JPS6256835A - レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 - Google Patents
レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置Info
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- JPS6256835A JPS6256835A JP60196757A JP19675785A JPS6256835A JP S6256835 A JPS6256835 A JP S6256835A JP 60196757 A JP60196757 A JP 60196757A JP 19675785 A JP19675785 A JP 19675785A JP S6256835 A JPS6256835 A JP S6256835A
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- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G3/00—Gain control in amplifiers or frequency changers
- H03G3/20—Automatic control
- H03G3/30—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
- H03G3/3084—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices in receivers or transmitters for electromagnetic waves other than radiowaves, e.g. lightwaves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、レーザダイオードの発光特性測定装置につ
いてのものであり、さらに詳しくいえばレーザダイオー
ドに交流電圧とステップ状の直流電圧を重畳して加え、
レーザダイオードの微分特性を測定する場合に、直流電
圧の変化に影響されないようにした測定装置に関するも
のである。
いてのものであり、さらに詳しくいえばレーザダイオー
ドに交流電圧とステップ状の直流電圧を重畳して加え、
レーザダイオードの微分特性を測定する場合に、直流電
圧の変化に影響されないようにした測定装置に関するも
のである。
（ｂ）従来技術と問題点
最初に、レーザダイオードの駆動電流対光出力特性図を
第２図に示す。
第２図に示す。
第２図の曲線が不自然な状態で凹凸になっていればレー
ザダイオードの特性不良が考えられるので、第２図の曲
線の微分特性を測定すれば、レーザダイオードの良否を
判別することができる。
ザダイオードの特性不良が考えられるので、第２図の曲
線の微分特性を測定すれば、レーザダイオードの良否を
判別することができる。
第２図の微分特性を測定するには、ステップ状に増加す
る直流電圧をレーザダイオードに加え、この直流電圧に
よるレーザダイオードの光出力を測定すればよい。
る直流電圧をレーザダイオードに加え、この直流電圧に
よるレーザダイオードの光出力を測定すればよい。
微分特性が一様に増加しているレーザダイオードは良品
であり、微分特性が増減するレーザダイオードは不自品
々判定されるが、微分特性にょうて得られるデータは微
小なので判定が困難になる場合がある。
であり、微分特性が増減するレーザダイオードは不自品
々判定されるが、微分特性にょうて得られるデータは微
小なので判定が困難になる場合がある。
そこで、レーザダイオードに加える直流電圧に交流電圧
を重畳し、この交流電圧を増幅することにより微分特性
を測定することが考えられる。
を重畳し、この交流電圧を増幅することにより微分特性
を測定することが考えられる。
しかし、ステップ状の直流電圧に交流電圧を重畳すると
、直流電圧が変化するたびに検出データが変化するので
、検出データが一様に増加しているのか増減しているの
か判定するのが困難になる。
、直流電圧が変化するたびに検出データが変化するので
、検出データが一様に増加しているのか増減しているの
か判定するのが困難になる。
（ｃ）発明の目的
この発明は、レーザダイオードに交流電圧とステップ状
の直流電圧を重畳してレーザダイオードの駆動電流対先
出力を測定する場合に、直流電圧の影響が少なくなるよ
うにした測定装置の提供を目的とする。
の直流電圧を重畳してレーザダイオードの駆動電流対先
出力を測定する場合に、直流電圧の影響が少なくなるよ
うにした測定装置の提供を目的とする。
（ｄ）発明の実施例
まず、この発明による実施例の構成図を第１図に示す。
第１図の１はレーザダイオード、２は電源、３はホトダ
イオード、４は増幅器、５はトランス、９は指示計、１
０は制御器、１１と１２はスイッチである。
イオード、４は増幅器、５はトランス、９は指示計、１
０は制御器、１１と１２はスイッチである。
スイッチ１１．１２にはアナログスイッチなどを使用す
ることができる。
ることができる。
電源２はレーザダイオードエに交流信号とステップ状の
直流電圧を加え、ホトダイオード３はレーザダイオード
１の光出力を検出する。
直流電圧を加え、ホトダイオード３はレーザダイオード
１の光出力を検出する。
増幅器４はホトダイオード３の光出力を増幅し、トラン
ス５に増幅した信号を伝達する。
ス５に増幅した信号を伝達する。
コンデンサ６は直流カプト用であり、トランス５からは
交流信号だけが取り出される。
交流信号だけが取り出される。
交流増幅器７はトランス６からの交流信号を増幅し、検
波器８は交流増幅器７の出力を検波する。
波器８は交流増幅器７の出力を検波する。
指示計９にはレーザダイオード１に印加した交流信号が
指示されるので、指示計９の指示値からレーザダイオー
ドの微分特性を知ることができる。
指示されるので、指示計９の指示値からレーザダイオー
ドの微分特性を知ることができる。
次に、電源２の出力特性を第３図に示す。
第３図にはステップ状の直流電圧１３が示されており、
直流電圧１３の上に交流電圧１４が重畳されている。
直流電圧１３の上に交流電圧１４が重畳されている。
電［２は制御器１０の指令により時間の経過とともに第
３図のような出力をレーザダイオード１に印加する。
３図のような出力をレーザダイオード１に印加する。
第１図のスイッチ１１．１２は連動するスイッチであり
、スイッチ１１．１２のオンオフは制御器１０で制御さ
れる。
、スイッチ１１．１２のオンオフは制御器１０で制御さ
れる。
スイッチ１１は増幅器４の入力とコンデンサ６の間を接
続するように配置され、スイッチ１２はトランス５の両
端を接続するように配置される。
続するように配置され、スイッチ１２はトランス５の両
端を接続するように配置される。
次に、スイッチ１１．１２のオンオフ状態を第４図によ
り説明する。
り説明する。
ｉ４図の７１、Ｔ２、Ｔ３は制御器１ｏからのクロック
信号であり、このクロック信号にしたがって第３図の直
流電圧がステップ状に増えていく。
信号であり、このクロック信号にしたがって第３図の直
流電圧がステップ状に増えていく。
クロックＴ１．１２間が第３図の直流電圧１３のステッ
プ周期になる。
プ周期になる。
スイッチ１１．１２はクロックＴ１、Ｔ２、Ｔ３が出る
とステップ周期に比べて短時間だけ同時にオンになり、
その涛ナフｌご佇ス−例えば、クロックのステップ周期
が１ｍｓのとき、スイッチ１１．１２を４０μｓだけオ
ンにする。
とステップ周期に比べて短時間だけ同時にオンになり、
その涛ナフｌご佇ス−例えば、クロックのステップ周期
が１ｍｓのとき、スイッチ１１．１２を４０μｓだけオ
ンにする。
スイッチ１１を時間Ｔ１１、Ｔ２１だけオンにすること
によりコンデンサ６には直流電圧が加えられ、コンデン
サ６はこの直流電圧で充電される。
によりコンデンサ６には直流電圧が加えられ、コンデン
サ６はこの直流電圧で充電される。
スイッチ１１がオンでコンデンサ６が充電されていると
きはスイッチ１２もオンなので、トランス５の両端はス
イッチ１２で短絡され、交流信号は遮断される。
きはスイッチ１２もオンなので、トランス５の両端はス
イッチ１２で短絡され、交流信号は遮断される。
第４図の時間Ｔ１２、Ｔ２２は測定時間であり、ａＦｌ
１間Ｔ １２．２２のときはすでにコンデンサθに直流
電圧が印加されており、コンデンサ６に充電電流は流れ
なくなっている。
１間Ｔ １２．２２のときはすでにコンデンサθに直流
電圧が印加されており、コンデンサ６に充電電流は流れ
なくなっている。
したがって、測定時間Ｔ１２、Ｔ２２では安定した状態
で第３図の直流電圧１３に重畳した交流電圧１４だけを
取り出し、レーザダイオード１の微分特性を測定するこ
とができる。
で第３図の直流電圧１３に重畳した交流電圧１４だけを
取り出し、レーザダイオード１の微分特性を測定するこ
とができる。
（ｅ）発明の効果
この発明によれば、スイッチ１１によりｌ？！′流雷圧
が変化するたびに短時間たけ直流電圧を直流カット用の
コンデンサ６に印加するとともに、この印加時間たけト
ランス５の両端をスイッチ１２が短絡するので、ステッ
プ状に直流電圧が変化しても直流電圧の変化に影響され
ることなく重畳した交流信号を検出することができ、レ
ーザダイオードの微分特性を安定した状態で測定するこ
とができる。
が変化するたびに短時間たけ直流電圧を直流カット用の
コンデンサ６に印加するとともに、この印加時間たけト
ランス５の両端をスイッチ１２が短絡するので、ステッ
プ状に直流電圧が変化しても直流電圧の変化に影響され
ることなく重畳した交流信号を検出することができ、レ
ーザダイオードの微分特性を安定した状態で測定するこ
とができる。
第１図はこの発明による実施例の構成図、第２図はレー
ザダイオードの出力特性図、第３図は電源２の出力特性
図、 第４図はスイッチ１ｉ、１２のオンオフ状態説明図。 １・・・・・・レーザダイオード、２・・・・・・電源
、３・・・・・・ホトダイオード、４・・・・・・増幅
器、５・・・・・・トランス、６・・・・・・コンデン
サ、７・・・・・・交流増幅器、８・・・・・・検波器
、９・・・・・・指示計、１０・・・・・・制御器、１
１・・・・・・スイッチ、１２・・・・・・スイッチ〇
代理人 弁理士 小 俣 欽 明 部１１１１！ｉｌＦ 時間１１４ 図 濁！！時間
ザダイオードの出力特性図、第３図は電源２の出力特性
図、 第４図はスイッチ１ｉ、１２のオンオフ状態説明図。 １・・・・・・レーザダイオード、２・・・・・・電源
、３・・・・・・ホトダイオード、４・・・・・・増幅
器、５・・・・・・トランス、６・・・・・・コンデン
サ、７・・・・・・交流増幅器、８・・・・・・検波器
、９・・・・・・指示計、１０・・・・・・制御器、１
１・・・・・・スイッチ、１２・・・・・・スイッチ〇
代理人 弁理士 小 俣 欽 明 部１１１１！ｉｌＦ 時間１１４ 図 濁！！時間
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ レーザダイオードに交流信号とステップ状の直流電
圧を加え、前記レーザダイオードの光出力をホトダイオ
ードで受光し、前記ホトダイオード出力に増幅器、トラ
ンス、コンデンサおよび交流増幅器を接続し、前記交流
信号を取り出すレーザダイオードの発光特性測定装置に
おいて、前記増幅器入力と前記コンデンサの間を接続す
るように配置した第１のスイッチと、前記トランスの両
端を接続するように配置した第２のスイッチとを備え、 前記ステップ状の直流電圧のステップをあげるたびに第
１のスイッチと第２のスイッチをステップ周期に比べて
短時間だけオンにすることを特徴とするレーザダイオー
ドの発光特性測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60196757A JPS6256835A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
| US06/904,122 US4798950A (en) | 1985-09-05 | 1986-09-04 | Radiation characteristic measuring apparatus for laser diode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60196757A JPS6256835A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6256835A true JPS6256835A (ja) | 1987-03-12 |
| JPH0262170B2 JPH0262170B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=16363108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60196757A Granted JPS6256835A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4798950A (ja) |
| JP (1) | JPS6256835A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104330244A (zh) * | 2014-11-23 | 2015-02-04 | 保定维特瑞交通设施工程有限责任公司 | 交通控制显示单元光电性能参数的测试装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5146079A (en) * | 1990-11-01 | 1992-09-08 | At&T Bell Laboratories | Broadband optical receiver with active bias feedback circuit |
| US5600128A (en) * | 1995-04-20 | 1997-02-04 | Hewlett-Packard Company | Infrared receiver with variable input resistance for optical communication systems |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3687558A (en) * | 1971-07-16 | 1972-08-29 | Us Air Force | Laser power-energy meter |
| US4459475A (en) * | 1982-03-29 | 1984-07-10 | Bell & Howell Company | Automatic calibration for D.C. transducers |
-
1985
- 1985-09-05 JP JP60196757A patent/JPS6256835A/ja active Granted
-
1986
- 1986-09-04 US US06/904,122 patent/US4798950A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104330244A (zh) * | 2014-11-23 | 2015-02-04 | 保定维特瑞交通设施工程有限责任公司 | 交通控制显示单元光电性能参数的测试装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0262170B2 (ja) | 1990-12-25 |
| US4798950A (en) | 1989-01-17 |
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