JPS6274836A - Ｉｃ試験用ハンドリング装置 - Google Patents
Ｉｃ試験用ハンドリング装置Info
- Publication number
- JPS6274836A JPS6274836A JP21450185A JP21450185A JPS6274836A JP S6274836 A JPS6274836 A JP S6274836A JP 21450185 A JP21450185 A JP 21450185A JP 21450185 A JP21450185 A JP 21450185A JP S6274836 A JPS6274836 A JP S6274836A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- case
- conveyor belt
- ics
- section
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Control Of Conveyors (AREA)
- De-Stacking Of Articles (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Warehouses Or Storage Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ＩＣ試験用ハンドリング装置の改良に関する
。
。
従来のＩＣ試験用ハンドリング装置としては、第３図に
示す構造のものが知られている。即ち、図中のＡはロー
ド側であり、このロード側Ａには試験前のＩＣが収納さ
れたケース１をストックする第１のストック部２が配置
されている。前記ケース１は、試験用シュート部３に差
込まれ、該ケース１内のｔＣを排出した後には、該シュ
ート部３の回転により第２のストック部４に供給される
。
示す構造のものが知られている。即ち、図中のＡはロー
ド側であり、このロード側Ａには試験前のＩＣが収納さ
れたケース１をストックする第１のストック部２が配置
されている。前記ケース１は、試験用シュート部３に差
込まれ、該ケース１内のｔＣを排出した後には、該シュ
ート部３の回転により第２のストック部４に供給される
。
また、図中のＢはアンロード側であり、該アンロード側
Ｂには空ケース５をストックするための第３のストック
部６が配置されている。前記空ケース５には、前記シュ
ート部３を通して試験された試験済ＩＣが供給され、該
ＩＣが一定量収納された後には、第４のストック部７に
供給される。
Ｂには空ケース５をストックするための第３のストック
部６が配置されている。前記空ケース５には、前記シュ
ート部３を通して試験された試験済ＩＣが供給され、該
ＩＣが一定量収納された後には、第４のストック部７に
供給される。
（背景技術の問題点）
しかしながら、上述した第３図図示のＩＣ試験用ハンド
リング装置にあっては次のような問題があった。
リング装置にあっては次のような問題があった。
■、ロード側Ａ及びアンロード側Ｂにケースをストック
するためのストック部２．４．６．７が４つ必要であり
、ハンドリング装置の省スペース化を因ることが難しい
。
するためのストック部２．４．６．７が４つ必要であり
、ハンドリング装置の省スペース化を因ることが難しい
。
■、第２図に示すように試験前のＩＣを収納したケース
１及び空ケース５をスタック部２．６に夫々セットする
必要があるため、作業能率が低下する。
１及び空ケース５をスタック部２．６に夫々セットする
必要があるため、作業能率が低下する。
本発明は、ロード側にてＩＣを排出した後のケースのう
ちＩＣを全て排出したケースのみをアンロード側の試験
済ＩＣの収納ケースとして使用し、省スペース化、作業
能率の向上化を達成したＩＣ試験用ハンドリング装置を
提供しようとするものである。
ちＩＣを全て排出したケースのみをアンロード側の試験
済ＩＣの収納ケースとして使用し、省スペース化、作業
能率の向上化を達成したＩＣ試験用ハンドリング装置を
提供しようとするものである。
本発明は、ＩＣを収納したケースがセットされ、該ケー
ス内のＩＣを順次試験装置に供給する試験用シュート部
と、前記試験装置により良品として判定されたｔＣを再
度ケース内に収納する試験済ＩＣ収納領域に終端付近が
位置する搬送ベルトと、前記シュート部にセットされた
ケースを前記搬送ベルトの始端付近に移動させる移動手
段と、前記搬送ベルト上に移動されたケース内のＩＣの
有無を検知するセンサと、前記搬送ベルトを跨いで配置
され、前記センサによりＩＣが有ると判定されたケース
を収納する第１のストック部と、搬送ベルト上を跨いで
配置され、前記センサによりＩＣが無しと判定されたケ
ースを収納し、かつ所望の時期にケースを該搬送ベルト
上に送出する第２のストック部とを具備したことを特徴
とするものである。かかる本発明によれば、既述の如く
ロード側にてＩＣを排出した後のケースのうちのＩＣを
全て排出したケースのみをアンロード側の試験済ＩＣの
収納ケースとして使用することによって、省スペース化
、作業能率の向上化を達成したＩＣ試験用ハンドリング
装置を得ることができる。
ス内のＩＣを順次試験装置に供給する試験用シュート部
と、前記試験装置により良品として判定されたｔＣを再
度ケース内に収納する試験済ＩＣ収納領域に終端付近が
位置する搬送ベルトと、前記シュート部にセットされた
ケースを前記搬送ベルトの始端付近に移動させる移動手
段と、前記搬送ベルト上に移動されたケース内のＩＣの
有無を検知するセンサと、前記搬送ベルトを跨いで配置
され、前記センサによりＩＣが有ると判定されたケース
を収納する第１のストック部と、搬送ベルト上を跨いで
配置され、前記センサによりＩＣが無しと判定されたケ
ースを収納し、かつ所望の時期にケースを該搬送ベルト
上に送出する第２のストック部とを具備したことを特徴
とするものである。かかる本発明によれば、既述の如く
ロード側にてＩＣを排出した後のケースのうちのＩＣを
全て排出したケースのみをアンロード側の試験済ＩＣの
収納ケースとして使用することによって、省スペース化
、作業能率の向上化を達成したＩＣ試験用ハンドリング
装置を得ることができる。
Ｃ発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第１図及び第２図を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
図中の１１は、ＩＣ収納用のケースを搬送するための一
対の搬送ベルト、１２はＩＣを収納したケースが差込ま
れ、該ケース内のＩＣを順次図示し７ない試験装置に供
給する試験用シュート部である。前記搬送ベルト１１は
、前記試験装置により良品として判定されたＩＣを再度
ケース内に収納する試験済ＩＣ収納領域に終端付近が位
置している。また、前記シュート部１２は移動手段とし
てのモータ１３により前記搬送ベルト１１始端付近に回
動できるようになっている。つまり、前記シュート部１
２に差込まれたケース内のＩＣを該シュート部１２から
順次試験装置に排出した後、前記モータ１３によりシュ
ート部１２を回動することによって、該ケースを前記搬
送ベルト１１の始端付近上に移動させることができる。
対の搬送ベルト、１２はＩＣを収納したケースが差込ま
れ、該ケース内のＩＣを順次図示し７ない試験装置に供
給する試験用シュート部である。前記搬送ベルト１１は
、前記試験装置により良品として判定されたＩＣを再度
ケース内に収納する試験済ＩＣ収納領域に終端付近が位
置している。また、前記シュート部１２は移動手段とし
てのモータ１３により前記搬送ベルト１１始端付近に回
動できるようになっている。つまり、前記シュート部１
２に差込まれたケース内のＩＣを該シュート部１２から
順次試験装置に排出した後、前記モータ１３によりシュ
ート部１２を回動することによって、該ケースを前記搬
送ベルト１１の始端付近上に移動させることができる。
前記搬送゛ベルト１１付近には、前記シュート部１２か
ら移動され、該ベルト１１により搬送されたケース内の
ＩＣの有無を検知するためのセンサ１６が該ベルト１１
を跨いで配置されている。また、前記搬送ベルト１１付
近には支持板１４１で支持された第１のストック部１５
１が該ベルト１１を跨いで配置されている。このストッ
ク部１５１には、前記搬送ベルト１１により搬送された
ＩＣ排出済ケース収納・送出するための図示しない昇降
深溝が付設されている。前記第１のストツタ部１５１の
後段側（Ｗｉ送ベルト１１の移動方向側）に位置するベ
ルト１１付近には支持板１４２で支持された第２のスト
ック部１５２が該ベルト１１を跨いで配置されている。
ら移動され、該ベルト１１により搬送されたケース内の
ＩＣの有無を検知するためのセンサ１６が該ベルト１１
を跨いで配置されている。また、前記搬送ベルト１１付
近には支持板１４１で支持された第１のストック部１５
１が該ベルト１１を跨いで配置されている。このストッ
ク部１５１には、前記搬送ベルト１１により搬送された
ＩＣ排出済ケース収納・送出するための図示しない昇降
深溝が付設されている。前記第１のストツタ部１５１の
後段側（Ｗｉ送ベルト１１の移動方向側）に位置するベ
ルト１１付近には支持板１４２で支持された第２のスト
ック部１５２が該ベルト１１を跨いで配置されている。
このストック部１５２には、前記搬送ベルト１１により
搬送されたＩＣ排出済ケースを収納・送出すするための
図示しない昇降深溝が付設されている。なお、センサ１
６は、前記第１のストック部１５２の昇降機構に接続さ
れ、該センサ１６により排出済ケース内のＩＣの残留が
検出された時、該第１のストック部１５１の昇降機構を
上昇させて同ケースを第１のストック部１５１に収納す
るための信号を出力する。また、センサ１６は前記第２
のストック部１５２の昇降機構に接続され、該センサ１
６により排出済ケース内にＩＣがないことを検出された
時、該第２のストック部１５２の昇降機構を上昇させて
同ケースを第２のストック部１５２に収納するための信
号を出力する。前記第２のストック部１５２に収納され
たケースの送出は、所望の時期、つまり前記搬送ベルト
１１の終端付近の試験済ＩＣ収納領域においてケース内
に良品のＩＣを所定数収納し終わった時に図示しない検
知部よりその昇降機構に信号が出力されることによりな
される。
搬送されたＩＣ排出済ケースを収納・送出すするための
図示しない昇降深溝が付設されている。なお、センサ１
６は、前記第１のストック部１５２の昇降機構に接続さ
れ、該センサ１６により排出済ケース内のＩＣの残留が
検出された時、該第１のストック部１５１の昇降機構を
上昇させて同ケースを第１のストック部１５１に収納す
るための信号を出力する。また、センサ１６は前記第２
のストック部１５２の昇降機構に接続され、該センサ１
６により排出済ケース内にＩＣがないことを検出された
時、該第２のストック部１５２の昇降機構を上昇させて
同ケースを第２のストック部１５２に収納するための信
号を出力する。前記第２のストック部１５２に収納され
たケースの送出は、所望の時期、つまり前記搬送ベルト
１１の終端付近の試験済ＩＣ収納領域においてケース内
に良品のＩＣを所定数収納し終わった時に図示しない検
知部よりその昇降機構に信号が出力されることによりな
される。
次に、本発明のＩＣ試験用ハンドリング装置の゛ 作用
を説明する。
を説明する。
まず、試験前のＩＣを収納したケース１７を試験用シュ
ート部１２に差込み、該ケース内のＩＣを該シュート部
１２に排出される。シュート部１２に排出されたＩＣは
図示しない試験装置を通過する間に各種の信頼性試験が
なされ、良否の判定がなされる。前記試験用シュート部
１２にＩＣを排出した後は、第２図に示すようにモータ
１３により該シュート部１２が搬送へルト１１の始端付
近側に回動され、排出済ケース１７−が搬送ベルト１１
上に載せられ、該ベルト１１に配置されたセンサ１６側
へ搬送される。排出済ケース１７−内には前記工程でＩ
Ｃが排出されずに残っている場合があるため、センサ１
６により排出済ケース１７′内のＩＣの有無が検出され
る。この時、ＩＣの検出がなされると、センサ１６から
第１のストック部１５！の昇降機構にその検出信号がフ
ィードバックされ、該昇降機構が動作してＩＣが残留す
るケース１８を第１のストック部１５１にストックする
。一方、ＩＣが検出がなされないと、センサ１６から第
２のストック部１５２の昇降機構にその信号がフィード
バックされ、該昇降機構が動作して第２のストック部に
空ケース１９として収納される。このように第２のスト
ック部１５２でストックされた空ケース１９は、所望の
時期に同ストック部１５２より搬送ベルト１１上に送出
され、該ベルト１１の終端付近の試験済ＩＣ収納領域に
送られ、ここで前述した試験により良品として判定され
たＩＣ２０を一定量収納する。
ート部１２に差込み、該ケース内のＩＣを該シュート部
１２に排出される。シュート部１２に排出されたＩＣは
図示しない試験装置を通過する間に各種の信頼性試験が
なされ、良否の判定がなされる。前記試験用シュート部
１２にＩＣを排出した後は、第２図に示すようにモータ
１３により該シュート部１２が搬送へルト１１の始端付
近側に回動され、排出済ケース１７−が搬送ベルト１１
上に載せられ、該ベルト１１に配置されたセンサ１６側
へ搬送される。排出済ケース１７−内には前記工程でＩ
Ｃが排出されずに残っている場合があるため、センサ１
６により排出済ケース１７′内のＩＣの有無が検出され
る。この時、ＩＣの検出がなされると、センサ１６から
第１のストック部１５！の昇降機構にその検出信号がフ
ィードバックされ、該昇降機構が動作してＩＣが残留す
るケース１８を第１のストック部１５１にストックする
。一方、ＩＣが検出がなされないと、センサ１６から第
２のストック部１５２の昇降機構にその信号がフィード
バックされ、該昇降機構が動作して第２のストック部に
空ケース１９として収納される。このように第２のスト
ック部１５２でストックされた空ケース１９は、所望の
時期に同ストック部１５２より搬送ベルト１１上に送出
され、該ベルト１１の終端付近の試験済ＩＣ収納領域に
送られ、ここで前述した試験により良品として判定され
たＩＣ２０を一定量収納する。
従って、本発明のハンドリング装置によれば、ロード側
にてＩＣを排出した後のＩＣ排排出ケース１７′のうち
ＩＣを全て排出したケース（空ケース１つ）のみをセン
サ１６で選別し、該空ケース１つのみをアンロード側の
試験済ＩＣ収納領域に移動させて、良品として判定され
たＩＣ２０を収納できる。その結果、ストック部のスペ
ースを従来装置に比べて著しく省略でき、しかもハンド
リング操作は試験前のＩＣを収納したケース１７を試験
用シュート１２にセットするという操作のみで澄むため
、省スペース化、作業能率の向上を達成したハンドリン
グ装置を得ることができる。
にてＩＣを排出した後のＩＣ排排出ケース１７′のうち
ＩＣを全て排出したケース（空ケース１つ）のみをセン
サ１６で選別し、該空ケース１つのみをアンロード側の
試験済ＩＣ収納領域に移動させて、良品として判定され
たＩＣ２０を収納できる。その結果、ストック部のスペ
ースを従来装置に比べて著しく省略でき、しかもハンド
リング操作は試験前のＩＣを収納したケース１７を試験
用シュート１２にセットするという操作のみで澄むため
、省スペース化、作業能率の向上を達成したハンドリン
グ装置を得ることができる。
なお、上記実施例においては試験用シュート部からの排
出済ケースの搬送ベルト上への搬送を行なう移動手段と
して該シュート部を回動させるモータを用いたが、エア
ーシリンダ等の他の移動手段を使用してもよい。
出済ケースの搬送ベルト上への搬送を行なう移動手段と
して該シュート部を回動させるモータを用いたが、エア
ーシリンダ等の他の移動手段を使用してもよい。
以上詳述した如く、本発明によればロード側にてＩＣを
排出した後のケースのうちＩＣを全て排出したケースの
みをアンロード側の試験済ＩＣの収納ケースとして使用
でき、ひいては省スペース化、作業能率の向上化を達成
したＩＣ試験用ハンドリング装置を提供できる。
排出した後のケースのうちＩＣを全て排出したケースの
みをアンロード側の試験済ＩＣの収納ケースとして使用
でき、ひいては省スペース化、作業能率の向上化を達成
したＩＣ試験用ハンドリング装置を提供できる。
第１図は、本発明の一実施例を示すＩＣ試験用ハンドリ
ング装置の斜視図、第２図は、第１図のハンドリング装
置の平面図、第３図は、従来のＩＣ試験用ハンドリング
装置の概略斜視図である。 １１・・・搬送ベルト、１２・・・試験用シュート部、
１３・・・モータ、１４ｒ 、１４２・・・支持板、１
５１．１５２・・・ストック部、１６・・・センサ、１
７・・・試験前のｔＣが収納されたケース、１７′・・
・ＩＣ排排出ケース、１８・・・ＩＣが残留したケース
、１９・・・空ケース、２０・・・ＩＣ０ 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 第２図
ング装置の斜視図、第２図は、第１図のハンドリング装
置の平面図、第３図は、従来のＩＣ試験用ハンドリング
装置の概略斜視図である。 １１・・・搬送ベルト、１２・・・試験用シュート部、
１３・・・モータ、１４ｒ 、１４２・・・支持板、１
５１．１５２・・・ストック部、１６・・・センサ、１
７・・・試験前のｔＣが収納されたケース、１７′・・
・ＩＣ排排出ケース、１８・・・ＩＣが残留したケース
、１９・・・空ケース、２０・・・ＩＣ０ 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 第２図
Claims (1)
- ＩＣを収納したケースがセットされ、該ケース内のＩＣ
を順次試験装置に供給する試験用シュート部と、前記試
験装置により良品として判定されたＩＣを再度ケース内
に収納する試験済ＩＣ収納領域に終端付近が位置する搬
送ベルトと、前記シュート部にセットされたケースを前
記搬送ベルトの始端付近に移動させる移動手段と、前記
搬送ベルト上に移動されたケース内のＩＣの有無を検知
するセンサと、前記搬送ベルトを跨いで配置され、前記
センサによりＩＣが有ると判定されたケースを収納する
第１のストック部と、搬送ベルト上を跨いで配置され、
前記センサによりＩＣが無しと判定されたケースを収納
し、かつ所望の時期にケースを該搬送ベルト上に送出す
る第２のストック部とを具備したことを特徴とするＩＣ
試験用ハンドリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21450185A JPS6274836A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | Ｉｃ試験用ハンドリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21450185A JPS6274836A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | Ｉｃ試験用ハンドリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6274836A true JPS6274836A (ja) | 1987-04-06 |
Family
ID=16656756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21450185A Pending JPS6274836A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | Ｉｃ試験用ハンドリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6274836A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01291869A (ja) * | 1988-05-17 | 1989-11-24 | Tec:Kk | 空中殺菌システム |
| US5931629A (en) * | 1997-04-15 | 1999-08-03 | Corfin Inc. | Automatic input and output tube handlers for use with an electronic component processing equipment |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5994433A (ja) * | 1982-11-19 | 1984-05-31 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 半導体素子の選別装置 |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP21450185A patent/JPS6274836A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5994433A (ja) * | 1982-11-19 | 1984-05-31 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 半導体素子の選別装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01291869A (ja) * | 1988-05-17 | 1989-11-24 | Tec:Kk | 空中殺菌システム |
| US5931629A (en) * | 1997-04-15 | 1999-08-03 | Corfin Inc. | Automatic input and output tube handlers for use with an electronic component processing equipment |
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