JPH01295339A - 試験項目自動選択方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 作用 実施例 発明の効果 〔概要〕 複数のテストプログラムを用いて試験を行う試験装置に
おいて、機能の異なる被試験装置毎に、複数のテストプ
ログラムの中から必要とするテストプログラムのみを自
動的に選択して実行することを可能とする試験項目自動
選択方式に関し、テストプログラムの作成工数や作成量
を減らして経済的にすると共に、試験装置の処理速度も
向上させることを目的とし、 異なる機能を持つ複数の被試験装置の中から接続された
被試験装置の各機能を試験するため、試験項目毎に作成
された複数のテストプログラムと、複数のテストプログ
ラムを実行する順序を指示する試験項目実行テーブルを
用い、試験項目実行テーブルが指示する順序で該テスト
プログラムを順次実行することにより、被試験装置の試
験を行う試験装置において、被試験装置の機能の差を通
知する機能情報に基づき、複数のテストプログラムの中
から被試験装置を試験する上で必要とするテストプログ
ラムのみを選択するように、試験項目実行テーブルの内
容を変更する手段を設け、被試験装置の試験を開始する
際に、被試験装置から機能情報を読取って試験項目実行
テーブルの内容を変更した後、変更済の試験項目実行テ
ーブルが指示する順序で、選択されたテストプログラム
を実行して、被試験装置の試験を行う構成とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は試験項目毎に作成された複数のテストプログラ
ムを用いて被試験装置の試験を行う試験装置に係り、特
に機能の異なる被試験装置毎に、該複数のテストプログ
ラムの中から、必要とするテストプログラムのみを自動
的に選択して実行することを可能とする試験項目自動選
択方式に関する。

情報処理装置の試験を行う場合、試験項目毎に作成され
た複数のテストプログラムをプロセッサが実行すること
により、被試験装置の試験を行う試験装置が利用されて
いる。このような試験装置は機能の異なる被試験装置を
接続し、夫々の機能に合致した試験項目を試験するため
、総ての機能を試験し得るように作成された複数のテス
トプログラムの中から必要とするテストプログラムを実
行するようになっている。

このような試験装置に供給するテストプログラムは経済
的であり、且つ、試験装置のテストプログラム実行時間
も少ないことが必要である。

〔従来の技術〕

第５図は従来の技術を説明するブロック図である。

試験装置のプロセッサ１はＲＯＭ２に格納されている初
期設定プログラムを読出して動作し、例えば、ディスク
制御回路４を経てディスク５に格納されている試験項目
実行テーブル８と初期設定プログラム９と試験項目プロ
グラム群１０と終了処理プログラム１１をメモリ３に格
納する。

プロセッサ目よメモリ３に格納された試験項目実行テー
ブル８を参照して、その指示に従いインタフェース回路
６を経て被試験装置７の試験を行う。

第６図は試験項目実行テーブル→の一例を示す図である
。

試験項目実行テーブル８には、試験を開始するに当たり
必要とする初期設定を指示する初期設定項目と、機能の
異なる複数の被試験装置に対応して、総ての機能が試験
出来るように試験項目毎に作成された総てのテストプロ
グラムを指定するテストＡ〜テス）Ｎ迄の項目と、試験
終了に伴う処理を指示する終了処理項目が指定されてい
る。

プロセッサＩは試験項目実行テーブル８の先頭に初期設
定が指定されているため、先ずメモリ３に格納された初
期設定プログラム９を読出して実行する。即ち、インタ
フェース回路６を経て被試験装置７のファームウェアに
データを与えて立ち上がらせ、テストプログラムを実行
する上で必要な機能情報を送出させる。即ち、例えば被
試験装置７の機能別に必要とする試験項目を選定するた
めの機能情報等である。

次ぎにプロセッサ１は試験項目実行テーブル８に指定さ
れている試験項目のテスｌ−Ａを実行するため、メモリ
３に格納された試験項目プログラム群１（１２）の中か
ら、テストプログラムを読出して、このテストプログラ
ムの実行を開始する。

第７図は試験項目プログラム群→の一例を示す図である
。

試験項目プログラム群１０には、試験項目実行テーブル
８のテストＡ〜テストＮ迄の項目に対応して、テストプ
ログラム■〜テストプログラム■迄が、■〜■に示す如
くメモリ３に格納されている。

このテストプログラム■には、判別部■があり被試験装
置７の機能に対応して、テストプログラムＡ■の実行が
必要であるか否かを判定している。

従って、プロセッサｌはインタフェース回路６を経て被
試験装置７が送出した機能情報に基づき、判定部■に実
行の要否を判定させ、テストプログラムＡ■を実行する
か否か決定する。

判定部■がテストプログラム八〇の実行が必要と判定す
ると、プロセッサ１はテストプログラムＡ■が指示する
内容の試験をインタフェース回路６を経て被試験装置７
に対して実行するが、テストプログラムＡ■の実行は不
要と判定されると、テストプログラムＡ■の実行を中止
し、試験項目実行テーブル８を参照して、テスＩ−Ａの
次に指定されている試験項目のテストＢを実行するため
、試験項目プログラム群ｌＯの中から、テストプログラ
ム■を続出して、このテストプログラム■の実行を開始
する。

このテストプログラム■には、判別部■があり被試験装
置７の機能に対応して、テストプログラムＢ■の実行が
必要であるか否かを判定している。

従って、プロセッサｌはインタフェース回路６を経て被
試験装置７が送出した機能情報に基づき、判定部■に実
行の要否を判定させ、テストプログラムＢ（１３）を実
行するか否か決定する。

そして、テストプログラムＢ■の実行が必要ならば前記
同様にして、テストプログラムＢ■の指示する内容の試
験を被試験装置７に対して実行するが、不要と判定され
ると、テストプログラムＢ■の実行を中止し、試験項目
実行テーブル８を参照して、テストＢの次に指定されて
いる試験項目を実行するため、試験項目プログラム群１
（１２）の中から、テストプログラム■の次のテストプ
ログラムを読出して、このテストプログラムの実行を開
始する。

このようなの動作を繰り返し、プロセッサｌは試験項目
実行テーブル８の試験項目の最後に指定されているテス
トＮを実行するため、試験項目プログラム群１（１２）
の中から、テストプログラム■を続出して、このテスト
プログラム■の実行を開始する。

このテストプログラム■には、判別部■があり被試験装
置７の機能に対応して、テストプログラムＮ■の実行が
必要であるか否かを判定している。

従って、プロセッサｌはインタフェース回路６を経て被
試験装置７が送出した機能情報に基づき、判定部■に実
行の要否を判定させ、テストプログラムＮ■を実行する
か否か決定する。

このように、プロセッサ１は試験項目実行テーブル８に
指定されている総ての試験項目テスｌ−Ａ〜テストＮに
対応するテストプログラム■〜■を実行した後、試験項
目実行テーブル８に指定されている終了処理を参照し、
終了処理プログラム１１を読出して、試験した結果を集
計する等の終了処理を行う。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記の如〈従来の試験装置は、機能の異なる被試験装置
７を接続して試験する場合、総ての機能を試験出来るよ
うに作成された複数のテストプログラムΦ〜■の中から
、被試験装置７の備えた機能のみを試験するため、必要
とするテストプログラムを選択して実行するが、実行す
る必要があるか否かを判定する判定部■〜■が夫々各テ
ストプログラム■〜■に設けであるため、必要の無いテ
ストプログラムも実行を開始して、判定部■〜■の判定
結果に基づき、最後まで実行するか否かを決定している
。

従って、試験装置のプロセッサｌが不必要なテストプロ
グラムを読出すという無駄な動作を行うため試験装置の
処理速度が低下すると共に、夫々のテストプログラム■
〜■に判定部■〜■を設けるため作成工数が増大し、テ
ストプログラム■〜■の作成量も多くなり経済的で無い
という問題がある。

本発明はこのような問題点に鑑み、初期設定プログラム
９を実行した時、被試験装置７が送出する機能情報に基
づき、試験項目実行テーブル８を変更して、必要の無い
テスト項目を削除させ、プロセッサ１がこの変更した試
験項目実行テーブルを参照した時、不要のテスト項目に
対応するテストプログラムは読出さないようにして、プ
ロセッサｌの無駄な動作を排除し、各テストプログラム
■〜■の判定部■〜（１３）を削除することで、テスト
プログラムの作成工数や作成量を減らして経済的にする
と共に、試験装置の処理速度も向上させることを目的と
している。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理ブロック図である。

第５図と同一符号は同一機能のものを示す。プロセッサ
１は、メモリ３に格納された試験項目実行テーブル１２
を参照して、その指示に従いインタフェース回路６を経
て被試験装置７の試験を行う。

試験項目実行テーブル１２には、試験を開始するに当た
り必要とする初期設定を指示する初期設定項目と、接続
頻度の高い被試験装置に適した試験が出来るようにテス
トプログラムを選択した試験項目と、試験終了に伴う処
理を指示する終了処理項目が、初期値として設定される
。

プロセッサ１は試験項目実行テーブル１２の先頭に初期
設定が指定されているため、先ずメモリ３に格納された
初期設定プログラム９を読出して実行する。即ち、イン
タフェース回路６を経て被試験装置７のファームウェア
にデータを与えて立ち上がらせ、ナス１−プログラムを
実行する上で必要な機能情報を送出させる。即ち、被試
験袋Ｗ７の機能別に必要とする試験項目を選定するため
の機能情報等である。

プロセッサ１はメモリ３の変更手段１３の指示に基づき
、試験項目実行テーブル１２に設定されている試験項目
が、被試験袋Ｗ７が送出した機能情報から得られた試験
に必要な試験項目と一致しているか調べる。そして、一
致していれば試験項目実行テーブル１２の試験項目を変
更しないが、一致しない場合は被試験装置７の機能を試
験するために必要な試験項目に変更する。

プロセッサＩは次に試験項目実行テーブル１２に設定さ
れた試験項目を読出し、メモリ３に格納された試験項目
プログラム群１（１２）の中から、この試験項目に対応
するテストプログラムを続出して実行する。そして、試
験項目実行テーブル１２に設定された総ての試験項目に
対応したテストプログラムを実行すると、終了処理プロ
グラム１１を読出して実行する３ プロセッサ１は次に被試験装置１４が接続されると、試
験項目実行テーブル１２を参照し、先頭に初期設定が指
定されているため、メモリ３の初期設定プログラム９を
読出して実行し、インタフェース回路６を経て被試験装
置１４のファームウェアにデータを与えて立ち上がらせ
、テストプログラムを実行する上で必要な機能情報を送
出させる。

そして、前記同様に変更手段１３の指示に基づき、試験
項目実行テーブル１２に設定されている試験項目が、被
試験装置１４が送出した機能情報から得られた試験に必
要な試験項目と一致しているか調べる。そして、一致し
ていれば試験項目実行テーブル１２の試験項目を変更し
ないが、被試験装置７と被試験装置１４の機能が異なり
、試験項目実行テーブル１２に設定されている試験項目
が一致しない場合は被試験装置１４の機能を試験するた
めに必要な試験項目に変更する。

そして、変更処理した試験項目実行テーブル１２の試験
項目を読出して被試験装置１４の試験を前記同様に実行
する。

〔作用〕

上記の如く構成することにより、プロセッサ１は変更手
段１３の指示により、試験項目実行テープル１２に設定
されている試験項目を、被試験装置の機能を試験するた
めに必要な試験項目に変更するため、各テストプログラ
ム毎に実行するか否かを判定する判定部が不要となり、
テストプログラムの作成工数や作成量を減らして経済的
にすると共に、プロセッサ１が試験項目プログラム群Ｉ
Ｏの中から必要の無いテストプログラムを読出す無駄な
動作を不要とするため、試験装置の処理速度も向上させ
ることが出来る。

〔実施例〕

第２図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図で、
第３図は第２図の動作を説明するフローチャートで、第
４図は第２図の動作を説明する図である。

第５図と同一符号は同一機能のものを示す。プロセッサ
１はＲＯＭ２に格納されている初期設定プログラムを読
出して動作し、ディスク制御回路４を経てディスク５に
格納されている試験項目実行テーブル１２と初期設定プ
ログラム９と試験項目プログラム群１０と終了処理プロ
グラム１１をメモリ３に格納する。

そして、プロセッサ１は第３図に示す如く、メモリ３に
格納された試験項目実行テーブル１２を参照して、その
指示に従いインタフェース回路６を経て被試験装置７の
試験を行う。この被試験装置７は接続頻度の高い装置で
あり、第４図（ａｌの被試験袋Ｗ７に示す如く、試験項
目パターンがＡ。

Ｂ、Ｃ，Ｅ、Ｇであるものとする。

試験項目実行テーブル１２には、試験を開始するに当た
り必要とする初期設定を指示する初期設定項目と、接続
頻度の高い被試験装置に適した試験が出来るようにテス
トプログラムを選択した試験項目と、試験終了に伴う処
理を指示する終了処理項目が、初期値として設定される
ため、第４開山）に示す如く、初期設定とテストＡ、テ
ストＢ、テストＣ、テストＥ１テストＧ及び終了処理が
設定されている。

プロセッサ１は試験項目実行テーブル１２の先頭に初期
設定が指定されているため、第３図に示す如く、先ずメ
モリ３に格納された初期設定プログラム９を読出して実
行する。即ち、インタフェース回路６を経て被試験装置
７のファームウェアにデータを与えて立ち上がらせ、テ
ストプログラムを実行する上で必要な機能情報を送出さ
せる。

即ち、被試験装置７の機能別に必要とする試験項目を選
定するための機能情報等である。

プロセッサｌはメモリ３の変更指示プログラム１５の指
示に基づき、試験項目実行テーブル１２に設定されてい
る試験項目が、被試験装置７が送出した機能情報から得
られた試験に必要な試験項目と一致しているか、第３図
に示す如く調べる。

この場合は一致しているため試験項目実行テーブル１２
の試験項目を変更しない。

プロセッサ１は次に試験項目実行テーブル１２に設定さ
れた試験項目を読出し、メモリ３に格納された第４図＋
ｄ）に示す如き試験項目プログラム群１（１２）の中か
ら、この試験項目に対応するテストプログラムを読出し
て実行する。即ち、第４開山）に示すテストＡに対応す
るテストプログラムＡを読出して実行し、テストＢに対
応するテストプログラムＢを読出して実行し、テストＣ
に対応するテストプログラムＣを読出して実行し、テス
トＥに対応するテストプログラムＥを読出して実行し、
テストＧに対応するテストプログラムＧを読出して実行
する。そして、終了処理プログラム１１を読出して実行
する。

そして、試験終了か調べ、終了でなく被試験装置１４が
接続されると、試験項目実行テーブル１２を参照するル
ーチンに戻り、プロセッサ１は試験項目実行テーブル１
２を参照する。そして、先頭に初期設定が指定されてい
るため、メモリ３の初期設定プログラム９を読出して実
行し、インタフェース回路６を経て被試験装置１４のフ
ァームウェアにデータを与えて立ち上がらせ、テストプ
ログラムを実行する上で必要な機能情報を送出させる。

プｄセッサｌは前記同様に、変更指示プログラム１５の
指示に基づき、第３図に示す如く、試験項目実行テーブ
ル１２に設定されている試験項目が、被試験装置１４が
送出した機能情報から得られた試験に必要な試験項目と
一致しているか調べる。

被試験袋！１４の試験項目パターンは第４図（ａｌの被
試験装置１４に示す如く、Ａ、Ｂ、Ｄ、Ｅ。

Ｆ、　Ｈであるとすると、被試験装置７と被試験装置１
４の機能が異なり、試験項目実行テーブル１２に設定さ
れている試験項目が一致しない。従って、プロセッサＩ
は変更指示プログラムＩ５の指示に基づき、試験項目実
行テーブル１２の内容を被試験装置１４の機能を試験す
るために必要な試験項目に変更する。

即ち、第４図（ｅ）に示す如く、第４図（ｂ）に示す内
容を変更して、テストＣとテストＧを削除し、テストＤ
とテストＦとテストＨを追加する。

ここで、プロセッサ１は試験項目実行テーブル１２に設
定された試験項目を読出し、メモリ３に格納された第４
図（ｄｌに示す如き試験項目プログラム群１（１２）の
中から、この試験項目に対応するテストプログラムを読
出して実行する。即ち、第４図（Ｃ）に示すテスＩ−Ａ
に対応するテストプログラムＡを読出して実行し、テス
トＢに対応するテストプログラムＢを読出して実行し、
テストＤに対応するテストプログラムＤを読出して実行
し、テストＥに対応するテストプログラムＥを読出して
実行し、テストＦに対応するテストプログラムＦを読出
して実行し、テストＨに対応するテストプログラムＨを
読出して実行する。そして、終了処理プログラム１１を
読出して実行する。

そして、試験終了か調べ、試験終了であれば動作を終了
させる。

〔発明の効果〕

以上説明した如く、本発明はプロセッサが変更指示プロ
グラムの指示により、試験項目実行テーブルに設定され
ている試験項目を、被試験装置の機能を試験するために
必要な試験項目に変更するため、各テストプログラム毎
に実行するか否かを判定する判定部が不要となり、テス
トプログラムの作成工数や作成量を減らして経済的にす
ると共に、プロセッサが試験項目プログラム群の中から
必要の無いテストプログラムを読出す無駄な動作を不要
とするため、試験装置の処理連麿を向上させることが出
来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理ブロック図、 第２図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図、 第３図は第２図の動作を説明するフローチャート、第４
図は第２図の動作を説明する図、 第５図は従来の技術を説明するブロック図、第６図は試
験項目実行テーブルの一例を示す図、第７図は試験項目
プログラム群の一例を示す図である。 図において、 ｌはプロセッサ、　　　２はＲＯＭ、 ３はメモリ、　　　　　４はディスク制御回路、５はデ
ィスク、　　　　６はインタフェース回路、７．１４は
被試験装置、 ８．１２は試験項目実行テーブル、 ９は初期設定プログラム、 １０は試験項目プログラム群、 １１は終了処理プログラム、 １３は変更手段、 １５は変更指示プログラムである。 茅２囚のすカイ下と３を田′Ｆ！するフロー’ｒｖ−１
−牛　３　口 ｊｂ）　　　　　　　　　　　ＣＣ） 茅２図の＠４下と京兇′ａ月する図 ！　４　圀 ５（鄭【鏝目炙行チー７゛ルの一ゾコを示す図番　迭　
力 試験増目プロ２゛ラム第羊の一グ免示す図峯　７　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 異なる機能を持つ複数の被試験装置（７）（１４）の中
   から接続された被試験装置（７）の各機能を試験するた
   め、試験項目毎に作成された複数のテストプログラム（
   １０）と、該複数のテストプログラム（１０）を実行す
   る順序を指示する試験項目実行テーブル（１２）を用い
   、該試験項目実行テーブル（１２）が指示する順序で該
   複数のテストプログラム（１０）を順次実行することに
   より、該被試験装置（７）の試験を行う試験装置であっ
   て、 被試験装置（７）の機能の差を通知する機能情報に基づ
   き、前記複数のテストプログラム（１０）の中から該被
   試験装置（７）を試験する上で必要とするテストプログ
   ラムのみを選択するように、該試験項目実行テーブル（
   １２）の内容を変更する手段（１３）を設け、該被試験
   装置（７）（１４）の試験を開始する際に、該被試験装
   置（７）（１４）から該機能情報を読取って該試験項目
   実行テーブル（１２）の内容を変更した後、該変更済の
   試験項目実行テーブル（１２）が指示する順序で、該選
   択されたテストプログラムを実行することにより、該被
   試験装置（７）（１４）の試験を行うことを特徴とする
   試験項目自動選択方式。