JPS6263848A - Ｎｍｒイメ−ジング装置 - Google Patents
Ｎｍｒイメ−ジング装置Info
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- JPS6263848A JPS6263848A JP60191527A JP19152785A JPS6263848A JP S6263848 A JPS6263848 A JP S6263848A JP 60191527 A JP60191527 A JP 60191527A JP 19152785 A JP19152785 A JP 19152785A JP S6263848 A JPS6263848 A JP S6263848A
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- coil
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、被検体中の対象原子核の位置を核磁気共鳴現
象に」：って把握するＮＭＲイメージング装置（核磁気
共鳴画像表示装置）に関し、更に詳しくは、静磁場に勾
配磁場を印加したとき、該勾配磁場による影響を補償し
前記静磁場による強度のみに対応する信号を出力する磁
場検出センサを設け、該磁場検出センサによる検出信号
を用いて前記静磁場の変動を補正するようにしたＮＭＲ
イメージング装置に関する、。
象に」：って把握するＮＭＲイメージング装置（核磁気
共鳴画像表示装置）に関し、更に詳しくは、静磁場に勾
配磁場を印加したとき、該勾配磁場による影響を補償し
前記静磁場による強度のみに対応する信号を出力する磁
場検出センサを設け、該磁場検出センサによる検出信号
を用いて前記静磁場の変動を補正するようにしたＮＭＲ
イメージング装置に関する、。
（従来の技術）
ＮＭＲイメージング装置は、一様な静磁場ｉ−＋ 。
を作る静磁場二】イル及び静磁場１−１ｏと同一方向隅
揚′Ｃ″ｘ、ｙ、ｚの各方向に夫々直線勾配をもつ磁場
を作る勾配磁場コイルから成る磁り部、践磁石部で形成
される磁場内に設置づる被検体に高周波パルス（高周波
電磁波）を加え、被検体からのＮＭＲ信号を検出する送
・受信部、誤送・受信部及び前記磁石部の動作を制御し
たり、検出データの処理をして画像表示する制御・画像
処叩部′８を右している。
揚′Ｃ″ｘ、ｙ、ｚの各方向に夫々直線勾配をもつ磁場
を作る勾配磁場コイルから成る磁り部、践磁石部で形成
される磁場内に設置づる被検体に高周波パルス（高周波
電磁波）を加え、被検体からのＮＭＲ信号を検出する送
・受信部、誤送・受信部及び前記磁石部の動作を制御し
たり、検出データの処理をして画像表示する制御・画像
処叩部′８を右している。
このようなＮＭＲイメージング装置におい一τ、一般的
に、静磁場発生部（静磁場＝コイルを含む磁石部）のト
リ゛ノドを零にすることは難しく、経時的に共鳴条件が
所定の条件から外れでゆくことが知られている。そして
、共鳴周波数のずれが大きくなるとＮＭＲの励起が不可
能になる。又、Ｊｔ鳴同周波数ずれが小さい場合には、
ＮＭＲの励起が行われるけれども、画像の解像度が低下
しまたり、アーヂファクトが現れたりして、画像の品質
の低下を招くことが知られている。
に、静磁場発生部（静磁場＝コイルを含む磁石部）のト
リ゛ノドを零にすることは難しく、経時的に共鳴条件が
所定の条件から外れでゆくことが知られている。そして
、共鳴周波数のずれが大きくなるとＮＭＲの励起が不可
能になる。又、Ｊｔ鳴同周波数ずれが小さい場合には、
ＮＭＲの励起が行われるけれども、画像の解像度が低下
しまたり、アーヂファクトが現れたりして、画像の品質
の低下を招くことが知られている。
一方、磁石部による磁場は、静磁場と勾配磁場とが重畳
した合成磁場となっているため、静ｌＩｔ＆場のみの強
度を所定の値に制御するのは容易ではない。
した合成磁場となっているため、静ｌＩｔ＆場のみの強
度を所定の値に制御するのは容易ではない。
従来、これらの課題を解決せんとしてなされたＮＭＲイ
メージ：／グ装置として、例えば、特開昭６（１−１１
１１４１号に開示されたものがある。
メージ：／グ装置として、例えば、特開昭６（１−１１
１１４１号に開示されたものがある。
該ＮＭＲイメージング装置は、静磁場の変動に基づくア
ナログ信号を出力するプロトン磁力計と、プロトン磁力
計からの出力信号をｆイジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
挽回路と、Ａ ／ Ｄ変換回路の出力信号を入力し、ラ
ッチ制御回路からの信号によって動作するラッチ回路と
、ランチ回路の出力信号をアナログ信号に変換するＤ／
Ａ変換回路と、Ｄ／Ａ変換回路からの信号によって静磁
場発生部を操作する磁界制御回路とを有している。
ナログ信号を出力するプロトン磁力計と、プロトン磁力
計からの出力信号をｆイジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
挽回路と、Ａ ／ Ｄ変換回路の出力信号を入力し、ラ
ッチ制御回路からの信号によって動作するラッチ回路と
、ランチ回路の出力信号をアナログ信号に変換するＤ／
Ａ変換回路と、Ｄ／Ａ変換回路からの信号によって静磁
場発生部を操作する磁界制御回路とを有している。
以トの構成においで、ラッチ回路は、ラッチ制御回路か
らの制御信号にＪ：って、勾配磁界が印加される直前の
Δ／Ｄ変換回路の出力をホールドする。そして、勾配磁
界が印加されているとき、ホールドした信号を出力する
。史に、勾配磁界が印加されていないとき、Ａ ／ Ｄ
変換回路の信号を出力する。これに、より、磁界υ１郊
回路は、勾配磁界の影響を受けない信号を測定値とした
制御動作をすることができ、静磁場の安定化を図ること
がて゛きる。
らの制御信号にＪ：って、勾配磁界が印加される直前の
Δ／Ｄ変換回路の出力をホールドする。そして、勾配磁
界が印加されているとき、ホールドした信号を出力する
。史に、勾配磁界が印加されていないとき、Ａ ／ Ｄ
変換回路の信号を出力する。これに、より、磁界υ１郊
回路は、勾配磁界の影響を受けない信号を測定値とした
制御動作をすることができ、静磁場の安定化を図ること
がて゛きる。
（発明が解決しようとする問題魚）
しかし、従来のＮＭＲイメージング装’；５にあっては
、勾配ｌａ場が印加されているとさのｉｔ、！ｌ ｉｌ
ｌ演０の測定信号は過去のデータ、即ら、勾配！ａ鳴印
加直前のＡ／Ｄ変換器の出力をホ゛−ルドし、その（１
ｔ１を測定信号と１）でいるため、静磁場の制御］１性
を高めるにも限界があった１、従って、高品質の画像を
連続的に得ることが難しいという問題があった。
、勾配ｌａ場が印加されているとさのｉｔ、！ｌ ｉｌ
ｌ演０の測定信号は過去のデータ、即ら、勾配！ａ鳴印
加直前のＡ／Ｄ変換器の出力をホ゛−ルドし、その（１
ｔ１を測定信号と１）でいるため、静磁場の制御］１性
を高めるにも限界があった１、従って、高品質の画像を
連続的に得ることが難しいという問題があった。
本発明は、かかる点に鑑み（行われたＩ）のであり、そ
の目的は、高品質の画像を連続的に１びることのでさる
Ｎ Ｍ Ｒイメージング装置を提供することにある。
の目的は、高品質の画像を連続的に１びることのでさる
Ｎ Ｍ Ｒイメージング装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
Ｌ２目的を達成づ−る本発明のＮ Ｍ Ｒイメージング
装置は、静磁場に勾配′ｖ１１鴨を印加したとき、該勾
配置ａ場による影響を補償し前記静磁場による強度のみ
に対応する信号を出力する磁場検出センサを設け、該磁
場検出センサによる検出信号を用いて前記静磁場の変動
を補正する構成となっている。
装置は、静磁場に勾配′ｖ１１鴨を印加したとき、該勾
配置ａ場による影響を補償し前記静磁場による強度のみ
に対応する信号を出力する磁場検出センサを設け、該磁
場検出センサによる検出信号を用いて前記静磁場の変動
を補正する構成となっている。
（実施例）
以下、図面を参照し本発明について詳細に説明する。
第１図乃至第３図は、本発明の一実施例を示す構成図で
あり、第１図は、ＮＭＲイメージング装置の構成図、第
２図は、磁場検出センサの設δ位置説明図、第３図は、
静磁場測定・制御部の構成図である。
あり、第１図は、ＮＭＲイメージング装置の構成図、第
２図は、磁場検出センサの設δ位置説明図、第３図は、
静磁場測定・制御部の構成図である。
ＮＭＲイメージング装置の磁石部は、静ｌａ場コイル駆
動部１によって付勢される静磁場コイル２ど、勾配磁場
コイル駆動部３によって付勢される勾配磁場コイル４と
で構成される。静磁鳴コイル駆動部１は、磁石部内の特
定の箇所（後述）からの磁場強度信号を人力し、所定の
叫埋をりる静磁場測定・制御部５によって操作される（
駆動のスタート、ストップは」ンＨｏ−ラ（３からの信
号に従う）。勾配磁場コイル４は、ｘ、ｙ、ｚの各１袖
のコイルを備え、各＝］コイル付勢モードは、勾配磁場
コイル駆動部３を操作づる」ンｌ−Ｄ−ラ６の制御信号
に従う。磁場検出センサ７は、１１鳴周波数が磁場１−
（ｏに依存づる物質、例えば・Ｆ水Ｄ２０が収納された
容器７△と、この容器７Ａの周囲に巻回するセン１ナニ
］イル７Ｂと、容器７Ａを間にして配置する２個のコイ
ルから成るＺ勾配補償〕イル７Ｃとで構成されている。
動部１によって付勢される静磁場コイル２ど、勾配磁場
コイル駆動部３によって付勢される勾配磁場コイル４と
で構成される。静磁鳴コイル駆動部１は、磁石部内の特
定の箇所（後述）からの磁場強度信号を人力し、所定の
叫埋をりる静磁場測定・制御部５によって操作される（
駆動のスタート、ストップは」ンＨｏ−ラ（３からの信
号に従う）。勾配磁場コイル４は、ｘ、ｙ、ｚの各１袖
のコイルを備え、各＝］コイル付勢モードは、勾配磁場
コイル駆動部３を操作づる」ンｌ−Ｄ−ラ６の制御信号
に従う。磁場検出センサ７は、１１鳴周波数が磁場１−
（ｏに依存づる物質、例えば・Ｆ水Ｄ２０が収納された
容器７△と、この容器７Ａの周囲に巻回するセン１ナニ
］イル７Ｂと、容器７Ａを間にして配置する２個のコイ
ルから成るＺ勾配補償〕イル７Ｃとで構成されている。
７勾配補償二】イル７Ｃには、勾配磁場コイル駆動部３
の出力と同一波形の電流が増幅器８を介しで与えられる
。そして、２勾配補償コイル７Ｃは、磁場検出センサ”
７を第２図（第２図の４） 及び４Ｚ２はＺ＠勾配磁場
コイル）に示１位置、即ち、Ｚ軸上で、かつ、画像領域
に近（１４プで設置したとき、センサ」イル７Ｂの位置
近傍におけるｌ勾配磁場の影替を打消すように成ってい
る。
の出力と同一波形の電流が増幅器８を介しで与えられる
。そして、２勾配補償コイル７Ｃは、磁場検出センサ”
７を第２図（第２図の４） 及び４Ｚ２はＺ＠勾配磁場
コイル）に示１位置、即ち、Ｚ軸上で、かつ、画像領域
に近（１４プで設置したとき、センサ」イル７Ｂの位置
近傍におけるｌ勾配磁場の影替を打消すように成ってい
る。
尚、通常、ＮＭＲイメージング装置における勾配磁場は
、画像領域の中心Ｏを原点としで、その左右、又は、上
Ｆで符号（向き）が変わり、大きさが直線的変化Ｊるよ
うに与えられている。
、画像領域の中心Ｏを原点としで、その左右、又は、上
Ｆで符号（向き）が変わり、大きさが直線的変化Ｊるよ
うに与えられている。
励磁コイル９及び検出コイル１０は、Ｚ軸を中心にして
９０’回転させた位置を保持して、前記磁石部内に設置
される。励磁コイル９は、コン］−ローラ６の制御下に
あるゲート回路１１、゛パワーアンプ１２等を介して冑
られるＲＦ発振器１３の出力信号によって付勢され、被
検体（図示けず）に高周波電磁波をりえる（高周波電磁
波の周波数は、測定対像原子核のＮＭＲ共鳴条イ′［に
対応する周波数、例えば、プロトンでは４２．６ＭＨ２
／王となっている）。又、検出コイル１０は、被検体の
所望の部位からのＮ Ｍ Ｒ信号を検出する。検出され
たＮ Ｍ Ｒ信号は、プリアンプ１４、位相検波器１５
〈基準信号はＲＦ発振器１３の出力信号〉等を介してメ
モリ１６に入力され格納される。そして、適宜、画像表
示部１７に読出される。画像表示部１７は、コンピュー
タ、ＣＲＴ′６で構成され、メモリー６から読込んだデ
ータを用いて所定の処理（再構成処理）をしく−画像表
示を１６ようになっている。
９０’回転させた位置を保持して、前記磁石部内に設置
される。励磁コイル９は、コン］−ローラ６の制御下に
あるゲート回路１１、゛パワーアンプ１２等を介して冑
られるＲＦ発振器１３の出力信号によって付勢され、被
検体（図示けず）に高周波電磁波をりえる（高周波電磁
波の周波数は、測定対像原子核のＮＭＲ共鳴条イ′［に
対応する周波数、例えば、プロトンでは４２．６ＭＨ２
／王となっている）。又、検出コイル１０は、被検体の
所望の部位からのＮ Ｍ Ｒ信号を検出する。検出され
たＮ Ｍ Ｒ信号は、プリアンプ１４、位相検波器１５
〈基準信号はＲＦ発振器１３の出力信号〉等を介してメ
モリ１６に入力され格納される。そして、適宜、画像表
示部１７に読出される。画像表示部１７は、コンピュー
タ、ＣＲＴ′６で構成され、メモリー６から読込んだデ
ータを用いて所定の処理（再構成処理）をしく−画像表
示を１６ようになっている。
次に、静磁場測定・制御部５につい−（−第３図を参照
して説明する。
して説明する。
静磁場測定・制御部５においで、］」ンデンリＣ１、Ｃ
２、→変容量ダイオードＤ４．０２ 、可変容量コンデ
ンサＣ、コイル７１３等から＜Ｚる共■ 振回路２１と、電界効果型ｌ−ランジスタ（Ｆ Ｅ Ｔ
）Ｑ、Ｑ、、、帰還］ンデン＋ｊ Ｃ８等から成る回
路２２とで発振回路２３が構成される（」ンｊ″ンリ−
ＣＩ−１及びインダクタンスＬ１−（の「ｊ列共振回路
はイメージングのための高周波除去回路Ｃある）１３周
波数カウンタ２４及び誤差検出回路２５は、ブを撤回路
２３の発掘周波数をＲＦ増巾器２６を介しく一計数し、
該計数値と設定値どの差に応じた電圧を可変容量ダイオ
ードＤ２に印加し′で発振周波数を所定値に保持する（
発振周波数は、磁場検出センサ７が重水素原子核のＮ
Ｍ Ｒ現℃を利用するどさ−１６，３５６ＭＨｚ ／Ｔ
ｉ、：設定される）。１ト発振器２７は、数１０〜数Ｋ
Ｈ７の低周波信号を出力し、該信号を可変容量ダイオー
ドＤ１に印加して発振回路２３の発振周波数を周波数変
調する。検波回路２８は、ＲＦ増巾器２６の出力をＡＭ
検波し、該検波信号でＦＥＴ Ｑ２のゲー１〜を操作し
て発振回路２３の発振振巾を一定にする。ベースライン
補正回路２９は、ＦＥＴ Ｑ２のドレイン側に接続さ
れ、発振回路２３の発振周波数の変化によるΔＭ酸成分
除去する。位相検波回路３０は、し１発振器２７の出力
信号を基準信号とし、ＬＦ増巾晶３１を介して得る発振
回路２３の低周波成分に対応する信号を出力する。ｐ＋
演算回路３２は、メモリ３３から与えられる信号を設定
値に、又、位相検波回路３０からの信号を測定値とした
制御演算（比例・積分演Ｆｉ）をし、静磁場コイル駆動
部１を操作する。
２、→変容量ダイオードＤ４．０２ 、可変容量コンデ
ンサＣ、コイル７１３等から＜Ｚる共■ 振回路２１と、電界効果型ｌ−ランジスタ（Ｆ Ｅ Ｔ
）Ｑ、Ｑ、、、帰還］ンデン＋ｊ Ｃ８等から成る回
路２２とで発振回路２３が構成される（」ンｊ″ンリ−
ＣＩ−１及びインダクタンスＬ１−（の「ｊ列共振回路
はイメージングのための高周波除去回路Ｃある）１３周
波数カウンタ２４及び誤差検出回路２５は、ブを撤回路
２３の発掘周波数をＲＦ増巾器２６を介しく一計数し、
該計数値と設定値どの差に応じた電圧を可変容量ダイオ
ードＤ２に印加し′で発振周波数を所定値に保持する（
発振周波数は、磁場検出センサ７が重水素原子核のＮ
Ｍ Ｒ現℃を利用するどさ−１６，３５６ＭＨｚ ／Ｔ
ｉ、：設定される）。１ト発振器２７は、数１０〜数Ｋ
Ｈ７の低周波信号を出力し、該信号を可変容量ダイオー
ドＤ１に印加して発振回路２３の発振周波数を周波数変
調する。検波回路２８は、ＲＦ増巾器２６の出力をＡＭ
検波し、該検波信号でＦＥＴ Ｑ２のゲー１〜を操作し
て発振回路２３の発振振巾を一定にする。ベースライン
補正回路２９は、ＦＥＴ Ｑ２のドレイン側に接続さ
れ、発振回路２３の発振周波数の変化によるΔＭ酸成分
除去する。位相検波回路３０は、し１発振器２７の出力
信号を基準信号とし、ＬＦ増巾晶３１を介して得る発振
回路２３の低周波成分に対応する信号を出力する。ｐ＋
演算回路３２は、メモリ３３から与えられる信号を設定
値に、又、位相検波回路３０からの信号を測定値とした
制御演算（比例・積分演Ｆｉ）をし、静磁場コイル駆動
部１を操作する。
尚、メモリ３３には、発振回路２３の発条周波数が所定
値のときの位相検波回路３０の出力信号値Ｅｏが格納さ
れている。
値のときの位相検波回路３０の出力信号値Ｅｏが格納さ
れている。
次に、上記構成の動作について説明する。
静磁場コイル駆動部１、勾配！ａ揚場−イル駆動部３及
びゲート回路１０は、コン１−ローラ６からの操作信号
によって駆動され、各コイル２．４及び９は所定のシー
ケンスで付勢される。即も、静磁場コイル２により、Ｚ
＠力方向一様な静１ａ揚］（。
びゲート回路１０は、コン１−ローラ６からの操作信号
によって駆動され、各コイル２．４及び９は所定のシー
ケンスで付勢される。即も、静磁場コイル２により、Ｚ
＠力方向一様な静１ａ揚］（。
が形成される。又、勾配磁場コイル４のＺ軸−コイルに
よってＺ軸方向の直線勾配置！場が与えられ、静！４！
場１−１６に小骨される（スライス面が決定される）。
よってＺ軸方向の直線勾配置！場が与えられ、静！４！
場１−１６に小骨される（スライス面が決定される）。
このとき、２個の７勾配補償］イル７Ｃには、２軸コイ
ルを付勢する電流と同じ波形の電流が流れる。そして、
センサコイル７Ｂの近傍において、前記静磁場Ｈ６１，
：Φ畳する２軸方向の直線勾配！４ｉ場をキャンセルす
る磁場が形成される。この状態にて、勾配ｌａ場］イル
４のｘ＠二］イル及びｙ軸コイルによりＸ軸方向及びｙ
軸方向における勾配磁場が順次所定のパターン（パター
ンは２次元フーリエ変換法との関連で決定される）′Ｃ
：与えられると共に、このシーケンスにタイミングを合
せて励磁コイル９からスピン・エコー法に基づく高周波
パルスが与えられる。このとき、磁場検出センサ７は、
Ｘ勾配磁ＪΩ及びｙｌｌ場が零の位置に設置されている
ため、センサコイル７ＢにはＸ勾配磁場及びｙ勾配ｌａ
場の影響は現れない。前記高周波パルスの励起によりＮ
ＭＲ信号が発生する。
ルを付勢する電流と同じ波形の電流が流れる。そして、
センサコイル７Ｂの近傍において、前記静磁場Ｈ６１，
：Φ畳する２軸方向の直線勾配！４ｉ場をキャンセルす
る磁場が形成される。この状態にて、勾配ｌａ場］イル
４のｘ＠二］イル及びｙ軸コイルによりＸ軸方向及びｙ
軸方向における勾配磁場が順次所定のパターン（パター
ンは２次元フーリエ変換法との関連で決定される）′Ｃ
：与えられると共に、このシーケンスにタイミングを合
せて励磁コイル９からスピン・エコー法に基づく高周波
パルスが与えられる。このとき、磁場検出センサ７は、
Ｘ勾配磁ＪΩ及びｙｌｌ場が零の位置に設置されている
ため、センサコイル７ＢにはＸ勾配磁場及びｙ勾配ｌａ
場の影響は現れない。前記高周波パルスの励起によりＮ
ＭＲ信号が発生する。
ＮＭＲ信号は、検出コイル１０で検出され、プリアンプ
１４で増巾された後、位相検波器１５でＲＦ発振器１３
からの信号を基準信号として検波されメモリ１６に格納
される。
１４で増巾された後、位相検波器１５でＲＦ発振器１３
からの信号を基準信号として検波されメモリ１６に格納
される。
一方、静磁場測定・制御部５において、発振間回路２３
は、コイル７ＢのインダクタンスＬＣと共振回振２１の
合成容量Ｃｃで定まる周波数ｆ＝１／２π（Ｌ Ｃ）
で発振する（発振周波Ｃ 数は、可変容量コンデンサＣｖの調整により、６゜３５
６Ｍｌ−１／Ｔに設定されている）。誤差検出回路２５
から上記発振周波数と設定値との差に対応する電圧が出
力され、可変容量ダイオードＤ２に印加される。これに
より、発振回路２３の発振周波数は設定値に一致する。
は、コイル７ＢのインダクタンスＬＣと共振回振２１の
合成容量Ｃｃで定まる周波数ｆ＝１／２π（Ｌ Ｃ）
で発振する（発振周波Ｃ 数は、可変容量コンデンサＣｖの調整により、６゜３５
６Ｍｌ−１／Ｔに設定されている）。誤差検出回路２５
から上記発振周波数と設定値との差に対応する電圧が出
力され、可変容量ダイオードＤ２に印加される。これに
より、発振回路２３の発振周波数は設定値に一致する。
ところで、発振回路２３の発振周波数はＬＦ発撮器２７
の出力信号によって周波数変調され、その発振周波数が
重水素Ｉｊｌｔ了核の吸収周波数に一致すると、重水素
原子核によるｍＢｆｌ波の吸収が行われる。このため、
発振回路２３のｔｔ撮開回路２１Ｑが変化する。従って
、発振回路２３のＦ Ｅ Ｔ Ｑ、のドレイン側には、
重水素原子核のＮＭＲ現や（共振回路２１のＱの変化）
が現れる。このとき、２勾配補償コイル７Ｃによって重
水素原子核近傍における２勾配磁場がキャンセルされて
いるため、前記ＮＭＲ現象に係わる磁場は、静磁場コイ
ル２によってのみ決定される（２勾配磁場の影響をうけ
ない）。
の出力信号によって周波数変調され、その発振周波数が
重水素Ｉｊｌｔ了核の吸収周波数に一致すると、重水素
原子核によるｍＢｆｌ波の吸収が行われる。このため、
発振回路２３のｔｔ撮開回路２１Ｑが変化する。従って
、発振回路２３のＦ Ｅ Ｔ Ｑ、のドレイン側には、
重水素原子核のＮＭＲ現や（共振回路２１のＱの変化）
が現れる。このとき、２勾配補償コイル７Ｃによって重
水素原子核近傍における２勾配磁場がキャンセルされて
いるため、前記ＮＭＲ現象に係わる磁場は、静磁場コイ
ル２によってのみ決定される（２勾配磁場の影響をうけ
ない）。
位相検波回路３０は、ｌ−１発振器２７からの信号を基
準信号とし、ＦＥＴ Ｑｌのドレイン側信号を検波し
て出力する。この出力信号は、第４図に示す特性となる
（第４図の１軸は、位相検波回路３０の出力信号、横軸
は静磁場強度を示す）。
準信号とし、ＦＥＴ Ｑｌのドレイン側信号を検波し
て出力する。この出力信号は、第４図に示す特性となる
（第４図の１軸は、位相検波回路３０の出力信号、横軸
は静磁場強度を示す）。
第４図における信号値Ｅ。は、静磁場を印加しない状態
で（イメージング動作に入る前の状１））、発振回路２
３の発振周波数を所定の値に一致させたときの位相検波
回路３０の出力信号であって、予めメモリ３３に格納さ
れ、制御演粋の設定値としてＰＩ演算回路３２に与えら
れる。
で（イメージング動作に入る前の状１））、発振回路２
３の発振周波数を所定の値に一致させたときの位相検波
回路３０の出力信号であって、予めメモリ３３に格納さ
れ、制御演粋の設定値としてＰＩ演算回路３２に与えら
れる。
ＰＩ演算回路３２は、静磁場コイル駆動部１を操作しな
がら、位相検波回路３０からの信号を設定値Ｅ。に一致
させる。これにより、静ｌｉ場強度が所定の強度）−（
、（第４図参照）となる。
がら、位相検波回路３０からの信号を設定値Ｅ。に一致
させる。これにより、静ｌｉ場強度が所定の強度）−（
、（第４図参照）となる。
上記のように、ＰＩ演算回路３２は、勾配磁場に関係の
ない磁場からの信号（２勾配磁場をキャンセルして得ら
れる磁場強度信号）を連続的に入力して静磁場強度を制
御する。従って、静磁場のυ制御性を高めることができ
、高品質の画像を連続的に得ることができる。
ない磁場からの信号（２勾配磁場をキャンセルして得ら
れる磁場強度信号）を連続的に入力して静磁場強度を制
御する。従って、静磁場のυ制御性を高めることができ
、高品質の画像を連続的に得ることができる。
尚、本発明は、上記実施例に限定するものではなく、勾
配補償コイルの代りに第５図に示すように、センサコイ
ルを低い抵抗部材、例えば、銅から成る箱に収納設置し
てもよい。
配補償コイルの代りに第５図に示すように、センサコイ
ルを低い抵抗部材、例えば、銅から成る箱に収納設置し
てもよい。
このような構成において、勾配磁場が印加されると、箱
の側壁に生ずる渦電流によって勾配磁場の成分が打消さ
れる。従って、センサコイルの位置の磁場強度を一定に
づることができる。この方式は、２勾配磁場が長時間印
加されないどきに有効である。
の側壁に生ずる渦電流によって勾配磁場の成分が打消さ
れる。従って、センサコイルの位置の磁場強度を一定に
づることができる。この方式は、２勾配磁場が長時間印
加されないどきに有効である。
又、本発明は、磁場検出（？ンリ近傍の勾配磁場を検出
する手段（さぐり］コイルを設け、該手段の出力で勾配
磁場補償コイルを付勢し、磁場検出センサ近傍における
勾配磁場の影響を１−トシセルするようにしてもよい（
ｘ＝ｙ＝ｏ、Ｚ≠０の位置にさぐりコイルを設置し、こ
のコイルの誘起電圧を積分すれば２勾配磁場？Ｊ！４度
に対応づ−る信号を得ることができる）、又、勾配磁場
補償コイルによるキャンセルはｙ勾配、Ｘ勾配又は、こ
れらの組合せであってもよい。
する手段（さぐり］コイルを設け、該手段の出力で勾配
磁場補償コイルを付勢し、磁場検出センサ近傍における
勾配磁場の影響を１−トシセルするようにしてもよい（
ｘ＝ｙ＝ｏ、Ｚ≠０の位置にさぐりコイルを設置し、こ
のコイルの誘起電圧を積分すれば２勾配磁場？Ｊ！４度
に対応づ−る信号を得ることができる）、又、勾配磁場
補償コイルによるキャンセルはｙ勾配、Ｘ勾配又は、こ
れらの組合せであってもよい。
更に、上記実施例において、静磁場測定・制御部５が静
磁場コイル駆動部１を操作しているが、これに代えて、
ＲＦ発振器１３を操作し、イの発振周波数を制御しても
よい。更に、位相検波器１５の基準信号を変えるように
してもよい。更に、静磁場測定・制御部５における磁場
検出信号（位相検波回路３０の出力信号）を画像表示部
１７のコンピュータに入力し、画像再構成処理のとき、
静磁場の変動によるデータの変化、例えば、プロジェク
ションの位置ずれを補正するようにしてもよい。
磁場コイル駆動部１を操作しているが、これに代えて、
ＲＦ発振器１３を操作し、イの発振周波数を制御しても
よい。更に、位相検波器１５の基準信号を変えるように
してもよい。更に、静磁場測定・制御部５における磁場
検出信号（位相検波回路３０の出力信号）を画像表示部
１７のコンピュータに入力し、画像再構成処理のとき、
静磁場の変動によるデータの変化、例えば、プロジェク
ションの位置ずれを補正するようにしてもよい。
（発明の効果）
以上、説明の通り、本発明のＮＭＲイメージング装置に
よれば、静磁場に勾配磁場を印加したとき、該勾配磁場
による影響を補償し前記静磁場による強度のみに対応す
る信号を出力する磁場検出はンザを設け、該磁場検出セ
ンサによる検出信号を用いて前記静磁場の変動を補正す
るようにしたため、高品質の画像を連続的に得ることが
できる。
よれば、静磁場に勾配磁場を印加したとき、該勾配磁場
による影響を補償し前記静磁場による強度のみに対応す
る信号を出力する磁場検出はンザを設け、該磁場検出セ
ンサによる検出信号を用いて前記静磁場の変動を補正す
るようにしたため、高品質の画像を連続的に得ることが
できる。
第１図は、本発明の一実施例を示す構成図、第２図は、
磁場検出センサの設置位置の説明図、第３図は、静磁場
測定・制御部の構成図、第４図は、静磁場測定・制御部
の動作説明図、第５図は、本発明の他の実施例を示す構
成図である。 ７・・・磁場検出センサ、７Ａ・・・容器、７Ｂ・・・
コイル、７Ｃ・・・勾配磁場補償コイル、２３・・・発
振回路、２４・・・周波数カウンタ、２４・・・誤差検
出回路、２７・・・ＬＦ発振器、３０・・・位相検波回
路、３２・・・Ｐ■演算回路。
磁場検出センサの設置位置の説明図、第３図は、静磁場
測定・制御部の構成図、第４図は、静磁場測定・制御部
の動作説明図、第５図は、本発明の他の実施例を示す構
成図である。 ７・・・磁場検出センサ、７Ａ・・・容器、７Ｂ・・・
コイル、７Ｃ・・・勾配磁場補償コイル、２３・・・発
振回路、２４・・・周波数カウンタ、２４・・・誤差検
出回路、２７・・・ＬＦ発振器、３０・・・位相検波回
路、３２・・・Ｐ■演算回路。
Claims (10)
- （１）静磁場内に被検体を設置し、該被検体に予め定め
たシーケンスに従つて勾配磁場及び高周波電磁波を印加
して核磁気共鳴現象に基づく信号を検出し、画像表示す
るＮＭＲイメージング装置において、 前記勾配磁場を印加したとき、該勾配磁場による影響を
補償し前記静磁場による強度のみに対応する信号を出力
する磁場検出センサと、該磁場検出センサによる検出信
号を用いて前記静磁場の変動を補正する制御手段とを備
えることを特徴とするＮＭＲイメージング装置。 - （２）前記磁場検出センサが核磁気共鳴現象に基づく信
号を出力することを特徴とする特許請求の範囲第１項の
ＮＭＲイメージング装置。 - （３）前記磁場検出センサが被検体の対象核種とは異な
る核種の核磁気共鳴現象に基づく信号を出力することを
特徴とする特許請求の範囲第２項のＮＭＲイメージング
装置。 - （４）前記磁場検出センサが前記勾配磁場を形成する電
流と同じ電流波形で付勢されるコイルであつて、該磁場
検出センサ近傍における前記勾配磁場の影響をキャンセ
ルする補償コイルを備えることを特徴とする特許請求の
範囲第１項のＮＭＲイメージング装置。 - （５）前記磁場検出センサが該磁場検出センサ近傍の勾
配磁場を検出する手段と、該手段の出力信号によつて付
勢され、該磁場検出センサ近傍における前記勾配磁場の
影響をキャンセルする補償コイルとを備えることを特徴
とする特許請求の範囲第１項のＮＭＲイメージング装置
。 - （６）前記磁場検出センサが低抵抗の部材から成る箱の
中に設置されることを特徴とする特許請求の範囲第１項
のＮＭＲイメージング装置。 - （７）前記制御手段が前記静磁場の強度を制御すること
を特徴とする特許請求の範囲第１項のＮＭＲイメージン
グ装置。 - （８）前記制御手段が前記高周波電磁波の周波数を制御
することを特徴とする特許請求の範囲第１項のＮＭＲイ
メージング装置。 - （９）前記制御手段が前記核磁気共鳴現象に基づく信号
を検出するときの基準信号の周波数を制御することを特
徴とする特許請求の範囲第１項のＮＭＲイメージング装
置。 - （１０）前記制御手段が前記画像表示するときのデータ
の変化を補正することを特徴とする特許請求の範囲第１
項のＮＭＲイメージング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60191527A JPS6263848A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | Ｎｍｒイメ−ジング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60191527A JPS6263848A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | Ｎｍｒイメ−ジング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263848A true JPS6263848A (ja) | 1987-03-20 |
| JPH049413B2 JPH049413B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=16276146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60191527A Granted JPS6263848A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | Ｎｍｒイメ−ジング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6263848A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001112736A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-04-24 | General Electric Co <Ge> | 磁気共鳴システム用のフィールド周波数ロック・システム |
| WO2015072301A1 (ja) * | 2013-11-12 | 2015-05-21 | 株式会社 日立メディコ | 磁気共鳴イメージング装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6050441A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 核磁気共鳴イメ−ジング装置における磁界較正装置 |
-
1985
- 1985-08-30 JP JP60191527A patent/JPS6263848A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6050441A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-20 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 核磁気共鳴イメ−ジング装置における磁界較正装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001112736A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-04-24 | General Electric Co <Ge> | 磁気共鳴システム用のフィールド周波数ロック・システム |
| WO2015072301A1 (ja) * | 2013-11-12 | 2015-05-21 | 株式会社 日立メディコ | 磁気共鳴イメージング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049413B2 (ja) | 1992-02-20 |
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