JPS6260097B2 - - Google Patents
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- JPS6260097B2 JPS6260097B2 JP54139871A JP13987179A JPS6260097B2 JP S6260097 B2 JPS6260097 B2 JP S6260097B2 JP 54139871 A JP54139871 A JP 54139871A JP 13987179 A JP13987179 A JP 13987179A JP S6260097 B2 JPS6260097 B2 JP S6260097B2
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- ray
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検出野の表示機能を有する検出野選択
可能なＸ線検出器を用いたＸ線自動露出制御装置
に関するものである。
可能なＸ線検出器を用いたＸ線自動露出制御装置
に関するものである。
周知のようにＸ線自動露出制御装置は、Ｘ線フ
イルムの前面にそのＸ線照射野（フイルムサイ
ズ）に対応する板状のイオンチエンバ等のＸ線検
出器を設け、このＸ線検出器を介してＸ線写真が
適正黒化度になるのに要するＸ線量が曝射された
とき、Ｘ線曝射を停止するようにＸ線装置を制御
するものである。
イルムの前面にそのＸ線照射野（フイルムサイ
ズ）に対応する板状のイオンチエンバ等のＸ線検
出器を設け、このＸ線検出器を介してＸ線写真が
適正黒化度になるのに要するＸ線量が曝射された
とき、Ｘ線曝射を停止するようにＸ線装置を制御
するものである。
この場合、Ｘ線撮影領域における所定領域につ
いて適正黒化度が得られるように、Ｘ線の検出野
を特定できる機能を有するＸ線検出器を用いるも
のがある。すなわち、Ｘ線検出器として、イオン
チエンバを用いたものを例にとると、その集電極
を種々の形状、大きさ及び位置関係にて複数個設
けた構成とし、その複数個の集電極を適宜選択し
てＸ線の検出野を設定できるようにしたものであ
る。
いて適正黒化度が得られるように、Ｘ線の検出野
を特定できる機能を有するＸ線検出器を用いるも
のがある。すなわち、Ｘ線検出器として、イオン
チエンバを用いたものを例にとると、その集電極
を種々の形状、大きさ及び位置関係にて複数個設
けた構成とし、その複数個の集電極を適宜選択し
てＸ線の検出野を設定できるようにしたものであ
る。
この種の装置においては、選択した検出野をＸ
線操作卓上の選択スイツチのオン・オフ状態、あ
るいはランプ等の表示手段により確認している。
しかしながら、操作者が被検者の位置決めを行な
う際、操作卓から目を離すことになるため、操作
者はその選択検出野を覚えて位置決め操作をしな
ければならないという不便があつた。また、一般
に撮影領域における検出野の位置が、Ｘ線検出器
上、天板上あるいはそのカバー上等に、撮影領域
表示と共に表示されているものの、被検者がその
上に位置すると、それが操作者に見えなくなるた
め、位置操作がしにくいという問題があつた。
線操作卓上の選択スイツチのオン・オフ状態、あ
るいはランプ等の表示手段により確認している。
しかしながら、操作者が被検者の位置決めを行な
う際、操作卓から目を離すことになるため、操作
者はその選択検出野を覚えて位置決め操作をしな
ければならないという不便があつた。また、一般
に撮影領域における検出野の位置が、Ｘ線検出器
上、天板上あるいはそのカバー上等に、撮影領域
表示と共に表示されているものの、被検者がその
上に位置すると、それが操作者に見えなくなるた
め、位置操作がしにくいという問題があつた。
本発明は上記の事情を踏まえてなされたもので
あつて、選択検出野に対応する形状、大きさ及び
位置関係を被検者の撮影部位体表面に投影し、選
択検出野の確認及び位置決め操作をし易くした選
択検出野の表示機能を有するＸ線自動露出制御装
置を提供することを目的とする。
あつて、選択検出野に対応する形状、大きさ及び
位置関係を被検者の撮影部位体表面に投影し、選
択検出野の確認及び位置決め操作をし易くした選
択検出野の表示機能を有するＸ線自動露出制御装
置を提供することを目的とする。
以下第１図を参照して本発明の主要部の一実施
例の構成について説明する。
例の構成について説明する。
第１図において、１はイオンチエンバによるＸ
線検出器の検出器本体であり、薄い絶縁板上の適
宜位置に図示の如く一対の円形及び方形の集電極
１ａ，１ｂ，１ｃが設けられている。これら各集
電極１ａ〜１ｃは各別にスイツチ素子Sa，Sb，
Scを介して図示しない自動露出制御回路に接続
されている。この検出器本体１の集電極１ａ〜１
ｃが設けられた面に対向する側には、検出器本体
１と同形状（大きさ）の図示しない高圧電極が設
けられ、両電極間に適宜高圧電圧が印加されてＸ
線検出器が構成されている。２は図示しないＸ線
可動絞り本体内部に、絞り羽根の後段（Ｘ線絞り
の先端）の照射野に配置され、本体が透明な一対
の板を接合してなる表示用マスクである。このマ
スク２には、検出器本体１における各集電極１ａ
〜１ｃの形状、大きさ及び位置関係に相似的に対
応する投影体２ａ，２ｂ，２ｃが形成されてい
る。この投影体２ａ〜２ｃは、マスク２本体の一
対の透明板間に一対の透明電極を介して挾持さ
れ、その一対の電極間に電圧を印加することによ
つて透明から不透明状態に変化する液晶にて形成
されている。投影体２ａ〜２ｃは各別に制御回
路、すなわち各液晶を挾持する一対の電極間に対
して電圧印加制御を行なう液晶ドライブ制御回路
３ａ，３ｂ，３ｃがそれぞれ接続されている。４
はＸ線検出器１の検出野の選択設定を行なうため
の検出野選択器であり、検出器本体１の各集電極
１ａ〜１ｃに対応する選択スイツチ４ａ，４ｂ，
４ｃにて構成されている。これら各選択スイツチ
４ａ〜４ｃは、前記スイツチ素子Sa〜Sc及び前
記制御回路３ａ〜３ｃに接続され、それらに対し
て制御信号を与えるようになつている。尚、前記
自動露出制御回路は、検出器本体１の集電極１ａ
〜１ｃからの検出信号（微小電流）をスイツチ素
子Sa〜Scを介して導入し、電流−電圧変換を行
なつた後に積分器で積分し、この積分電圧が基準
電圧（前記適正黒化度に対応する電圧）に達する
と比較器を介してＸ線制御器へＸ線遮断信号を発
生する回路である。
線検出器の検出器本体であり、薄い絶縁板上の適
宜位置に図示の如く一対の円形及び方形の集電極
１ａ，１ｂ，１ｃが設けられている。これら各集
電極１ａ〜１ｃは各別にスイツチ素子Sa，Sb，
Scを介して図示しない自動露出制御回路に接続
されている。この検出器本体１の集電極１ａ〜１
ｃが設けられた面に対向する側には、検出器本体
１と同形状（大きさ）の図示しない高圧電極が設
けられ、両電極間に適宜高圧電圧が印加されてＸ
線検出器が構成されている。２は図示しないＸ線
可動絞り本体内部に、絞り羽根の後段（Ｘ線絞り
の先端）の照射野に配置され、本体が透明な一対
の板を接合してなる表示用マスクである。このマ
スク２には、検出器本体１における各集電極１ａ
〜１ｃの形状、大きさ及び位置関係に相似的に対
応する投影体２ａ，２ｂ，２ｃが形成されてい
る。この投影体２ａ〜２ｃは、マスク２本体の一
対の透明板間に一対の透明電極を介して挾持さ
れ、その一対の電極間に電圧を印加することによ
つて透明から不透明状態に変化する液晶にて形成
されている。投影体２ａ〜２ｃは各別に制御回
路、すなわち各液晶を挾持する一対の電極間に対
して電圧印加制御を行なう液晶ドライブ制御回路
３ａ，３ｂ，３ｃがそれぞれ接続されている。４
はＸ線検出器１の検出野の選択設定を行なうため
の検出野選択器であり、検出器本体１の各集電極
１ａ〜１ｃに対応する選択スイツチ４ａ，４ｂ，
４ｃにて構成されている。これら各選択スイツチ
４ａ〜４ｃは、前記スイツチ素子Sa〜Sc及び前
記制御回路３ａ〜３ｃに接続され、それらに対し
て制御信号を与えるようになつている。尚、前記
自動露出制御回路は、検出器本体１の集電極１ａ
〜１ｃからの検出信号（微小電流）をスイツチ素
子Sa〜Scを介して導入し、電流−電圧変換を行
なつた後に積分器で積分し、この積分電圧が基準
電圧（前記適正黒化度に対応する電圧）に達する
と比較器を介してＸ線制御器へＸ線遮断信号を発
生する回路である。
次に上記構成の動作について第２図を参照に加
えて説明する。
えて説明する。
すなわち、撮影に際して被検者５の撮影部位
（本例では胸部）に合わせて、検出野選択器４の
選択スイツチ４ａ〜４ｃのうち、所望のもの（本
例ではスイツチ２ａ，２ｂ）を閉成する。これに
より、スイツチ素子Sa，Sbを介して集電極２
ａ，２ｂが図示しない自動露出制御回路の入力部
に接続され、同時に液晶ドライブ制御回路４ａ，
４ｂを介してマスク２の投影体２ａ，２ｂの液晶
に電圧が印加され、投影体２ａ，２ｂのみが光学
的に不透明な状態になる。
（本例では胸部）に合わせて、検出野選択器４の
選択スイツチ４ａ〜４ｃのうち、所望のもの（本
例ではスイツチ２ａ，２ｂ）を閉成する。これに
より、スイツチ素子Sa，Sbを介して集電極２
ａ，２ｂが図示しない自動露出制御回路の入力部
に接続され、同時に液晶ドライブ制御回路４ａ，
４ｂを介してマスク２の投影体２ａ，２ｂの液晶
に電圧が印加され、投影体２ａ，２ｂのみが光学
的に不透明な状態になる。
而して、Ｘ線管６の照射口に取付けられたＸ線
絞り７内の照射野設定用のランプを点灯すれば、
Ｘ線絞り７及びその先端のマスク２を介してＸ線
照射野に対応した照射野を有する光が投射され
る。これによりＸ線フイルム及びＸ線検出器が収
納されているチエストスタンド８の前に位置した
被検者５の撮影部位のＸ線管６側、すなわち背部
体表面に、図示のようなマスクの投影体２a′，２
b′が投影される。
絞り７内の照射野設定用のランプを点灯すれば、
Ｘ線絞り７及びその先端のマスク２を介してＸ線
照射野に対応した照射野を有する光が投射され
る。これによりＸ線フイルム及びＸ線検出器が収
納されているチエストスタンド８の前に位置した
被検者５の撮影部位のＸ線管６側、すなわち背部
体表面に、図示のようなマスクの投影体２a′，２
b′が投影される。
上記のように本発明によれば、選択されたＸ線
検出野が被検者の撮影部位体表面に光学的な影と
して表示されるため、操作者はどの検出野が選択
され、またその位置関係が適正かどうかが、一目
瞭然に確認することができる。従つて、この操作
性の向上に伴い、検出野の選択設定あるいは撮影
部位の位置決めの失敗を防止でき、結果としてこ
の種の自動露出制御装置の機能の向上を図ること
ができる。
検出野が被検者の撮影部位体表面に光学的な影と
して表示されるため、操作者はどの検出野が選択
され、またその位置関係が適正かどうかが、一目
瞭然に確認することができる。従つて、この操作
性の向上に伴い、検出野の選択設定あるいは撮影
部位の位置決めの失敗を防止でき、結果としてこ
の種の自動露出制御装置の機能の向上を図ること
ができる。
尚、上記実施例においては、Ｘ線検出野が選択
可能なＸ線検出器として複数の集電極を有するイ
オンチエンバを用いたが、他の検出野の選択可能
なＸ線検出器を用いても所期の目的を達すること
ができる。すなわち、前記Ｘ線検出器本体１にお
ける集電極１ａ〜１ｃに対応する形状、大きさ及
び位置関係にて複数の半導体Ｘ線検出素子、ある
いは螢光体を配置したＸ線検出器を用いることが
できる。この場合、後者においては各螢光体ごと
に各別にライトガイドを介してそれぞれ光電子増
倍管に導入する構成をとるか、あるいは各螢光体
ごとに、その対向面にフオトダイオード等の半導
体光電変換素子をそれぞれ必要数並べた構成をと
ることによつて適用することができる。
可能なＸ線検出器として複数の集電極を有するイ
オンチエンバを用いたが、他の検出野の選択可能
なＸ線検出器を用いても所期の目的を達すること
ができる。すなわち、前記Ｘ線検出器本体１にお
ける集電極１ａ〜１ｃに対応する形状、大きさ及
び位置関係にて複数の半導体Ｘ線検出素子、ある
いは螢光体を配置したＸ線検出器を用いることが
できる。この場合、後者においては各螢光体ごと
に各別にライトガイドを介してそれぞれ光電子増
倍管に導入する構成をとるか、あるいは各螢光体
ごとに、その対向面にフオトダイオード等の半導
体光電変換素子をそれぞれ必要数並べた構成をと
ることによつて適用することができる。
その他、本発明の要旨を変更しない範囲におい
て適宜変形して実施し得ることは勿論である。
て適宜変形して実施し得ることは勿論である。
第１図は本発明によるＸ線自動露出制御装置の
要部の一実施例を示す構成図、第２図は第１図に
おけるＸ線自動露出制御装置を適用した場合の使
用状態を示す説明図である。 １……Ｘ線検出器本体、１ａ，１ｂ，１ｃ……
集電極、Sa，Sb，Sc……スイツチ素子、２……
表示用マスク、２ａ，２ｂ，２ｃ……投影体、３
ａ，３ｂ，３ｃ……液晶ドライブ制御回路、４…
…検出野選択器、４ａ，４ｂ，４ｃ……選択スイ
ツチ。
要部の一実施例を示す構成図、第２図は第１図に
おけるＸ線自動露出制御装置を適用した場合の使
用状態を示す説明図である。 １……Ｘ線検出器本体、１ａ，１ｂ，１ｃ……
集電極、Sa，Sb，Sc……スイツチ素子、２……
表示用マスク、２ａ，２ｂ，２ｃ……投影体、３
ａ，３ｂ，３ｃ……液晶ドライブ制御回路、４…
…検出野選択器、４ａ，４ｂ，４ｃ……選択スイ
ツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の検出野が選択可能なＸ線検出器と、こ
のＸ線検出器の前記複数の検出野に対応し、駆動
信号によつて光学的に不透明な状態を形成し得る
複数の投影体を有し、Ｘ線照射野に合致する照射
野を有する光で投射される光学的に透明な表示マ
スクと、この表示マスクの前記複数の投影体に前
記駆動信号を与える投影体制御回路と、前記Ｘ線
検出器の検出野を選択設定し、その選択信号によ
り前記投影体制御回路に前記駆動制御信号を与え
る検出野選択器とを備えてなるＸ線自動露出制御
装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載のＸ線自動露出制
御装置において、前記表示用マスクの投影体とし
て液晶を用いたことを特徴とするＸ線自動露出制
御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13987179A JPS5665500A (en) | 1979-10-31 | 1979-10-31 | Automatic x-ray exposure control device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13987179A JPS5665500A (en) | 1979-10-31 | 1979-10-31 | Automatic x-ray exposure control device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5665500A JPS5665500A (en) | 1981-06-03 |
| JPS6260097B2 true JPS6260097B2 (ja) | 1987-12-15 |
Family
ID=15255495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13987179A Granted JPS5665500A (en) | 1979-10-31 | 1979-10-31 | Automatic x-ray exposure control device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5665500A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0518879Y2 (ja) * | 1987-10-30 | 1993-05-19 | ||
| JPH0186100U (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-07 |
-
1979
- 1979-10-31 JP JP13987179A patent/JPS5665500A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5665500A (en) | 1981-06-03 |
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