JPS6267925A - 局部に分布されるeclスレ−ブ基準発生器 - Google Patents
局部に分布されるeclスレ−ブ基準発生器Info
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- JPS6267925A JPS6267925A JP61202636A JP20263686A JPS6267925A JP S6267925 A JPS6267925 A JP S6267925A JP 61202636 A JP61202636 A JP 61202636A JP 20263686 A JP20263686 A JP 20263686A JP S6267925 A JPS6267925 A JP S6267925A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/22—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/082—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
- H03K19/086—Emitter coupled logic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
この発明は、一般に、基準発生器回路に関するものであ
り、より特定的に言えば、大規模半導体集積回路素子上
で用いるためにマスタ基準発生器を密接にトラッキング
するECLスレーブ基準発生器に関するものである。
り、より特定的に言えば、大規模半導体集積回路素子上
で用いるためにマスタ基準発生器を密接にトラッキング
するECLスレーブ基準発生器に関するものである。
大規模集積回路(LSI)技術の出現で、まずまず多く
の回路コンポーネントが、より高い集積密度を生じるた
めに、モノリシック集積回路の1つのチップ−1−に製
作されている。そのような増加した回路密度の結果、ア
センブリコストが減少し、動作がより高速になり、かつ
電力消散かより低くなるという利点が生じる。これらの
利点によって、論理回路の設計者はますます多数の論理
ゲートがこのLSI技術によって形成されることを所望
するようになっている。論理ゲートがECL回路からな
るとき、基準発生器からの基準供給電圧がECLM路の
電流源の各々に接続される必要がある。
の回路コンポーネントが、より高い集積密度を生じるた
めに、モノリシック集積回路の1つのチップ−1−に製
作されている。そのような増加した回路密度の結果、ア
センブリコストが減少し、動作がより高速になり、かつ
電力消散かより低くなるという利点が生じる。これらの
利点によって、論理回路の設計者はますます多数の論理
ゲートがこのLSI技術によって形成されることを所望
するようになっている。論理ゲートがECL回路からな
るとき、基準発生器からの基準供給電圧がECLM路の
電流源の各々に接続される必要がある。
第1図の先行技術のレイアウトでは、基準発生器10は
、典型的に、モノリシック集積回路11上の中央に形成
され、複数の基準供給線12は基準発生器に接続される
。複数のECL回路は、モノリシック集積回路11に直
接形成され、かつ供給線12に沿った様々な点に接続さ
れる。これには、それに接続される多数のECL回路の
ため負荷状態が大きいという欠点、および金属配線接続
の抵抗による電圧降下問題かある。それゆえに、= 1
0− 中央の基準発生器10から分配される基準電圧は変動し
、かつその値は、基準電圧が様々なECLN路に伝えら
れなければならない距離に依存しており、それによって
不安定な動作が生じる。今日まで、負荷および電圧降下
の問題を避けるために、モノリシック集積回路−1−に
複数の連結されていない基準発生器を設けるという試み
がなされているが、多数の基準発生器を用いると、集積
回路全体を通じての温度差のため、様々な基準電圧のト
ラッキングが保証されないということが知られている。
、典型的に、モノリシック集積回路11上の中央に形成
され、複数の基準供給線12は基準発生器に接続される
。複数のECL回路は、モノリシック集積回路11に直
接形成され、かつ供給線12に沿った様々な点に接続さ
れる。これには、それに接続される多数のECL回路の
ため負荷状態が大きいという欠点、および金属配線接続
の抵抗による電圧降下問題かある。それゆえに、= 1
0− 中央の基準発生器10から分配される基準電圧は変動し
、かつその値は、基準電圧が様々なECLN路に伝えら
れなければならない距離に依存しており、それによって
不安定な動作が生じる。今日まで、負荷および電圧降下
の問題を避けるために、モノリシック集積回路−1−に
複数の連結されていない基準発生器を設けるという試み
がなされているが、多数の基準発生器を用いると、集積
回路全体を通じての温度差のため、様々な基準電圧のト
ラッキングが保証されないということが知られている。
それゆえに、複数の局部に分布されるスレーブ基準発生
器を提供するのが望まし、く、そのスレーブ基準発生器
は、それがモノリシック集積回路全体を通じて位置決め
されるとき、中央のマスタ基桑発生器を密接にトラッキ
ングし、しかも負荷および電圧降下の問題を避ける。
器を提供するのが望まし、く、そのスレーブ基準発生器
は、それがモノリシック集積回路全体を通じて位置決め
されるとき、中央のマスタ基桑発生器を密接にトラッキ
ングし、しかも負荷および電圧降下の問題を避ける。
発明の概要
したがって、この発明の一般的な]」的は、製造しかつ
組立てるのが比較的簡単でかつ経済的であリ、しかも先
行技術の基準発生器回路の欠点を克服する大規模半導体
集積回路素子−1−で用いるためのECLスレーブ基準
発生器を提供することである。
組立てるのが比較的簡単でかつ経済的であリ、しかも先
行技術の基準発生器回路の欠点を克服する大規模半導体
集積回路素子−1−で用いるためのECLスレーブ基準
発生器を提供することである。
この発明の目的は、モノリシック集積回路全体を通じて
位置決めされるとき中央のマスタ基準発生器を密接にト
ラッキングする複数の局部に分布されるECLスレーブ
基準発生器を提供することである。
位置決めされるとき中央のマスタ基準発生器を密接にト
ラッキングする複数の局部に分布されるECLスレーブ
基準発生器を提供することである。
この発明の他の目的は、マスタ基準発生器を密接にトラ
ッキングし、負荷および電圧降下によって影響を及ぼさ
れない安定スレーブ基準電圧を生じる、局部に分布され
るECLスレーブ基準発生器を提供することである。
ッキングし、負荷および電圧降下によって影響を及ぼさ
れない安定スレーブ基準電圧を生じる、局部に分布され
るECLスレーブ基準発生器を提供することである。
この発明のさらに他の1」的は、マスタ基準電圧および
スレーブ基準電圧を比較し、かつ差動電圧出力を発生さ
せる差動比較器、差動比較器に結合され、その比較器を
介して定電流を定める電流源、および差動電圧出力に応
答して、スレーブ基準電圧かマスタ基準電圧に密接にト
ラッキングするようにフィードバック電流を比較器に供
給する負のフィードバック部分を含むECLスレーブ基
準発生器を提供することである。
スレーブ基準電圧を比較し、かつ差動電圧出力を発生さ
せる差動比較器、差動比較器に結合され、その比較器を
介して定電流を定める電流源、および差動電圧出力に応
答して、スレーブ基準電圧かマスタ基準電圧に密接にト
ラッキングするようにフィードバック電流を比較器に供
給する負のフィードバック部分を含むECLスレーブ基
準発生器を提供することである。
この発明のまたさらに他の目的は、第1および第2トラ
ンジスタから形成される差動比較器、第3および第4ト
ランジスタから形成されるカレントミラー配列、および
エミッタフォロアトランジスタからなる負のフィードバ
ック部分を含む大きいモノリシック集積回路素子−ヒで
用いるためにマスタ基準発生器を密接にトラッキングす
る、局部に分布されるECLスレーブ基準発生器を提供
することである。
ンジスタから形成される差動比較器、第3および第4ト
ランジスタから形成されるカレントミラー配列、および
エミッタフォロアトランジスタからなる負のフィードバ
ック部分を含む大きいモノリシック集積回路素子−ヒで
用いるためにマスタ基準発生器を密接にトラッキングす
る、局部に分布されるECLスレーブ基準発生器を提供
することである。
これらの目的に従って、この発明は、大きいモノリシッ
ク集積回路素子−1−で用いるためにマスタ基準発生器
を密接にトラッキングする、局部に分布されるECLス
レーブ基準発生器を設けることに関するものである。ス
レーブ基準発生器は、差動比較器、カレントミラー配列
、および負のフィードバック部分を含む。差動比較器は
、エミッタが第1接続点でともに結合される第1および
第2トランジスタから形成される。第1トランジスタの
コレクタは、第2レジスタを介して供給電位に接続され
る。第2トランジスタのコレクタは、第2レジスタを介
して、第2接続点および供給電位に結合される。第1ト
ランジスタのベースは、マスタ基準電圧の入力に接続さ
れる。第2トランジスタのベースは、第3接続点に接続
され安定スレーブ基準電圧を生じる。カレントミラー配
列は、第3および第4トランジスタから形成され、それ
らのエミッタは、ともにかつ電圧源に結合される。
ク集積回路素子−1−で用いるためにマスタ基準発生器
を密接にトラッキングする、局部に分布されるECLス
レーブ基準発生器を設けることに関するものである。ス
レーブ基準発生器は、差動比較器、カレントミラー配列
、および負のフィードバック部分を含む。差動比較器は
、エミッタが第1接続点でともに結合される第1および
第2トランジスタから形成される。第1トランジスタの
コレクタは、第2レジスタを介して供給電位に接続され
る。第2トランジスタのコレクタは、第2レジスタを介
して、第2接続点および供給電位に結合される。第1ト
ランジスタのベースは、マスタ基準電圧の入力に接続さ
れる。第2トランジスタのベースは、第3接続点に接続
され安定スレーブ基準電圧を生じる。カレントミラー配
列は、第3および第4トランジスタから形成され、それ
らのエミッタは、ともにかつ電圧源に結合される。
第3トランジスタのベースおよびコレクタは、ともに、
かつ第4接続点、第3抵抗器の一方の端部、および第4
トランジスタのベースに接続される。
かつ第4接続点、第3抵抗器の一方の端部、および第4
トランジスタのベースに接続される。
第3抵抗器の他方の端部は、第3接続点に接続される。
第4トランジスタのコレクタは、第1および第2トラン
ジスタの共通のエミッタに接続される。負のフィードバ
ック部分は、第5トランジスタから形成され、そのコレ
クタは供給電位に接続され、そのベースは第2接続点に
接続され、かつそのエミッタは第3接続点に接続される
。
ジスタの共通のエミッタに接続される。負のフィードバ
ック部分は、第5トランジスタから形成され、そのコレ
クタは供給電位に接続され、そのベースは第2接続点に
接続され、かつそのエミッタは第3接続点に接続される
。
−冒−
この発明をより完全に理解するために、かつその他の目
的および利点のために、図面に関連する次の詳細な説明
を参照されたい。
的および利点のために、図面に関連する次の詳細な説明
を参照されたい。
好ましい実施例の説明
図面を詳細に参照すると、第1図はモノリシックダイま
たはチップ11全体を通じて基準電圧を分配する、先行
技術の典型的な中央の基準発生器10のレイアウトであ
る。段数の基準供給線12は、基準電圧を分配するため
に、基準発生器10に接続される。たとえば、基準電圧
を必要とする定電流源を各々が有する多数のECLM路
(示されず)が、基準供給線12に沿った様々な点に接
続されてもよい。しかしながら、これによって、ECL
回路の数が増加されるにつれて大きい負荷が生じる。と
いうのはECL回路はすべて同じ基準発生器10によっ
て駆動されるからである。さらに、第1図のレイアウト
はまた、電圧降下が、モノリシックダイ11上の比較的
大きい距離にわたる基準供給線12の経路指定のため増
加するという欠点に出くわず。
たはチップ11全体を通じて基準電圧を分配する、先行
技術の典型的な中央の基準発生器10のレイアウトであ
る。段数の基準供給線12は、基準電圧を分配するため
に、基準発生器10に接続される。たとえば、基準電圧
を必要とする定電流源を各々が有する多数のECLM路
(示されず)が、基準供給線12に沿った様々な点に接
続されてもよい。しかしながら、これによって、ECL
回路の数が増加されるにつれて大きい負荷が生じる。と
いうのはECL回路はすべて同じ基準発生器10によっ
て駆動されるからである。さらに、第1図のレイアウト
はまた、電圧降下が、モノリシックダイ11上の比較的
大きい距離にわたる基準供給線12の経路指定のため増
加するという欠点に出くわず。
負荷および電圧降下の問題を克服するために、この発明
は、負荷および電圧降下を減じるために、マスタ基準発
生器を密接にトラッキングし、かつ大きいモノリシック
ダイ全体を通じて局部に分布される段数のスレーブ基準
発生器を設けることに関するものである。第2図は、こ
の発明によって考えられるレイアウトであり、1つの中
央のマスタ基準発生器14および複数の局部に分布され
るECLスレーブ基準発生器16は、大きいモノリシッ
クダイ15全体を通じて基準電圧を分布するために用い
られる。見られるように、スレーブ基準発生器16の各
々は、マスタ基準線18によってマスタ基準発生器14
に接続される。スレーブ基準発生器16の各々は、モノ
リシックダイ15全体を通じて基準電圧を分布するため
に、スレーブ基準線20に接続される。さらに、ECL
回路(示されず)は、スレーブ基準線20に沿った様々
な点に接続されてもよい。これらのスレーブ基準線の長
さはモノリシックダイを横切って比較的短い距離しか及
ばないようにされるので、電圧時下の問題は十分減じら
れることができる。複数のスレーブ基準発生器16を用
いると、マスタ基準発生器14」二の負荷の問題は排除
される。というのはスレーブ基準発生器は負荷(ECL
回路)を駆動するために用いられるからである。したが
って、各スレーブ基準発生器16は、より少数の負荷を
駆動するために用いられる。スレーブ基準発生器の各々
からのスレーブ基準電圧は、マスタ発生器からのマスタ
基準電圧が負荷に依存しているということのため、マス
タ基準発生器をより良くトラッキングする。
は、負荷および電圧降下を減じるために、マスタ基準発
生器を密接にトラッキングし、かつ大きいモノリシック
ダイ全体を通じて局部に分布される段数のスレーブ基準
発生器を設けることに関するものである。第2図は、こ
の発明によって考えられるレイアウトであり、1つの中
央のマスタ基準発生器14および複数の局部に分布され
るECLスレーブ基準発生器16は、大きいモノリシッ
クダイ15全体を通じて基準電圧を分布するために用い
られる。見られるように、スレーブ基準発生器16の各
々は、マスタ基準線18によってマスタ基準発生器14
に接続される。スレーブ基準発生器16の各々は、モノ
リシックダイ15全体を通じて基準電圧を分布するため
に、スレーブ基準線20に接続される。さらに、ECL
回路(示されず)は、スレーブ基準線20に沿った様々
な点に接続されてもよい。これらのスレーブ基準線の長
さはモノリシックダイを横切って比較的短い距離しか及
ばないようにされるので、電圧時下の問題は十分減じら
れることができる。複数のスレーブ基準発生器16を用
いると、マスタ基準発生器14」二の負荷の問題は排除
される。というのはスレーブ基準発生器は負荷(ECL
回路)を駆動するために用いられるからである。したが
って、各スレーブ基準発生器16は、より少数の負荷を
駆動するために用いられる。スレーブ基準発生器の各々
からのスレーブ基準電圧は、マスタ発生器からのマスタ
基準電圧が負荷に依存しているということのため、マス
タ基準発生器をより良くトラッキングする。
第3図は、モノリシック集積回路全体を通じてECL基
準電圧VC5を分布するECLスレーブ基準発生器を構
成するための回路配列の概略回路図である。スレーブ基
準発生器30は、差動比較器部分32、電流バイアス部
分33、および負のフィードバック部分34を含む。差
動比較器部分32は、第1トランジスタQ1および第2
トランジスタQ2からなり、それらのエミッタはともに
接続される。トランジスタQ1のコレクタは、供給電位
vCCに接続され、かつトランジスタQ2のコレクタは
また、コレクタ負荷抵抗器R1を介して供給電位VCC
に接続される。トランジスタQ1およびQ2の共通のエ
ミッタは、抵抗器R2の一方の端部に接続され、電流バ
イアス部分33を規定する。抵抗器R2の他方の端部は
、電圧源VEEに接続される。典型的に、供給電位■C
Cは、はぼ+5■てあり、かつ電圧源は接地電位である
。[・ランジスタQ1のベースは、マスタ基準発生器1
4(第1図)から入力信号またはマスタ基準電圧■。S
に接続される。トランジスタQ2のベースは、スレーブ
基準電圧■。、!として規定される負のフィードバック
部分34から出力電圧に接続される。抵抗器R2からな
る電流バイアス部分33の代わりに定電流源か用いられ
てもよいということを理解しなければならない。
準電圧VC5を分布するECLスレーブ基準発生器を構
成するための回路配列の概略回路図である。スレーブ基
準発生器30は、差動比較器部分32、電流バイアス部
分33、および負のフィードバック部分34を含む。差
動比較器部分32は、第1トランジスタQ1および第2
トランジスタQ2からなり、それらのエミッタはともに
接続される。トランジスタQ1のコレクタは、供給電位
vCCに接続され、かつトランジスタQ2のコレクタは
また、コレクタ負荷抵抗器R1を介して供給電位VCC
に接続される。トランジスタQ1およびQ2の共通のエ
ミッタは、抵抗器R2の一方の端部に接続され、電流バ
イアス部分33を規定する。抵抗器R2の他方の端部は
、電圧源VEEに接続される。典型的に、供給電位■C
Cは、はぼ+5■てあり、かつ電圧源は接地電位である
。[・ランジスタQ1のベースは、マスタ基準発生器1
4(第1図)から入力信号またはマスタ基準電圧■。S
に接続される。トランジスタQ2のベースは、スレーブ
基準電圧■。、!として規定される負のフィードバック
部分34から出力電圧に接続される。抵抗器R2からな
る電流バイアス部分33の代わりに定電流源か用いられ
てもよいということを理解しなければならない。
負のフィードバック部分34は、トランジスタQ3およ
びQ4、抵抗器R3、およびバイアス抵抗器R4によっ
て形成されるダーリントン構成を含む。トランジスタQ
3およびQ4のコレクタは、ともにかつ供給電位VCC
に接続される。トランジスタQ3のベースは、抵抗器R
1の接合点およびトランジスタQ2のコレクタに接続さ
れる。トランジスタQ4のベースは、トランジスタQ3
のエミッタおよび抵抗器R3の一方の端部に接続される
。抵抗器R3の他方の端部は、電圧源VEEすなわち接
地電位に接続される。トランシタQ4のエミッタは、出
力接続点A1バイアス抵抗器R4の一方の端部、および
トランジスタQ2のベースに接続される。出力接続点A
は、様々なECL回路に接続するようにされるスレーブ
基準電圧■。、ノを与える。
びQ4、抵抗器R3、およびバイアス抵抗器R4によっ
て形成されるダーリントン構成を含む。トランジスタQ
3およびQ4のコレクタは、ともにかつ供給電位VCC
に接続される。トランジスタQ3のベースは、抵抗器R
1の接合点およびトランジスタQ2のコレクタに接続さ
れる。トランジスタQ4のベースは、トランジスタQ3
のエミッタおよび抵抗器R3の一方の端部に接続される
。抵抗器R3の他方の端部は、電圧源VEEすなわち接
地電位に接続される。トランシタQ4のエミッタは、出
力接続点A1バイアス抵抗器R4の一方の端部、および
トランジスタQ2のベースに接続される。出力接続点A
は、様々なECL回路に接続するようにされるスレーブ
基準電圧■。、ノを与える。
動作において、マスタ基準電圧V。、が増加すると仮定
する。これによって、トランジスタQ1は、より多くの
電流を導通させ、かつトランジスタQ2はより少ない電
流を導通させる。したがって、抵抗器R1およびトラン
ジスタQ2のコレクタを介してより、トランジスタQ1
のコレクタを介してより多くのコレクタ電流が流れる。
する。これによって、トランジスタQ1は、より多くの
電流を導通させ、かつトランジスタQ2はより少ない電
流を導通させる。したがって、抵抗器R1およびトラン
ジスタQ2のコレクタを介してより、トランジスタQ1
のコレクタを介してより多くのコレクタ電流が流れる。
その結果、差動比較器の出力を規定する接続点Bでの電
圧は−1−かり、それによって出力電圧またはスレーブ
基準電圧■。、ツは増加する。電圧■。Sjはトランジ
スタQ2のベースにフィードバックされるので、これに
よってまた、トランジスタQ2はより多くを導通し、そ
れによって接続点Bでの電圧を減じる。この方法は、ス
レーブ基準電圧V。sフがマスタ基準電圧VCSに等化
されまたは安定化されるまで続く。同様に、マスタ基準
電圧VC5が減少されれば、これによってトランジスタ
Q1はそれほど導通せず、かつトランジスタQ2はさら
に多く導通する。したがって、抵抗器R1およびトラン
ジスタQ1のコレクタを介してより多くの電流が流れる
。その結果、接続点Bての電圧は降下し、それによって
スレーブ基準電圧V。ばである出力電圧が減少する。さ
らに、この出力電圧がトランジスタQ2のベースにフィ
ードバックされるので、これによってトランジスタQ2
はそれほど導通せず、それによって接続点Bての電圧を
増加させる。さらに、この方法は、スレーブ基準電圧■
。、りがマスタ基準電圧VCSに安定化されるまで続く
。
圧は−1−かり、それによって出力電圧またはスレーブ
基準電圧■。、ツは増加する。電圧■。Sjはトランジ
スタQ2のベースにフィードバックされるので、これに
よってまた、トランジスタQ2はより多くを導通し、そ
れによって接続点Bでの電圧を減じる。この方法は、ス
レーブ基準電圧V。sフがマスタ基準電圧VCSに等化
されまたは安定化されるまで続く。同様に、マスタ基準
電圧VC5が減少されれば、これによってトランジスタ
Q1はそれほど導通せず、かつトランジスタQ2はさら
に多く導通する。したがって、抵抗器R1およびトラン
ジスタQ1のコレクタを介してより多くの電流が流れる
。その結果、接続点Bての電圧は降下し、それによって
スレーブ基準電圧V。ばである出力電圧が減少する。さ
らに、この出力電圧がトランジスタQ2のベースにフィ
ードバックされるので、これによってトランジスタQ2
はそれほど導通せず、それによって接続点Bての電圧を
増加させる。さらに、この方法は、スレーブ基準電圧■
。、りがマスタ基準電圧VCSに安定化されるまで続く
。
したがって、トランジスタQ1のベースでのマスタ基準
電圧VCSは、トランジスタQ2のベースでのスレーブ
基準電圧VC5νにしばしば比較される。抵抗器R1を
介して流れる電流の部分は、エミッタフォロアとして機
能するトランジスタQ3およびQ4を介してフィードバ
ックされ、スレーブ基準電圧V。、2を安定化し、その
ためスレーブ基準電圧vc、′はマスタ基準電圧VC3
を密接にトラッキングする。必要とされる駆動電流がた
とえば低負荷状態下におけるように比較的小さいとき、
ダーリントン構成の代わりに1つのトランジスタが用い
られることができるということを理解しなければならな
い。
電圧VCSは、トランジスタQ2のベースでのスレーブ
基準電圧VC5νにしばしば比較される。抵抗器R1を
介して流れる電流の部分は、エミッタフォロアとして機
能するトランジスタQ3およびQ4を介してフィードバ
ックされ、スレーブ基準電圧V。、2を安定化し、その
ためスレーブ基準電圧vc、′はマスタ基準電圧VC3
を密接にトラッキングする。必要とされる駆動電流がた
とえば低負荷状態下におけるように比較的小さいとき、
ダーリントン構成の代わりに1つのトランジスタが用い
られることができるということを理解しなければならな
い。
第4図は、ECLスレーブ基準発生器40の第2実施例
の概略回路図であり、スレーブ基準電圧vcs’の改良
されたトラッキングを、広範囲の負荷状態にわたって、
ならびに過渡「グリッチ」状態下でマスタ基準発生器か
らマスタ基準電圧に与える。スレーブ基準発生器40は
、差動比較器部分50、負のフィードバック部分52、
高利得カレントミラー部分53、出力ドライバ部分54
、パワーアップ保護部分56、および高域補償部分58
から構成される。
の概略回路図であり、スレーブ基準電圧vcs’の改良
されたトラッキングを、広範囲の負荷状態にわたって、
ならびに過渡「グリッチ」状態下でマスタ基準発生器か
らマスタ基準電圧に与える。スレーブ基準発生器40は
、差動比較器部分50、負のフィードバック部分52、
高利得カレントミラー部分53、出力ドライバ部分54
、パワーアップ保護部分56、および高域補償部分58
から構成される。
差動比較器部分50は、第1トランジスタQ41および
第2トランジスタQ42を含み、それらのエミッタは接
続点1でともに結合される。トランジスタQ41のコレ
クタは、コレクタ負荷トランジスタR43を介して供給
電位VCCに接続され、かつトランジスタQ42のコレ
クタは、コレクタ負荷抵抗器R42を介して接続点2お
よびまたは供給電位VCCに接続される。供給電位VC
Cは典型的に+5■である。トランジスタQ41のベー
スは、マスタ基準発生器14(第1図)から、マスタ基
準電圧V。、からなる入力信号に接続される。トランジ
スタQ42のベースは接続点3に接続され、その接続点
3は、接続点5でのスレーブ基準電圧vc?の負荷によ
って影響を及ぼされないトラッキング電圧Tを規定する
。
第2トランジスタQ42を含み、それらのエミッタは接
続点1でともに結合される。トランジスタQ41のコレ
クタは、コレクタ負荷トランジスタR43を介して供給
電位VCCに接続され、かつトランジスタQ42のコレ
クタは、コレクタ負荷抵抗器R42を介して接続点2お
よびまたは供給電位VCCに接続される。供給電位VC
Cは典型的に+5■である。トランジスタQ41のベー
スは、マスタ基準発生器14(第1図)から、マスタ基
準電圧V。、からなる入力信号に接続される。トランジ
スタQ42のベースは接続点3に接続され、その接続点
3は、接続点5でのスレーブ基準電圧vc?の負荷によ
って影響を及ぼされないトラッキング電圧Tを規定する
。
負のフィードバック部分52はエミツタフォロアトラン
ジスタQ44を含み、そのベースは接続点2に接続され
、そのコレクタは供給電位■ccに接続され、かつその
エミッタは接続点3に接続される。カレントミラー部分
53は、トランジスタQ45およびQ46から形成され
る。トランジスタQ45およびQ46のエミッタは、と
もに、かつ典型的に接地電位にある電圧源VERに接続
される。トランジスタQ45のベースおよびコレクタは
、接続点4でともに、かつトランジスタQ46のベース
に接続される。トランジスタQ45のコレクタは、抵抗
器R41を介して接続点3に接続される。トランジスタ
046のコレクタは、トランジスタQ41およびQ42
の共通のエミッタに接続される。高利得は、電流源とし
て機能し、差動比較器50を介してバイアス電流I。、
を供給するカレントミラー配列43によって達成される
。カレントミラー利得Gは、次の近似の比によって定め
られる: G慢(R42/R41) (Ao品/ A Q45
)ここでR41=オームでの抵抗器R41の値R42
=オームでの抵抗器R42の値 Aotlq=平方ミクロンでのトランジスタQ4−5の
エミッタ領域 AQd =平方ミクロンでのトランジスタQ牝エミッタ
領域 出力ドライバ部分54は、第2エミツタフオロアトラン
ジスタQ47および直流バイアス抵抗器R44を含む。
ジスタQ44を含み、そのベースは接続点2に接続され
、そのコレクタは供給電位■ccに接続され、かつその
エミッタは接続点3に接続される。カレントミラー部分
53は、トランジスタQ45およびQ46から形成され
る。トランジスタQ45およびQ46のエミッタは、と
もに、かつ典型的に接地電位にある電圧源VERに接続
される。トランジスタQ45のベースおよびコレクタは
、接続点4でともに、かつトランジスタQ46のベース
に接続される。トランジスタQ45のコレクタは、抵抗
器R41を介して接続点3に接続される。トランジスタ
046のコレクタは、トランジスタQ41およびQ42
の共通のエミッタに接続される。高利得は、電流源とし
て機能し、差動比較器50を介してバイアス電流I。、
を供給するカレントミラー配列43によって達成される
。カレントミラー利得Gは、次の近似の比によって定め
られる: G慢(R42/R41) (Ao品/ A Q45
)ここでR41=オームでの抵抗器R41の値R42
=オームでの抵抗器R42の値 Aotlq=平方ミクロンでのトランジスタQ4−5の
エミッタ領域 AQd =平方ミクロンでのトランジスタQ牝エミッタ
領域 出力ドライバ部分54は、第2エミツタフオロアトラン
ジスタQ47および直流バイアス抵抗器R44を含む。
トランジスタQ47のベースは接続点2に接続され、か
つトランジスタQ47のコレクタは供給電位VCCに接
続される。トランジスタQ47のエミッタは、スレーブ
基準電圧VC9Iを規定する出力接続点5、および抵抗
器R44の一方の端部に接続される。抵抗器R44の他
方の端部は、電圧源VEEに接続される。パワーアップ
保護部分56はトランジスタQ43を備え、そのベース
は出力接続点5に接続され、そのコレクタは接続点2に
接続され、かつそのエミッタはトランジスタQ41およ
びQ42の共通のエミッタに接続される。高域補償部分
58は、コンデンサCxからなり、その一方の端部は接
続点2に接続され、かつその他方の端部は出力接続点5
に接続される。コンデンサCxは高域補償を提供し、そ
のため起こり得る振動かつ/またはリンギングが様々な
負荷状態下でかつ過渡「グリッチ」のため生じるのを防
く。
つトランジスタQ47のコレクタは供給電位VCCに接
続される。トランジスタQ47のエミッタは、スレーブ
基準電圧VC9Iを規定する出力接続点5、および抵抗
器R44の一方の端部に接続される。抵抗器R44の他
方の端部は、電圧源VEEに接続される。パワーアップ
保護部分56はトランジスタQ43を備え、そのベース
は出力接続点5に接続され、そのコレクタは接続点2に
接続され、かつそのエミッタはトランジスタQ41およ
びQ42の共通のエミッタに接続される。高域補償部分
58は、コンデンサCxからなり、その一方の端部は接
続点2に接続され、かつその他方の端部は出力接続点5
に接続される。コンデンサCxは高域補償を提供し、そ
のため起こり得る振動かつ/またはリンギングが様々な
負荷状態下でかつ過渡「グリッチ」のため生じるのを防
く。
スレーブ基準発生気40の動作を説明する。差動比較器
50は、接続点3でのトランジスタQ42のベース上の
トラッキング電圧V工をトランジスタQ41のベースで
のマスタ基準電圧■。、と比較するために用いられる。
50は、接続点3でのトランジスタQ42のベース上の
トラッキング電圧V工をトランジスタQ41のベースで
のマスタ基準電圧■。、と比較するために用いられる。
エミッタフォロアトランジスタQ44は、トランジスタ
Q42のコレクタでの電圧をサンプリングし、トランジ
スタQ42のベースに負のフィードバックを与え、それ
によって接続点3での電圧は、接続点3での電圧を密接
にトラッキングするために、トランジスタQ41のベー
スでの電圧を密接にトラッキングする。さらに、エミッ
タフォロアトランジスタQ44からのエミッタ電流の部
分は、抵抗器R41を介して、かつカレントミラー配列
のトランジスタQ45およびQ46のベースへ流れる。
Q42のコレクタでの電圧をサンプリングし、トランジ
スタQ42のベースに負のフィードバックを与え、それ
によって接続点3での電圧は、接続点3での電圧を密接
にトラッキングするために、トランジスタQ41のベー
スでの電圧を密接にトラッキングする。さらに、エミッ
タフォロアトランジスタQ44からのエミッタ電流の部
分は、抵抗器R41を介して、かつカレントミラー配列
のトランジスタQ45およびQ46のベースへ流れる。
その結果、トランジスタQ46のベース電流は増幅され
、電流■。Sを介するはるかに大きいバイアス電流平衡
を、接続点3での電圧を介して入力電圧に与える。
、電流■。Sを介するはるかに大きいバイアス電流平衡
を、接続点3での電圧を介して入力電圧に与える。
第2エミッタフォロアトランジスタQ47は、そのベー
スで、コレクタ抵抗器R42に流れる電流の部分を受け
、出力接続点5でそれに接続可能な比較的多数の負荷を
駆動する増加した駆動電流を与える。通常、トランジス
タQ43は、導通状態ではなく、かつ接続点5でのスレ
ーブ基準電圧VCSFがマスタ基準電圧V。、より高く
なるときのみ導通状態にされる。これは、マスタ基準電
圧が不活性化されており、かつそれからパワーアップさ
れるとき生じ、そのためトラッキング電圧V丁は、安定
化する見込みがない。この状態下で、トランジスタQ4
3は、トランジスタQ46が多量の電流を負荷に供給す
るのを防ぐ。コンデンサCxは、差動比較器が振動する
の防ぎ、かつ回路構成全体を安定化させる。
スで、コレクタ抵抗器R42に流れる電流の部分を受け
、出力接続点5でそれに接続可能な比較的多数の負荷を
駆動する増加した駆動電流を与える。通常、トランジス
タQ43は、導通状態ではなく、かつ接続点5でのスレ
ーブ基準電圧VCSFがマスタ基準電圧V。、より高く
なるときのみ導通状態にされる。これは、マスタ基準電
圧が不活性化されており、かつそれからパワーアップさ
れるとき生じ、そのためトラッキング電圧V丁は、安定
化する見込みがない。この状態下で、トランジスタQ4
3は、トランジスタQ46が多量の電流を負荷に供給す
るのを防ぐ。コンデンサCxは、差動比較器が振動する
の防ぎ、かつ回路構成全体を安定化させる。
より高い駆動電流が出力接続点5で必要とされれば、第
2エミツタフオロアトランジスタQ47の代わりに、ダ
ーリントン構成で接続される1対のトランジスタが用い
られてもよいということに注目しなければならない。ま
た、この場合接続点3および5でトラッキングを与える
ために、エミッタフォロアトランジスタQ44はまた、
ダーリントン構成として形成される。さらに、第3図お
よび第4図のスレーブ基準発生器か、様々なECL論理
ゲート回路構成を含む集積回路の1つのシリコンチップ
の部分」−に形成されることは当業者に理解されよう。
2エミツタフオロアトランジスタQ47の代わりに、ダ
ーリントン構成で接続される1対のトランジスタが用い
られてもよいということに注目しなければならない。ま
た、この場合接続点3および5でトラッキングを与える
ために、エミッタフォロアトランジスタQ44はまた、
ダーリントン構成として形成される。さらに、第3図お
よび第4図のスレーブ基準発生器か、様々なECL論理
ゲート回路構成を含む集積回路の1つのシリコンチップ
の部分」−に形成されることは当業者に理解されよう。
第4図のスレーブ基準発生器の開示を完成するためであ
るが、限定するためでなく、抵抗器およびコンデンサの
次の代表的な値を、下の表Iに挙げる。値は、高品質性
能を与えるように構成されかつ試験されるスレーブ基準
発生器で用いられた。
るが、限定するためでなく、抵抗器およびコンデンサの
次の代表的な値を、下の表Iに挙げる。値は、高品質性
能を与えるように構成されかつ試験されるスレーブ基準
発生器で用いられた。
しかしながら、当業者は、代わりのエレメントおよび値
が、この発明に従って回路を構成する際に使用されても
よいということを認めよう。
が、この発明に従って回路を構成する際に使用されても
よいということを認めよう。
表■
コンポーネント 値
R41700オーム
R423,5キロオーム
R433,5キロオーム
R443,0キロオーム
Cx O,5pF第4図のトラン
ジスタQ41ないしQ47のエミッタの大きさは、表I
Iに示される。これらのエミッタ領域および上の抵抗器
の値を与えると、カレントミラー配列の利得は、前で論
じた比から定められるように近似で15である。
ジスタQ41ないしQ47のエミッタの大きさは、表I
Iに示される。これらのエミッタ領域および上の抵抗器
の値を与えると、カレントミラー配列の利得は、前で論
じた比から定められるように近似で15である。
表 II
コンポーネント エミッタ領域(μ2)Q41
80 Q42 40 Q43 40 Q44 40 g45 20 Q46 60 Q47 160 上述の詳細な説明から、この発明は、大きいモノリシッ
ク集積回路素子にで用いるためにマスタ基準発生器を密
接にトラッキングするECLスレーブ基準発生器を提供
することを理解することができる。この発明のスレーブ
基準発生器は、差動比較器、カレントミラー配列、およ
び負のフィードバック部分を含む。
80 Q42 40 Q43 40 Q44 40 g45 20 Q46 60 Q47 160 上述の詳細な説明から、この発明は、大きいモノリシッ
ク集積回路素子にで用いるためにマスタ基準発生器を密
接にトラッキングするECLスレーブ基準発生器を提供
することを理解することができる。この発明のスレーブ
基準発生器は、差動比較器、カレントミラー配列、およ
び負のフィードバック部分を含む。
現在この発明の好ましい実施例であるものを図解しかつ
説明してきたか、この発明の真の範囲から逸脱すること
なく、様々な変更および修正かされてもよく、かつその
エレメントの代わりに均等物が用いられてもよいことを
当業者は理解しよう。
説明してきたか、この発明の真の範囲から逸脱すること
なく、様々な変更および修正かされてもよく、かつその
エレメントの代わりに均等物が用いられてもよいことを
当業者は理解しよう。
さらに、この発明の教示を、その中心の範囲から逸脱す
ることなく特定の状況または祠料に合わせるために多く
の修正がされてもよい。それゆえに、この発明は、この
発明を実行するために考えられるベストモードとして開
示される特定の実施例に限定されず、しかもこの発明は
、前掲の特許請求の範囲の範囲内に入るすべての実施例
を含むよう意図されている。
ることなく特定の状況または祠料に合わせるために多く
の修正がされてもよい。それゆえに、この発明は、この
発明を実行するために考えられるベストモードとして開
示される特定の実施例に限定されず、しかもこの発明は
、前掲の特許請求の範囲の範囲内に入るすべての実施例
を含むよう意図されている。
第1図は、モノリシックダイ全体を通じて基準電圧を分
布するための、先行技術の典型的な中央の基準発生器の
レイアウトである。 第2図は、モノリシックダイ全体を通じて基準電圧を分
布するだめの、この発明のマスタ基準発生器および複数
のスレーブ基準発生器を示すレイアウトである。 第3図は、この発明のECLスレーブ基準発生器の概略
回路図である。 第4図は、この発明のECLスレーブ基準発生器の第2
実施例の概略回路図である。 図において、14はマスタ基準発生器、16゜30およ
び40はスレーブ基準発生器、15はモノリシックダイ
、20はスレーブ基準線、32および50は差動比較器
部分、33は電流バイアス部分、34および52は負の
フィードバック部分、53は高利得カレントミラー部分
、54は出力ドライバ部分、56はパワーアップ保護部
分、58は高域補償部分である。 −3〇 −
布するための、先行技術の典型的な中央の基準発生器の
レイアウトである。 第2図は、モノリシックダイ全体を通じて基準電圧を分
布するだめの、この発明のマスタ基準発生器および複数
のスレーブ基準発生器を示すレイアウトである。 第3図は、この発明のECLスレーブ基準発生器の概略
回路図である。 第4図は、この発明のECLスレーブ基準発生器の第2
実施例の概略回路図である。 図において、14はマスタ基準発生器、16゜30およ
び40はスレーブ基準発生器、15はモノリシックダイ
、20はスレーブ基準線、32および50は差動比較器
部分、33は電流バイアス部分、34および52は負の
フィードバック部分、53は高利得カレントミラー部分
、54は出力ドライバ部分、56はパワーアップ保護部
分、58は高域補償部分である。 −3〇 −
Claims (20)
- (1)大きいモノリシック集積回路素子上で用いるため
にマスタ基準発生器を密接にトラッキングする局部に分
布されるECLスレーブ基準発生器であって、 第1および第2トランジスタから形成される差動比較器
手段を備え、それらのエミッタは第1接続点でともに結
合され、前記第1トランジスタのコレクタは第1抵抗器
を介して供給電位に接続され、前記第2トランジスタの
コレクタは第2抵抗器を介して第2接続点および供給電
位に接続され、前記第1トランジスタのベースは入力マ
スタ基準電圧に接続され、前記第2トランジスタのベー
スは第3接続点に接続され安定スレーブ基準トラッキン
グ電圧を生じ、 第3および第4トランジスタから形成されるカレントミ
ラー手段をさらに備え、それらのエミッタはともにかつ
電圧源に接続され、前記第3トランジスタのベースおよ
びコレクタはともにかつ第4接続点、第3抵抗器の一方
の端部、前記第4トランジスタのベースに接続され、前
記第3抵抗器の他方の端部は第3接続点に接続され、前
記第4トランジスタのコレクタは、前記第1および第2
トラジスタの共通のエミッタに接続され、かつ第5トラ
ンジスタから形成される負のフィードバック手段をさら
に備え、前記第5トランジスタのコレクタは供給電位に
接続され、そのベースは第2接続点に接続され、かつそ
のエミッタは第3接続点に接続されるスレーブ基準発生
器。 - (2)第6トランジスタおよび第4抵抗器から形成され
る出力ドライバ手段をさらに備え、前記第6トランジス
タのコレクタは供給電位に接続され、前記第6トランジ
スタのベースは第2接続点に接続され、前記第6トラン
ジスタのエミッタは、スレーブ基準電圧を生じるために
第5接続点、および第4抵抗器の一方の端部に接続され
、前記第4抵抗器の他方の端部は電圧源に接続される、
特許請求の範囲第1項記載の局部に分布されるECLス
レーブ基準発生器。 - (3)第7トランジスタから形成されるパワーアップ保
護手段をさらに備え、前記第7トランジスタのコレクタ
は第2接続点に接続され、そのベースは第5接続点に接
続され、かつそのエミッタは第1接続点に接続される、
特許請求の範囲第2項記載の局部に分布されるECLス
レーブ基準発生器。 - (4)コンデンサから形成される高域補償手段をさらに
備え、前記コンデンサの一方の端部は第2接続点に接続
され、かつその他方の端部は第5接続点に接続される、
特許請求の範囲第3項記載の局部に分布されるECLス
レーブ基準発生器。 - (5)前記第1ないし第4トランジスタはNPN形導電
形式である、特許請求の範囲第1項記載の局部に分布さ
れるECLスレーブ基準発生器。 - (6)前記スレーブ基準発生器は、集積回路の1つのシ
リコンチップ上に形成される、特許請求の範囲第1項記
載の局部に分布されるECLスレーブ基準発生器。 - (7)前記カレントミラー手段の利得は、第2抵抗器お
よび前記第4トランジスタのエミッタ領域の抵抗値の積
を、第3抵抗器および前記第3トランジスタのエミッタ
領域の抵抗値の積で割った比によって定められる、特許
請求の範囲第1項記載の局部に分布されるECLスレー
ブ基準発生器。 - (8)1対のトランジスタから形成され、ダーリントン
構成で接続される出力ドライバ手段をさらに備える、特
許請求の範囲第1項記載の局部に分布されるECLスレ
ーブ基準発生器。 - (9)前記第5トランジスタの代わりにダーリントン構
成が用いられる、特許請求の範囲第8項記載の局部に分
布されるECLスレーブ基準発生器。 - (10)大きいモノリシック集積回路素子全体を通じて
位置決めされ、中央のマスタ基準発生器を密接にトラッ
キングし安定スレーブ基準電圧を与える、複数の局部に
分布されるECLスレーブ基準発生器であって、前記ス
レーブ基準発生器の各々は、 第1および第2トランジスタから形成される差動比較器
手段を備え、それらのエミッタは第1接続点でともに接
続され、前記第1トランジスタのコレクタは第1抵抗器
を介して供給電位に接続され、前記第2トランジスタの
コレクタは第2トランジスタを介して第2接続点および
供給電位に接続され、前記第1トランジスタのベースは
入力マスタ基準電圧に接続され、第2トランジスタのベ
ースは第3接続点に接続され安定スレーブ基準トラッキ
ング電圧を生じ、 第3および第4トランジスタから形成されるカレントミ
ラー手段をさらに備え、それらのエミッタはともにかつ
電圧源に結合され、前記第3トランジスタのベースおよ
びコレクタはともにかつ第4接続点、第3抵抗器の一方
の端部、および前記第4トランジスタのベースに接続さ
れ、前記第3トランジスタの他方の端部は第3接続点に
接続され、前記第4トランジスタのコレクタは、前記第
1および第2トランジスタの共通のエミッタに接続され
、および 第5トランジスタから形成される負のフィードバック手
段をさらに備え、前記第5トランジスタのコレクタは供
給電位に接続され、そのベースは第2接続点に接続され
、かつそのエミッタは第3接続点に接続される、スレー
ブ基準発生器。 - (11)第6トランジスタおよび第4抵抗器から形成さ
れる出力ドライバ手段をさらに備え、前記第6トランジ
スタのコレクタは供給電位に接続され、前記第6トラン
ジスタのベースは第2接続点に接続され、前記第6トラ
ンジスタのエミッタは、スレーブ基準電圧を生じるため
に第5接続点、および第4抵抗器の一方の端部に接続さ
れ、第4抵抗器の他方の端部は電圧源に接続される、特
許請求の範囲第10項記載の複数の局部に分布されるE
CLスレーブ基準発生器。 - (12)第7トランジスタから形成されるパワーアップ
保護手段をさらに備え、前記第7トランジスタのコレク
タは第2接続点に接続され、そのベースは第5接続点に
接続され、かつそのエミッタは第1接続点に接続される
、特許請求の範囲第11項記載の複数の局部に分布され
るECLスレーブ基準発生器。 - (13)コンデンサから形成される高域補償手段をさら
に備え、前記コンデンサの一方の端部は第2接続点に接
続され、かつその他方の端部は第5接続点に接続される
、特許請求の範囲第12項記載の複数の局部に分布され
るECLスレーブ基準発生器。 - (14)前記第1ないし第4トランジスタはNPN形導
電形式である、特許請求の範囲第10項記載の複数の局
部に分布されるECLスレーブ基準発生器。 - (15)前記複数の局部に分布されるECLスレーブ基
準発生器は、大きいモノリシック集積回路素子の部分と
して形成される、特許請求の範囲第10項記載の複数の
局部に分布されるECLスレーブ基準発生器。 - (16)大きいモノリシック集積回路素子全体を通じて
位置決めされ、中央のマスタ基準発生器を密接にトラッ
キングし安定スレーブ基準電圧を与える複数の局部に分
布されるECLスレーブ基準発生器であって、前記スレ
ーブ基準発生器の各々は、 第1および第2入力がそれぞれマスタ基準電圧およびス
レーブ基準電圧に結合され、前記マスタ基準電圧および
前記スレーブ基準電圧を比較しかつ差動電圧出力を発生
させる差動比較器手段、前記差動比較器手段に結合され
、前記差動比較器手段を介して流れる定電流を定める電
流源手段、および 前記差動電圧出力に応答して、前記スレーブ基準電圧が
前記マスタ基準電圧を密接にトラッキングするように、
フィードバック電流を前記差動比較器手段の前記第2入
力に供給する負のフィードバック手段を備える、スレー
ブ基準発生器。 - (17)前記差動比較器手段は、第1および第2トラジ
スタから形成される、特許請求範囲第16項記載の複数
の局部に分布されるECLスレーブ基準発生器。 - (18)前記電流源手段はエミッタ抵抗器から形成され
る、特許請求の範囲第17項記載の複数の局部に分布さ
れるECLスレーブ基準発生器。 - (19)前記負のフィードバックはエミッタフォロアト
ランジスタを備える、特許請求の範囲第18項記載の複
数の局部に分布されるECLスレーブ基準発生器。 - (20)前記トランジスタのすべてはNPN形導電形式
である、特許請求の範囲第19項記載の複数の局部に分
布されるECLスレーブ基準発生器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/777,888 US4626771A (en) | 1985-09-19 | 1985-09-19 | ECL slave reference generator |
| US777888 | 1991-10-16 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6267925A true JPS6267925A (ja) | 1987-03-27 |
Family
ID=25111609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61202636A Pending JPS6267925A (ja) | 1985-09-19 | 1986-08-27 | 局部に分布されるeclスレ−ブ基準発生器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4626771A (ja) |
| EP (1) | EP0219937A3 (ja) |
| JP (1) | JPS6267925A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0637626A (ja) * | 1992-03-27 | 1994-02-10 | Toshiba Corp | バイアス電流供給回路 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63155210A (ja) * | 1986-12-18 | 1988-06-28 | Fuji Electric Co Ltd | トラツキング回路の異常検出方式 |
| US4931665A (en) * | 1988-04-13 | 1990-06-05 | National Semiconductor Corporation | Master slave voltage reference circuit |
| EP0337314B1 (en) * | 1988-04-13 | 1994-01-12 | National Semiconductor Corporation | Master slave buffer circuit |
| US4894562A (en) * | 1988-10-03 | 1990-01-16 | International Business Machines Corporation | Current switch logic circuit with controlled output signal levels |
| US4990797A (en) * | 1989-09-26 | 1991-02-05 | Analog Devices, Inc. | Reference voltage distribution system |
| JP2683948B2 (ja) * | 1990-06-19 | 1997-12-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
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| US5291455A (en) * | 1992-05-08 | 1994-03-01 | Motorola, Inc. | Memory having distributed reference and bias voltages |
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| US5309039A (en) * | 1992-09-29 | 1994-05-03 | Motorola, Inc. | Power supply dependent input buffer |
| US20070146058A1 (en) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Jones Philips M | Distribution of electrical reference |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2321662B2 (de) * | 1973-04-28 | 1979-03-29 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithisch integrierter Spannungsregler |
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| JPS6065557A (ja) * | 1983-09-21 | 1985-04-15 | Fujitsu Ltd | 集積回路装置 |
-
1985
- 1985-09-19 US US06/777,888 patent/US4626771A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-08-15 EP EP86306330A patent/EP0219937A3/en not_active Withdrawn
- 1986-08-27 JP JP61202636A patent/JPS6267925A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0637626A (ja) * | 1992-03-27 | 1994-02-10 | Toshiba Corp | バイアス電流供給回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0219937A3 (en) | 1989-04-19 |
| EP0219937A2 (en) | 1987-04-29 |
| US4626771A (en) | 1986-12-02 |
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