JPS6232548B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6232548B2 JPS6232548B2 JP5446185A JP5446185A JPS6232548B2 JP S6232548 B2 JPS6232548 B2 JP S6232548B2 JP 5446185 A JP5446185 A JP 5446185A JP 5446185 A JP5446185 A JP 5446185A JP S6232548 B2 JPS6232548 B2 JP S6232548B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- step motor
- screw
- bimetal
- fixed
- positioning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B21/00—Head arrangements not specific to the method of recording or reproducing
- G11B21/02—Driving or moving of heads
Landscapes
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Moving Of Heads (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気デイスク記憶装置の磁気ヘツド位
置決め機構等の、精密位置決め装置に係る。
置決め機構等の、精密位置決め装置に係る。
精密位置決め機構の一例として、磁気デイスク
記憶装置に使用される磁気ヘツド位置決め機構に
関し述べる。
記憶装置に使用される磁気ヘツド位置決め機構に
関し述べる。
近年、電算機システムの磁気デイスク装置の発
達は顕著であり、信頼性向上、大容量化、小形低
価格化に各社鎬を削つている。特に事務用のオフ
イスコンピユータは、小形、低価格、大容量でし
かも信頼性の高い磁気デイスク装置を必要とす
る。従つて小形の磁気デイスク装置の課題は、高
信頼性を維持しながら、いかに記録密度を上げる
かである。高記録密度が実現できれば、装置サイ
ズを大きくすることなく記憶容量を上げることが
でき、オフイスコンピユータ用磁気デイスクとし
て有利となる。
達は顕著であり、信頼性向上、大容量化、小形低
価格化に各社鎬を削つている。特に事務用のオフ
イスコンピユータは、小形、低価格、大容量でし
かも信頼性の高い磁気デイスク装置を必要とす
る。従つて小形の磁気デイスク装置の課題は、高
信頼性を維持しながら、いかに記録密度を上げる
かである。高記録密度が実現できれば、装置サイ
ズを大きくすることなく記憶容量を上げることが
でき、オフイスコンピユータ用磁気デイスクとし
て有利となる。
記録密度を上げるためには、磁気デイスク１枚
当りの情報トラツク数を増加すること（トラツク
密度の向上）、トラツク当りの情報量を増加する
こと（ビツト密度の向上）が重要である。ビツト
密度は磁気デイスク塗膜と磁気ヘツドの特性で上
限が定まり現在の技術では12000BPI（BIT PER
INCH）が最高レベルである。又トラツク密度は
ボイスコイルモータを使用するサーボ機能を備え
た比較的高価な装置の場合で、500TPI（TRACK
PER INCH）、ステツプモータを使用しサーボ機
能を持たない低価格な小形デイスク装置の場合は
100〜200TPIが最高であつた。従つて後者の小形
デイスク装置においてはトラツク密度をいかに安
価な方式で向上させるかがキーポイントである。
当りの情報トラツク数を増加すること（トラツク
密度の向上）、トラツク当りの情報量を増加する
こと（ビツト密度の向上）が重要である。ビツト
密度は磁気デイスク塗膜と磁気ヘツドの特性で上
限が定まり現在の技術では12000BPI（BIT PER
INCH）が最高レベルである。又トラツク密度は
ボイスコイルモータを使用するサーボ機能を備え
た比較的高価な装置の場合で、500TPI（TRACK
PER INCH）、ステツプモータを使用しサーボ機
能を持たない低価格な小形デイスク装置の場合は
100〜200TPIが最高であつた。従つて後者の小形
デイスク装置においてはトラツク密度をいかに安
価な方式で向上させるかがキーポイントである。
トラツク密度の上限が押えられる要因は、磁気
ヘツドと情報トラツク間の相対位置誤差によるが
この位置誤差は以下に示す各種要因が重なり生ず
る。主な要因として、(1)位置決め系を構成してい
る各部材の線膨張係数の違いから生じる熱膨張誤
差 (2)ステツプモータの角度精度 (3)ステツプモ
ータの入力変動による角度誤差等があり、特に(1)
の熱膨張誤差はサーボ機能の無いオープンループ
方式の避けることのできない問題であり、TPIの
向上できない第一原因である。当然ながらこれら
各種要素により位置決め誤差が予定よりオーバし
た場合は、回復不可能なエラーとなり、磁気デイ
スク装置の重大障害となる。
ヘツドと情報トラツク間の相対位置誤差によるが
この位置誤差は以下に示す各種要因が重なり生ず
る。主な要因として、(1)位置決め系を構成してい
る各部材の線膨張係数の違いから生じる熱膨張誤
差 (2)ステツプモータの角度精度 (3)ステツプモ
ータの入力変動による角度誤差等があり、特に(1)
の熱膨張誤差はサーボ機能の無いオープンループ
方式の避けることのできない問題であり、TPIの
向上できない第一原因である。当然ながらこれら
各種要素により位置決め誤差が予定よりオーバし
た場合は、回復不可能なエラーとなり、磁気デイ
スク装置の重大障害となる。
本発明の目的はオープンループ方式の位置決め
装置において、環境温度変化と、各構成部材の線
膨張係数の違いから生じる熱膨張誤差を、自動的
に補正できる機構を設け、温度変化に対し、余力
を持ちかつ位置割り出し精度の良い精密位置決め
装置を提供することである。
装置において、環境温度変化と、各構成部材の線
膨張係数の違いから生じる熱膨張誤差を、自動的
に補正できる機構を設け、温度変化に対し、余力
を持ちかつ位置割り出し精度の良い精密位置決め
装置を提供することである。
温度により反応するバイメタルを使用し、環境
温度変化に応じ自動的に可変するトルクを、ステ
ツプモータ出力軸に与えておき、ステツプモータ
の静止位置が外力トルクにより変化することを利
用し、位置決め位置の補正を自動的に行なう。
温度変化に応じ自動的に可変するトルクを、ステ
ツプモータ出力軸に与えておき、ステツプモータ
の静止位置が外力トルクにより変化することを利
用し、位置決め位置の補正を自動的に行なう。
以下、本発明の一実施例を第１図〜第４図によ
り説明する。ステツプモータ２８の出力軸にネジ
２３とワツシヤ２４により、プーリ２５が固定さ
れさらにスチールベルト１８がプーリ２５にプレ
ート２６とネジ２７により固定されている。スチ
ールベルト１８の他端はシヤフト１５とプレート
１６により回転自在に設置された別のプーリ１７
に巻き付けられ、バネフツク５１，５３がネジ５
２により固定され、バイメタル５５の先端と前記
バネフツク５１の間にバネ５４がある張力を持つ
て設置されている。又前記プレート１６はネジ１
３によりプーリ台１２に固定され、プーリ台１２
はネジ１４によりベース５０に固定される。さら
に前記バイメタル５５はバイメタル台５８にネジ
５６により固定され、バイメタル台５８はネジ５
７によりベース５０に固定される。一方磁気ヘツ
ド移動体（キヤリツジ）４０には、ジンバル３３
により保持され、ヘツドローデイングバネ３４に
より、回転する磁気デイスク１の面上に加圧され
た磁気ヘツド３２が搭載される。磁気ヘツド３２
はデイスク面上で生じる空気粘性流により、磁気
デイスク１上で、0.5μｍ程度のすき間を保ち安
定に浮動する。ヘツドリード線３５は中継端子３
６を介しリード線３８に結線され、本リード線３
８を通じ磁気記録を行なう。このヘツド移動体４
０は２本のガイドバー６，９に案内され前記スチ
ールベルト１８の片側にプレート２１、ネジ２２
により装着される。第２図、第３図は環境温度が
常温に対し、それぞれ高温、低温となり、バイメ
タル５５が作動し、バネ５４の長さが変化しステ
ツプモータプーリ２５に加わる外力トルクがそれ
ぞれt1，t3となつた状態を示す。第４図はステツ
プモータ２８の外力トルクと静止角度位置を示す
特性図であり、t1，t2，t3はそれぞれ高温、常
温、低温時の外力トルクを示しθ１，θ２，θ３
はそれぞれの静止位置を示す。第２〜第４図から
明らかな様に、常温に対し高温、低温と環境が変
わると、バイメタル５５が作動し外力トルクがt2
（常温時）からt1（高温時）あるいはt3（低温
時）と変化し、それぞれ第４図の特性に従い、そ
の静止位置はθ１（高温時）、θ３（低温時）と
変化し自動的に補正される。尚本実施例は、温度
による位置決め誤差が高温時に、デイスクに対し
外周側、低温時に内周側に生じる場合であること
は言うまでもない。又補正量は、第４図の特性カ
ーブと、バイメタル５５の変化量、バネ５４のバ
ネ定数から決定されることも明白である。
り説明する。ステツプモータ２８の出力軸にネジ
２３とワツシヤ２４により、プーリ２５が固定さ
れさらにスチールベルト１８がプーリ２５にプレ
ート２６とネジ２７により固定されている。スチ
ールベルト１８の他端はシヤフト１５とプレート
１６により回転自在に設置された別のプーリ１７
に巻き付けられ、バネフツク５１，５３がネジ５
２により固定され、バイメタル５５の先端と前記
バネフツク５１の間にバネ５４がある張力を持つ
て設置されている。又前記プレート１６はネジ１
３によりプーリ台１２に固定され、プーリ台１２
はネジ１４によりベース５０に固定される。さら
に前記バイメタル５５はバイメタル台５８にネジ
５６により固定され、バイメタル台５８はネジ５
７によりベース５０に固定される。一方磁気ヘツ
ド移動体（キヤリツジ）４０には、ジンバル３３
により保持され、ヘツドローデイングバネ３４に
より、回転する磁気デイスク１の面上に加圧され
た磁気ヘツド３２が搭載される。磁気ヘツド３２
はデイスク面上で生じる空気粘性流により、磁気
デイスク１上で、0.5μｍ程度のすき間を保ち安
定に浮動する。ヘツドリード線３５は中継端子３
６を介しリード線３８に結線され、本リード線３
８を通じ磁気記録を行なう。このヘツド移動体４
０は２本のガイドバー６，９に案内され前記スチ
ールベルト１８の片側にプレート２１、ネジ２２
により装着される。第２図、第３図は環境温度が
常温に対し、それぞれ高温、低温となり、バイメ
タル５５が作動し、バネ５４の長さが変化しステ
ツプモータプーリ２５に加わる外力トルクがそれ
ぞれt1，t3となつた状態を示す。第４図はステツ
プモータ２８の外力トルクと静止角度位置を示す
特性図であり、t1，t2，t3はそれぞれ高温、常
温、低温時の外力トルクを示しθ１，θ２，θ３
はそれぞれの静止位置を示す。第２〜第４図から
明らかな様に、常温に対し高温、低温と環境が変
わると、バイメタル５５が作動し外力トルクがt2
（常温時）からt1（高温時）あるいはt3（低温
時）と変化し、それぞれ第４図の特性に従い、そ
の静止位置はθ１（高温時）、θ３（低温時）と
変化し自動的に補正される。尚本実施例は、温度
による位置決め誤差が高温時に、デイスクに対し
外周側、低温時に内周側に生じる場合であること
は言うまでもない。又補正量は、第４図の特性カ
ーブと、バイメタル５５の変化量、バネ５４のバ
ネ定数から決定されることも明白である。
本発明によれば、オープンループ方式の最大の
欠点である温度変化による位置決め誤差を補正す
ることができ、温度変化に対し十分耐力があり、
かつ位置精度の良い精密位置決め装置を得ること
ができる。又本発明は非常に簡潔であるため、信
頼性も高く安価である。
欠点である温度変化による位置決め誤差を補正す
ることができ、温度変化に対し十分耐力があり、
かつ位置精度の良い精密位置決め装置を得ること
ができる。又本発明は非常に簡潔であるため、信
頼性も高く安価である。
第１図は本発明の一実施例を示す斜視図、第２
図、第３図は環境温度が変化した場合の状態を示
す平面図、第４図はステツプモータの静止位置と
外力トルクの関係を示す特性図である。 １…磁気デイスク、６…ガイドバー、７…ネ
ジ、８…ベース支柱、９…ガイドバー、１０…ネ
ジ、１１…ベース支柱、１２…プーリ台、１３…
ネジ、１４…ネジ、１５…シヤフト、１６…プレ
ート、１７…プーリ、１８…スチールベルト、２
１…プレート、２２…ネジ、２３…ネジ、２４…
ワツシヤ、２５…プーリ、２６…プレート、２７
…ネジ、２８…ステツプモータ、２９…ネジ、３
０…ガイドバーベース、３１…ネジ、３２…磁気
ヘツド、３３…ジンバル、３４…ヘツドローデイ
ングバネ、３５…磁気ヘツドリード線、３６…中
継端子、３７…リード線クランプ、３８…リード
線、３９…特性カーブ、４０…磁気ヘツド移動
体、４１…ステツプモータリード線、５０…ベー
ス、５１…バネフツク、５２…ネジ、５３…バネ
フツク、５４…バネ、５５…バイメタル、５６…
ネジ、５７…ネジ、５８…バイメタル台。
図、第３図は環境温度が変化した場合の状態を示
す平面図、第４図はステツプモータの静止位置と
外力トルクの関係を示す特性図である。 １…磁気デイスク、６…ガイドバー、７…ネ
ジ、８…ベース支柱、９…ガイドバー、１０…ネ
ジ、１１…ベース支柱、１２…プーリ台、１３…
ネジ、１４…ネジ、１５…シヤフト、１６…プレ
ート、１７…プーリ、１８…スチールベルト、２
１…プレート、２２…ネジ、２３…ネジ、２４…
ワツシヤ、２５…プーリ、２６…プレート、２７
…ネジ、２８…ステツプモータ、２９…ネジ、３
０…ガイドバーベース、３１…ネジ、３２…磁気
ヘツド、３３…ジンバル、３４…ヘツドローデイ
ングバネ、３５…磁気ヘツドリード線、３６…中
継端子、３７…リード線クランプ、３８…リード
線、３９…特性カーブ、４０…磁気ヘツド移動
体、４１…ステツプモータリード線、５０…ベー
ス、５１…バネフツク、５２…ネジ、５３…バネ
フツク、５４…バネ、５５…バイメタル、５６…
ネジ、５７…ネジ、５８…バイメタル台。
Claims (1)
- １ ステツプモータを駆動源とする位置決め機構
において、ステツプモータ出力軸に直結されたプ
ーリ又は該出力軸に直接ベルトの一端が固定さ
れ、さらに該ベルトの他端はスプリングを介し、
バイメタル部材に固定され、該ベルトの中央附近
に、位置決め対象物が搭載されたキヤリツジが固
定され、ステツプモータの回転／停止に応じスラ
イド自在な前記キヤリツジが移動／位置決めされ
る構造から成り、環境温度変化に応じ前記バイメ
タルが変形することにより前記スプリングの張力
が変化、すなわち該ステツプモータの外力トルク
を変化せしめ、各部材の線膨張係数の違いから生
じる温度による位置決め誤差を自動的に補正する
ことを特徴とする位置決め機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5446185A JPS60223084A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 位置決め機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5446185A JPS60223084A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 位置決め機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60223084A JPS60223084A (ja) | 1985-11-07 |
| JPS6232548B2 true JPS6232548B2 (ja) | 1987-07-15 |
Family
ID=12971309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5446185A Granted JPS60223084A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 位置決め機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60223084A (ja) |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP5446185A patent/JPS60223084A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60223084A (ja) | 1985-11-07 |
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