JPS6242549A - 電子部品パツケ−ジ及びその製造方法 - Google Patents
電子部品パツケ−ジ及びその製造方法Info
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- JPS6242549A JPS6242549A JP60182126A JP18212685A JPS6242549A JP S6242549 A JPS6242549 A JP S6242549A JP 60182126 A JP60182126 A JP 60182126A JP 18212685 A JP18212685 A JP 18212685A JP S6242549 A JPS6242549 A JP S6242549A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulating plate
- electrodes
- insulating board
- external electrode
- electronic component
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、IC,LSI等の電子部品を、小形。
薄形にパッケージして部品の実装密度を向上させること
を目的とした電子部品パッケージに関するものである。
を目的とした電子部品パッケージに関するものである。
従来の技術
第4図、第6図、第6図に、従来の小形パッケージの一
例を示す。
例を示す。
以下にこの従来例の構成について、第4図、第6図、第
6図とともに説明する。第4図は、上面図、第6図は、
工程別断面、第6図は、プリント基板へ半田付けした状
態を示したものであるO第5図aは、電子部品搭載用の
基板であり厚みが、0.1aa〜0.3順程度の耐熱性
ガラスエボキシ等の薄い絶縁板1の片面に、ダイパッド
2.ワイヤボンドパッド3.配線4.後に外部電極と本
なる導体5′を有する。形成方法は、まず、絶縁板の後
に外部電極となる導体5′が位置する部分に、パンチン
グ等により穴をあけ、絶縁板1.1′を形成する。次に
厚みが、35)1部程度の銅箔を絶縁板の片面に、接着
する。その後エツチングにより、不要な銅箔を除去し、
ダイパッド2.ワイヤボンドパッド3.配線4.後に外
部電極となる導体5′を形成する。最後に、ダイパッド
2.ワイヤボンドパッド3にAuメッキ、後に外部電極
となる導体5′に半田メッキを施す。
6図とともに説明する。第4図は、上面図、第6図は、
工程別断面、第6図は、プリント基板へ半田付けした状
態を示したものであるO第5図aは、電子部品搭載用の
基板であり厚みが、0.1aa〜0.3順程度の耐熱性
ガラスエボキシ等の薄い絶縁板1の片面に、ダイパッド
2.ワイヤボンドパッド3.配線4.後に外部電極と本
なる導体5′を有する。形成方法は、まず、絶縁板の後
に外部電極となる導体5′が位置する部分に、パンチン
グ等により穴をあけ、絶縁板1.1′を形成する。次に
厚みが、35)1部程度の銅箔を絶縁板の片面に、接着
する。その後エツチングにより、不要な銅箔を除去し、
ダイパッド2.ワイヤボンドパッド3.配線4.後に外
部電極となる導体5′を形成する。最後に、ダイパッド
2.ワイヤボンドパッド3にAuメッキ、後に外部電極
となる導体5′に半田メッキを施す。
次に、第6図すに示すように、ダイパッド2上に、Aq
ペースト等のダイボンド樹脂9を用いて、LSIチップ
6を、ダイボンドする。次にAu等のボンディングワイ
ヤ8を用いて、ワイヤボンディングを行ない、LSIチ
ップ6の電極7と、ワイヤボンドバンド3を電気的に接
続する。次に、LSIチップ6を覆う様に、エポキシ等
の封止樹脂1oをボッティングし封止する。
ペースト等のダイボンド樹脂9を用いて、LSIチップ
6を、ダイボンドする。次にAu等のボンディングワイ
ヤ8を用いて、ワイヤボンディングを行ない、LSIチ
ップ6の電極7と、ワイヤボンドバンド3を電気的に接
続する。次に、LSIチップ6を覆う様に、エポキシ等
の封止樹脂1oをボッティングし封止する。
最後に、第5図りの切断線14の位置で、後に外部電極
となる導体5′の1部を切離した後、フォーミングを行
い、第5図Cに示す様に、絶縁板1から突出した、外部
電極5を得る。
となる導体5′の1部を切離した後、フォーミングを行
い、第5図Cに示す様に、絶縁板1から突出した、外部
電極5を得る。
第6図に示す様に、プリント基板11への半田付けは、
外部電極6と、プリント基板11の電極13と位置合わ
せした後、半田12により接続される。半田付けの方法
としては、半田クリームを印刷してリフローする方法、
熱圧着法等がある。
外部電極6と、プリント基板11の電極13と位置合わ
せした後、半田12により接続される。半田付けの方法
としては、半田クリームを印刷してリフローする方法、
熱圧着法等がある。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記従来例においては、外部電極が、絶
縁板より突出した、構造となっている為次に示す欠点が
ある。
縁板より突出した、構造となっている為次に示す欠点が
ある。
(1)外部電極の切断、フォーミング時、及び、プリン
ト基板への搭載時に、外部電極が薄くし厚み#35μm
)強度が弱い為、外部電極に変形、不ぞろい、浮き、が
発生し、半田付けの歩留シを低下させる。
ト基板への搭載時に、外部電極が薄くし厚み#35μm
)強度が弱い為、外部電極に変形、不ぞろい、浮き、が
発生し、半田付けの歩留シを低下させる。
(2) リードレステップキャリヤパッケージ等に比
べると、突出した外部電極が占有面積を増大させ、実装
密度が低い。
べると、突出した外部電極が占有面積を増大させ、実装
密度が低い。
本発明は、上記従来例の欠点を除去するものであり、外
部電極の変形、不ぞろい、浮き等をなくし、半田付けを
容易にするとともに、占有面積を小さくし、小形、高密
度の電子部品パッケージを得ることを目的とするもので
ある。
部電極の変形、不ぞろい、浮き等をなくし、半田付けを
容易にするとともに、占有面積を小さくし、小形、高密
度の電子部品パッケージを得ることを目的とするもので
ある。
問題点を解決するための手段
本発明は、上記目的を達成するために、電子部品搭載用
基板のダイパッドを有する絶縁板から突出した、外部電
極にも絶縁板を設け、LSIチップ組み込み後、外部電
極を有した絶縁板を、ダイパッドを有する絶縁板の裏面
に折り曲げる構成としたものである。
基板のダイパッドを有する絶縁板から突出した、外部電
極にも絶縁板を設け、LSIチップ組み込み後、外部電
極を有した絶縁板を、ダイパッドを有する絶縁板の裏面
に折り曲げる構成としたものである。
作 用
このように外部電極は、絶縁板で保持されている為、変
形、不ぞろい、浮きは発生しない。また、ダイパッドを
有する絶縁板の裏面に折り曲げる為、占有面積が小さく
なり、高密度な電子部品パッケージが得られるものであ
る。
形、不ぞろい、浮きは発生しない。また、ダイパッドを
有する絶縁板の裏面に折り曲げる為、占有面積が小さく
なり、高密度な電子部品パッケージが得られるものであ
る。
実施例
以下に、本発明の一実施例の構成について、第1図、第
2図、第3図とともに説明する。本実施例は、薄形、小
形のIC、LS Iパッケージであり第1図は、工程別
断面図、第2図はプリント基板への搭載例、第3図は、
完成品の上面図である。
2図、第3図とともに説明する。本実施例は、薄形、小
形のIC、LS Iパッケージであり第1図は、工程別
断面図、第2図はプリント基板への搭載例、第3図は、
完成品の上面図である。
まず、第1図aに電子部品搭載用基板を示す。
基板は、第1の絶縁板21上に、ダイパッド22゜ワイ
ヤボンドパッド23.配線24を有し、第1の絶縁板2
1より穴35により分離された第2の絶縁板21′上に
は、後に外部電極となる導体2ダを有する。また、穴3
6の部分には、ワイヤボンドパッド23と後に外部電極
となる導体26′を接続する配線の一部24′が位置す
る。形成方法は、まず厚みが、0.1〜0.3B程度の
耐熱性ガラスエポキシ等よりなる絶縁板にプレス加工に
より穴をあけ、第1の絶縁板21と第2の絶縁板21′
を形成する。この時、生産方式として、ロールに巻き取
るテープ処理を行う場合は、絶縁板の巾は、30〜80
w程度とし、外側に、ガイド孔(スプロケットホール)
を形成しておく。次に、絶縁板の片面に、銅、AI!、
Ni等の金属箔をエポキシ系等の接着剤を用い、はりつ
ける。金属箔の厚みは、通常9〜70.ym程度である
。次に、エツチングにより、不要部の金属箔を除去し、
ダイパッド22゜ワイヤボンドパッド23.配線24.
24’、後に外部電極となる導体25′を形成する。金
属箔が銅の場合は、塩化第二鉄等の溶液によりエツチン
グする。ワイヤボンドバット”23の巾は、0.2〜0
.6耐程度である。外部電極となる導体26′のピッチ
は、0.4〜1朋程度であり、後に搭載するLSIチッ
プの電極板と、パッケージの寸法、実装性等を考慮して
決定する。最後に、LSIチップ裏面との電気接続及び
ワイヤボンディング性を良好にする為に、ダイパッド2
2.ワイヤボンドパッド23に、0.1〜1 /If
m程度のAuメッキ。
ヤボンドパッド23.配線24を有し、第1の絶縁板2
1より穴35により分離された第2の絶縁板21′上に
は、後に外部電極となる導体2ダを有する。また、穴3
6の部分には、ワイヤボンドパッド23と後に外部電極
となる導体26′を接続する配線の一部24′が位置す
る。形成方法は、まず厚みが、0.1〜0.3B程度の
耐熱性ガラスエポキシ等よりなる絶縁板にプレス加工に
より穴をあけ、第1の絶縁板21と第2の絶縁板21′
を形成する。この時、生産方式として、ロールに巻き取
るテープ処理を行う場合は、絶縁板の巾は、30〜80
w程度とし、外側に、ガイド孔(スプロケットホール)
を形成しておく。次に、絶縁板の片面に、銅、AI!、
Ni等の金属箔をエポキシ系等の接着剤を用い、はりつ
ける。金属箔の厚みは、通常9〜70.ym程度である
。次に、エツチングにより、不要部の金属箔を除去し、
ダイパッド22゜ワイヤボンドパッド23.配線24.
24’、後に外部電極となる導体25′を形成する。金
属箔が銅の場合は、塩化第二鉄等の溶液によりエツチン
グする。ワイヤボンドバット”23の巾は、0.2〜0
.6耐程度である。外部電極となる導体26′のピッチ
は、0.4〜1朋程度であり、後に搭載するLSIチッ
プの電極板と、パッケージの寸法、実装性等を考慮して
決定する。最後に、LSIチップ裏面との電気接続及び
ワイヤボンディング性を良好にする為に、ダイパッド2
2.ワイヤボンドパッド23に、0.1〜1 /If
m程度のAuメッキ。
後に外部電極となる導体26′には、後の半田付けを容
易にする為に、1〜10.am程度の半田メッキを施す
。
易にする為に、1〜10.am程度の半田メッキを施す
。
次に、第1図すに示す様に、ダイパッド22上に、ダイ
ボンド樹脂29を用い、LSIチップ26を固着する。
ボンド樹脂29を用い、LSIチップ26を固着する。
ダイボンド樹脂29には、通常、Aqエポキシ等のペー
スト状の樹脂を用い、加熱硬化する。次に、ボンディン
グワイヤ28を用い、ワイヤボンディングを行い、LS
Iチップ26の電極27とワイヤボンドパッド23を電
気的に接続する。ボンディングワイヤ28には、径が2
0〜60.xm程度のAu、A1等を用いる。Auワイ
ヤを用いた場合のボンディング方式としては、低温(1
20〜200℃)でのボンディングが可能な超音波熱圧
着方式が適している。その後、LSIテップ26を覆う
様に、封止樹脂30を形成し、封止する。封止は、エポ
キシあるいはシリコーン等の液状樹脂を用いボッティン
グ等により形成し、加熱硬化して行う。液状樹脂以外で
は、Bステージのエボキシベレノトを用いて行う方法も
ある。
スト状の樹脂を用い、加熱硬化する。次に、ボンディン
グワイヤ28を用い、ワイヤボンディングを行い、LS
Iチップ26の電極27とワイヤボンドパッド23を電
気的に接続する。ボンディングワイヤ28には、径が2
0〜60.xm程度のAu、A1等を用いる。Auワイ
ヤを用いた場合のボンディング方式としては、低温(1
20〜200℃)でのボンディングが可能な超音波熱圧
着方式が適している。その後、LSIテップ26を覆う
様に、封止樹脂30を形成し、封止する。封止は、エポ
キシあるいはシリコーン等の液状樹脂を用いボッティン
グ等により形成し、加熱硬化して行う。液状樹脂以外で
は、Bステージのエボキシベレノトを用いて行う方法も
ある。
本実施例では、第1の絶縁板の全領域に封止樹脂3oを
形成したが、ボンディングワイヤ28を含む、LSIテ
ップ26の周囲のみでもかまわない。
形成したが、ボンディングワイヤ28を含む、LSIテ
ップ26の周囲のみでもかまわない。
最後に、第2図すの切断線34の位置で、基板を切断し
、その後、第2図Cに示すように、第2の絶縁板21′
が、第1の絶縁板21の裏面に位置する様に、第1の絶
縁板21から突出した配線24′を折り曲げ、第1の絶
縁板21の裏面に、外部電極25を形成する。配線24
′の折り曲げは、金型等を用いて、4辺の7オーミンク
を行う。この時、配線24′は、35μm程度の薄いも
のである為、容易に折り曲げることができる。また、外
部電極25が、第2の絶縁板21′で保持されている為
、従来のような外部電極の変形、不ぞろい。
、その後、第2図Cに示すように、第2の絶縁板21′
が、第1の絶縁板21の裏面に位置する様に、第1の絶
縁板21から突出した配線24′を折り曲げ、第1の絶
縁板21の裏面に、外部電極25を形成する。配線24
′の折り曲げは、金型等を用いて、4辺の7オーミンク
を行う。この時、配線24′は、35μm程度の薄いも
のである為、容易に折り曲げることができる。また、外
部電極25が、第2の絶縁板21′で保持されている為
、従来のような外部電極の変形、不ぞろい。
浮き等は発生しない。また、本実施例では、第1の絶縁
板21と第2の絶縁板21′を接着しなかったが、接着
剤を用いて接着してもよい。
板21と第2の絶縁板21′を接着しなかったが、接着
剤を用いて接着してもよい。
プリント基板への実装例を、第6図に示す。半田付けの
方法は、プリント基板31の半田付はパッド33上に、
半田ペーストを印刷した後、パッケージを搭載し、リフ
ローする。この時外部電極の変形、不ぞろい、浮きがな
い為、半田付けが大変容易であり、歩留りがよく、信頼
性の高い接続を得ることができる。また、半田32は、
外部電極26及び配線24′にも、付着する為、半田付
は後の、目視検査が容易である。また、パッケージとプ
リント基板330間に、0.3〜0.5w程度の間隙が
ある為、フラックス、半田ボールの、洗浄での除去が容
易であり、耐熱応力性も高い。
方法は、プリント基板31の半田付はパッド33上に、
半田ペーストを印刷した後、パッケージを搭載し、リフ
ローする。この時外部電極の変形、不ぞろい、浮きがな
い為、半田付けが大変容易であり、歩留りがよく、信頼
性の高い接続を得ることができる。また、半田32は、
外部電極26及び配線24′にも、付着する為、半田付
は後の、目視検査が容易である。また、パッケージとプ
リント基板330間に、0.3〜0.5w程度の間隙が
ある為、フラックス、半田ボールの、洗浄での除去が容
易であり、耐熱応力性も高い。
薄形でかつ、樹脂製のパッケージは一般的には耐湿性が
劣る。本実施例においては実施しなかったが、耐湿性を
向上させる策としては、絶縁板21の裏面にも、金属箔
をはりつけておく、封止樹脂の上面に、金属箔、金属板
を接着することによりパッケージ内への水分の浸入を防
ぐ方法等がある。
劣る。本実施例においては実施しなかったが、耐湿性を
向上させる策としては、絶縁板21の裏面にも、金属箔
をはりつけておく、封止樹脂の上面に、金属箔、金属板
を接着することによりパッケージ内への水分の浸入を防
ぐ方法等がある。
また、本実施例では、LSIチップの組み込みを、ワイ
ヤボンド方式を用いて行ったが、金属バンプを介してリ
ードと接続する、テープキャリヤ方式等でもかまわない
。
ヤボンド方式を用いて行ったが、金属バンプを介してリ
ードと接続する、テープキャリヤ方式等でもかまわない
。
搭載する電子部品は、IC、LS Iに限らずチップ抵
抗、コンデンサ等も使用できる。
抗、コンデンサ等も使用できる。
電子部品搭載基板を切断し、配線を折り曲げる工程を、
電子部品の組み込み後に実施したが、電子部品の組み込
み前に実施してもよい。
電子部品の組み込み後に実施したが、電子部品の組み込
み前に実施してもよい。
発明の効果
本発明は、上記のような構成であり、以下に示す効果が
得られるものである。
得られるものである。
(1)外部電極が、絶縁板で保持されている為、外部電
極の、変形、不ぞろい、浮きが発生せず、プリント基板
への半田付は時において、短絡、接続不良等が発生しな
い。したがって、半田付けの歩留りが向上し、信頼性の
高い接続を得ることができる。
極の、変形、不ぞろい、浮きが発生せず、プリント基板
への半田付は時において、短絡、接続不良等が発生しな
い。したがって、半田付けの歩留りが向上し、信頼性の
高い接続を得ることができる。
に))外部電極をパッケージの裏面に形成する方法とし
て、スルーホールを形成せず、片面に形成した、導体を
折り曲げる方法としている為、コストが安い。
て、スルーホールを形成せず、片面に形成した、導体を
折り曲げる方法としている為、コストが安い。
(3)外部電極をパッケージの裏面に形成している為、
占有面積が小さく、高密度なパッケージを得ることがで
きる。
占有面積が小さく、高密度なパッケージを得ることがで
きる。
(4)折り曲げられた、配線がパッケージの側面に位置
し、半田付は時にこの部分にも半田が付着する。したが
って、半田付は後の目視検査が容易である。
し、半田付は時にこの部分にも半田が付着する。したが
って、半田付は後の目視検査が容易である。
(5)外部電極をパッケージの裏面に、絶縁板ともに折
り曲げた為、プリント基板への実装後は、゛パッケージ
の裏面と、プリント基板の表面に、外部電極を保持した
、絶縁板の厚み以上(0,3〜0.5M)の間隙ができ
、半田付は後の洗浄において、フランクス、半田ボール
等の除去が容易となる。
り曲げた為、プリント基板への実装後は、゛パッケージ
の裏面と、プリント基板の表面に、外部電極を保持した
、絶縁板の厚み以上(0,3〜0.5M)の間隙ができ
、半田付は後の洗浄において、フランクス、半田ボール
等の除去が容易となる。
さらに、熱応力による半田付は部の破損もない。
第1図〜第3図は、本発明の実施例であり、第1図は工
程別断面図、第2図はプリント基板への実装例の断面図
、第3図はその上面図、第4図〜第6図は、従来のIC
,LSIの小形パッケージであり、第4図は上面図、第
5図は工程別断面図、第6図はフコリント基板への実装
例の断面図である。 1.1’、21.21’・・・・・・絶縁板、2,22
・・・・・・グイパッド、3 、23’・・・・・・ワ
イヤボンドパッド、4.24.24’・・・・・・配線
、5,26・・・・・・外部電極、5’、25’・・・
・・・後に外部電極となる導体、6,26・・・・・・
LSIチップ、7,27・・・・・・LSIチップの電
極、8,28・・・・・・ボンディングワイヤ、9,2
9・・・・・・ダイボンド樹脂、1o、30・・・・・
・封止樹脂、11.31・・・・・・プリント基板、1
2 、32・・団・半田、13 、33・・・・・プリ
ント基板の半田付はパッド、14.34・・・・・・切
断線、35・・印・穴。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名2f
−−一才!のj!象シJ 25−−−デL1苧1喝:4シ1 2e−LS I fyア 第5図 第6図
程別断面図、第2図はプリント基板への実装例の断面図
、第3図はその上面図、第4図〜第6図は、従来のIC
,LSIの小形パッケージであり、第4図は上面図、第
5図は工程別断面図、第6図はフコリント基板への実装
例の断面図である。 1.1’、21.21’・・・・・・絶縁板、2,22
・・・・・・グイパッド、3 、23’・・・・・・ワ
イヤボンドパッド、4.24.24’・・・・・・配線
、5,26・・・・・・外部電極、5’、25’・・・
・・・後に外部電極となる導体、6,26・・・・・・
LSIチップ、7,27・・・・・・LSIチップの電
極、8,28・・・・・・ボンディングワイヤ、9,2
9・・・・・・ダイボンド樹脂、1o、30・・・・・
・封止樹脂、11.31・・・・・・プリント基板、1
2 、32・・団・半田、13 、33・・・・・プリ
ント基板の半田付はパッド、14.34・・・・・・切
断線、35・・印・穴。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名2f
−−一才!のj!象シJ 25−−−デL1苧1喝:4シ1 2e−LS I fyア 第5図 第6図
Claims (2)
- (1)第1の絶縁板の一主面に設けた電子部品搭載部及
び内部電極と、内部電極から突出し、第1の絶縁板の外
周部に設けた第2の絶縁板上に形成した外部電極に接続
された配線と、電子部品搭載部に設けたIC、LSI等
の電子部品とを備え、電子部品の電極と内部電極とを電
気的に接続するとともに、第1の絶縁板から突出した前
記配線を折り曲げて、外部電極を有した第2の絶縁板を
、第1の絶縁板の内部電極を有さない面に位置させた電
子部品パッケージ。 - (2)第1の絶縁板の一主面に、電子部品搭載部、内部
電極を有し、内部電極から伸びた配線が、第1の絶縁板
から突出し、第1の絶縁板の外周部に設けた第2の絶縁
板上に形成した外部電極に接続され電子部品搭載部にI
C、LSI等の電子部品を搭載する工程、電子部品の電
極と内部電極を電気的に接続する工程、外部電極を有し
た第2の絶縁板が、第1の絶縁板の内部電極を有さない
面に位置する様に第1の絶縁板から突出した配線を折り
曲げる工程よりなる電子部品パッケージの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60182126A JPS6242549A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | 電子部品パツケ−ジ及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60182126A JPS6242549A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | 電子部品パツケ−ジ及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6242549A true JPS6242549A (ja) | 1987-02-24 |
Family
ID=16112781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60182126A Pending JPS6242549A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | 電子部品パツケ−ジ及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6242549A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05211204A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-08-20 | Akira Kitahara | 表面実装電子部品 |
| JPH08116017A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-05-07 | Nec Corp | 半導体集積回路装置用リードフレーム及びその製造方法 |
| KR20010058572A (ko) * | 1999-12-30 | 2001-07-06 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 및 그 실장 방법 |
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1985
- 1985-08-20 JP JP60182126A patent/JPS6242549A/ja active Pending
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