JPS6239701B2 - - Google Patents
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- JPS6239701B2 JPS6239701B2 JP54167561A JP16756179A JPS6239701B2 JP S6239701 B2 JPS6239701 B2 JP S6239701B2 JP 54167561 A JP54167561 A JP 54167561A JP 16756179 A JP16756179 A JP 16756179A JP S6239701 B2 JPS6239701 B2 JP S6239701B2
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Landscapes
- Measuring Oxygen Concentration In Cells (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、酸素センサ等のガスセンサ用基板
として好適なガスセンサ用ヒータ内蔵基板の製造
方法に関する。
として好適なガスセンサ用ヒータ内蔵基板の製造
方法に関する。
上記酸素センサは、流体中の酸素濃度を測定す
るのに使用され、たとえば、自動車用内燃機関の
排ガス中の酸素濃度を測定して空燃比制御を実現
しようとするのに使用され、その他各種燃焼機器
の燃焼制御や炉内雰囲気制御をおこなうのに使用
される。
るのに使用され、たとえば、自動車用内燃機関の
排ガス中の酸素濃度を測定して空燃比制御を実現
しようとするのに使用され、その他各種燃焼機器
の燃焼制御や炉内雰囲気制御をおこなうのに使用
される。
このような酸素センサは、酸素濃度検知部をヒ
ータ内蔵の基板で支持されるものが多く、前記基
板を製造するに際しては、例えば第1図a〜fに
示す工程が採用されていた。すなわち、まず第1
図a,dに示すように、アルミナ等を主成分とす
るセラミツク生シートを適当な大きさ(たとえば
9×5×0.7mm)に切出した2枚の基板素材1
a,1bを準備し、一方の基板素材1a上に、白
金粉末を用いた導電体ペーストを用いて第1図b
に示すパターンでスクリーン印刷し、乾燥して未
焼成状態のヒータ層3を積層する。次いで、第1
図cに示すように、前記ヒータ層3に形成した端
子部3a,3bを超えた位置まで白金等の直径
0.2mm、長さ10mmのリード線4a,4bを接続載
置する。また、他方の基板素材1bには、第1図
eに示すように、前記端子部3a,3bに対応し
た位置に貫通孔2a,2bを形成する。次いで、
前記一方の基板素材1a上に他方の基板素材1b
を積層し、加熱圧着して第1図fに示すようなヒ
ータ内蔵基板1を製作するようにしていた。そし
て、この後酸素濃度検知部の製造工程に応じた段
階で焼成して構造基体としての強度を保持させる
ようにしていた。
ータ内蔵の基板で支持されるものが多く、前記基
板を製造するに際しては、例えば第1図a〜fに
示す工程が採用されていた。すなわち、まず第1
図a,dに示すように、アルミナ等を主成分とす
るセラミツク生シートを適当な大きさ(たとえば
9×5×0.7mm)に切出した2枚の基板素材1
a,1bを準備し、一方の基板素材1a上に、白
金粉末を用いた導電体ペーストを用いて第1図b
に示すパターンでスクリーン印刷し、乾燥して未
焼成状態のヒータ層3を積層する。次いで、第1
図cに示すように、前記ヒータ層3に形成した端
子部3a,3bを超えた位置まで白金等の直径
0.2mm、長さ10mmのリード線4a,4bを接続載
置する。また、他方の基板素材1bには、第1図
eに示すように、前記端子部3a,3bに対応し
た位置に貫通孔2a,2bを形成する。次いで、
前記一方の基板素材1a上に他方の基板素材1b
を積層し、加熱圧着して第1図fに示すようなヒ
ータ内蔵基板1を製作するようにしていた。そし
て、この後酸素濃度検知部の製造工程に応じた段
階で焼成して構造基体としての強度を保持させる
ようにしていた。
しかしながら、このような従来のヒータ内蔵基
板の製造方法にあつては、リード線4a,4bを
接続する際に、貫通孔2a,2bを超えた深さで
載置し、第1図fに示すように、貫通孔2a,2
bを超えた部分2c,2dと、貫通孔2a,2b
と一辺との間の部分2e,2fとの両方で各リー
ド線4a,4bを固定するようにしていたため、
第1図bに示すヒータ層3の端子部3a,3b
が、前記両基板素材1a,1bの加熱圧着後に各
リード線4a,4bに押し込まれ、破損する不具
合が多発していた。この様子をさらに詳しく説明
する。
板の製造方法にあつては、リード線4a,4bを
接続する際に、貫通孔2a,2bを超えた深さで
載置し、第1図fに示すように、貫通孔2a,2
bを超えた部分2c,2dと、貫通孔2a,2b
と一辺との間の部分2e,2fとの両方で各リー
ド線4a,4bを固定するようにしていたため、
第1図bに示すヒータ層3の端子部3a,3b
が、前記両基板素材1a,1bの加熱圧着後に各
リード線4a,4bに押し込まれ、破損する不具
合が多発していた。この様子をさらに詳しく説明
する。
第2図は、加熱圧着された後の基板1の貫通孔
2a,2b部分(貫通孔2b部分は省略)の拡大
説明図であつて、基板1の貫通孔2a内に、印刷
されたヒータ層3の端子部3aの一部と、リード
線4aの一部とが表われる。また、基板1の内部
に埋設された部分は破線で示してあるが、リード
線4aは貫通孔2aを超えた位置まで入つて固定
されている。なお、貫通孔2bにおいても同様で
ある。
2a,2b部分(貫通孔2b部分は省略)の拡大
説明図であつて、基板1の貫通孔2a内に、印刷
されたヒータ層3の端子部3aの一部と、リード
線4aの一部とが表われる。また、基板1の内部
に埋設された部分は破線で示してあるが、リード
線4aは貫通孔2aを超えた位置まで入つて固定
されている。なお、貫通孔2bにおいても同様で
ある。
また、第3図は第2図のA−A′線断面図であ
つて、リード線4aの先端部は貫通孔2aを超え
て入つているため、ヒータ層3はリード線4aの
先端部で極めて急激に折曲され、非常に薄い膜と
なつている。また、リード線4aの先端部分でヒ
ータ層3が強い剪断力を受けやすい。
つて、リード線4aの先端部は貫通孔2aを超え
て入つているため、ヒータ層3はリード線4aの
先端部で極めて急激に折曲され、非常に薄い膜と
なつている。また、リード線4aの先端部分でヒ
ータ層3が強い剪断力を受けやすい。
さらに、第4図は第2図のB−B′線断面図であ
つて、ヒータ層3の端子部3aはリード線4aの
載置されている部分で膜厚がかなり薄くなつてお
り、リード線4aによつてヒータ層3が左右に押
しやられたような形になつている。このため、従
来の場合にはリード線4aとヒータ層3との電気
的な接触部は、左右のごくわずかな部分にすぎな
いものであつた。また、第5図に示す前記第2図
のC−C′線断面では、ヒータ層3の膜厚が約0.3
mmであり、リード線4aの直径が約0.2mmである
ため、ヒータ層3がリード線4aによつて左右に
押しやられた場合には、左右のきわめて少ない部
分でしか接触していない状態であつた。
つて、ヒータ層3の端子部3aはリード線4aの
載置されている部分で膜厚がかなり薄くなつてお
り、リード線4aによつてヒータ層3が左右に押
しやられたような形になつている。このため、従
来の場合にはリード線4aとヒータ層3との電気
的な接触部は、左右のごくわずかな部分にすぎな
いものであつた。また、第5図に示す前記第2図
のC−C′線断面では、ヒータ層3の膜厚が約0.3
mmであり、リード線4aの直径が約0.2mmである
ため、ヒータ層3がリード線4aによつて左右に
押しやられた場合には、左右のきわめて少ない部
分でしか接触していない状態であつた。
このように、従来の場合には、ヒータ層3がリ
ード線4a,4bによつて破壊される度合が大き
いため、焼成後にヒータ層3とリード線4a,4
bとの間で断線を生じやすく、また断線しないま
でもヒータ層3の抵抗値に大きなばらつきを伴な
いやすく、この基板1上に形成した酸素センサ等
のガス濃度検知部の温度特性や応答性に悪影響を
及ぼす問題を有し、ガスセンサ製造上の歩留りが
極めて低く、大きな問題となつていた。
ード線4a,4bによつて破壊される度合が大き
いため、焼成後にヒータ層3とリード線4a,4
bとの間で断線を生じやすく、また断線しないま
でもヒータ層3の抵抗値に大きなばらつきを伴な
いやすく、この基板1上に形成した酸素センサ等
のガス濃度検知部の温度特性や応答性に悪影響を
及ぼす問題を有し、ガスセンサ製造上の歩留りが
極めて低く、大きな問題となつていた。
この発明の目的は、上述した従来技術の欠点を
解消し、二枚の未焼成基板素材のうちの一方の基
板素材の表面にヒータ層を形成し、前記ヒータ層
の端子部にリード線を接続したのち、他方の基板
素材を積層して前記ヒータ層を内蔵したガスセン
サ用基板を製造するにあたり、前記ヒータ層とリ
ード線との間における断線の発生を防止し、加え
てヒータ層の電気抵抗値のばらつきを小さくする
ことができるガスセンサ用ヒータ内蔵基板の製造
方法を提供することにあり、その特徴とするとこ
ろは、前記他方の基板素材の前記ヒータ層端子部
に相当する位置に貫通孔を設け、両基板素材の積
層時に前記ヒータ層に接続したリード線の先端を
前記貫通孔内で終端可能に前記リード線を位置決
めしたのち、前記一方の基板素材に他方の基板素
材を積層して未焼成基板を作成し、その後ガスセ
ンサ検知部の製造工程にあわせて焼成して基板と
しての強度を保持させるようにした点にある。
解消し、二枚の未焼成基板素材のうちの一方の基
板素材の表面にヒータ層を形成し、前記ヒータ層
の端子部にリード線を接続したのち、他方の基板
素材を積層して前記ヒータ層を内蔵したガスセン
サ用基板を製造するにあたり、前記ヒータ層とリ
ード線との間における断線の発生を防止し、加え
てヒータ層の電気抵抗値のばらつきを小さくする
ことができるガスセンサ用ヒータ内蔵基板の製造
方法を提供することにあり、その特徴とするとこ
ろは、前記他方の基板素材の前記ヒータ層端子部
に相当する位置に貫通孔を設け、両基板素材の積
層時に前記ヒータ層に接続したリード線の先端を
前記貫通孔内で終端可能に前記リード線を位置決
めしたのち、前記一方の基板素材に他方の基板素
材を積層して未焼成基板を作成し、その後ガスセ
ンサ検知部の製造工程にあわせて焼成して基板と
しての強度を保持させるようにした点にある。
以下、この発明の実施例をさらに詳細に説明す
る。
る。
第6図はこの発明に基づくガスセンサ用ヒータ
内蔵基板の製造工程の一例を示しており、約72重
量%のアルミナと、残りタルク、ポリビニルブチ
ラール、ジブチルフタレート、分散剤等を含むセ
ラミツク生シートを適当な大きさ(9×5×0.7
mm)に切出した第6図a,dに示す如き2枚の基
板素材11a,11bを準備し、一方の基板素材
11a上に、約55重量%の白金粉末と、残りエチ
ルセルロース、テルピネオール、ジブチルフタレ
ート、界面活性剤等を含む導電体ペーストを用い
て第6図bに示すパターンでスクリーン印刷し、
乾燥して未焼成状態のヒータ層13を積層する。
乾燥後に得られたヒータ層13の膜厚は約10μm
であり、膜幅は約0.3mmであり、端子部13a,
13bの直径は約1.0mmである。次いで、約6図
cに示すように、前記端子部13a,13bおよ
びこれらのほぼ中央部に直径0.2mm、長さ10mmの
白金等の導電性リード線14a,14b,14c
を接続載置するが、このときの各リード線14
a,14b,14cの詳細な位置決めについては
後述する。また、他方の基板素材11bには、第
6図eに示すように、前記端子部13a,13b
およびリード線14bの位置にあわせて3個の貫
通孔12a,12b,12cを形成する。このと
き、貫通孔12a,12b,12cの直径は約
0.8mmである。その後、前記一方の基板素材11
a上に他方の基板素材11bを積層し、加熱圧着
して第6図fに示すようなヒータ内蔵基板11を
製作するようにしている。この際、前記積層時に
両端子部13a,13bの中心と貫通孔12a,
12cの中心とがほぼ一致するように各々位置決
めする。また、第6図cに示す如く、3本のリー
ド線14a,14b,14cを一方の基板素材1
1a上に載置するにあたり、それらのうち2本の
リード線14a,14cについては、前記ヒータ
層の13の端子部13a,13bのほぼ中心に前
記リード線14a,14cの先端が位置するよう
に位置決めする。このとき、他の1本のリード線
14bを、第6図cに示す如く、ヒータ層13と
接触しないように、リード線14a,14cのほ
ぼ中間の位置に配設する。
内蔵基板の製造工程の一例を示しており、約72重
量%のアルミナと、残りタルク、ポリビニルブチ
ラール、ジブチルフタレート、分散剤等を含むセ
ラミツク生シートを適当な大きさ(9×5×0.7
mm)に切出した第6図a,dに示す如き2枚の基
板素材11a,11bを準備し、一方の基板素材
11a上に、約55重量%の白金粉末と、残りエチ
ルセルロース、テルピネオール、ジブチルフタレ
ート、界面活性剤等を含む導電体ペーストを用い
て第6図bに示すパターンでスクリーン印刷し、
乾燥して未焼成状態のヒータ層13を積層する。
乾燥後に得られたヒータ層13の膜厚は約10μm
であり、膜幅は約0.3mmであり、端子部13a,
13bの直径は約1.0mmである。次いで、約6図
cに示すように、前記端子部13a,13bおよ
びこれらのほぼ中央部に直径0.2mm、長さ10mmの
白金等の導電性リード線14a,14b,14c
を接続載置するが、このときの各リード線14
a,14b,14cの詳細な位置決めについては
後述する。また、他方の基板素材11bには、第
6図eに示すように、前記端子部13a,13b
およびリード線14bの位置にあわせて3個の貫
通孔12a,12b,12cを形成する。このと
き、貫通孔12a,12b,12cの直径は約
0.8mmである。その後、前記一方の基板素材11
a上に他方の基板素材11bを積層し、加熱圧着
して第6図fに示すようなヒータ内蔵基板11を
製作するようにしている。この際、前記積層時に
両端子部13a,13bの中心と貫通孔12a,
12cの中心とがほぼ一致するように各々位置決
めする。また、第6図cに示す如く、3本のリー
ド線14a,14b,14cを一方の基板素材1
1a上に載置するにあたり、それらのうち2本の
リード線14a,14cについては、前記ヒータ
層の13の端子部13a,13bのほぼ中心に前
記リード線14a,14cの先端が位置するよう
に位置決めする。このとき、他の1本のリード線
14bを、第6図cに示す如く、ヒータ層13と
接触しないように、リード線14a,14cのほ
ぼ中間の位置に配設する。
続いて、第6図cに示す一方の基板素材11a
上に、第6図eに示す貫通孔12a,12b,1
2cを設けた他方の基板素材11bを積層し、そ
の後加熱圧着をおこなう。この状態では、第6図
fに示す如く、リード線14a,14cについて
は、貫通孔12a,12cのほぼ中心部にリード
線14a,14cの先端がくるように位置決め
し、下部のヒータ層13の端子部13a,13b
の上部が表われるようにする。
上に、第6図eに示す貫通孔12a,12b,1
2cを設けた他方の基板素材11bを積層し、そ
の後加熱圧着をおこなう。この状態では、第6図
fに示す如く、リード線14a,14cについて
は、貫通孔12a,12cのほぼ中心部にリード
線14a,14cの先端がくるように位置決め
し、下部のヒータ層13の端子部13a,13b
の上部が表われるようにする。
他方、リード線14bについては、第6図fの
例では、これもリード線14bの先端が貫通孔1
2bのほぼ中心にくるようにしているが、このリ
ード線14bについては、前記ヒータ層13と無
関係であるため、従来のように、先端が貫通孔1
2bを超えたところまで前記基板素材11a,1
1b内に入つていても差支えない。その後の加熱
圧着については、100℃、3分間、4Kg/cm2の条
件にておこなつた。次いで、上記加熱圧着された
未焼成基板11を大気中にて1500℃×2時間の条
件で焼成した。なお、基板11に装着するガス濃
度検知部の製造工程によつては、基板11の焼成
がガス濃度検知部の製造の際におこなわれること
も当然おりうる。
例では、これもリード線14bの先端が貫通孔1
2bのほぼ中心にくるようにしているが、このリ
ード線14bについては、前記ヒータ層13と無
関係であるため、従来のように、先端が貫通孔1
2bを超えたところまで前記基板素材11a,1
1b内に入つていても差支えない。その後の加熱
圧着については、100℃、3分間、4Kg/cm2の条
件にておこなつた。次いで、上記加熱圧着された
未焼成基板11を大気中にて1500℃×2時間の条
件で焼成した。なお、基板11に装着するガス濃
度検知部の製造工程によつては、基板11の焼成
がガス濃度検知部の製造の際におこなわれること
も当然おりうる。
次に、上記焼成したのちの本発明によるヒータ
内蔵基板11を100個選び、そのヒータ層13の
抵抗をリード線14a,14c間で測定したとこ
ろ、第7図に示す結果を得た。すなわち、抵抗値
が5.0Ω±0.1Ωの中に入つたものは91%であり、
5.0Ω±0.2Ωの中に入つたものは98%である。
内蔵基板11を100個選び、そのヒータ層13の
抵抗をリード線14a,14c間で測定したとこ
ろ、第7図に示す結果を得た。すなわち、抵抗値
が5.0Ω±0.1Ωの中に入つたものは91%であり、
5.0Ω±0.2Ωの中に入つたものは98%である。
続いて、前記5.0Ω±0.1Ωの中に入つたヒータ
内蔵基板11のうち、任意に10個を選んで10Vの
直流電圧を印加し、通電2分−停電2分のサイク
ルで通電耐久試験を5000サイクルおこなつたとこ
ろ、断線等の不具合は全く発生しなかつた。
内蔵基板11のうち、任意に10個を選んで10Vの
直流電圧を印加し、通電2分−停電2分のサイク
ルで通電耐久試験を5000サイクルおこなつたとこ
ろ、断線等の不具合は全く発生しなかつた。
比較例として、従来の製造方法によるヒータ内
蔵基板1の測定例を第8図に示す。ここでも、ヒ
ータ内蔵基板1を100個選び、そのヒータ層3の
抵抗をリード線4a,4b間で測定したもので、
目標値の5.0Ω±1.0Ωの中に入つたものは46%で
しかなく、また、5.0Ω±0.2Ωの中にも72%しか
入らなかつた。
蔵基板1の測定例を第8図に示す。ここでも、ヒ
ータ内蔵基板1を100個選び、そのヒータ層3の
抵抗をリード線4a,4b間で測定したもので、
目標値の5.0Ω±1.0Ωの中に入つたものは46%で
しかなく、また、5.0Ω±0.2Ωの中にも72%しか
入らなかつた。
続いて、前記5.0Ω±0.1Ωの中に入つたヒータ
内蔵基板1のうち、任意に10個を選んで10Vの直
流電圧を印加し、通電2分−停電2分のサイクル
で通電耐久試験をおこなつたところ、第9図に示
す結果を得た。すなわち、はじめの1000サイクル
で3個が断線し、以下図に示すように次第に脱落
して5000サイクル後では5個と半数であつた。
内蔵基板1のうち、任意に10個を選んで10Vの直
流電圧を印加し、通電2分−停電2分のサイクル
で通電耐久試験をおこなつたところ、第9図に示
す結果を得た。すなわち、はじめの1000サイクル
で3個が断線し、以下図に示すように次第に脱落
して5000サイクル後では5個と半数であつた。
以上の比較からもわかるように、本発明におい
ては、ヒータ内蔵基板11のヒータ層13の抵抗
のばらつき(リード線14a,14c間で測定し
た抵抗のばらつき)をヒータ層13そのものの抵
抗のばらつきとほぼ同じくらいにおさえることが
でき、なおかつ通電耐久性も大幅に向上させるこ
とができた。
ては、ヒータ内蔵基板11のヒータ層13の抵抗
のばらつき(リード線14a,14c間で測定し
た抵抗のばらつき)をヒータ層13そのものの抵
抗のばらつきとほぼ同じくらいにおさえることが
でき、なおかつ通電耐久性も大幅に向上させるこ
とができた。
この理由は次のように説明できる。すなわち、
ヒータ層13の端子部13a,13bと電気的な
接続をとるために載置したリード線14a,14
cの先端を、貫通孔12a,12c内で終端する
ように位置決めし、リード線14a,14cの先
端部分でヒータ層13が破損されることのないよ
うにしたためである。
ヒータ層13の端子部13a,13bと電気的な
接続をとるために載置したリード線14a,14
cの先端を、貫通孔12a,12c内で終端する
ように位置決めし、リード線14a,14cの先
端部分でヒータ層13が破損されることのないよ
うにしたためである。
第10図は前記第6図fの貫通孔12a部分の
拡大説明図であつて、他方の貫通孔12cにおい
ても同様である。図に示すように、基板11の貫
通孔12a内には、印刷されたヒータ層13の端
子部13aの一部と、リード線14aの一部とが
見える。このとき、リード線14a(14c)
は、第6図fに示す貫通孔12a(12c)と一
辺との間の部分12d(12f)で、すなわち、
第10図に示す部分12dでのみ固定され、リー
ド線14aの先端は貫通孔12aのほぼ中央で終
端している。
拡大説明図であつて、他方の貫通孔12cにおい
ても同様である。図に示すように、基板11の貫
通孔12a内には、印刷されたヒータ層13の端
子部13aの一部と、リード線14aの一部とが
見える。このとき、リード線14a(14c)
は、第6図fに示す貫通孔12a(12c)と一
辺との間の部分12d(12f)で、すなわち、
第10図に示す部分12dでのみ固定され、リー
ド線14aの先端は貫通孔12aのほぼ中央で終
端している。
また、第11図は前記第10図のD−D′線断
面を示しており、リード線14aの先端は貫通孔
12a内で終端しているので、リード線14aが
両基板素材11a,11bの間にはさまれた状態
では、その先端が若干浮き上がつた形となる。し
たがつて、リード線14aがヒータ層13を押し
つぶす程度が相当小さくなり、ヒータ層13の端
子部13a上にリード線14aの先端が乗つた形
となるため、ヒータ層13とリード線14aとの
間の電気的な接続をかなり良好なものにすること
ができる。
面を示しており、リード線14aの先端は貫通孔
12a内で終端しているので、リード線14aが
両基板素材11a,11bの間にはさまれた状態
では、その先端が若干浮き上がつた形となる。し
たがつて、リード線14aがヒータ層13を押し
つぶす程度が相当小さくなり、ヒータ層13の端
子部13a上にリード線14aの先端が乗つた形
となるため、ヒータ層13とリード線14aとの
間の電気的な接続をかなり良好なものにすること
ができる。
このように、本発明に基くヒータ内蔵基板11
では、リード線14a,14cがヒータ層13を
破損する度合が非常に小さいため、ヒータ層13
とリード線14a,14cとの間の電気的な接続
をかなり良好なものとすることができ、ヒータ層
13にリード線14a,14cを接続したのち両
基板素材11a,11bを加熱圧着したときで
も、ヒータ層13それ自体の抵抗をそのまま両リ
ード線14a,14c間における抵抗とすること
ができるので、両リード線14a,14c間で測
定したヒータ層13の抵抗値のばらつきをかなり
小さくすることができ、ヒータ層13とリード線
14a,14cとの接触度合に基づく抵抗値のば
らつきをほとんど無視することができ、加えて通
電耐久性を大幅に改善することが可能となる。
では、リード線14a,14cがヒータ層13を
破損する度合が非常に小さいため、ヒータ層13
とリード線14a,14cとの間の電気的な接続
をかなり良好なものとすることができ、ヒータ層
13にリード線14a,14cを接続したのち両
基板素材11a,11bを加熱圧着したときで
も、ヒータ層13それ自体の抵抗をそのまま両リ
ード線14a,14c間における抵抗とすること
ができるので、両リード線14a,14c間で測
定したヒータ層13の抵抗値のばらつきをかなり
小さくすることができ、ヒータ層13とリード線
14a,14cとの接触度合に基づく抵抗値のば
らつきをほとんど無視することができ、加えて通
電耐久性を大幅に改善することが可能となる。
さらに、前記本発明に基づくヒータ内蔵未焼成
基板11の貫通孔12a,12c内に、白金ペー
スト等の導電性物質15(15a,15b)を落
し込み、その後製造工程にあわせて焼成するよう
にすれば、第13図および第14図に示す如く、
リード線14a(14c)を前記ヒータ層13お
よび導電性物質15a(15b)で取り囲む形と
なるため、ヒータ層13とリード線14a(14
c)との間における電気的な接続をより一層確実
なものにすることができる。このようにすれば、
上記ヒータ内蔵基板11上に、たとえば積層型酸
素センサ検知部を形成して自動車用内燃機関の排
ガス中の酸素濃度を測定する酸素センサとして用
いる場合など、高温かつ高振動の苛酷な条件下に
置かれたときでも、ヒータ層13とリード線14
a,14cとの間の電気的な接続をかなり確実な
ものにすることができ、発熱特性の良好なヒータ
層13をそなえた酸素センサを得ることができ
る。なお、必要に応じて貫通孔12b内にも白金
ペースト等の導電性物質15を落し込めば、同様
の効果を得ることができる。
基板11の貫通孔12a,12c内に、白金ペー
スト等の導電性物質15(15a,15b)を落
し込み、その後製造工程にあわせて焼成するよう
にすれば、第13図および第14図に示す如く、
リード線14a(14c)を前記ヒータ層13お
よび導電性物質15a(15b)で取り囲む形と
なるため、ヒータ層13とリード線14a(14
c)との間における電気的な接続をより一層確実
なものにすることができる。このようにすれば、
上記ヒータ内蔵基板11上に、たとえば積層型酸
素センサ検知部を形成して自動車用内燃機関の排
ガス中の酸素濃度を測定する酸素センサとして用
いる場合など、高温かつ高振動の苛酷な条件下に
置かれたときでも、ヒータ層13とリード線14
a,14cとの間の電気的な接続をかなり確実な
ものにすることができ、発熱特性の良好なヒータ
層13をそなえた酸素センサを得ることができ
る。なお、必要に応じて貫通孔12b内にも白金
ペースト等の導電性物質15を落し込めば、同様
の効果を得ることができる。
次に、本発明に基づくヒータ内蔵基板11の応
用例として、酸素イオン伝導性固体電解質を用い
た酸素センサ検知部を積層した場合を示す。そこ
で、第6図fに示す未焼成状態のヒータ内蔵基板
11上に、第15図aに示すように、白金ペース
トを印刷し次いで乾燥して未焼成状態の基準側電
極層16を形成した。このとき、基準側電極層1
6の膜厚は約20μmであつた。続いて、第15図
bに示すように、基準側電極層16上に、5モル
%Y2O3−95モル%ZrO2固体電解質粉末を用いた
固体電解質ペーストを印刷し次いで乾燥して未焼
成状態の固体電解質層17を形成した。印刷に際
しては、乾燥後の膜厚が20〜22μmとなるように
した。さらに、第15図cに示すように、固体電
解質層17上に、白金ペーストを印刷し次いで乾
燥して未焼成状態の測定側電極層18を形成し
た。このとき、乾燥後の測定側電極層18の膜厚
は約20μmであつた。また、同時に貫通孔12
a,12b,12c内にも前記白金ペーストを落
し込んで導通部15a,15b,15cを形成し
た。なお、導通部15a,15cについては、前
記ヒータ層13とリード線14a,14cとの間
での電気的な接続を良好なものにし、接続部にお
ける耐久性を十分に確保できるようにするために
設けており、導通部15b,15cについては、
各電極層16,18とリード線14b,14cと
の間での電気的な接続を良好なものにするために
設けている。この場合、リード線14cはヒータ
層13用と電極層18用の両方の電気的導通部を
兼用しているが、もちろん、区別して4本のリー
ド線としてもよい。
用例として、酸素イオン伝導性固体電解質を用い
た酸素センサ検知部を積層した場合を示す。そこ
で、第6図fに示す未焼成状態のヒータ内蔵基板
11上に、第15図aに示すように、白金ペース
トを印刷し次いで乾燥して未焼成状態の基準側電
極層16を形成した。このとき、基準側電極層1
6の膜厚は約20μmであつた。続いて、第15図
bに示すように、基準側電極層16上に、5モル
%Y2O3−95モル%ZrO2固体電解質粉末を用いた
固体電解質ペーストを印刷し次いで乾燥して未焼
成状態の固体電解質層17を形成した。印刷に際
しては、乾燥後の膜厚が20〜22μmとなるように
した。さらに、第15図cに示すように、固体電
解質層17上に、白金ペーストを印刷し次いで乾
燥して未焼成状態の測定側電極層18を形成し
た。このとき、乾燥後の測定側電極層18の膜厚
は約20μmであつた。また、同時に貫通孔12
a,12b,12c内にも前記白金ペーストを落
し込んで導通部15a,15b,15cを形成し
た。なお、導通部15a,15cについては、前
記ヒータ層13とリード線14a,14cとの間
での電気的な接続を良好なものにし、接続部にお
ける耐久性を十分に確保できるようにするために
設けており、導通部15b,15cについては、
各電極層16,18とリード線14b,14cと
の間での電気的な接続を良好なものにするために
設けている。この場合、リード線14cはヒータ
層13用と電極層18用の両方の電気的導通部を
兼用しているが、もちろん、区別して4本のリー
ド線としてもよい。
次に、上述のようにして作製した未焼成状態の
積層体(基板11を含む)を大気中にて1500℃×
2時間の条件で同時焼成した。次い、第15図d
に示すように、表面の全体にわたつてカルシウム
ジルコネート(CaO−ZrO2)をプラズマ溶射して
多孔性保護層19を形成した。
積層体(基板11を含む)を大気中にて1500℃×
2時間の条件で同時焼成した。次い、第15図d
に示すように、表面の全体にわたつてカルシウム
ジルコネート(CaO−ZrO2)をプラズマ溶射して
多孔性保護層19を形成した。
このようにして製造した酸素センサ20をプロ
パンガス燃焼器の排気管に取り付け、その排ガス
を400℃に保持した状態で空気に対するプロパン
ガスの比率(空気透剰率)を変えて出力電圧を測
定した。その結果を第16図に示す。上記400℃
ではヒータ層のない酸素センサの場合にほとんど
出力電圧が発生しない温度であるが、本応用例の
場合には第16図に示すように、排ガス温度が
400℃と低い場合であつても良好な出力電圧特性
を示しており、ヒータ層13による発熱が良好に
おこなわれていることが確認された。
パンガス燃焼器の排気管に取り付け、その排ガス
を400℃に保持した状態で空気に対するプロパン
ガスの比率(空気透剰率)を変えて出力電圧を測
定した。その結果を第16図に示す。上記400℃
ではヒータ層のない酸素センサの場合にほとんど
出力電圧が発生しない温度であるが、本応用例の
場合には第16図に示すように、排ガス温度が
400℃と低い場合であつても良好な出力電圧特性
を示しており、ヒータ層13による発熱が良好に
おこなわれていることが確認された。
なお、酸素センサとしては、上記酸素イオン伝
導性固体電解質のほか、CoO、TiO2等の酸化物
半導体を用いた酸素センサもあり、この酸素セン
サ用基板としても適用することができる。あるい
は、酸素以外の水素、一酸化炭素、炭化水素、メ
タン、エタン等のガス濃度を検出するガスセンサ
用基板として適用することも可能である。
導性固体電解質のほか、CoO、TiO2等の酸化物
半導体を用いた酸素センサもあり、この酸素セン
サ用基板としても適用することができる。あるい
は、酸素以外の水素、一酸化炭素、炭化水素、メ
タン、エタン等のガス濃度を検出するガスセンサ
用基板として適用することも可能である。
上記実施例では、基板11の素材としてアルミ
ナを使用しているが、そのほか、ムライト、スピ
ネル、フオルステライト、ステアタイト、ベリリ
ア、チタニア等の既知のセラミツクス材料あるい
はサーメツト材料などを使用することができる。
そのとき、一方の基板素材11aの熱伝導率を他
方の基板素材11bの熱伝導率よりも小さくする
ことによつて、ヒータ層13の発熱量のより多く
を他方の基板素材11b側すなわちガス濃度検知
部側に伝達させうるようになすこともできる。
ナを使用しているが、そのほか、ムライト、スピ
ネル、フオルステライト、ステアタイト、ベリリ
ア、チタニア等の既知のセラミツクス材料あるい
はサーメツト材料などを使用することができる。
そのとき、一方の基板素材11aの熱伝導率を他
方の基板素材11bの熱伝導率よりも小さくする
ことによつて、ヒータ層13の発熱量のより多く
を他方の基板素材11b側すなわちガス濃度検知
部側に伝達させうるようになすこともできる。
また、ヒータ層13の素材としては、白金等の
白金族元素の単体もしくは合金、あるいはタング
ステンやモリブデンなどの電気抵抗材料を用いる
ことができる。さらに、リード線14a,14
b,14cの素材としても白金のほかニツケルそ
の他既知の導電性材料を使用することができる。
白金族元素の単体もしくは合金、あるいはタング
ステンやモリブデンなどの電気抵抗材料を用いる
ことができる。さらに、リード線14a,14
b,14cの素材としても白金のほかニツケルそ
の他既知の導電性材料を使用することができる。
以上のように、この発明によれば、ヒータ層を
内蔵した基板を製造するにあたり、他方の基板素
材に、一方の基板素材のヒータ層端子部に相当す
る位置に貫通孔を設け、両基板素材の積層時に前
記ヒータ層に接続したリード線の先端を前記貫通
孔内で終端可能に前記リード線を位置決めしたの
ち、前記一方の基板素材に他方の基板素材を積層
して未焼成基板を作成し、その後ガスセンサ検知
部の製造工程にあわせて焼成するようにしたか
ら、両基板素材の積層後にヒータ層がリード線に
よつて大きく破損を受けるのを防止することがで
き、焼成後の状態において前記ヒータ層とリード
線との間での良好な電気的接続を確保することが
可能であり、リード線間で測定したヒータ層の抵
抗値のばらつきをヒータ層自体の抵抗値のばらつ
きにほぼ一致させることができて前記抵抗値のば
らつきを大幅に減少させることができ、通電耐久
性も格段に向上させることが可能であるという非
常にすぐれた効果をもたらす。
内蔵した基板を製造するにあたり、他方の基板素
材に、一方の基板素材のヒータ層端子部に相当す
る位置に貫通孔を設け、両基板素材の積層時に前
記ヒータ層に接続したリード線の先端を前記貫通
孔内で終端可能に前記リード線を位置決めしたの
ち、前記一方の基板素材に他方の基板素材を積層
して未焼成基板を作成し、その後ガスセンサ検知
部の製造工程にあわせて焼成するようにしたか
ら、両基板素材の積層後にヒータ層がリード線に
よつて大きく破損を受けるのを防止することがで
き、焼成後の状態において前記ヒータ層とリード
線との間での良好な電気的接続を確保することが
可能であり、リード線間で測定したヒータ層の抵
抗値のばらつきをヒータ層自体の抵抗値のばらつ
きにほぼ一致させることができて前記抵抗値のば
らつきを大幅に減少させることができ、通電耐久
性も格段に向上させることが可能であるという非
常にすぐれた効果をもたらす。
第1図a〜fは従来のガスセンサ用ヒータ内蔵
基板の製造工程の一例を示す説明図、第2図は第
1図fに示す基板の一方の貫通孔部分の拡大説明
図、第3図、第4図および第5図はそれぞれ第2
図A−A′線断面図、B−B′線断面図およびC−
C′線断面図、第6図a〜fは本発明に基づくガ
スセンサ用ヒータ内蔵基板の製造工程の一例を示
す説明図、第7図および第8図はそれぞれ本発明
および従来例における基板のヒータ層の抵抗値を
測定した結果を示すグラフ、第9図は通電−停電
サイクルと残存数量との関係を示すグラフ、第1
0図は第6図fに示す基板の一方の貫通孔部分の
拡大説明図、第11図および第12図はそれぞれ
第10図D−D′線断面図およびE−E′線断面
図、第13図および第14図は貫通孔内に導電性
物質を落し込んだ後のそれぞれ第10図D−
D′線断面図およびE−E′線断面図、第15図a
〜dは本発明の一応用例における酸素センサ検知
部の製造工程の説明図、第16図は第15図の酸
素センサの空気過剰率と出力電圧との関係を示す
グラフである。 11……基板、11a,11b……基板素材、
12a,12b,12c……貫通孔、13……ヒ
ータ層、13a,13b……端子部、14a,1
4b,14c……リード線。
基板の製造工程の一例を示す説明図、第2図は第
1図fに示す基板の一方の貫通孔部分の拡大説明
図、第3図、第4図および第5図はそれぞれ第2
図A−A′線断面図、B−B′線断面図およびC−
C′線断面図、第6図a〜fは本発明に基づくガ
スセンサ用ヒータ内蔵基板の製造工程の一例を示
す説明図、第7図および第8図はそれぞれ本発明
および従来例における基板のヒータ層の抵抗値を
測定した結果を示すグラフ、第9図は通電−停電
サイクルと残存数量との関係を示すグラフ、第1
0図は第6図fに示す基板の一方の貫通孔部分の
拡大説明図、第11図および第12図はそれぞれ
第10図D−D′線断面図およびE−E′線断面
図、第13図および第14図は貫通孔内に導電性
物質を落し込んだ後のそれぞれ第10図D−
D′線断面図およびE−E′線断面図、第15図a
〜dは本発明の一応用例における酸素センサ検知
部の製造工程の説明図、第16図は第15図の酸
素センサの空気過剰率と出力電圧との関係を示す
グラフである。 11……基板、11a,11b……基板素材、
12a,12b,12c……貫通孔、13……ヒ
ータ層、13a,13b……端子部、14a,1
4b,14c……リード線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 二枚の未焼成基板素材のうちの一方の基板素
材の表面にヒータ層を形成し、前記ヒータ層の端
子部にリード線を接続したのち、他方の基板素材
を積層して前記ヒータ層を内蔵したガスセンサ用
基板を製造するにあたり、前記他方の基板素材の
前記ヒータ層端子部に相当する位置に貫通孔を設
け、両基板素材の積層時に前記ヒータ層に接続し
たリード線の先端を前記貫通孔内で終端可能に前
記リード線を位置決めしたのち、前記一方の基板
素材に他方の基板素材を積層して未焼成基板を作
成し、その後焼成することを特徴とするガスセン
サ用ヒータ内蔵基板の製造方法。 2 貫通孔内に導電性物質を落し込むようにした
特許請求の範囲第1項記載のガスセンサ用ヒータ
内蔵基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16756179A JPS5690254A (en) | 1979-12-25 | 1979-12-25 | Preparation of heater-incorporating substrate for gas sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16756179A JPS5690254A (en) | 1979-12-25 | 1979-12-25 | Preparation of heater-incorporating substrate for gas sensor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5690254A JPS5690254A (en) | 1981-07-22 |
| JPS6239701B2 true JPS6239701B2 (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=15852002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16756179A Granted JPS5690254A (en) | 1979-12-25 | 1979-12-25 | Preparation of heater-incorporating substrate for gas sensor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5690254A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126162U (ja) * | 1984-07-20 | 1986-02-17 | マルコン電子株式会社 | 湿度センサ |
| DE10359569A1 (de) * | 2003-12-18 | 2005-07-28 | Robert Bosch Gmbh | Keramischer Schichtverbund |
-
1979
- 1979-12-25 JP JP16756179A patent/JPS5690254A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5690254A (en) | 1981-07-22 |
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