JPS6236867A - 入力保護回路 - Google Patents

入力保護回路

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Publication number
JPS6236867A
JPS6236867A JP60176332A JP17633285A JPS6236867A JP S6236867 A JPS6236867 A JP S6236867A JP 60176332 A JP60176332 A JP 60176332A JP 17633285 A JP17633285 A JP 17633285A JP S6236867 A JPS6236867 A JP S6236867A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pad
field transistor
channel
input
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60176332A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazutami Arimoto
和民 有本
Hiroshi Miyamoto
博司 宮本
Shigeru Mori
茂 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP60176332A priority Critical patent/JPS6236867A/ja
Publication of JPS6236867A publication Critical patent/JPS6236867A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D89/00Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
    • H10D89/60Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
    • H10D89/601Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
    • H10D89/811Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs using FETs as protective elements

Landscapes

  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体集積回路における入力保護回路に関す
るものである。
〔従来の技術〕
入力保護回路は一般に第3図の回路で構成され、これを
パターンレイアウトした従来の回路が第2図に示される
ものであり、第3図において、VINはパッド入力、N
1はフィールドトランジスタQ1のゲートとドレイン、
Rは抵抗、N2は内部ノードである。
第2図において、1はAβで形成されたパッド、2はフ
ィールドトランジスタQ1のN土層より形成されたドレ
イン、3はフィールドトランジスタQ1のチャネル領域
、4はフィールドトランジスタQ1のソースで、N土層
より形成されていて、GNDレベルである。5はドレイ
ン2のN土層と内部ノードへの配線であるアルミ層8と
のコンタクト、6はソース4のN土層とGNDノードで
あるアルミ層7との1ンタクトで予る・ 次5動作に9いて説明すう・第3図において・パッドV
TNに正のサージが入力されるとフィールドトランジス
タQ1はそのゲートがオンしてサージをそのドレイン、
ソース間を介してGNDに逃すために、サージは内部ノ
ードN2に伝わらず、内部ノードN2の破壊を起こさな
い。
第2図のパターンレイアウトにおいてはサージはN十層
2からチャネル領域3を通ってGND 7へ逃がされる
上記フィールドトランジスタQ1はしきい値電圧がVc
c(電源電圧)よりかなり高く設定されているので、サ
ージパルスが入力した時のみオンする。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の入力保護回路は以上の様に形成されているが、こ
の回路において、フィールドトランジスタQ1はサージ
が印加された時は素早くドレイン。
ソース間のチャネルをオンし、サージを逃すことが必要
で、フィールドトランジスタのチャネル域はできるだけ
大きくして内部へのサージの伝達をできるだけ防ぐこと
が必要である。しかるに、この入力保護回路は実際には
パターンレイアウト上大きな面積を必要とするために、
第2図に示す様にパッドの一辺部に相当する大きさのチ
ャネル3しか形成できなかった。またフィールドトラン
ジスタのゲートはすばやくオンする事が必要であるが、
実際にはドレイン2のN素層を通るためある時定数をも
っていた。
この発明は上記の問題点を解消するためになされたもの
で、フィールドトランジスタのチャネル長をパターンレ
イアウト上入力保護回路自体の面積を大きくすることな
く大きくとれ、さらにフィールドトランジスタのゲート
を素早くオンできてサージ破壊に対して有効な入力保護
回路を得ることを目的としている。
C問題点を解決するための手段〕 この発明に係る入力保護回路は、フィールドトランジス
タのチャネル領域をパッドの周囲に作成してパターンレ
イアウト上入力保護回路自体の面積増大を最小にしてチ
ャネル長を大きくでき、かつパッドの電極そのものをフ
ィールドトランジスタのゲート電極として使用できる構
造にしたものである。
〔作用〕
この発明による入力保護回路では、フィールドトランジ
スタのチャネルがパッドの周囲にあるために大きなチャ
ネル長を取ることができ、がっパッド電極そのものをト
ランスファーゲートに使用しているので、サージが印加
された時にすばやくGNDに逃がし、内部ノードが破壊
するのを防止できる。
〔実施例〕
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は本発明の一実施例による入力保護回路を示し、
図において、1はアルミニウムよりなる入−゛カパッド
、2はパッド10周辺部に形成されたN+層で、コンタ
クトホール5で入カパッドエに11気的につながれてい
て、フィールドトランジスタのドレインでもある。3は
入力パッド1の直下に位置するフィールドトランジスタ
のチャネル部分で、パッドの周囲を囲む様に形成されて
いる。4はフィールドトランジスタのソース域であり、
N素層で形成されている。7はGNDレベルのアルミ層
で、コンタクトホール6を介してソース4ON十層と電
気的につながっている。
本実施例のパターンレイアウトでは、パッド1にサージ
が入力されるとすぐにフィールドトランジスタがオンし
、チャネル長が長く、従って面積も大きいチャネル¥i
3を通してずばや(GND7に逃がされるので、内部ノ
ードの破壊を防止できる。
このように本実施例では、入力保護回路のフィールドト
ランジスタのチャネル領域をパッドを囲む形状にしたの
で、従来のものに比べて入力保護回路自体に大きな面積
を使う事なく大きなチャネルを有するフィールドトラン
ジスタを形成でき、さらにフィールドトランジスタのゲ
ートにパッド電極そのものを利用することにより、サー
ジ入力の際すばやくフィールドトランジスタをオンする
ようにすることができ、サージ入力による内部ノードの
破壊を防止できる。
なお上記実施例ではパッドを四角形のものとして説明し
たが、本発明はパッドが円形であってもよく、この場合
フィールドトランジスタ形状は、パッドの周囲を囲L・
円形ドーナツ状のチャネルを有する形状とすればよい。
また」二記実施例ではフィールドトランジスタのチャネ
ル領域を四角のパッドの4辺を囲む様に形成したが、こ
れば少なくとも2辺以上を囲む構造であればよく、この
場合でも従来のものと比ベサージ入力に対して大きな効
果がある。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、入力保護回路のフィ
ールドトランジスタのチャネル領域をパッドを囲む形状
にしたので、大きな面積を使う事なく大きなチャネルを
有するフィールドトランジスタを形成でき、さらにフィ
ールドトランジスタのゲートにパッド電極そのものを利
用したので、サージ入力の際すばやくフィールドトラン
ジスタをオンすることができ、よってサージ入力により
内部ノードが破壊されることに対して有効な入力保護回
路を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による入力保護回路のパタ
ーンレイアウト図、第2図は従来の入力保護回路のパタ
ーンレイアウト図、第3図は入力保護回路の等価回路図
である。 1は入力電極、2はフィールドトランジスタのドレイン
、3はフィールドトランジスタのチャネル、4はフィー
ルドトランジスタのソース、5゜6はコンタクトホール
、7はGNDレベルの導電層。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体集積回路におけるパッドの入力保護回路に
    おいて、 上記パッドの周囲を囲む形状に配置されたチャネル領域
    を有するフィールドトランジスタからなることを特徴と
    する入力保護回路。
  2. (2)上記フィールドトランジスタのゲートが、上記パ
    ッドの直下に形成された導電層からなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の入力保護回路。
  3. (3)上記フィールドトランジスタのチャネル領域が、
    パッド領域の少なくとも2辺以上の周囲を囲むように配
    置されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項又
    は第2項記載の入力保護回路。
JP60176332A 1985-08-09 1985-08-09 入力保護回路 Pending JPS6236867A (ja)

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JP60176332A JPS6236867A (ja) 1985-08-09 1985-08-09 入力保護回路

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JP60176332A JPS6236867A (ja) 1985-08-09 1985-08-09 入力保護回路

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JPS6236867A true JPS6236867A (ja) 1987-02-17

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ID=16011737

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63291470A (ja) * 1987-05-23 1988-11-29 Ricoh Co Ltd 半導体集積回路装置の保護回路
JPH0240960A (ja) * 1988-07-30 1990-02-09 Nec Corp 入力保護回路装置
US5272371A (en) * 1991-11-19 1993-12-21 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Electrostatic discharge protection structure
EP0590859A3 (en) * 1992-09-28 1995-11-22 Xerox Corp Office environment level electrostatic discharge protection

Cited By (5)

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EP0590859A3 (en) * 1992-09-28 1995-11-22 Xerox Corp Office environment level electrostatic discharge protection
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