JPS6230178U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6230178U JPS6230178U JP12027385U JP12027385U JPS6230178U JP S6230178 U JPS6230178 U JP S6230178U JP 12027385 U JP12027385 U JP 12027385U JP 12027385 U JP12027385 U JP 12027385U JP S6230178 U JPS6230178 U JP S6230178U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- wiping
- hinges
- smear
- equal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000011109 contamination Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Description
第１図および第２図は本考案一実施例のスミヤ
拭取装置を示し、第１図は自由状態を示す正面図
、第２図は動作状態を示す説明図、第３図乃至第
５図はそれぞれ従来の拭取手段の異なる構造例を
示す概略図、第６図は第５図の拭取手段の拭取材
の接触圧分布を示すグラフである。 １１…拭取材ホルダ、１２…拭取材、１３，１
４…ヒンジ、１５…スミヤアーム、１６，１７…
ヒンジ、１８，１９…等長リンク、２０，２１…
ストツパ。
拭取装置を示し、第１図は自由状態を示す正面図
、第２図は動作状態を示す説明図、第３図乃至第
５図はそれぞれ従来の拭取手段の異なる構造例を
示す概略図、第６図は第５図の拭取手段の拭取材
の接触圧分布を示すグラフである。 １１…拭取材ホルダ、１２…拭取材、１３，１
４…ヒンジ、１５…スミヤアーム、１６，１７…
ヒンジ、１８，１９…等長リンク、２０，２１…
ストツパ。
Claims (1)
- 汚染の拭取を行なう拭取材を下面に保持した拭
取材ホルダの上部に間隔Ａで一対のヒンジを設け
るとともに拭取動作を行なわせるスミヤアームに
前記Ａより大なるＢの間隔で一対のヒンジを設け
、このスミヤアームの一対のヒンジと前記拭取材
ホルダの一対のヒンジを一対の等長リンクで連結
し自由状態で前記一対の等長リンクが逆ハ字状の
姿勢で拭取材ホルダをスミヤアームから吊下げる
ように構成し、且つ前記スミヤアームに設けた一
対のストツパにより前記一対の等長リンクの自由
状態からの揺動角を所定角度に制限したことを特
徴とするスミヤ拭取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12027385U JPH0449595Y2 (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12027385U JPH0449595Y2 (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230178U true JPS6230178U (ja) | 1987-02-23 |
| JPH0449595Y2 JPH0449595Y2 (ja) | 1992-11-20 |
Family
ID=31008436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12027385U Expired JPH0449595Y2 (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0449595Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002131196A (ja) * | 2000-09-26 | 2002-05-09 | General Electric Co <Ge> | 表面の微粒子汚染物質を測定する装置 |
-
1985
- 1985-08-07 JP JP12027385U patent/JPH0449595Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002131196A (ja) * | 2000-09-26 | 2002-05-09 | General Electric Co <Ge> | 表面の微粒子汚染物質を測定する装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0449595Y2 (ja) | 1992-11-20 |