JPS6276624A - レジスト剥離装置 - Google Patents

レジスト剥離装置

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Publication number
JPS6276624A
JPS6276624A JP21646585A JP21646585A JPS6276624A JP S6276624 A JPS6276624 A JP S6276624A JP 21646585 A JP21646585 A JP 21646585A JP 21646585 A JP21646585 A JP 21646585A JP S6276624 A JPS6276624 A JP S6276624A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tank
cooling water
cooling
waste liquid
processing tank
Prior art date
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Pending
Application number
JP21646585A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Miyamoto
和則 宮本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP21646585A priority Critical patent/JPS6276624A/ja
Publication of JPS6276624A publication Critical patent/JPS6276624A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は例えば半導体ウェハに付着されたレジストを剥
離する装置の改良に関する。
(発明の技術的背景) 従来のレジスト剥離装置を第2図を参照して説明する。
第2図において、処理槽1内には薬品バイブ2から加熱
されたレジスト剥離用の薬品(例えば硫酸、過酸化水素
水の5:1混合液)3が供給され、この薬品3に例えば
レジストが付着した半導体ウェハ4が浸漬される。
前記処理槽1内の温度150℃前後の処理ずみの廃液は
処理槽1下部に取付けられた耐熱バルブ5を開放するこ
とにより一度に廃液冷却槽6に流入する。この廃液冷却
槽6上部の冷却水バイブ7からは冷却水が供給されて廃
液を冷却する。そして、温度の下がった廃液8は廃液冷
却槽6に取付けられた耐熱管9から排出される。なお、
処理槽1、廃液冷却槽6等は液温の関係から石英で形成
されている。
〔背景技術の問題点〕
しかしながら、上記のような従来のレジスト剥離装置で
は、例えば耐熱バルブ5の劣化により薬品3の漏れが発
生することがある。また、廃液冷却槽6に入っている大
mの廃液8に冷却水を流し込むと、硫酸を主成分とする
薬品の性質上、最初は温度を低下させることが困難であ
り、むしろ温度が上昇する場合もある。このため、廃液
8を排出できる温度まで冷却するのに長時間を要する。
更に、処理槽1は薬品3を流出させた後でも温度が低下
せず、連続的に行なわれるレジスト剥離工程のプロセス
制御の安定性に欠けていた。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情を考慮してなされたものであり、装置
の安全性及び稼働率を向上するとともに、レジスト剥離
工程のプロセス制御を安定化できるレジスト剥II装置
を提供しようとするものである。
〔発明の概要〕 本発明のレジスト剥離装置は、レジスト剥離用の薬品が
収容され、レジストが付着した被処理体が浸漬される処
理槽と、該処理槽の外周を囲むように設けられた廃液冷
却槽と、冷却水及び冷却水の流動によって吸引される処
理槽内の薬品を廃液冷却槽に導入する冷却水アスビレー
タと、前記処理槽と廃液冷却槽との間に設けられ、これ
らを冷却するとともに、廃液を冷却する冷却水シャワー
とを具漏したことを特徴とするものである。
このようなレジスト剥離装置によれば、処理槽の外周を
囲むように廃液冷却槽を配置しているので、外部へ薬品
が漏れるおそれがない。また、冷却水アスビレータによ
り処理槽内の薬品を適当な流量で廃液冷却槽内に導入し
、冷却水アスビレータ及び冷却水シャワーからの冷却水
により冷却することができるので、冷却時間を短縮する
ことができる。更に、冷却水シャワーにより次のレジス
ト剥離工程までに処理槽を冷却することができるので、
プロセス制御を安定化することができる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第1図を参照して説明する。
第1図において、処理槽11内には薬品バイブ12から
加熱されたレジスト剥離用の薬品(例えば硫酸、過酸化
水素水の5:1混合液)13が供給され、この薬品13
に例えばレジストが付置した半導体ウェハ14が浸漬さ
れる。前記処理槽11外周には、これを囲むように廃液
冷却槽15が設けられている。また、前記処理1111
と廃液冷却槽15との間には冷却水アスビレータ16が
設けられ、これに接続された吸引管17が前記処理槽1
1内の薬品13中に挿入されている。
所定時間レジスト剥離処理を行なった後、前記冷却水ア
スビレータ16に冷却水を流すことにより、処理槽11
内の温度150℃前後の処理ずみの薬品13が吸引され
、冷却水とともに廃液冷却槽15に導入される。また、
前記処理1a11内部には冷却水シャワー18が設けら
れ、この冷却水シャワー18には冷却水バイブ19から
冷却水を供給することにより、処理槽11を冷却できる
ようになっている。同様に処理槽11と廃液冷却槽15
との間には冷却水シャワー20が設けられ、この冷却水
シャワー20には冷却水バイブ21から冷却水を供給す
ることにより・、処理槽11、廃液冷却槽15及び廃液
冷却槽15内の廃液22を冷却できるようになっている
。更に、廃液冷却槽15内の廃液22中には温度センサ
23が挿入されており、廃液22の温度が所定温度(例
えば30℃)より高いか低いかが表示部24に表示され
る。そして、廃液22の温度が十分低くなれば、耐熱管
25から廃液22が排出される。なお、上記処理槽11
、廃液冷却槽15等は石英で形成されている。
このようなレジスト剥M装置によれば、処理槽11の外
周を囲むように廃液冷却槽15を配置しているので、例
えば冷却水アスビレータ1Gが劣化したとしても外部へ
薬品13が漏れるおそれがなく、安全性が高い。、對た
、冷却水アスビレータ16により処理槽11内の処理ず
みの薬品13を適当な流量で廃液冷却槽15内に導入し
、冷却水アスビレータ16及び冷却水シャワー20から
の冷却水により効率よく冷却することができる。このた
め、冷却時間を短縮することができ、装置の稼動率を向
上することができる。更に、処理W!11内外の冷却水
シャワー18.20により次のレジスト剥離工程までに
処理槽11を冷却することができるので、プロセス制御
を安定化することができる。しかも、上記実施例のレジ
スト剥離装置では廃液冷却槽15内の廃液22中に温度
センサ23を挿入し、廃液温度を検知しているので、安
全な温度で廃液22の排出が行なえる。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く本発明によれば、安全性及び稼働率が
高く、しかもプロセス制御を安定化できるレジスト剥離
装置を提供でき、ひいては装置価格を低減できる等顕著
な効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例におけるレジスト剥離装置の断
面図、第2図は従来のレジスト剥離装置の断面図である
。 11・・・処理槽、12・・・薬品バイブ、13・・・
薬品、14・・・半導体ウェハ、15・・・廃液冷却槽
、16・・・冷却水アスビレータ、17・・・吸引管、
18.2゜・・・冷却水シャワー、19.21・・・冷
却水バイブ、22・・・廃液、23・・・温度センサ、
24・・・表示部、25・・・耐熱管。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レジスト剥離用の薬品が収容され、レジストが付
    着した被処理体が浸漬される処理槽と、該処理槽の外周
    を囲むように設けられた廃液冷却槽と、冷却水及び冷却
    水の流動によつて吸引される処理槽内の薬品を廃液冷却
    槽に導入する冷却水アスビレータと、前記処理槽と廃液
    冷却槽との間に設けられ、これらを冷却するとともに、
    廃液を冷却する冷却水シャワーとを具備したことを特徴
    とするレジスト剥離装置。
  2. (2)処理槽内に処理槽を冷却する冷却水シャワーを設
    けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のレジ
    スト剥離装置。
  3. (3)廃液冷却槽内の廃液の温度を検知する温度センサ
    を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    レジスト剥離装置。
JP21646585A 1985-09-30 1985-09-30 レジスト剥離装置 Pending JPS6276624A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015008443A1 (ja) * 2013-07-17 2015-01-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 レジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液、洗浄装置および洗浄方法
JP2023026679A (ja) * 2014-09-15 2023-02-24 ザ チルドレンズ メディカル センター コーポレーション ヒストンh3-リジントリメチル化を除去することによって体細胞核移入(scnt)効率を増加させるための方法および組成物

Cited By (3)

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WO2015008443A1 (ja) * 2013-07-17 2015-01-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 レジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液、洗浄装置および洗浄方法
JP2015020100A (ja) * 2013-07-17 2015-02-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 レジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液、洗浄装置および洗浄方法
JP2023026679A (ja) * 2014-09-15 2023-02-24 ザ チルドレンズ メディカル センター コーポレーション ヒストンh3-リジントリメチル化を除去することによって体細胞核移入(scnt)効率を増加させるための方法および組成物

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