JPS627670A - 半導体拡散炉の構成部材の製造方法 - Google Patents
半導体拡散炉の構成部材の製造方法Info
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- JPS627670A JPS627670A JP60142498A JP14249885A JPS627670A JP S627670 A JPS627670 A JP S627670A JP 60142498 A JP60142498 A JP 60142498A JP 14249885 A JP14249885 A JP 14249885A JP S627670 A JPS627670 A JP S627670A
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Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産 の 1
本発明は半導体拡散炉の構成部材に関する。
支股仄L1
特公昭54−10825号公報は半導体拡散炉の構成部
材を示している。この従来例にあっては、0.1〜8μ
の平均粒径を有する微粒と、30〜170μの平均粒径
を有する粗粒からなるSiC粉末の焼結体によって焼結
SiCマトリックスが形成されている。
材を示している。この従来例にあっては、0.1〜8μ
の平均粒径を有する微粒と、30〜170μの平均粒径
を有する粗粒からなるSiC粉末の焼結体によって焼結
SiCマトリックスが形成されている。
が °しよ とする【 1、
前述の半導体拡散炉の構成部材にあっては、特に微粒の
SiC粉末が0,1〜8μの平均粒径を有するため、粉
末全体としてみたときSiC粉末の表面積が非常に大き
くなり、その結果として、不純物が混入しやすい。通常
は、粗粒のSiC粉末を粉砕するのであるが、そのよう
な粉砕工程において不純物が入りやすいのである。この
時、不純物の混入を避けるためには、特別な処理操作が
必要であり、生産コストを高くする欠点がある。
SiC粉末が0,1〜8μの平均粒径を有するため、粉
末全体としてみたときSiC粉末の表面積が非常に大き
くなり、その結果として、不純物が混入しやすい。通常
は、粗粒のSiC粉末を粉砕するのであるが、そのよう
な粉砕工程において不純物が入りやすいのである。この
時、不純物の混入を避けるためには、特別な処理操作が
必要であり、生産コストを高くする欠点がある。
11L1乱
この発明は前述のような従来技術の欠点を解消して、処
理操作が比較的容易で、しかも物理特性の優れた半導体
拡散炉構成部材を提供することを目的としている。
理操作が比較的容易で、しかも物理特性の優れた半導体
拡散炉構成部材を提供することを目的としている。
立」L列JLL
この目的を達成するために、この発明は30〜170μ
の平均粒径を有するSiC粉末50〜90重量部と、0
.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3〜15型針部と
、0.1〜8μの平均粒径を有するSi粉粉末7〜3童 構成部材を要旨としている。
の平均粒径を有するSiC粉末50〜90重量部と、0
.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3〜15型針部と
、0.1〜8μの平均粒径を有するSi粉粉末7〜3童 構成部材を要旨としている。
「」 −を °するための ゛
この発明による半導体拡散炉の構成部材においては、S
iC粉末は粗粒のみを使用し、微粒は使用しない。すな
わち、30〜170ftの平均粒径を有するSiC粉末
を50〜90重量部使用するのである。このSiC粉末
に0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3〜15重量
部と0.1〜8μの平均粒径を有するSii末7〜35
重量部を添加する。
iC粉末は粗粒のみを使用し、微粒は使用しない。すな
わち、30〜170ftの平均粒径を有するSiC粉末
を50〜90重量部使用するのである。このSiC粉末
に0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3〜15重量
部と0.1〜8μの平均粒径を有するSii末7〜35
重量部を添加する。
C粉末が3@最部よりも少ないと、SiCの結合力が小
さく、強度が低下する。また、C粉末が15槍量部より
も大きいと、Siの合浸前に変形をおこしやすくなり、
強度が低下する。
さく、強度が低下する。また、C粉末が15槍量部より
も大きいと、Siの合浸前に変形をおこしやすくなり、
強度が低下する。
Si粉末が7重量部よりも少ないと、SiCの結合力が
弱まり、強度が下がる。また、Si粉末の含有量が35
重量%よりも多いと、Siの含浸が困難となり、材質の
均一性に欠けやすくなる。
弱まり、強度が下がる。また、Si粉末の含有量が35
重量%よりも多いと、Siの含浸が困難となり、材質の
均一性に欠けやすくなる。
C粉末とSi粉末の全体量が多すぎると、焼成時に体積
の減少が生じ変形の問題が起る。
の減少が生じ変形の問題が起る。
前述のようなSiC粉末、C粉末およびS1粉末に有機
バインダーを加えて混練造粒し、ラバープレスにより成
型してから焼成し、Siを含浸してケイ化するのが一般
的な製造方法である。また、HCQによりパージをして
純化を行なうと、より高品質のものがえられる。
バインダーを加えて混練造粒し、ラバープレスにより成
型してから焼成し、Siを含浸してケイ化するのが一般
的な製造方法である。また、HCQによりパージをして
純化を行なうと、より高品質のものがえられる。
ズ」11
30〜170μの平均粒径を有するSiC粉末70!最
部と、0.1〜8μの平均粒径を右するC粉末9重量部
と、0.1〜8μの平均粒径を有するSii末21重量
部と、有機バインダーとしてアルコール10型fi部を
配合゛混線し、周知のやり方で造粒する。このような造
粒物を乾燥させてからラバープレスにより半導体炉芯管
の形状に成型する。しかるのち1200℃の温度で焼成
し、塩酸ガスと少量の水蒸気とにより1000℃の温度
でパージを行なって純化させてからSiを1700℃の
温度で含浸してケイ化させる。最後に必要に応じて研磨
等の最終仕上げを行なう。
部と、0.1〜8μの平均粒径を右するC粉末9重量部
と、0.1〜8μの平均粒径を有するSii末21重量
部と、有機バインダーとしてアルコール10型fi部を
配合゛混線し、周知のやり方で造粒する。このような造
粒物を乾燥させてからラバープレスにより半導体炉芯管
の形状に成型する。しかるのち1200℃の温度で焼成
し、塩酸ガスと少量の水蒸気とにより1000℃の温度
でパージを行なって純化させてからSiを1700℃の
温度で含浸してケイ化させる。最後に必要に応じて研磨
等の最終仕上げを行なう。
以上の方法で製造された半導体拡散炉の構成部材の物理
特性を測定したところ、嵩密度が3.08で、強度が2
50MPaであった。
特性を測定したところ、嵩密度が3.08で、強度が2
50MPaであった。
立」LΔ力」L
SiC粉末は粗粒のみを使用し、従来のように微粒のも
のを使用しなC・)ので、処理操作が極めて容易になる
ばかりでなく、不純物の混入を防ぎやすくなる。C粉末
とSi粉末は微粒のものを使用するが、このようなC粉
末やSi粉末は、SiC粉末に比較して粉砕が容易であ
り、製造コストの低減をはかれるばかりでなく、不純物
の混入を効果的に防止できるのである。
のを使用しなC・)ので、処理操作が極めて容易になる
ばかりでなく、不純物の混入を防ぎやすくなる。C粉末
とSi粉末は微粒のものを使用するが、このようなC粉
末やSi粉末は、SiC粉末に比較して粉砕が容易であ
り、製造コストの低減をはかれるばかりでなく、不純物
の混入を効果的に防止できるのである。
Claims (1)
- 30〜170μの平均粒径を有するSiC粉末50〜9
0重量部と、0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3
〜15重量部と、0.1〜8μの平均粒径を有するSi
粉末7〜35重量部とを混合焼成してなる半導体拡散炉
の構成部材。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60142498A JPS627670A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | 半導体拡散炉の構成部材の製造方法 |
| US06/877,918 US4771021A (en) | 1985-07-01 | 1986-06-24 | Semi-conductor diffusion furnace components |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60142498A JPS627670A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | 半導体拡散炉の構成部材の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS627670A true JPS627670A (ja) | 1987-01-14 |
| JPH0248511B2 JPH0248511B2 (ja) | 1990-10-25 |
Family
ID=15316730
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60142498A Granted JPS627670A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | 半導体拡散炉の構成部材の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS627670A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017217378A1 (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | 帝人株式会社 | 炭化ケイ素の製造方法及び炭化ケイ素複合材料 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0421415U (ja) * | 1990-06-12 | 1992-02-24 |
-
1985
- 1985-07-01 JP JP60142498A patent/JPS627670A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017217378A1 (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | 帝人株式会社 | 炭化ケイ素の製造方法及び炭化ケイ素複合材料 |
| JPWO2017217378A1 (ja) * | 2016-06-13 | 2019-01-17 | 帝人株式会社 | 炭化ケイ素の製造方法及び炭化ケイ素複合材料 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0248511B2 (ja) | 1990-10-25 |
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