を示している。このテーブルは、情報処理シ
ステム種別、その版数、主記憶容量、および各入
出力制御装置〔１〕，〔２〕，…毎に、系列下のデ
バイスの属性、たとえば磁気デイスクでは、アド
レス、転送速度、容量、デバイス名などを保持し
ている。これらのデータは、そのデバイスに適合
する試験プログラム（TP）を選択し、実行する
際に使用される。
第４図は、TPテーブル８の１実施例を示す。
このテーブルは、ｋ個の試験プログラムTP1，
TP2，TP3，TP4，……，TPkについて、それぞ
れが適用可能な対象装置の種別、版数、記憶容量
などを表示している。ここに表示されている条件
に合致している装置のみに、そのTPの実行が許
可される。
このテーブルは、ｋ個の試験プログラムTP1，
TP2，TP3，TP4，……，TPkについて、それぞ
れが適用可能な対象装置の種別、版数、記憶容量
などを表示している。ここに表示されている条件
に合致している装置のみに、そのTPの実行が許
可される。
第５図は、本実施例試験方式の処理手順を示す
フロー図である。以下に第２図を参照しつつ、第
５図のフローにしたがつて処理手順を説明する。
フロー図である。以下に第２図を参照しつつ、第
５図のフローにしたがつて処理手順を説明する。
試験プログラム管理部５は、システムのIPL
時に、第２図で示すように各デバイスからそ
こに保持されている属性データを、読出して主
記憶装置２へ読込み、処理システム構成テーブ
ル７を作成する。
時に、第２図で示すように各デバイスからそ
こに保持されている属性データを、読出して主
記憶装置２へ読込み、処理システム構成テーブ
ル７を作成する。
次にTPテーブル８を、第２図で示すよう
に、システムレジデンスボリユームのデバイス
４−１１から主記憶装置２へ読込む。
に、システムレジデンスボリユームのデバイス
４−１１から主記憶装置２へ読込む。
TPテーブル８の中から１つのTPを取り上
げ、その属性データを読出す。
げ、その属性データを読出す。
そのTPの属性データを用いて、試験をする
ことが可能な装置を、処理システム構成テーブ
ル７から検索する。
ことが可能な装置を、処理システム構成テーブ
ル７から検索する。
該当装置を見出したとき、へ進み、該当装
置を見出せなかつたとき、へ戻り、他のTP
を取上げる。
置を見出せなかつたとき、へ戻り、他のTP
を取上げる。
以下繰り返す。
該当装置を有するTPを、第２図で示すよ
うに、デバイス４−１１から主記憶装置２の
TP領域９へ読込み、また同様に、その装置の
属性データを、同図で示すようにTPテーブ
ル８からTP領域９へ移す。ここで、制御を試
験プログラム実行部６に渡す（同図ｅ）。
うに、デバイス４−１１から主記憶装置２の
TP領域９へ読込み、また同様に、その装置の
属性データを、同図で示すようにTPテーブ
ル８からTP領域９へ移す。ここで、制御を試
験プログラム実行部６に渡す（同図ｅ）。
試験プログラム実行部６は、TP領域９のTP
を起動する。
を起動する。
試験終了後、オペレータからの試験打ち切り
指示があるか否かを調べ、打ち切り指示があれ
ば処理を終了し、指示がなければへ戻り、他
のTPについて試験要否を調べ、処理を進め
る。
指示があるか否かを調べ、打ち切り指示があれ
ば処理を終了し、指示がなければへ戻り、他
のTPについて試験要否を調べ、処理を進め
る。
発明の効果
以上のように、本発明によれば、処理システム
構成テーブルとTPテーブルの情報により、各試
験プログラムは自己の試験対象装置の選択と、試
験に必要なその装置の属性データの獲得とを自動
的に行なうことができるので、試験実施作業者は
試験の間、処理システムから離れていることがで
き、作業負担を著しく軽減することができる。
構成テーブルとTPテーブルの情報により、各試
験プログラムは自己の試験対象装置の選択と、試
験に必要なその装置の属性データの獲得とを自動
的に行なうことができるので、試験実施作業者は
試験の間、処理システムから離れていることがで
き、作業負担を著しく軽減することができる。
第１図は試験対象となる情報処理システムの構
成例図、第２図は本発明方式実施例の説明図、第
３図は処理システム構成テーブルの実施例説明
図、第４図はTPテーブルの実施例説明図、第５
図は実施例の制御手順を示すフロー図である。 図中、１は中央処理装置、２は主記憶装置、４
−１１乃至４−mrはＩ／Ｏデバイス、５は試験
プログラム管理部、６は試験プログラム実行部、
７は処理システム構成テーブル、８はTPテーブ
ル、９はTPを表わす。
成例図、第２図は本発明方式実施例の説明図、第
３図は処理システム構成テーブルの実施例説明
図、第４図はTPテーブルの実施例説明図、第５
図は実施例の制御手順を示すフロー図である。 図中、１は中央処理装置、２は主記憶装置、４
−１１乃至４−mrはＩ／Ｏデバイス、５は試験
プログラム管理部、６は試験プログラム実行部、
７は処理システム構成テーブル、８はTPテーブ
ル、９はTPを表わす。
Claims (1)
- １ システムを構成する各装置を試験するための
複数の試験プログラムを有するデータ処理システ
ムにおいて、IPL時にシステムを構成する各装置
の属性データを収集して処理システム構成テーブ
ルを作成し、該処理システム構成テーブルと、予
め格納されている試験プログラム毎の実行可能な
装置の属性データを保持する試験プログラムテー
ブルとを突き合わせることにより、順次各試験プ
ログラムについて実行可能な装置を選択して連続
的に試験を進めることを特徴とする自動試験方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113463A JPS593648A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 情報処理システムの自動試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113463A JPS593648A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 情報処理システムの自動試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593648A JPS593648A (ja) | 1984-01-10 |
| JPS6227418B2 true JPS6227418B2 (ja) | 1987-06-15 |
Family
ID=14612872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57113463A Granted JPS593648A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 情報処理システムの自動試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593648A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62231342A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-09 | Pfu Ltd | マイクロテストプログラムのダウンロ−ド制御方式 |
| JPH01295339A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | 試験項目自動選択方式 |
| JPH03142634A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Nec Field Service Ltd | オンライン機器診断装置 |
| JPH0553852A (ja) * | 1991-08-28 | 1993-03-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | テスト装置 |
| JPH0713794A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-17 | Nec Corp | 端末装置環境の確認装置 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57113463A patent/JPS593648A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS593648A (ja) | 1984-01-10 |
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