JPS6273445A - 光学ヘツド - Google Patents
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- JPS6273445A JPS6273445A JP60212175A JP21217585A JPS6273445A JP S6273445 A JPS6273445 A JP S6273445A JP 60212175 A JP60212175 A JP 60212175A JP 21217585 A JP21217585 A JP 21217585A JP S6273445 A JPS6273445 A JP S6273445A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野〕
本発明は集束光を用いて消去可能な情報記憶媒体に対し
て情報の記録、再生、消去を行なう情報記録再生装置に
おける光学ヘッドに関する。
て情報の記録、再生、消去を行なう情報記録再生装置に
おける光学ヘッドに関する。
[発明の技術的′R景とその問題点]
既に、カー効果あるいはファラデー効果のような光磁気
効果を利用して情報記録媒体に対して、光学的に情報を
記録、再生、消去する装置が知られている。そして、こ
のような光磁気効果を利用して、情報記録媒体から情報
を再生する場合には、情報記録媒体に光ビームを照射し
て、その反射した光ビームを光検出器等を右する検出光
学系に導き、上記カー効果等を用いて情報の再生を行な
っている。
効果を利用して情報記録媒体に対して、光学的に情報を
記録、再生、消去する装置が知られている。そして、こ
のような光磁気効果を利用して、情報記録媒体から情報
を再生する場合には、情報記録媒体に光ビームを照射し
て、その反射した光ビームを光検出器等を右する検出光
学系に導き、上記カー効果等を用いて情報の再生を行な
っている。
しかしながら、このような光磁気効果を利用した装置に
おいては、情報記録媒体で反射した光ビームは何度が反
射されて検出光学系に到達するまでに、この反射の際に
光ビームのPi光成分とS偏光成分との間に位相差が生
じる。
おいては、情報記録媒体で反射した光ビームは何度が反
射されて検出光学系に到達するまでに、この反射の際に
光ビームのPi光成分とS偏光成分との間に位相差が生
じる。
例えば第4図に示したミラー18−を例にとり、光ビー
ムのP幅光成分とS偏光成分の間に生じる位相差につい
て説明する。ミラー18′が第4図に示したように、プ
リズムの端面で起きる全反射を利用した構造の場合、光
ビームのPlti光成分の位相変化量をθp、S偏光成
分の位相変化邑をθS9両名の間の差をθ−θp−θ5
とすると、それぞれは次のように表わされる。
ムのP幅光成分とS偏光成分の間に生じる位相差につい
て説明する。ミラー18′が第4図に示したように、プ
リズムの端面で起きる全反射を利用した構造の場合、光
ビームのPlti光成分の位相変化量をθp、S偏光成
分の位相変化邑をθS9両名の間の差をθ−θp−θ5
とすると、それぞれは次のように表わされる。
tan Op / 2 =−nJ肩T 2 s
in 2 tp −l /cos ψ・・・・・
・〈1) tanθs/2−−5s ” sin7τ〒/ncos
ψ・・・・・・(2) tanθ/ 2 = tanθρ−θs/2−cosφ
n 2 sin 2 tJ>τ了/n5in2ψ・・
・・・・(3) 但し n ニブリズムの屈折率 ψ:光ビームのプリズムの端面に対する入射角 ここでく3)式に、ガラスの屈折率であるn −1,5
を、またψ=45を代入すると、θ−36゜9度となる
。このθ=36.9度はおよそλ/9゜8に相当するの
で、ミラー18′として全反射を利用すると、光ビーム
のP偏光成分とS偏光成分との間におよそλ/9.8の
位相のずれが生じていることがわかる。P偏光成分とS
偏光成分を含む直線偏光の光ビームが、このミラー18
−で反射されると、上述した位相のずれにより完全な直
線偏光ではなく楕円偏光となるため、光磁気効果を用い
た情報記録媒体に対する再生光の検出光路途中にこのよ
うなミラー18′が存在すると、楕円偏光成分の増加に
より読取り信号のS/N比が低下する。
in 2 tp −l /cos ψ・・・・・
・〈1) tanθs/2−−5s ” sin7τ〒/ncos
ψ・・・・・・(2) tanθ/ 2 = tanθρ−θs/2−cosφ
n 2 sin 2 tJ>τ了/n5in2ψ・・
・・・・(3) 但し n ニブリズムの屈折率 ψ:光ビームのプリズムの端面に対する入射角 ここでく3)式に、ガラスの屈折率であるn −1,5
を、またψ=45を代入すると、θ−36゜9度となる
。このθ=36.9度はおよそλ/9゜8に相当するの
で、ミラー18′として全反射を利用すると、光ビーム
のP偏光成分とS偏光成分との間におよそλ/9.8の
位相のずれが生じていることがわかる。P偏光成分とS
偏光成分を含む直線偏光の光ビームが、このミラー18
−で反射されると、上述した位相のずれにより完全な直
線偏光ではなく楕円偏光となるため、光磁気効果を用い
た情報記録媒体に対する再生光の検出光路途中にこのよ
うなミラー18′が存在すると、楕円偏光成分の増加に
より読取り信号のS/N比が低下する。
またミラー18−とじて光反射コートを用いその表面で
光ビームを反射させる構造の場合、光反射コートの材質
により特性は異なるが、光反射コート材として、アルミ
やクロム等の金属を用いた場合には、これらの金属自体
に導電性を有し、光反射時に光ビームの若干の損失を伴
う。そのため光ビームには位相のずれが生じる。さらに
金属としてマルチコート面を用いた場合、ツー1−材に
導電性を有し、光反射時に光ビームの若干の損失を伴い
、同様に位相のずれが生じる。但し位相のずれ出はコー
ト材の材質、1構造により大きく異なるものである。な
お、上述したことは、ビームスプリッタ等においても、
はぼ同様のことが言える。
光ビームを反射させる構造の場合、光反射コートの材質
により特性は異なるが、光反射コート材として、アルミ
やクロム等の金属を用いた場合には、これらの金属自体
に導電性を有し、光反射時に光ビームの若干の損失を伴
う。そのため光ビームには位相のずれが生じる。さらに
金属としてマルチコート面を用いた場合、ツー1−材に
導電性を有し、光反射時に光ビームの若干の損失を伴い
、同様に位相のずれが生じる。但し位相のずれ出はコー
ト材の材質、1構造により大きく異なるものである。な
お、上述したことは、ビームスプリッタ等においても、
はぼ同様のことが言える。
ザなわら、従来の光学ヘッドにおいては、この光学ヘッ
ドに設けられている信号検出系で情報記8媒体22から
のカー回転角を検出すると、このJ:うな光ビームのP
Q光成分とS偏光成分の間に生じる位相のずれによって
、(S@検出のS/N比が低下するといった欠点があっ
た。
ドに設けられている信号検出系で情報記8媒体22から
のカー回転角を検出すると、このJ:うな光ビームのP
Q光成分とS偏光成分の間に生じる位相のずれによって
、(S@検出のS/N比が低下するといった欠点があっ
た。
し発明の目的コ
本発明は上記事情に基づいて成されたもので、非常に簡
単な構造で情報記録媒体から検出光学系に至るまでの光
路途中で生じる光ビームの位相差を補正し、情報信号の
再生を確実に行なうことができる光学ヘッドを提供する
ことを目的とプる。
単な構造で情報記録媒体から検出光学系に至るまでの光
路途中で生じる光ビームの位相差を補正し、情報信号の
再生を確実に行なうことができる光学ヘッドを提供する
ことを目的とプる。
[発明の概政1
本発明は上記目的を達成するために、光ビームを発生さ
せる光源と、この光源から発生された光ビームを情報記
録媒体に集光させる対物レンズと、前記情報記録媒体で
反射した光ビームを反射させる少なくとも1つの第1の
光反射手段と、光ビームが前記第1の光反射手段で反射
される際に生じる位相のずれを補正するように反射膜が
コーティングされ、前記第1の光反射手段で反射された
光ビームを反射させる第2の光反射手段と、この第2の
光反射手段で反射された光ビームを一一(光成分に分離
する検光子と、この検光子によって分離された光ビーム
を検出丈る光検出品とを1備することを特徴とするもの
である。
せる光源と、この光源から発生された光ビームを情報記
録媒体に集光させる対物レンズと、前記情報記録媒体で
反射した光ビームを反射させる少なくとも1つの第1の
光反射手段と、光ビームが前記第1の光反射手段で反射
される際に生じる位相のずれを補正するように反射膜が
コーティングされ、前記第1の光反射手段で反射された
光ビームを反射させる第2の光反射手段と、この第2の
光反射手段で反射された光ビームを一一(光成分に分離
する検光子と、この検光子によって分離された光ビーム
を検出丈る光検出品とを1備することを特徴とするもの
である。
[発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
。
。
第1図は、本発明の一実施例の光学ヘッドを示したもの
である。
である。
この光学ヘッドにおいては、光源である半導体レーザ5
0からの楕円形状の光ビームLは、コリメータレンズ5
2によって平行光束に変換されてビームスプリッタ56
の光入射面54に斜め方向から入射される。楕円形状の
光ビームしは、ビームスプリッタ56、例えば、ハーフ
ミラ−を有するプリズム体の光入射面54に対して斜め
方向から入射されることからこのレーザービームLは、
ビームスプリッタ56内で楕円形から円形のビームに変
換される。ビームスプリッタ56を透過した光ビームし
は、ミラー58で反射されて対物レンズ60に導入され
、この対物レンズ60によって情報記録媒体62上に収
束される。
0からの楕円形状の光ビームLは、コリメータレンズ5
2によって平行光束に変換されてビームスプリッタ56
の光入射面54に斜め方向から入射される。楕円形状の
光ビームしは、ビームスプリッタ56、例えば、ハーフ
ミラ−を有するプリズム体の光入射面54に対して斜め
方向から入射されることからこのレーザービームLは、
ビームスプリッタ56内で楕円形から円形のビームに変
換される。ビームスプリッタ56を透過した光ビームし
は、ミラー58で反射されて対物レンズ60に導入され
、この対物レンズ60によって情報記録媒体62上に収
束される。
この情報記録媒体62は、例えば、アモルファスla竹
合金で作られた記録層を有し、同心円周状もしくは、ス
パイラル状にトラッキングガイドがその面上に凹又は、
凸形状で形成されている。ざらに、このトラッキングガ
イドには、トラックアドレス及びセクターアドレス等の
予備情報ずなわらプリフォーマット信号が予め凹あるい
は、凸形状のプリピットとして形成されている。この情
報記録媒体62の記録層は、情報が記録されCいない状
態では、その全ての磁区の方向が一定方向に備えられ、
記録時には、磁界を与えて急加熱するとその領域の磁区
の磁化方向が反転される。
合金で作られた記録層を有し、同心円周状もしくは、ス
パイラル状にトラッキングガイドがその面上に凹又は、
凸形状で形成されている。ざらに、このトラッキングガ
イドには、トラックアドレス及びセクターアドレス等の
予備情報ずなわらプリフォーマット信号が予め凹あるい
は、凸形状のプリピットとして形成されている。この情
報記録媒体62の記録層は、情報が記録されCいない状
態では、その全ての磁区の方向が一定方向に備えられ、
記録時には、磁界を与えて急加熱するとその領域の磁区
の磁化方向が反転される。
半導体レーザ50は、図示しない駆動回路によって駆動
され、再生時には、この半導体レーザ50からは、一定
の光強度を有づ゛る光ビームLが発生され、記録時には
、記録すべき情報に応じて光強度変調された光ビームL
が発生され、消去時には、再生時よりも大きな一定の光
強度を有する光ビームl−が発生される。
され、再生時には、この半導体レーザ50からは、一定
の光強度を有づ゛る光ビームLが発生され、記録時には
、記録すべき情報に応じて光強度変調された光ビームL
が発生され、消去時には、再生時よりも大きな一定の光
強度を有する光ビームl−が発生される。
記録時には、磁石装置64から発生された静磁界が情報
記録媒体62に与えられ、記録用の光ビームして情報記
録媒体62のトラッキングガイドをトレースすると、特
定の領域が急加熱され、磁化方向が反転されて情報が記
録される。また、再生時には、再生用の光ビームLでト
ラッキングガイドをトレースして反転磁化された磁区領
域に収束光ビームLを照射するとその光ビームLの偏光
面が僅かに回転される。消去時には、磁石装置fff
64から発生された静磁界が情報記録媒体62に与えら
れ、消去用の光ビームLを磁化方向が反転された特定の
領域に照射するとこの領域は、ゆるやかに加熱され、磁
化方向が他の領域と同一となるように再び反転される。
記録媒体62に与えられ、記録用の光ビームして情報記
録媒体62のトラッキングガイドをトレースすると、特
定の領域が急加熱され、磁化方向が反転されて情報が記
録される。また、再生時には、再生用の光ビームLでト
ラッキングガイドをトレースして反転磁化された磁区領
域に収束光ビームLを照射するとその光ビームLの偏光
面が僅かに回転される。消去時には、磁石装置fff
64から発生された静磁界が情報記録媒体62に与えら
れ、消去用の光ビームLを磁化方向が反転された特定の
領域に照射するとこの領域は、ゆるやかに加熱され、磁
化方向が他の領域と同一となるように再び反転される。
情報記録媒体62から反射された光ビームしは、対物レ
ンズ60を通過し、第1の光反射手段であるミラー58
で反射されて、第2の光反射手段であるビームスプリッ
タ56.検光子である輻光ビームスプリッタ68.光検
出器76等を有する検出光学系に導かれる。第2の光反
et f=段であるビームスプリッタ56の光反射面5
6aは、光ビームLがミラー58で反射された際に生じ
ている位相のずれを補正するように通電多層膜が何層に
もコーティングされて反射膜が形成されているものであ
る。
ンズ60を通過し、第1の光反射手段であるミラー58
で反射されて、第2の光反射手段であるビームスプリッ
タ56.検光子である輻光ビームスプリッタ68.光検
出器76等を有する検出光学系に導かれる。第2の光反
et f=段であるビームスプリッタ56の光反射面5
6aは、光ビームLがミラー58で反射された際に生じ
ている位相のずれを補正するように通電多層膜が何層に
もコーティングされて反射膜が形成されているものであ
る。
このビームスプリッタ56で反射された光ビームL G
、t S成分の比率を大きくするために1/2波長板6
6を通過されて偏光面が略45度回転される。偏光面が
回転された光ビームしは、平行光束のまま検光子として
の偏光ビームスプリッタ68に導入される。
、t S成分の比率を大きくするために1/2波長板6
6を通過されて偏光面が略45度回転される。偏光面が
回転された光ビームしは、平行光束のまま検光子として
の偏光ビームスプリッタ68に導入される。
偏光ビームスプリッタ68は、直角プリズム69に模型
プリズム70を接合したちのであって、その接合面が偏
光面71Aに形成されるとともに、接合面に対向した横
型プリズム7oの面が反射面71Bに形成されている。
プリズム70を接合したちのであって、その接合面が偏
光面71Aに形成されるとともに、接合面に対向した横
型プリズム7oの面が反射面71Bに形成されている。
この偏光ビームスプリッタ68は、直角プリズム6つに
横型プリズム7oを接合したしのであ・)で、その接合
面が偏光面72に形成されるととらに、接合面に対向し
た横型プリズム7oの而が反射面73に形成されている
。また、この十契型プ1!ズム70の反射面73は第2
図に示づように、ひいに傾きを6つ3而73a 、73
b 、73c (以後、傾斜面と称する)に分断され
ており、2つの傾斜面73b 、73cの境界線73d
は情報記録媒体62の1〜ラツキングガイドが伸びる方
向あるいは後述する光検出器に投影されたトラッキング
ガイドの像が伸びる方向に略T行となるように定められ
ている。
横型プリズム7oを接合したしのであ・)で、その接合
面が偏光面72に形成されるととらに、接合面に対向し
た横型プリズム7oの而が反射面73に形成されている
。また、この十契型プ1!ズム70の反射面73は第2
図に示づように、ひいに傾きを6つ3而73a 、73
b 、73c (以後、傾斜面と称する)に分断され
ており、2つの傾斜面73b 、73cの境界線73d
は情報記録媒体62の1〜ラツキングガイドが伸びる方
向あるいは後述する光検出器に投影されたトラッキング
ガイドの像が伸びる方向に略T行となるように定められ
ている。
従って、pa分およびS成分を含む平行光ビームLがこ
の偏光ビームスプリッタ68に入射されたときには、S
成分の光ビームL1は偏光面72で反射され、P成分の
光ビームL1−は偏光面72を通過して反射面73で反
射される。この偏光面72と反射面73とは、ジL平行
で僅かな角度を成している為にP成分およびS成分の光
ビームL+、1.−t−は、僅かに異なる方向に向けら
れ、ざらにP成分の光ビームLz−は、第1図に示すよ
うに、反射面73のそれぞれの傾斜面73a、73b、
73Gで反射される光ビームL1−は、互いに異なる方
向に反射されるので、3つに分1112.1−3.L4
されて集光レンズ74に向かう。
の偏光ビームスプリッタ68に入射されたときには、S
成分の光ビームL1は偏光面72で反射され、P成分の
光ビームL1−は偏光面72を通過して反射面73で反
射される。この偏光面72と反射面73とは、ジL平行
で僅かな角度を成している為にP成分およびS成分の光
ビームL+、1.−t−は、僅かに異なる方向に向けら
れ、ざらにP成分の光ビームLz−は、第1図に示すよ
うに、反射面73のそれぞれの傾斜面73a、73b、
73Gで反射される光ビームL1−は、互いに異なる方
向に反射されるので、3つに分1112.1−3.L4
されて集光レンズ74に向かう。
偏光面72および反射面73で反射されたP成分および
S成分の光ビームL1.L2.l−3,L71は集光レ
ンズ74によって集光されて光検出器76に収束される
。
S成分の光ビームL1.L2.l−3,L71は集光レ
ンズ74によって集光されて光検出器76に収束される
。
この光検出器76は、第3図に示すように対物レンズ6
0が情報記録媒体62に対して合焦点状態にある際に3
つのP成分の光ビームL2.I−3゜1−11の収束点
がそれぞれ形成される検出領域を有する、第1.第2お
よび第3の検知部77.78.79とS成分の光ビーム
L1の収束点が形成される検出領域を有する第4の検知
部80を有している。しかも第2および第3の検知部7
8.79は、反射面73の境界ldの方向に対して平行
な方向で分離され、第1の検知部77は、境界線73d
の方向に対して直角な方向で微小間隔を空けて2つの感
知領域77a、77bに分割されている。
0が情報記録媒体62に対して合焦点状態にある際に3
つのP成分の光ビームL2.I−3゜1−11の収束点
がそれぞれ形成される検出領域を有する、第1.第2お
よび第3の検知部77.78.79とS成分の光ビーム
L1の収束点が形成される検出領域を有する第4の検知
部80を有している。しかも第2および第3の検知部7
8.79は、反射面73の境界ldの方向に対して平行
な方向で分離され、第1の検知部77は、境界線73d
の方向に対して直角な方向で微小間隔を空けて2つの感
知領域77a、77bに分割されている。
対物レンズ60が情報記録媒体62に対して合焦点状態
にある際には、偏光面72で反射されたS成分の光ビー
ムL1は第4の検知部8oに収束され、また傾斜面73
aで反射した光ビームL2は第1の検知部77に、傾斜
面73bで反射した光ビームL3は第2の検知部78に
、さらに傾斜面73dで反射した光ビームL4は第3の
検知部79にそれぞれ収束されるものである。
にある際には、偏光面72で反射されたS成分の光ビー
ムL1は第4の検知部8oに収束され、また傾斜面73
aで反射した光ビームL2は第1の検知部77に、傾斜
面73bで反射した光ビームL3は第2の検知部78に
、さらに傾斜面73dで反射した光ビームL4は第3の
検知部79にそれぞれ収束されるものである。
そして第2及び第3の検知部78.7つから発生された
信号の差を減f3冴によって得ることによってトラッキ
ングエラー信号が発生され、第1の検知部77の感知領
域77a、77bからの信号の差を減算器によって得る
ことによってフォーカス信号が発生される。さらに、第
1の検知部77の感知領域77a、77bおよび第2お
よび第3の検知部78.79からの信号を加i器によっ
て加算し、第4の検知部80から発生された信号との差
を減算器によって得ることによって情報信号が再生され
る。
信号の差を減f3冴によって得ることによってトラッキ
ングエラー信号が発生され、第1の検知部77の感知領
域77a、77bからの信号の差を減算器によって得る
ことによってフォーカス信号が発生される。さらに、第
1の検知部77の感知領域77a、77bおよび第2お
よび第3の検知部78.79からの信号を加i器によっ
て加算し、第4の検知部80から発生された信号との差
を減算器によって得ることによって情報信号が再生され
る。
このフォーカス信号に応じて対物レンズ60がその元軸
方向に移動され、常に対物レンズ60は、情報記録媒体
62に対して合焦点状態に相持され、トラッキングエラ
ー信号に応じて対物レンズ60は、光軸に対して直角な
方向に移動され、正イ「に情報記録媒体60のトラッキ
ングガイドが合焦点状態の光ビームLで追跡される。そ
の結果、情報記録媒体62から記録情報が再生される。
方向に移動され、常に対物レンズ60は、情報記録媒体
62に対して合焦点状態に相持され、トラッキングエラ
ー信号に応じて対物レンズ60は、光軸に対して直角な
方向に移動され、正イ「に情報記録媒体60のトラッキ
ングガイドが合焦点状態の光ビームLで追跡される。そ
の結果、情報記録媒体62から記録情報が再生される。
同様に、記録時には、情報が正確に書込まれ、消去時に
は、確実に記録情報が消去される。
は、確実に記録情報が消去される。
以上説明した光学ヘッドにおいては、情報記録媒体62
で反射した光ビーム]−は、ミラー58で反射すること
により位相のずれを生じるが、この位相のずれを補正す
るように通電子!?!膜を所定の層だけコーティングさ
せた光反射部56aを有するビームスプリッタ56で反
射することにより、偏光ビームスプリッタ68に到達す
るまでには、この位相のずれは補正されているものであ
る。よってこの光学ヘッドにおいては、情報記録媒体6
2で反射した光ビームが反射する際に生じる位相のずれ
を補正した後に情報信号の再生を行なうことができる。
で反射した光ビーム]−は、ミラー58で反射すること
により位相のずれを生じるが、この位相のずれを補正す
るように通電子!?!膜を所定の層だけコーティングさ
せた光反射部56aを有するビームスプリッタ56で反
射することにより、偏光ビームスプリッタ68に到達す
るまでには、この位相のずれは補正されているものであ
る。よってこの光学ヘッドにおいては、情報記録媒体6
2で反射した光ビームが反射する際に生じる位相のずれ
を補正した後に情報信号の再生を行なうことができる。
また、この光学ヘッドにおいては、1つの光検出器76
で情報1z号の再生、フォーカス信号及びトラッキング
エラー信号の検出を行なっている。
で情報1z号の再生、フォーカス信号及びトラッキング
エラー信号の検出を行なっている。
そのため従来の光学ヘッドに比べて非常にfltllt
iに構成で各信号の検出を行なうことができる。そのた
め、光学ヘッドの構成部品点数が減少するために、光学
ヘッド全体が軽石となってこの光学ヘッドのアクセス速
度を速めることができ、さらにはコストを減少させるこ
とができる。
iに構成で各信号の検出を行なうことができる。そのた
め、光学ヘッドの構成部品点数が減少するために、光学
ヘッド全体が軽石となってこの光学ヘッドのアクセス速
度を速めることができ、さらにはコストを減少させるこ
とができる。
また、本発明においては、第2の光反射部材として、ご
−ムスプリツタを用いたもので説明を行なっだが、他の
通電多層膜を何層にも重ねて光反射膜を形成している、
例えばハーフプリズム等を用いてもよく、また第1の光
反射部材と全く同じ性質を有する反射ミラーやハーフミ
ラ−等を用(#1てもよい。
−ムスプリツタを用いたもので説明を行なっだが、他の
通電多層膜を何層にも重ねて光反射膜を形成している、
例えばハーフプリズム等を用いてもよく、また第1の光
反射部材と全く同じ性質を有する反射ミラーやハーフミ
ラ−等を用(#1てもよい。
また、第1の光反射部材はミラー58ただ1つだけとは
必ずしも限らず、ビームスプリッタや)\−フプリズム
など光反射面をイ1するものが他に設けられている構造
であっても、第2の反射部材で光ヒームがこれらで反射
した際に生じる位相のずれを補正するものであれば前記
実施例と同様の効果が得られることは言うまでもない。
必ずしも限らず、ビームスプリッタや)\−フプリズム
など光反射面をイ1するものが他に設けられている構造
であっても、第2の反射部材で光ヒームがこれらで反射
した際に生じる位相のずれを補正するものであれば前記
実施例と同様の効果が得られることは言うまでもない。
また、この光学ヘッドにおいては、偏光ビームスプリッ
タに形成されている模型プリズム70の反射面73に3
つの傾斜面が形成されているもので説明を行なったが、
本発明は必ずしもこれに限定されず、偏光ビームスプリ
ッタ69の偏光面72に3つの傾斜面を設(プられるよ
うな構成にしてら構ねない。
タに形成されている模型プリズム70の反射面73に3
つの傾斜面が形成されているもので説明を行なったが、
本発明は必ずしもこれに限定されず、偏光ビームスプリ
ッタ69の偏光面72に3つの傾斜面を設(プられるよ
うな構成にしてら構ねない。
1発明の効果〕
以上説明したように本発明における光学ヘッドにおいて
は、非常にrfJlllな構造のもので、情報記録媒体
から検出光学系に至るまでの光路途中に生じる光ビーム
の位相差を補正し、情Ill信号の再生を確実に行なう
ことができるという効果がある。
は、非常にrfJlllな構造のもので、情報記録媒体
から検出光学系に至るまでの光路途中に生じる光ビーム
の位相差を補正し、情Ill信号の再生を確実に行なう
ことができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す光学ヘッドの概略構成
図、第2図は第1図に示した光学ヘッドの検光子の反射
面を示した概略構成図、第3図は第1図に示した光学ヘ
ッドの光検出器の概略構成図、第4図はミラーに置ける
光ビームの反射の状態を示した概略図である。 50・・・光源(半導体レーザ) 56・・・第2の光反射部材(ビームスプリッタ)58
・・・第1の光反I)1部材(ミラー)60・・・対物
レンズ 62・・・情報記録媒体 68・・・検光子(偏光ビームスプリッタ)76・・・
光検出器 りjQ
図、第2図は第1図に示した光学ヘッドの検光子の反射
面を示した概略構成図、第3図は第1図に示した光学ヘ
ッドの光検出器の概略構成図、第4図はミラーに置ける
光ビームの反射の状態を示した概略図である。 50・・・光源(半導体レーザ) 56・・・第2の光反射部材(ビームスプリッタ)58
・・・第1の光反I)1部材(ミラー)60・・・対物
レンズ 62・・・情報記録媒体 68・・・検光子(偏光ビームスプリッタ)76・・・
光検出器 りjQ
Claims (2)
- (1)光ビームを発生させる光源と、 この光源から発生された光ビームを情報記録媒体に集光
させる対物レンズと、 前記情報記録媒体で反射した光ビームを反射させる少な
くとも1つの第1の光反射手段と、光ビームが前記第1
の光反射手段で反射される際に生じる位相のずれを補正
するように反射膜がコーティングされ、前記第1の光反
射手段で反射された光ビームを反射させる第2の光反射
手段と、この第2の光反射手段で反射された光ビームを
偏光成分に分離する検光子と、 この検光子にによって分離された光ビームを検出する光
検出器とを具備することを特徴とする光学ヘッド。 - (2)前記第2の光反射手段は、ビームスプリッタ、反
射ミラー、ハーフミラー、ハーフプリズムの群よりなる
いずれかのものであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の光学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60212175A JPS6273445A (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60212175A JPS6273445A (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 光学ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273445A true JPS6273445A (ja) | 1987-04-04 |
Family
ID=16618146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60212175A Pending JPS6273445A (ja) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6273445A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6427057A (en) * | 1987-07-22 | 1989-01-30 | Nec Corp | Optical head device for magneto-optical recording |
| JPH01176348A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-12 | Asahi Optical Co Ltd | 光磁気記録再生装置の光学系 |
| JPH0273531A (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光滋気記録再生装置 |
-
1985
- 1985-09-27 JP JP60212175A patent/JPS6273445A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6427057A (en) * | 1987-07-22 | 1989-01-30 | Nec Corp | Optical head device for magneto-optical recording |
| JPH01176348A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-12 | Asahi Optical Co Ltd | 光磁気記録再生装置の光学系 |
| JPH0273531A (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光滋気記録再生装置 |
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