JPS622761Y2 - - Google Patents
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- JPS622761Y2 JPS622761Y2 JP13533481U JP13533481U JPS622761Y2 JP S622761 Y2 JPS622761 Y2 JP S622761Y2 JP 13533481 U JP13533481 U JP 13533481U JP 13533481 U JP13533481 U JP 13533481U JP S622761 Y2 JPS622761 Y2 JP S622761Y2
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- film
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- capacitor element
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)
Description
本考案は複合フイルムの熱溶着により密封外装
したコンデンサに関する。 最近、コンデンサの外装構造として金属ケース
とゴム栓の代わりに2種以上のプラスチツクフイ
ルムまたはプラスチツクフイルムと金属箔とをラ
ミネートしてなる複合フイルムでコンデンサを包
み、前記複合フイルムを熱溶着して密封し外装を
施したコンデンサが提案されている。この種のコ
ンデンサはあらかじめ前記複合フイルムに凹部を
形成し、該凹部に扁平状のコンデンサ素子を装填
し周囲をヒートシーラで熱溶着している。前記2
種以上のプラスチツクフイルムからなる複合フイ
ルムでは融点または軟化点の異なるプラスチツク
フイルムを組合せてラミネートして複合フイルム
としコンデンサ素子に接する内面、すなわちシー
ル面に低融点または低軟化点のプラスチツクフイ
ルムが位置するように配置する。この場合内面フ
イルムの厚さはコンデンサの特性に重大な影響を
及ぼし、薄すぎると電解液や含浸剤の液漏れ、シ
ール面の剥離、コンデンサの端子間短絡などが多
発し、厚すぎるとフイルム断面を通しての液蒸発
損、洗浄剤の侵入などにより寿命特性が低下する
欠点がある。内面フイルムとしてはポリエチレン
やポリエチレンを主成分とする共重合物、たとえ
ばアイオノマーなどを用いることが多いが、乾ま
たは湿時の融着性、耐屈曲性、耐油性はよいが、
反面アルコールやケトン類には侵されやすい欠点
がある。またプラスチツクフイルムと金属箔から
なる複合フイルムは2種のプラスチツクフイルム
の間に金属箔を介在させてラミネートして複合フ
イルムとしているが、端子間短絡と内面フイルム
の厚さが関係し、薄すぎると短絡が多発し、厚す
ぎると液蒸発損、洗浄剤の侵入などにより寿命特
性が低下する。これまでこの種のコンデンサの内
面フイルムの厚さは小形化と液蒸発損、洗浄剤の
侵入防止などのため5〜50μのものや、端子間短
絡防止のため350〜500μのものが用いられている
が、高温域での長時間使用に際し液漏れ、液蒸発
損や洗浄剤の侵入などの欠点があつた。 本考案はコンデンサ素子を複合フイルムの熱溶
着により密封外装するコンデンサにおいて、前記
コンデンサ素子に接する内面フイルムをアイオノ
マーとし、該アイオノマーの厚さを70〜150μに
設定することによつて端子間短絡の防止、液蒸発
損や洗浄剤の侵入を防止し、寿命特性の向上をは
かり、しかも小形軽量で量産加工性のよい安価な
コンデンサを提供せんとするものである。 以下、本考案の一実施例につき詳細に説明す
る。まず第1図および第2図に示すように端子1
を取着した扁平状または円柱状のコンデンサ素子
2の上下にそれぞれれ耐熱性や耐溶剤性の異なる
2種以上のプラスチツクフイルムまたは該プラス
チツクフイルムと金属箔とをラミネートしてなる
複合フイルム3を配置する。該複合フイルム3は
前記コンデンサ素子2に接する内面フイルム4と
して耐溶剤性のよいアイオノマーを配し、該アイ
オノマーにポリエチレンテレフタレート、プリプ
ロピレン、ポリカーボネート、ポリサルホン、ポ
リ弗化ビニリデン、ポリ弗化エチレン、ポリ塩化
ビニリデン、ポリブチレンテレフタレートのうち
1種を外面フイルム5としてラミネートしたプラ
スチツクラミネートフイルム、または該ラミネー
トフイルムの中間にアルミニウム、錫、鉛などの
金属箔6を介在させたプラスチツク−金属ラミネ
ートフイルムからなるものであり、前記内面フイ
ルム4としてのアイオノマーの厚さを70〜150μ
に設定したものである。しかして、複合フイルム
3 2枚を上下に対向させ、その間にコンデンサ
素子2を配置したのち熱板や圧子などのヒートシ
ーラで内面フイルム4であるアイオノマー同志を
熱溶着して密封し、前記コンデンサ素子2の周囲
にシール部7を形成し外装を施すものである。前
記熱溶着は複数個のコンデンサ素子2を同時に行
つてもよいし、1個ずつ連続的に行つてもよい
し、ヒートシーラとして熱板や圧子の代わりにイ
ンパルス溶着機、超音波溶着機、高周波溶着機な
どを用いてもよい。 つぎに定格50WVDC−22μFのアルミニウム
電解コンデンサにおける内面フイルム4としての
アイオノマーの厚さと初期不良発生の関係を表1
に示す。複合フイルム3は外面フイルム5として
12μポリエチレンテレフタレートフイルム、中間
に金属箔6として20μアルミニウム箔、内面フイ
ルム4としてアイオノマーフイルムからなるプラ
スチツク−金属ラミネートフイルムを用いて熱溶
着したもので、内面フイルムとなるアイオノマー
フイルムの厚さを変えた場合の初期不良発生状況
である。試料数は100個である。
したコンデンサに関する。 最近、コンデンサの外装構造として金属ケース
とゴム栓の代わりに2種以上のプラスチツクフイ
ルムまたはプラスチツクフイルムと金属箔とをラ
ミネートしてなる複合フイルムでコンデンサを包
み、前記複合フイルムを熱溶着して密封し外装を
施したコンデンサが提案されている。この種のコ
ンデンサはあらかじめ前記複合フイルムに凹部を
形成し、該凹部に扁平状のコンデンサ素子を装填
し周囲をヒートシーラで熱溶着している。前記2
種以上のプラスチツクフイルムからなる複合フイ
ルムでは融点または軟化点の異なるプラスチツク
フイルムを組合せてラミネートして複合フイルム
としコンデンサ素子に接する内面、すなわちシー
ル面に低融点または低軟化点のプラスチツクフイ
ルムが位置するように配置する。この場合内面フ
イルムの厚さはコンデンサの特性に重大な影響を
及ぼし、薄すぎると電解液や含浸剤の液漏れ、シ
ール面の剥離、コンデンサの端子間短絡などが多
発し、厚すぎるとフイルム断面を通しての液蒸発
損、洗浄剤の侵入などにより寿命特性が低下する
欠点がある。内面フイルムとしてはポリエチレン
やポリエチレンを主成分とする共重合物、たとえ
ばアイオノマーなどを用いることが多いが、乾ま
たは湿時の融着性、耐屈曲性、耐油性はよいが、
反面アルコールやケトン類には侵されやすい欠点
がある。またプラスチツクフイルムと金属箔から
なる複合フイルムは2種のプラスチツクフイルム
の間に金属箔を介在させてラミネートして複合フ
イルムとしているが、端子間短絡と内面フイルム
の厚さが関係し、薄すぎると短絡が多発し、厚す
ぎると液蒸発損、洗浄剤の侵入などにより寿命特
性が低下する。これまでこの種のコンデンサの内
面フイルムの厚さは小形化と液蒸発損、洗浄剤の
侵入防止などのため5〜50μのものや、端子間短
絡防止のため350〜500μのものが用いられている
が、高温域での長時間使用に際し液漏れ、液蒸発
損や洗浄剤の侵入などの欠点があつた。 本考案はコンデンサ素子を複合フイルムの熱溶
着により密封外装するコンデンサにおいて、前記
コンデンサ素子に接する内面フイルムをアイオノ
マーとし、該アイオノマーの厚さを70〜150μに
設定することによつて端子間短絡の防止、液蒸発
損や洗浄剤の侵入を防止し、寿命特性の向上をは
かり、しかも小形軽量で量産加工性のよい安価な
コンデンサを提供せんとするものである。 以下、本考案の一実施例につき詳細に説明す
る。まず第1図および第2図に示すように端子1
を取着した扁平状または円柱状のコンデンサ素子
2の上下にそれぞれれ耐熱性や耐溶剤性の異なる
2種以上のプラスチツクフイルムまたは該プラス
チツクフイルムと金属箔とをラミネートしてなる
複合フイルム3を配置する。該複合フイルム3は
前記コンデンサ素子2に接する内面フイルム4と
して耐溶剤性のよいアイオノマーを配し、該アイ
オノマーにポリエチレンテレフタレート、プリプ
ロピレン、ポリカーボネート、ポリサルホン、ポ
リ弗化ビニリデン、ポリ弗化エチレン、ポリ塩化
ビニリデン、ポリブチレンテレフタレートのうち
1種を外面フイルム5としてラミネートしたプラ
スチツクラミネートフイルム、または該ラミネー
トフイルムの中間にアルミニウム、錫、鉛などの
金属箔6を介在させたプラスチツク−金属ラミネ
ートフイルムからなるものであり、前記内面フイ
ルム4としてのアイオノマーの厚さを70〜150μ
に設定したものである。しかして、複合フイルム
3 2枚を上下に対向させ、その間にコンデンサ
素子2を配置したのち熱板や圧子などのヒートシ
ーラで内面フイルム4であるアイオノマー同志を
熱溶着して密封し、前記コンデンサ素子2の周囲
にシール部7を形成し外装を施すものである。前
記熱溶着は複数個のコンデンサ素子2を同時に行
つてもよいし、1個ずつ連続的に行つてもよい
し、ヒートシーラとして熱板や圧子の代わりにイ
ンパルス溶着機、超音波溶着機、高周波溶着機な
どを用いてもよい。 つぎに定格50WVDC−22μFのアルミニウム
電解コンデンサにおける内面フイルム4としての
アイオノマーの厚さと初期不良発生の関係を表1
に示す。複合フイルム3は外面フイルム5として
12μポリエチレンテレフタレートフイルム、中間
に金属箔6として20μアルミニウム箔、内面フイ
ルム4としてアイオノマーフイルムからなるプラ
スチツク−金属ラミネートフイルムを用いて熱溶
着したもので、内面フイルムとなるアイオノマー
フイルムの厚さを変えた場合の初期不良発生状況
である。試料数は100個である。
【表】
表1から端子間短絡、液漏れの初期不良発生を
絶無にするには内面フイルム4の厚さを70μ以上
に設定することが必要であることがわかる。第3
図および第4図に上記同試料の寿命試験(温度85
℃、湿度90%RH、定格電圧印加)における静電
容量変化率とtanδの変化を示す。また第5図に
上記同試料をあらかじめ1.1.1−トリクロロ
エタン蒸気洗浄10分間経たのちに行つた蒸気同様
の寿命試験(温度85℃、湿度90%RH、定格電圧
印加)における腐蝕発生率を示す。図注曲線は
内面フイルム4であるアイオノマーの厚さ=25
μ、曲線は厚さ=50μ、曲線は厚さ=70μ、
曲線は厚さ=100μ、曲線は厚さ=150μ、曲
線は厚さ=160μ、曲線は厚さ=200μ、曲線
は厚さ=500μの場合である。内面フイルム4
であるアイオノマーの厚さが70μ未満の場合は腐
蝕不良発生数が多いのに加えて液漏れ、シール面
の剥離などにより気密性が悪いため、静電容量、
tanδが著しく変化し、かつ洗浄剤の侵入により
腐蝕発生率も高い。また内面フイルム4であるア
イオノマーの厚さが150μを越えるとアイオノマ
ーフイルム断面を通しての液蒸発損が生じ高温域
で液漏れが発生するため、静電容量、tanδの変
化が著しく大きく、しかもフイルム断面からの洗
浄剤の侵入によりアイオノマーフイルムが膨潤し
短時間に腐蝕が発生し、腐蝕発生率も非常に高
い。したがつて、表1および第3図〜第5図から
内面フイルム4であるアイオノマーの厚さは70〜
150μが最適範囲であることがわかる。なお、ヒ
ートシーラの熱板や圧子にギザ目やローレツトの
ような凹凸を設けて熱溶着しシール部7に凹凸を
形成すれば気密性が一層向上する。さらに蒸気実
施例ではアルミニウム電解コンデンサを例示した
が、タンタル固体電解コンデンサ、プラスチツク
フイルムコンデンサ、紙コンデンサ、磁器コンデ
ンサなどに適用しても同効である。 なお、実施例では内面フイルムと外面フイルム
の間に金属箔を介在させた場合について述べた
が、金属箔に代えて外面フイルムに使用したフイ
ルムを1種以上介在させたり、あるいはこれら1
種以上のフイルムを金属箔とともに介在させても
よい。 以上詳述したように本考案によれば、端子を取
着したコンデンサ素子をアイオノマーを内面フイ
ルムとした複合フイルムで熱溶着して密封外装す
るコンデンサにおいて、前記コンデンサ素子に接
するアイオノマーの厚さを70〜150μに設定した
ことによつて端子間短絡の防止、液漏れ、液蒸発
損や洗浄剤の侵入を防止し寿命特性の向上をはか
り、しかも小形軽量で量産加工性のよい安価なコ
ンデンサを提供することができる。
絶無にするには内面フイルム4の厚さを70μ以上
に設定することが必要であることがわかる。第3
図および第4図に上記同試料の寿命試験(温度85
℃、湿度90%RH、定格電圧印加)における静電
容量変化率とtanδの変化を示す。また第5図に
上記同試料をあらかじめ1.1.1−トリクロロ
エタン蒸気洗浄10分間経たのちに行つた蒸気同様
の寿命試験(温度85℃、湿度90%RH、定格電圧
印加)における腐蝕発生率を示す。図注曲線は
内面フイルム4であるアイオノマーの厚さ=25
μ、曲線は厚さ=50μ、曲線は厚さ=70μ、
曲線は厚さ=100μ、曲線は厚さ=150μ、曲
線は厚さ=160μ、曲線は厚さ=200μ、曲線
は厚さ=500μの場合である。内面フイルム4
であるアイオノマーの厚さが70μ未満の場合は腐
蝕不良発生数が多いのに加えて液漏れ、シール面
の剥離などにより気密性が悪いため、静電容量、
tanδが著しく変化し、かつ洗浄剤の侵入により
腐蝕発生率も高い。また内面フイルム4であるア
イオノマーの厚さが150μを越えるとアイオノマ
ーフイルム断面を通しての液蒸発損が生じ高温域
で液漏れが発生するため、静電容量、tanδの変
化が著しく大きく、しかもフイルム断面からの洗
浄剤の侵入によりアイオノマーフイルムが膨潤し
短時間に腐蝕が発生し、腐蝕発生率も非常に高
い。したがつて、表1および第3図〜第5図から
内面フイルム4であるアイオノマーの厚さは70〜
150μが最適範囲であることがわかる。なお、ヒ
ートシーラの熱板や圧子にギザ目やローレツトの
ような凹凸を設けて熱溶着しシール部7に凹凸を
形成すれば気密性が一層向上する。さらに蒸気実
施例ではアルミニウム電解コンデンサを例示した
が、タンタル固体電解コンデンサ、プラスチツク
フイルムコンデンサ、紙コンデンサ、磁器コンデ
ンサなどに適用しても同効である。 なお、実施例では内面フイルムと外面フイルム
の間に金属箔を介在させた場合について述べた
が、金属箔に代えて外面フイルムに使用したフイ
ルムを1種以上介在させたり、あるいはこれら1
種以上のフイルムを金属箔とともに介在させても
よい。 以上詳述したように本考案によれば、端子を取
着したコンデンサ素子をアイオノマーを内面フイ
ルムとした複合フイルムで熱溶着して密封外装す
るコンデンサにおいて、前記コンデンサ素子に接
するアイオノマーの厚さを70〜150μに設定した
ことによつて端子間短絡の防止、液漏れ、液蒸発
損や洗浄剤の侵入を防止し寿命特性の向上をはか
り、しかも小形軽量で量産加工性のよい安価なコ
ンデンサを提供することができる。
第1図は本考案の一実施例に係るコンデンサを
示す平面図、第2図はその正面図、第3図は寿命
試験における静電容量変化率を示す曲線図、第4
図は寿命試験におけるtanδの変化を示す曲線
図、第5図は1.1.1−トリクロロエタン蒸気
洗浄後の寿命試験における腐蝕発生率を示す曲線
図である。 1……端子、2……コンデンサ素子、3……複
合フイルム、4……内面フイルム、5……外面フ
イルム、6……金属箔、7……シール部。
示す平面図、第2図はその正面図、第3図は寿命
試験における静電容量変化率を示す曲線図、第4
図は寿命試験におけるtanδの変化を示す曲線
図、第5図は1.1.1−トリクロロエタン蒸気
洗浄後の寿命試験における腐蝕発生率を示す曲線
図である。 1……端子、2……コンデンサ素子、3……複
合フイルム、4……内面フイルム、5……外面フ
イルム、6……金属箔、7……シール部。
Claims (1)
- 端子を取着したコンデンサ素子と、該コンデン
サ素子を密封するプラスチツクラミネートフイル
ムまたはプラスチツク−金属ラミネートフイルム
からなる複合フイルムと、前記コンデンサ素子の
周囲に形成したシール部とを具備し、前記複合フ
イルムが、前記コンデンサ素子に接する内面フイ
ルムをアイオノマー、外面フイルムをポリエチレ
ンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリカーボ
ネート、ポリサルホン、ポリ弗化ビニリデン、ポ
リ弗化エチレン、ポリ塩化ビニリデン、ポリブチ
レンテレフタレートのうちの1種としたプラスチ
ツクラミネートフイルムまたは該ラミネートフイ
ルムの中間に金属箔を介在させたプラスチツク−
金属ラミネートフイルムからなり、前記アイオノ
マーの厚さを70〜150μに設定したことを特徴と
するコンデンサ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13533481U JPS5840833U (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | コンデンサ |
| US06/408,875 US4439810A (en) | 1981-09-10 | 1982-08-17 | Electric capacitor with enclosure structure consisting of plastic laminated film |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13533481U JPS5840833U (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | コンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5840833U JPS5840833U (ja) | 1983-03-17 |
| JPS622761Y2 true JPS622761Y2 (ja) | 1987-01-22 |
Family
ID=29928708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13533481U Granted JPS5840833U (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5840833U (ja) |
-
1981
- 1981-09-10 JP JP13533481U patent/JPS5840833U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5840833U (ja) | 1983-03-17 |
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