JPS6230698A - 単結晶成長法 - Google Patents
単結晶成長法Info
- Publication number
- JPS6230698A JPS6230698A JP16882485A JP16882485A JPS6230698A JP S6230698 A JPS6230698 A JP S6230698A JP 16882485 A JP16882485 A JP 16882485A JP 16882485 A JP16882485 A JP 16882485A JP S6230698 A JPS6230698 A JP S6230698A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon
- crystal silicon
- ingot
- single crystal
- oxygen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔11要〕
単結晶成長法であって、多針の酸素を含有する多結晶シ
リコン・インゴットを帯溶融法により単結晶化させるこ
とにより、大口径であって多機の酸素を含有する単結晶
シリコン・インゴットを得ることがijl箋となる。
リコン・インゴットを帯溶融法により単結晶化させるこ
とにより、大口径であって多機の酸素を含有する単結晶
シリコン・インゴットを得ることがijl箋となる。
本発明は単結晶成長法であって、さらに詳しくいえば多
量の酸素を含有する大口径の単結晶シリコン・インゴッ
トを得ることを可1Fとする単結晶成長法に関するもの
である。
量の酸素を含有する大口径の単結晶シリコン・インゴッ
トを得ることを可1Fとする単結晶成長法に関するもの
である。
単結晶シリコンのインゴットから切り出したウェハーを
初期熱処理を施すことによって、ウェハーの表面付近、
すなわちデバイスが構成される活性領域から欠陥や不純
物等を除去する、いわゆるイントリンシックゲッタリン
グ法があるが、この場合、多量の酸素を含む単結晶シリ
コンのインゴットであれば、ゲッタリング効果はより大
きいことが知ら終ている。
初期熱処理を施すことによって、ウェハーの表面付近、
すなわちデバイスが構成される活性領域から欠陥や不純
物等を除去する、いわゆるイントリンシックゲッタリン
グ法があるが、この場合、多量の酸素を含む単結晶シリ
コンのインゴットであれば、ゲッタリング効果はより大
きいことが知ら終ている。
ところで引とげ法として知られている単結晶成長法によ
れば、溶融シリコンがるつぼの中で対流している間にる
つぼに含まれている酸素が溶は出すので、生成された単
結晶シリコンのインゴー/ )には多量の酸素を含有さ
せることができる。
れば、溶融シリコンがるつぼの中で対流している間にる
つぼに含まれている酸素が溶は出すので、生成された単
結晶シリコンのインゴー/ )には多量の酸素を含有さ
せることができる。
しかし引」−げ法によって大口径単結晶シリコンのイン
ゴットを生成することは大口径化するにつれ、増々難し
くなる。その理由はインゴットの径が大きぐなればるつ
ぼの径もそれに応じて太きくする必要があるので(大体
、生成するインゴットの径の3倍の径を必要とする。)
、装置全体が巨大化して電力消費が莫大となるからであ
り、また溶融シリコンの温度や不純物の分布および固・
液界面の形状等の制御が困難となるからである。
ゴットを生成することは大口径化するにつれ、増々難し
くなる。その理由はインゴットの径が大きぐなればるつ
ぼの径もそれに応じて太きくする必要があるので(大体
、生成するインゴットの径の3倍の径を必要とする。)
、装置全体が巨大化して電力消費が莫大となるからであ
り、また溶融シリコンの温度や不純物の分布および固・
液界面の形状等の制御が困難となるからである。
このように従来の引上げ法によれば、酸素を大量に含有
させてイントリンシックゲッタリングを可能とする利点
を有するが、大口径の単結晶シリコンのインゴットの製
造が困難なので、その利点を生かせなくなるという問題
があった。
させてイントリンシックゲッタリングを可能とする利点
を有するが、大口径の単結晶シリコンのインゴットの製
造が困難なので、その利点を生かせなくなるという問題
があった。
本発明は係る従来例の問題点に鑑み創作されたものであ
り、大口径で、かつ酸素を大量に含有させてイントリン
シックゲッタリングを可能とする単結晶シリコンのイン
ゴットを生成する単結晶成長法の提供を目的とする。
り、大口径で、かつ酸素を大量に含有させてイントリン
シックゲッタリングを可能とする単結晶シリコンのイン
ゴットを生成する単結晶成長法の提供を目的とする。
本発明に係る単結晶成長法は、CvD技術により酸素を
多、7に含有する多結晶シリコンのインゴットを生成し
、さらに該インゴットを帯溶融法により単結晶化させて
単結晶シリコンのインゴットを生成することを特徴とす
る。
多、7に含有する多結晶シリコンのインゴットを生成し
、さらに該インゴットを帯溶融法により単結晶化させて
単結晶シリコンのインゴットを生成することを特徴とす
る。
単結晶シリコンのインゴットの素材となる多結晶シリコ
ンのインゴットの生成は通常CVD技術によるものであ
るから、インゴットの大口径化および該インゴット中に
多量の酸素を含有させることが容易である。またこのイ
ンゴットの単結晶化は帯溶融法によるので、大口径の多
結晶シリコンのインゴットであっても単結晶化が容易で
ある。
ンのインゴットの生成は通常CVD技術によるものであ
るから、インゴットの大口径化および該インゴット中に
多量の酸素を含有させることが容易である。またこのイ
ンゴットの単結晶化は帯溶融法によるので、大口径の多
結晶シリコンのインゴットであっても単結晶化が容易で
ある。
このように本発明によれば大口径で、かつ多量の酸素を
含有する単結晶シリコンのインゴットを容易に製造する
ことができる。
含有する単結晶シリコンのインゴットを容易に製造する
ことができる。
次に図を参照しながら本発明の実施例について説明する
。第1図は本発明の実施例に係る多結晶シリコン、の成
長法を説明するための断面図であり、3はcvn反応用
のチャンバである。4は生成すべき多結晶シリコンの材
料となるテトラクロルシラン(’JiCLs )である
、また5は02又はH20ガスであり、テトラクロルシ
ラン4が熱分解して多結晶シリコンが生成するときに同
時に熱分解させ、多結晶シリコン中に酸素を含有させる
ためのものである。
。第1図は本発明の実施例に係る多結晶シリコン、の成
長法を説明するための断面図であり、3はcvn反応用
のチャンバである。4は生成すべき多結晶シリコンの材
料となるテトラクロルシラン(’JiCLs )である
、また5は02又はH20ガスであり、テトラクロルシ
ラン4が熱分解して多結晶シリコンが生成するときに同
時に熱分解させ、多結晶シリコン中に酸素を含有させる
ためのものである。
lは種結晶シリコンの棒であり、2はCVD反応により
種結晶シリコン棒lの周りに生成された多結晶シリコン
である。
種結晶シリコン棒lの周りに生成された多結晶シリコン
である。
第2図は本発明の実施例に係る多結晶シリコン2を単結
晶化する方法を説明するための断面図であり、6は種と
なる単結晶シリコン部である。また7は未だ単結晶化さ
れていない多結晶シリコン領域、9はRF上ヒータによ
り溶融中のシリコン−領域、lOは溶融後、単結晶シリ
コン化した領域である。
晶化する方法を説明するための断面図であり、6は種と
なる単結晶シリコン部である。また7は未だ単結晶化さ
れていない多結晶シリコン領域、9はRF上ヒータによ
り溶融中のシリコン−領域、lOは溶融後、単結晶シリ
コン化した領域である。
次に第1図、第2図を参照しながら、本発明の実施例に
係る多量の酸素を含んでイントリンシックゲッタリング
を町濠とする大口径の単結晶シリコンの成長法について
説明する。
係る多量の酸素を含んでイントリンシックゲッタリング
を町濠とする大口径の単結晶シリコンの成長法について
説明する。
まずチャンバ3内に種結晶シ・リコンの棒をセットし、
不図示の加熱手段によりチャンバ3内を加熱する1次に
テトラクロルシラン(SiGLa)4および02又は)
120ガスをチャンバ3内に導入すると、テトラクロル
シラン4は熱によって分解し、種結晶シリコンの棒lの
周囲に多結晶シリコンとして成長する。このとき02又
はH20ガスも熱分解するので、多結晶シリコン内に酸
素が混入する。酸素の混入場は02又はH20ガスのf
&量によってコントロール町衡であるが、後のイントリ
ンシックゲッタリング効果からみて5x101)〜5X
10I8at on/Cm3程度含有させることが必要
であろう。
不図示の加熱手段によりチャンバ3内を加熱する1次に
テトラクロルシラン(SiGLa)4および02又は)
120ガスをチャンバ3内に導入すると、テトラクロル
シラン4は熱によって分解し、種結晶シリコンの棒lの
周囲に多結晶シリコンとして成長する。このとき02又
はH20ガスも熱分解するので、多結晶シリコン内に酸
素が混入する。酸素の混入場は02又はH20ガスのf
&量によってコントロール町衡であるが、後のイントリ
ンシックゲッタリング効果からみて5x101)〜5X
10I8at on/Cm3程度含有させることが必要
であろう。
なお実施例ではCVD反応により多結晶シリコンを成長
させるものだから、大口径のインゴット(例えば直径8
インチ、長さ2m)を容易に得ることができる(第1図
)。
させるものだから、大口径のインゴット(例えば直径8
インチ、長さ2m)を容易に得ることができる(第1図
)。
次に第1図で説明する成長法により得た大口径の多結晶
シリコンの頭部に種結晶シリコン部6を付け、さらにR
F上ヒータによってその頭部を溶融する。その後多結晶
シリコンを矢印方向に回転させながら、RF上ヒータを
徐々に下方へ移動させる(例えば7〜8cm/時間)、
RF上ヒータによって溶融した多結晶シリコンは予め多
量の酸素を含んでいるので、冷却して単結晶シリコンの
成長した領域lOにも多量の酸素が含まれている(第2
図)。
シリコンの頭部に種結晶シリコン部6を付け、さらにR
F上ヒータによってその頭部を溶融する。その後多結晶
シリコンを矢印方向に回転させながら、RF上ヒータを
徐々に下方へ移動させる(例えば7〜8cm/時間)、
RF上ヒータによって溶融した多結晶シリコンは予め多
量の酸素を含んでいるので、冷却して単結晶シリコンの
成長した領域lOにも多量の酸素が含まれている(第2
図)。
このように本発明の実施例によれば、大口径で、かつ多
量の酸素を含有してイントリンシックゲッタリングが可
能な単結晶シリコンのインゴ。
量の酸素を含有してイントリンシックゲッタリングが可
能な単結晶シリコンのインゴ。
トの製造が容易となる。
以上説明したように、本発明によれば単結晶シリコンの
インゴットの素材となる多結晶シリコンのインゴットは
CVD技術によって生成するめで大口径化が容易であり
、従来例の引上げ法のようにるつぼが大型化して装置全
体の大型化や莫大な消費電力を必要とすることもない。
インゴットの素材となる多結晶シリコンのインゴットは
CVD技術によって生成するめで大口径化が容易であり
、従来例の引上げ法のようにるつぼが大型化して装置全
体の大型化や莫大な消費電力を必要とすることもない。
また本発明によれば、帯溶融法により多結晶シリコンを
溶融するので、従来例のようにるつぼが大型化して波立
ちなどが生じ、あらたな欠陥の発生することもなく、高
純度の単結晶シリコンを得ることができる。
溶融するので、従来例のようにるつぼが大型化して波立
ちなどが生じ、あらたな欠陥の発生することもなく、高
純度の単結晶シリコンを得ることができる。
さらに本発明によれば酸素の含有量は02ガスやH20
ガスの流量等によって制御できるのでイントリンシック
ゲッタリング効果の最適の単結晶シリコンウェハを得る
ことができる。このため高品質で高歩留りの集積回路の
製造が可能となる。
ガスの流量等によって制御できるのでイントリンシック
ゲッタリング効果の最適の単結晶シリコンウェハを得る
ことができる。このため高品質で高歩留りの集積回路の
製造が可能となる。
第1図は本発明の実施例に係る多結晶シリコンの成長法
を説明するための断面図であり、第2図は本発明の実施
例に係る多結晶シリコンを単結晶化する方法を説明する
ための断面図である。 1・・・種結晶シリコンの棒 2・・・生成多結晶シリコン(S 1GLn )4・・
・テトラクロルシランガス 5・・・02 又は120ガス 6・・・種となる単結晶シリコン部 7・・・多結晶シリコン領域 8・・・RF上ヒー タ・・・溶融シリコン領域 lO・・・栄結晶シリコン領域
を説明するための断面図であり、第2図は本発明の実施
例に係る多結晶シリコンを単結晶化する方法を説明する
ための断面図である。 1・・・種結晶シリコンの棒 2・・・生成多結晶シリコン(S 1GLn )4・・
・テトラクロルシランガス 5・・・02 又は120ガス 6・・・種となる単結晶シリコン部 7・・・多結晶シリコン領域 8・・・RF上ヒー タ・・・溶融シリコン領域 lO・・・栄結晶シリコン領域
Claims (1)
- CVD技術により酸素を多量に含有する多結晶シリコ
ンのインゴットを生成し、さらに該インゴットを帯溶融
法により単結晶化させて単結晶シリコンのインゴットを
生成する単結晶成長法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16882485A JPS6230698A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 単結晶成長法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16882485A JPS6230698A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 単結晶成長法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230698A true JPS6230698A (ja) | 1987-02-09 |
Family
ID=15875193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16882485A Pending JPS6230698A (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 単結晶成長法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6230698A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03252397A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-11 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 浮遊帯域融解法による単結晶シリコン製造用の棒状多結晶シリコン及びその製造方法 |
| JP2009227581A (ja) * | 2001-08-02 | 2009-10-08 | Siltronic Ag | フロートゾーン法により製造したシリコン単結晶及びシリコン基板 |
| US7922814B2 (en) * | 2005-11-29 | 2011-04-12 | Chisso Corporation | Production process for high purity polycrystal silicon and production apparatus for the same |
| CN103160912A (zh) * | 2011-12-08 | 2013-06-19 | 有研半导体材料股份有限公司 | 一种掺杂区熔单晶的制备工艺 |
-
1985
- 1985-07-31 JP JP16882485A patent/JPS6230698A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03252397A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-11 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 浮遊帯域融解法による単結晶シリコン製造用の棒状多結晶シリコン及びその製造方法 |
| JP2009227581A (ja) * | 2001-08-02 | 2009-10-08 | Siltronic Ag | フロートゾーン法により製造したシリコン単結晶及びシリコン基板 |
| US7922814B2 (en) * | 2005-11-29 | 2011-04-12 | Chisso Corporation | Production process for high purity polycrystal silicon and production apparatus for the same |
| US8287645B2 (en) | 2005-11-29 | 2012-10-16 | Jnc Corporation | Production process for high purity polycrystal silicon and production apparatus for the same |
| CN103160912A (zh) * | 2011-12-08 | 2013-06-19 | 有研半导体材料股份有限公司 | 一种掺杂区熔单晶的制备工艺 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4040895A (en) | Control of oxygen in silicon crystals | |
| CN108823636A (zh) | 单晶硅生长装置以及单晶硅生长方法 | |
| JP5464429B2 (ja) | 四角形の断面を有する単結晶シリコンの育成方法 | |
| JPS6230698A (ja) | 単結晶成長法 | |
| CN111575795A (zh) | 一种蓝色莫桑石的制备方法 | |
| JP6719718B2 (ja) | Siインゴット結晶の製造方法及びその製造装置 | |
| JPH03115188A (ja) | 単結晶製造方法 | |
| US3021198A (en) | Method for producing semiconductor single crystals | |
| JPH01294592A (ja) | 単結晶の育成方法 | |
| CN105970286B (zh) | 一种多坩埚液相外延SiC晶体的方法 | |
| CN221421277U (zh) | 一种降低晶体氧含量的单晶炉变壁厚加热器 | |
| JPH09309791A (ja) | 半導体単結晶の製造方法 | |
| JPH11274537A (ja) | 大粒径多結晶シリコンの製造法 | |
| JP4719427B2 (ja) | 熱分解窒化ホウ素坩堝とそれを用いた単結晶育成方法 | |
| JPH08319189A (ja) | 単結晶の製造方法及び単結晶製造装置 | |
| JP2002234792A (ja) | 単結晶製造方法 | |
| JPS63215594A (ja) | 二重るつぼ結晶育成方法 | |
| JPH09110588A (ja) | 単結晶銅の製造方法 | |
| JPH0449185Y2 (ja) | ||
| JPS63319293A (ja) | シリコン単結晶引上成長炉 | |
| JPS62171984A (ja) | 結晶製造装置 | |
| JPS60180989A (ja) | 化合物単結晶の製造方法 | |
| JPH02217393A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
| JPS61106487A (ja) | 単結晶成長装置 | |
| JPH0840798A (ja) | 単結晶の製造方法 |