JPS6238032Y2 - - Google Patents
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- JPS6238032Y2 JPS6238032Y2 JP4946481U JP4946481U JPS6238032Y2 JP S6238032 Y2 JPS6238032 Y2 JP S6238032Y2 JP 4946481 U JP4946481 U JP 4946481U JP 4946481 U JP4946481 U JP 4946481U JP S6238032 Y2 JPS6238032 Y2 JP S6238032Y2
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- JP
- Japan
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- slide pin
- rotor
- caliper
- pin
- opening
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- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Braking Arrangements (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はピンタイプデイスクブレーキの滑動部
支持構造の改良に関するものである。
支持構造の改良に関するものである。
一般に、ピンタイプデイスクブレーキについて
は、ローターの縁部に固設されたサポートと、ロ
ーターを跨ぐように配設され、かつローターの一
側方における脚部に内蔵した油圧シリンダ装置等
のパツド押圧機構の動作、及びローター軸方向へ
の摺動性を有するキヤリパと、該キヤリパによつ
てローターに挾圧される一対の対向摩擦パツドと
を備えたものであり、そのキヤリパのローター軸
方向の摺動性を得るために構成する滑動支持部
が、サポート又はキヤリパの一方に固着したスラ
イドピンと、他方に形成した開口の滑合によつて
構成できるために、滑動部の外気からの封止構造
がブーツ等の組付けによつて比較的簡易にできる
という特徴をもつているものとして知られてい
る。
は、ローターの縁部に固設されたサポートと、ロ
ーターを跨ぐように配設され、かつローターの一
側方における脚部に内蔵した油圧シリンダ装置等
のパツド押圧機構の動作、及びローター軸方向へ
の摺動性を有するキヤリパと、該キヤリパによつ
てローターに挾圧される一対の対向摩擦パツドと
を備えたものであり、そのキヤリパのローター軸
方向の摺動性を得るために構成する滑動支持部
が、サポート又はキヤリパの一方に固着したスラ
イドピンと、他方に形成した開口の滑合によつて
構成できるために、滑動部の外気からの封止構造
がブーツ等の組付けによつて比較的簡易にできる
という特徴をもつているものとして知られてい
る。
またこのようなピンタイプデイスクブレーキの
滑動支持部を別の観点よりみると、キヤリパを支
持するためにピンスライド機構を通常左右一対に
設けることが普通であるから、これらの左右一対
のスライドピン、開口の平行性の狂い、ピツチ誤
差等を考慮する必要があり、従つてスライドピン
と開口の滑合面にゴムブツシユを介在せしめるこ
とも多い。
滑動支持部を別の観点よりみると、キヤリパを支
持するためにピンスライド機構を通常左右一対に
設けることが普通であるから、これらの左右一対
のスライドピン、開口の平行性の狂い、ピツチ誤
差等を考慮する必要があり、従つてスライドピン
と開口の滑合面にゴムブツシユを介在せしめるこ
とも多い。
そして、近時の車両搭載装置の軽量化要求、あ
るいは構造簡略等のために、サポート側にスライ
ドピンを片持ち固着させる形式のものも多く提供
されているが、このような形式ではサポートに固
着されるスライドピンの自由端側に滑合させるキ
ヤリパの開口を、一端が開放し、かつ他端は閉塞
された袋形状となすこと、あるいはブーツとブツ
シユを一体化して同様袋形状となしたものが使用
されることが多い。
るいは構造簡略等のために、サポート側にスライ
ドピンを片持ち固着させる形式のものも多く提供
されているが、このような形式ではサポートに固
着されるスライドピンの自由端側に滑合させるキ
ヤリパの開口を、一端が開放し、かつ他端は閉塞
された袋形状となすこと、あるいはブーツとブツ
シユを一体化して同様袋形状となしたものが使用
されることが多い。
ところで、このような形式のピンタイプデイス
クブレーキでは、次のような問題を生ずることが
あつた。即ち第1図イ、ロに示す如く、ブーツ1
の後端部をキヤリパボス2の開口縁部に固定し、
先端側の開放端よりスライドピン3を挿入するよ
うに組付け作業を行なうのが普通であるが、この
際ブーツの開放先端は、通常スライドピン3の軸
部に対して所定の締代をもつように設けられてい
るものであるから、組付けの途中で開口4内は既
に外気から封止され、内部のエアに圧力上昇を招
くことがある。そしてこのような内部の圧力エア
がスライドピン3とキヤリパのローター軸方向に
ついての相対的移動力として作用し、キヤリパの
非ブレーキ時における静止位置に狂いを招いて組
付け後から一定の期間の間(シール部より圧力が
漸次抜けるまで)、摩擦パツドの引き摺りという
問題を生ずるものである。
クブレーキでは、次のような問題を生ずることが
あつた。即ち第1図イ、ロに示す如く、ブーツ1
の後端部をキヤリパボス2の開口縁部に固定し、
先端側の開放端よりスライドピン3を挿入するよ
うに組付け作業を行なうのが普通であるが、この
際ブーツの開放先端は、通常スライドピン3の軸
部に対して所定の締代をもつように設けられてい
るものであるから、組付けの途中で開口4内は既
に外気から封止され、内部のエアに圧力上昇を招
くことがある。そしてこのような内部の圧力エア
がスライドピン3とキヤリパのローター軸方向に
ついての相対的移動力として作用し、キヤリパの
非ブレーキ時における静止位置に狂いを招いて組
付け後から一定の期間の間(シール部より圧力が
漸次抜けるまで)、摩擦パツドの引き摺りという
問題を生ずるものである。
そこで本考案はこれら種々の観点から、スライ
ドピンの形状を変更することによつて、組付け時
に内部エア圧力の上昇を生ずることがないピンス
ライド型デイスクブレーキにおける滑動支持部の
ブーツ組付け構造を提供せんとするものであり、
具体的に本考案の特徴とするところは、ローター
縁部に固設されたサポート、及びローター縁部を
跨ぐように配設され、かつ対向一対の摩擦パツド
をローターに挾圧せしめるキヤリパのいずれか一
方に片持ち様に固着されたスライドピンと、前記
サポート又はキヤリパのいずれか他方に形成され
た開口との滑合によりキヤリパをローター軸方向
摺動可能に支承し、前記開口縁部にはスライドピ
ンの外周と気密係合するシール部材を設けたピン
タイプデイスクブレーキにおいて、前記開口の縁
部からスライドピンに設けた周溝の間に架設され
て、滑合部を外気から封止するブーツを設けると
共に、前記スライドピンには、前記周溝に開口さ
れていてかつスライドピンの自由端側に向つて伸
びる凹溝を形成し、その凹溝のスライドピン軸方
向の長さは前記周溝の幅寸法と略等しくかつ前記
シール部材の軸方向寸法よりも若干長く設けたと
いう構成をなすところにある。
ドピンの形状を変更することによつて、組付け時
に内部エア圧力の上昇を生ずることがないピンス
ライド型デイスクブレーキにおける滑動支持部の
ブーツ組付け構造を提供せんとするものであり、
具体的に本考案の特徴とするところは、ローター
縁部に固設されたサポート、及びローター縁部を
跨ぐように配設され、かつ対向一対の摩擦パツド
をローターに挾圧せしめるキヤリパのいずれか一
方に片持ち様に固着されたスライドピンと、前記
サポート又はキヤリパのいずれか他方に形成され
た開口との滑合によりキヤリパをローター軸方向
摺動可能に支承し、前記開口縁部にはスライドピ
ンの外周と気密係合するシール部材を設けたピン
タイプデイスクブレーキにおいて、前記開口の縁
部からスライドピンに設けた周溝の間に架設され
て、滑合部を外気から封止するブーツを設けると
共に、前記スライドピンには、前記周溝に開口さ
れていてかつスライドピンの自由端側に向つて伸
びる凹溝を形成し、その凹溝のスライドピン軸方
向の長さは前記周溝の幅寸法と略等しくかつ前記
シール部材の軸方向寸法よりも若干長く設けたと
いう構成をなすところにある。
以下本考案の実施態様を図面第2図に基づいて
説明すると、図において11はサポート(図示せ
ず)に固着されたスライドピンであり、サポート
により一端が支持されてローター軸方向をなすよ
う片持ち様に形成されている。12は後記ブーツ
の先端膨端部が嵌合する周溝である。
説明すると、図において11はサポート(図示せ
ず)に固着されたスライドピンであり、サポート
により一端が支持されてローター軸方向をなすよ
う片持ち様に形成されている。12は後記ブーツ
の先端膨端部が嵌合する周溝である。
13はスライドピン11の自由端側から挿入滑
合されるキヤリパボス部であり、この開口14の
挿入後方側は閉塞されて該開口14は袋形状をな
している。このようなスライドピン11と開口1
4との滑合により、ローター縁部を跨ぐように配
設されて一対の摩擦パツド(図示せず)をロータ
ーに挾圧せしめるキヤリパは、ローター軸方向移
動可能に支持される。尚このようなピン滑動機構
はキヤリパの安定支持のために、キヤリパの左右
両側方に一対に設ける必要があるが、これら両側
方の滑動機構を同一形状とする必要は特になく、
他方は単にキヤリパ回り止めの構造としてもよ
い。またスライドピンと開口の固着・形成はサポ
ート、キヤリパにつき反対としてもよい。
合されるキヤリパボス部であり、この開口14の
挿入後方側は閉塞されて該開口14は袋形状をな
している。このようなスライドピン11と開口1
4との滑合により、ローター縁部を跨ぐように配
設されて一対の摩擦パツド(図示せず)をロータ
ーに挾圧せしめるキヤリパは、ローター軸方向移
動可能に支持される。尚このようなピン滑動機構
はキヤリパの安定支持のために、キヤリパの左右
両側方に一対に設ける必要があるが、これら両側
方の滑動機構を同一形状とする必要は特になく、
他方は単にキヤリパ回り止めの構造としてもよ
い。またスライドピンと開口の固着・形成はサポ
ート、キヤリパにつき反対としてもよい。
15はキヤリパボス13の開口縁に固定された
シール部材であり、スライドピン11の外周に弾
着して滑合面のシールをなしている。
シール部材であり、スライドピン11の外周に弾
着して滑合面のシールをなしている。
16はブーツであり、キヤリパボス13の開口
縁外側ボデイに一方の膨端部が固定され、他方の
膨端部はスライドピン11の軸部外周に緊締しな
がら所定位置まで挿入され、周溝12に嵌合固定
される。
縁外側ボデイに一方の膨端部が固定され、他方の
膨端部はスライドピン11の軸部外周に緊締しな
がら所定位置まで挿入され、周溝12に嵌合固定
される。
そして本例の特徴は、このような構成のピン滑
動機構において、スライドピン11の周溝12か
ら自由端側に向つて、一定長の母線方向凹溝1
7,17…が形成されていることにあり、このよ
うな凹溝17,17…によつて、前記ブーツの他
方(先端側)膨端部16aがスライドピン11の
周溝12に嵌合する前の段階で、ブーツ16内即
ち開口14内の圧力エアを外部に逃がすようにし
たことにある。
動機構において、スライドピン11の周溝12か
ら自由端側に向つて、一定長の母線方向凹溝1
7,17…が形成されていることにあり、このよ
うな凹溝17,17…によつて、前記ブーツの他
方(先端側)膨端部16aがスライドピン11の
周溝12に嵌合する前の段階で、ブーツ16内即
ち開口14内の圧力エアを外部に逃がすようにし
たことにある。
即ち、このような構成によれば、ブーツの組付
け時において自動的に開口14内の圧力エアは外
部に逃がされ、従来のような封じ込められた開口
内の圧力エアによつて生ずることのあつた摩擦パ
ツドの引き摺りという難点は解消されることにな
るのである。
け時において自動的に開口14内の圧力エアは外
部に逃がされ、従来のような封じ込められた開口
内の圧力エアによつて生ずることのあつた摩擦パ
ツドの引き摺りという難点は解消されることにな
るのである。
また、前記スライドピン11の母線方向凹溝1
7の長さは、第2図の符号A,B,Cにより示さ
れる如く、ブレーキ装置の組付け後には、符号C
からスライドピン自由端側に位置するスライドピ
ン11とキヤリパ13の相対摺動領域に対して若
干の隙間BCを隔てた範囲ABの間に形成して組付
け後のシール漏れを防止する寸法にする必要があ
る。
7の長さは、第2図の符号A,B,Cにより示さ
れる如く、ブレーキ装置の組付け後には、符号C
からスライドピン自由端側に位置するスライドピ
ン11とキヤリパ13の相対摺動領域に対して若
干の隙間BCを隔てた範囲ABの間に形成して組付
け後のシール漏れを防止する寸法にする必要があ
る。
またスライドピンと開口の間には若干の間隙を
有するのが普通であるため、スライドピン11の
先端部側における開口内エアの前述した作業時に
おけるエア抜きは、該間隙を通つて行なわれるこ
とになるが、これを一層良好になすためには、ス
ライドピンに上記間隙とブーツ内部に跨がつて上
記作業時のエア抜きを行なう母線方向の溝を設け
ることがよい。したがつてこれらのことから、ス
ライドピンに設ける母線方向の凹溝のスライドピ
ン軸方向の長さは、前記周溝の幅寸法と略等しく
かつ前記シール部材の軸方向寸法よりも若干長く
設けるという構成が好ましく採用される。
有するのが普通であるため、スライドピン11の
先端部側における開口内エアの前述した作業時に
おけるエア抜きは、該間隙を通つて行なわれるこ
とになるが、これを一層良好になすためには、ス
ライドピンに上記間隙とブーツ内部に跨がつて上
記作業時のエア抜きを行なう母線方向の溝を設け
ることがよい。したがつてこれらのことから、ス
ライドピンに設ける母線方向の凹溝のスライドピ
ン軸方向の長さは、前記周溝の幅寸法と略等しく
かつ前記シール部材の軸方向寸法よりも若干長く
設けるという構成が好ましく採用される。
以上のような構成によれば、ピンタイプデイス
クブレーキの組立てに際しても、ブーツ内、開口
内の封止部材内部に圧力エアが発生する虞れはな
く、キヤリパの摺動性に対する悪影響を生ずるこ
ともないためその実用上の利益は極めて大なるも
のである。
クブレーキの組立てに際しても、ブーツ内、開口
内の封止部材内部に圧力エアが発生する虞れはな
く、キヤリパの摺動性に対する悪影響を生ずるこ
ともないためその実用上の利益は極めて大なるも
のである。
尚、本考案は前記実施例に限定されるものでは
なく、例えばスライドピンの母線方向凹溝17を
複数でなく一つとしてもよいものである。
なく、例えばスライドピンの母線方向凹溝17を
複数でなく一つとしてもよいものである。
図面第1図イ,ロは従来例の滑動支持部のブー
ツ組付け構造を説明するための図、第2図は本考
案の滑動支持部のブーツ組付け構造を説明するた
めの図である。 1:ブーツ、2:キヤリパボス、3:スライド
ピン、4:開口、11:スライドピン、12:周
溝、13:キヤリパボス、14:開口、15:シ
ール部材、16:ブーツ、16a:膨端部、1
7:凹溝。
ツ組付け構造を説明するための図、第2図は本考
案の滑動支持部のブーツ組付け構造を説明するた
めの図である。 1:ブーツ、2:キヤリパボス、3:スライド
ピン、4:開口、11:スライドピン、12:周
溝、13:キヤリパボス、14:開口、15:シ
ール部材、16:ブーツ、16a:膨端部、1
7:凹溝。
Claims (1)
- ローター縁部に固設されたサポート、及びロー
ター縁部を跨ぐように配設され、かつ対向一対の
摩擦パツドをローターに挾圧せしめるキヤリパの
いずれか一方に片持ち様に固着されたスライドピ
ンと、前記サポート又はキヤリパのいずれか他方
に形成された開口との滑合によりキヤリパをロー
ター軸方向摺動可能に支承し、前記開口縁部には
スライドピンの外周と気密係合するシール部材を
設けたピンタイプデイスクブレーキにおいて、前
記開口の縁部からスライドピンに設けた周溝の間
に架設されて、滑合部を外気から封止するブーツ
を設けると共に、前記スライドピンには、前記周
溝に開口されていてかつスライドピンの自由端側
に向つて伸びる凹溝を形成し、その凹溝のスライ
ドピン軸方向の長さは前記周溝の幅寸法と略等し
くかつ前記シール部材の軸方向寸法よりも若干長
く設けたことを特徴とするピンタイプデイスクブ
レーキの滑動支持構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4946481U JPS6238032Y2 (ja) | 1981-04-06 | 1981-04-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4946481U JPS6238032Y2 (ja) | 1981-04-06 | 1981-04-06 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57163035U JPS57163035U (ja) | 1982-10-14 |
| JPS6238032Y2 true JPS6238032Y2 (ja) | 1987-09-29 |
Family
ID=29846189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4946481U Expired JPS6238032Y2 (ja) | 1981-04-06 | 1981-04-06 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6238032Y2 (ja) |
Families Citing this family (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0312976Y2 (ja) * | 1987-02-19 | 1991-03-26 | ||
| US5345170A (en) | 1992-06-11 | 1994-09-06 | Cascade Microtech, Inc. | Wafer probe station having integrated guarding, Kelvin connection and shielding systems |
| US6380751B2 (en) | 1992-06-11 | 2002-04-30 | Cascade Microtech, Inc. | Wafer probe station having environment control enclosure |
| US6232789B1 (en) | 1997-05-28 | 2001-05-15 | Cascade Microtech, Inc. | Probe holder for low current measurements |
| US5561377A (en) | 1995-04-14 | 1996-10-01 | Cascade Microtech, Inc. | System for evaluating probing networks |
| US5914613A (en) | 1996-08-08 | 1999-06-22 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system with local contact scrub |
| US6002263A (en) | 1997-06-06 | 1999-12-14 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station having inner and outer shielding |
| US6445202B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-09-03 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station thermal chuck with shielding for capacitive current |
| US6838890B2 (en) | 2000-02-25 | 2005-01-04 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| US6965226B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-11-15 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
| US6914423B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-07-05 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station |
| DE10143173A1 (de) | 2000-12-04 | 2002-06-06 | Cascade Microtech Inc | Wafersonde |
| US6970634B2 (en) | 2001-05-04 | 2005-11-29 | Cascade Microtech, Inc. | Fiber optic wafer probe |
| AU2002327490A1 (en) | 2001-08-21 | 2003-06-30 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| US6777964B2 (en) | 2002-01-25 | 2004-08-17 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station |
| JP2005527823A (ja) | 2002-05-23 | 2005-09-15 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | デバイスのテスト用プローブ |
| US6847219B1 (en) | 2002-11-08 | 2005-01-25 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station with low noise characteristics |
| US6724205B1 (en) | 2002-11-13 | 2004-04-20 | Cascade Microtech, Inc. | Probe for combined signals |
| US7250779B2 (en) | 2002-11-25 | 2007-07-31 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station with low inductance path |
| US6861856B2 (en) | 2002-12-13 | 2005-03-01 | Cascade Microtech, Inc. | Guarded tub enclosure |
| US7221172B2 (en) | 2003-05-06 | 2007-05-22 | Cascade Microtech, Inc. | Switched suspended conductor and connection |
| US7057404B2 (en) | 2003-05-23 | 2006-06-06 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Shielded probe for testing a device under test |
| US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
| US7187188B2 (en) | 2003-12-24 | 2007-03-06 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck with integrated wafer support |
| JP2008502167A (ja) | 2004-06-07 | 2008-01-24 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | 熱光学チャック |
| US7330041B2 (en) | 2004-06-14 | 2008-02-12 | Cascade Microtech, Inc. | Localizing a temperature of a device for testing |
| JP4980903B2 (ja) | 2004-07-07 | 2012-07-18 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | 膜懸垂プローブを具えるプローブヘッド |
| JP2008512680A (ja) | 2004-09-13 | 2008-04-24 | カスケード マイクロテック インコーポレイテッド | 両面プロービング構造体 |
| US7535247B2 (en) | 2005-01-31 | 2009-05-19 | Cascade Microtech, Inc. | Interface for testing semiconductors |
| JP2006207768A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Kayaba Ind Co Ltd | シールチェック機能を備えた接続構造 |
| US7449899B2 (en) | 2005-06-08 | 2008-11-11 | Cascade Microtech, Inc. | Probe for high frequency signals |
| EP1932003A2 (en) | 2005-06-13 | 2008-06-18 | Cascade Microtech, Inc. | Wideband active-passive differential signal probe |
| US7609077B2 (en) | 2006-06-09 | 2009-10-27 | Cascade Microtech, Inc. | Differential signal probe with integral balun |
| US7443186B2 (en) | 2006-06-12 | 2008-10-28 | Cascade Microtech, Inc. | On-wafer test structures for differential signals |
| US7403028B2 (en) | 2006-06-12 | 2008-07-22 | Cascade Microtech, Inc. | Test structure and probe for differential signals |
| US8410806B2 (en) | 2008-11-21 | 2013-04-02 | Cascade Microtech, Inc. | Replaceable coupon for a probing apparatus |
-
1981
- 1981-04-06 JP JP4946481U patent/JPS6238032Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57163035U (ja) | 1982-10-14 |
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