JPH0262170B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0262170B2 JPH0262170B2 JP60196757A JP19675785A JPH0262170B2 JP H0262170 B2 JPH0262170 B2 JP H0262170B2 JP 60196757 A JP60196757 A JP 60196757A JP 19675785 A JP19675785 A JP 19675785A JP H0262170 B2 JPH0262170 B2 JP H0262170B2
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- JP
- Japan
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- laser diode
- voltage
- switch
- capacitor
- amplifier
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Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G3/00—Gain control in amplifiers or frequency changers
- H03G3/20—Automatic control
- H03G3/30—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
- H03G3/3084—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices in receivers or transmitters for electromagnetic waves other than radiowaves, e.g. lightwaves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
この発明は、レーザダイオードの発光特性測定
装置についてのものであり、さらに詳しくいえば
レーザダイオードに交流電圧とステツプ状の直流
電圧を重畳して加え、レーザダイオードの微分特
性を測定する場合に、直流電圧の変化に影響され
ないようにした測定装置に関するものである。
装置についてのものであり、さらに詳しくいえば
レーザダイオードに交流電圧とステツプ状の直流
電圧を重畳して加え、レーザダイオードの微分特
性を測定する場合に、直流電圧の変化に影響され
ないようにした測定装置に関するものである。
(b) 従来技術と問題点
最初に、レーザダイオードの駆動電流対光出力
特性図を第２図に示す。
特性図を第２図に示す。
第２図の曲線が不自然な状態で凹凸になつてい
ればレーザダイオードの特性不良が考えられるの
で、第２図の曲線の微分特性を測定すれば、レー
ザダイオードの良否を判別することができる。
ればレーザダイオードの特性不良が考えられるの
で、第２図の曲線の微分特性を測定すれば、レー
ザダイオードの良否を判別することができる。
第２図の微分特性を測定するには、ステツプ状
に増加する直流電圧をレーザダイオードに加え、
この直流電圧によるレーザダイオードの光出力を
測定すればよい。
に増加する直流電圧をレーザダイオードに加え、
この直流電圧によるレーザダイオードの光出力を
測定すればよい。
微分特性が一様に増加しているレーザダイオー
ドは良品であり、微分特性が増減するレーザダイ
オードは不良品と判定されるが、微分特性によつ
て得られるデータは微小なので判定が困難になる
場合がある。
ドは良品であり、微分特性が増減するレーザダイ
オードは不良品と判定されるが、微分特性によつ
て得られるデータは微小なので判定が困難になる
場合がある。
そこで、レーザダイオードに加える直流電圧に
交流電圧を重畳し、この交流電圧を増幅すること
により微分特性を測定することが考えられる。
交流電圧を重畳し、この交流電圧を増幅すること
により微分特性を測定することが考えられる。
しかし、ステツプ状の直流電圧に交流電圧を重
畳すると、直流電圧が変化するたびに検出データ
が変化するので、検出データが一様に増加してい
るのか増減しているのか判定するのが困難にな
る。
畳すると、直流電圧が変化するたびに検出データ
が変化するので、検出データが一様に増加してい
るのか増減しているのか判定するのが困難にな
る。
(c) 発明の目的
この発明は、レーザダイオードに交流電圧とス
テツプ状の直流電圧を重畳してレーザダイオード
の駆動電流対光出力を測定する場合に、直流電圧
の影響が少なくなるようにした測定装置の提供を
目的とする。
テツプ状の直流電圧を重畳してレーザダイオード
の駆動電流対光出力を測定する場合に、直流電圧
の影響が少なくなるようにした測定装置の提供を
目的とする。
(d) 発明の実施例
まず、この発明による実施例の構成図を第１図
に示す。
に示す。
第１図の１はレーザダイオード、２は電源、３
はホトダイオード、４は増幅器、５はトランス、
６はコンデンサ、７は交流増幅器、８は検波器、
９は指示計、１０は制御器、１１と１２はスイツ
チである。
はホトダイオード、４は増幅器、５はトランス、
６はコンデンサ、７は交流増幅器、８は検波器、
９は指示計、１０は制御器、１１と１２はスイツ
チである。
スイツチ１１，１２にはアナログスイツチなど
を使用することができる。
を使用することができる。
電源２はレーザダイオード１に交流信号とステ
ツプ状の直流電圧を加え、ホトダイオード３はレ
ーザダイオード１の光出力を検出する。
ツプ状の直流電圧を加え、ホトダイオード３はレ
ーザダイオード１の光出力を検出する。
増幅器４はホトダイオード３の光出力を増幅
し、トランス５に増幅した信号を伝達する。
し、トランス５に増幅した信号を伝達する。
コンデンサ６は直流カツト用であり、トランス
５からは交流信号だけが取り出される。
５からは交流信号だけが取り出される。
交流増幅器７はトランス５からの交流信号を増
幅し、検波器８は交流増幅器７の出力を検波す
る。
幅し、検波器８は交流増幅器７の出力を検波す
る。
指示計９にはレーザダイオード１に印加した交
流信号が指示されるので、指示計９の指示値から
レーザダイオードの微分特性を知ることができ
る。
流信号が指示されるので、指示計９の指示値から
レーザダイオードの微分特性を知ることができ
る。
次に、電源２の出力特性を第３図に示す。
第３図にはステツプ状の直流電圧１３が示され
ており、直流電圧１３の上に交流電圧１４が重畳
されている。
ており、直流電圧１３の上に交流電圧１４が重畳
されている。
電源２は制御器１０の指令により時間の経過と
ともに第３図のような出力をレーザダイオード１
に印加する。
ともに第３図のような出力をレーザダイオード１
に印加する。
第１図のスイツチ１１，１２は連動するスイツ
チであり、スイツチ１１，１２のオンオフは制御
器１０で制御される。
チであり、スイツチ１１，１２のオンオフは制御
器１０で制御される。
スイツチ１１は増幅器４の入力とコンデンサ６
の間を接続するように配置され、スイツチ１２は
トランス５の両端を接続するように配置される。
の間を接続するように配置され、スイツチ１２は
トランス５の両端を接続するように配置される。
次に、スイツチ１１，１２のオンオフ状態を第
４図により説明する。
４図により説明する。
第４図のＴ１，Ｔ２，Ｔ３は制御器１０からの
クロツク信号であり、このクロツク信号にしたが
つて第３図の直流電圧がステツプ状に増えてい
く。クロツクＴ１，Ｔ２間が第３図の直流電圧１
３のステツプ周期になる。
クロツク信号であり、このクロツク信号にしたが
つて第３図の直流電圧がステツプ状に増えてい
く。クロツクＴ１，Ｔ２間が第３図の直流電圧１
３のステツプ周期になる。
スイツチ１１，１２はクロツクＴ１，Ｔ２，Ｔ
３が出るとステツプ周期に比べて短時間だけ同時
にオンになり、その後オフになる。
３が出るとステツプ周期に比べて短時間だけ同時
にオンになり、その後オフになる。
例えば、クロツクのステツプ周期が1msのと
き、スイツチ１１，１２を40μsだけオンにする。
き、スイツチ１１，１２を40μsだけオンにする。
スイツチ１１を時間Ｔ１１，Ｔ２１だけオンに
することによりコンデンサ６には直流電圧が加え
られ、コンデンサ６はこの直流電圧で充電され
る。
することによりコンデンサ６には直流電圧が加え
られ、コンデンサ６はこの直流電圧で充電され
る。
スイツチ１１がオンでコンデンサ６が充電され
ているときはスイツチ１２もオンなので、トラン
ス５の両端はスイツチ１２で短絡され、交流信号
は遮断される。
ているときはスイツチ１２もオンなので、トラン
ス５の両端はスイツチ１２で短絡され、交流信号
は遮断される。
第４図の時間Ｔ１２，Ｔ２２は測定時間であ
り、測定時間Ｔ１２，２２のときはすでにコンデ
ンサ６に直流電圧が印加されており、コンデンサ
６に充電電流は流れなくなつている。
り、測定時間Ｔ１２，２２のときはすでにコンデ
ンサ６に直流電圧が印加されており、コンデンサ
６に充電電流は流れなくなつている。
したがつて、測定時間Ｔ１２，Ｔ２２では安定
した状態で第３図の直流電圧１３に重畳した交流
電圧１４だけを取り出し、レーザダイオード１の
微分特性を測定することができる。
した状態で第３図の直流電圧１３に重畳した交流
電圧１４だけを取り出し、レーザダイオード１の
微分特性を測定することができる。
(e) 発明の効果
この発明によれば、スイツチ１１により直流電
圧が変化するたびに短時間だけ直流電圧を直流カ
ツト用のコンデンサ６に印加するとともに、この
印加時間だけトランス５の両端をスイツチ１２が
短絡するので、ステツプ状に直流電圧が変化して
も直流電圧の変化に影響されることなく重畳した
交流信号を検出することができ、レーザダイオー
ドの微分特性を安定した状態で測定することがで
きる。
圧が変化するたびに短時間だけ直流電圧を直流カ
ツト用のコンデンサ６に印加するとともに、この
印加時間だけトランス５の両端をスイツチ１２が
短絡するので、ステツプ状に直流電圧が変化して
も直流電圧の変化に影響されることなく重畳した
交流信号を検出することができ、レーザダイオー
ドの微分特性を安定した状態で測定することがで
きる。
第１図はこの発明による実施例の構成図、第２
図はレーザダイオードの出力特性図、第３図は電
源２の出力特性図、第４図はスイツチ１１，１２
のオンオフ状態説明図。 １……レーザダイオード、２……電源、３……
ホトダイオード、４……増幅器、５……トラン
ス、６……コンデンサ、７……交流増幅器、８…
…検波器、９……指示計、１０……制御器、１１
……スイツチ、１２……スイツチ。
図はレーザダイオードの出力特性図、第３図は電
源２の出力特性図、第４図はスイツチ１１，１２
のオンオフ状態説明図。 １……レーザダイオード、２……電源、３……
ホトダイオード、４……増幅器、５……トラン
ス、６……コンデンサ、７……交流増幅器、８…
…検波器、９……指示計、１０……制御器、１１
……スイツチ、１２……スイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ レーザダイオードに交流信号とステツプ状の
直流電圧を加え、前記レーザダイオードの光出力
をホトダイオードで受光し、前記ホトダイオード
出力に増幅器、トランス、コンデンサおよび交流
増幅器を接続し、前記交流信号を取り出すレーザ
ダイオードの発光特性測定装置において、 前記増幅器入力と前記コンデンサの間を接続す
るように配置した第１のスイツチと、前記トラン
スの両端を接続するように配置した第２のスイツ
チとを備え、 前記ステツプ状の直流電圧のステツプをあげる
たびに第１のスイツチと第２のスイツチをステツ
プ周期に比べて短時間だけオンにすることを特徴
とするレーザダイオードの発光特性測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60196757A JPS6256835A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
| US06/904,122 US4798950A (en) | 1985-09-05 | 1986-09-04 | Radiation characteristic measuring apparatus for laser diode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60196757A JPS6256835A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6256835A JPS6256835A (ja) | 1987-03-12 |
| JPH0262170B2 true JPH0262170B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=16363108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60196757A Granted JPS6256835A (ja) | 1985-09-05 | 1985-09-05 | レ−ザダイオ−ドの発光特性測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4798950A (ja) |
| JP (1) | JPS6256835A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5146079A (en) * | 1990-11-01 | 1992-09-08 | At&T Bell Laboratories | Broadband optical receiver with active bias feedback circuit |
| US5600128A (en) * | 1995-04-20 | 1997-02-04 | Hewlett-Packard Company | Infrared receiver with variable input resistance for optical communication systems |
| CN104330244A (zh) * | 2014-11-23 | 2015-02-04 | 保定维特瑞交通设施工程有限责任公司 | 交通控制显示单元光电性能参数的测试装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3687558A (en) * | 1971-07-16 | 1972-08-29 | Us Air Force | Laser power-energy meter |
| US4459475A (en) * | 1982-03-29 | 1984-07-10 | Bell & Howell Company | Automatic calibration for D.C. transducers |
-
1985
- 1985-09-05 JP JP60196757A patent/JPS6256835A/ja active Granted
-
1986
- 1986-09-04 US US06/904,122 patent/US4798950A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4798950A (en) | 1989-01-17 |
| JPS6256835A (ja) | 1987-03-12 |
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