JPS6280918A - 透明導電膜の製造方法 - Google Patents
透明導電膜の製造方法Info
- Publication number
- JPS6280918A JPS6280918A JP22073185A JP22073185A JPS6280918A JP S6280918 A JPS6280918 A JP S6280918A JP 22073185 A JP22073185 A JP 22073185A JP 22073185 A JP22073185 A JP 22073185A JP S6280918 A JPS6280918 A JP S6280918A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transparent conductive
- film
- conductive film
- zinc oxide
- sheet resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 15
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 46
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 23
- IRPGOXJVTQTAAN-UHFFFAOYSA-N 2,2,3,3,3-pentafluoropropanal Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C=O IRPGOXJVTQTAAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- KLZUFWVZNOTSEM-UHFFFAOYSA-K Aluminum fluoride Inorganic materials F[Al](F)F KLZUFWVZNOTSEM-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- 239000010408 film Substances 0.000 description 50
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 19
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 16
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 229910007541 Zn O Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 4
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 4
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 description 3
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 2
- TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N tetrafluoromethane Chemical compound FC(F)(F)F TXEYQDLBPFQVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFOVUYSDANUWSH-UHFFFAOYSA-J [Sn](Cl)(Cl)(Cl)Cl.[Cd] Chemical compound [Sn](Cl)(Cl)(Cl)Cl.[Cd] UFOVUYSDANUWSH-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N cadmium oxide Inorganic materials [Cd]=O CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Cd+2] CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、透明導電膜の製造方法に関する。
ざらに詳細には、ガラス、高分子材料等で形成された光
透過性基板上に、透明導電膜を形成する方法に関する。
透過性基板上に、透明導電膜を形成する方法に関する。
〈従来の技術および発明が解決しようとする問題点〉
従来、液晶ディスプレイ、エレクトロルミネッセンスデ
ィスプレイ、エレクトロクロミックディスプレイ等の表
示素子、或いは太陽電池等の光電変換素子の窓電極材料
として、透明導電膜が利用されている。
ィスプレイ、エレクトロクロミックディスプレイ等の表
示素子、或いは太陽電池等の光電変換素子の窓電極材料
として、透明導電膜が利用されている。
この透明導電膜としては、光透過性基板上に、金、銀、
白金、パラジウム等の貴金属isを形成したものと、酸
化インジウム、酸化第二スズ、酸化インジウム・スズ(
ITO)、l化カドミウム・スズ(CTO)等の酸化物
半導体1膜を形成したものが挙げられる。
白金、パラジウム等の貴金属isを形成したものと、酸
化インジウム、酸化第二スズ、酸化インジウム・スズ(
ITO)、l化カドミウム・スズ(CTO)等の酸化物
半導体1膜を形成したものが挙げられる。
このうち、貴金属薄膜による透明導電膜は、光透過性が
やや劣るものの、面抵抗が100Ω/口(Ω/口は単位
平方センチメートル当たりの面抵抗を意味する)以下の
ものが容易に得られ、また電磁シールド効果も有する等
の優れた特性を有する。これに対し゛て、酸化物半導体
薄膜による透明導電膜は、貴金属薄膜より面抵抗は劣る
が(通常100Ω/口以上)、光透過性は85〜90%
と優れた特性を有する。一般的には、要求特性に応じて
適宜材料が選定されており、現在量も広(利用されてい
るのは、後者の酸化物半導体薄膜によるものである。
やや劣るものの、面抵抗が100Ω/口(Ω/口は単位
平方センチメートル当たりの面抵抗を意味する)以下の
ものが容易に得られ、また電磁シールド効果も有する等
の優れた特性を有する。これに対し゛て、酸化物半導体
薄膜による透明導電膜は、貴金属薄膜より面抵抗は劣る
が(通常100Ω/口以上)、光透過性は85〜90%
と優れた特性を有する。一般的には、要求特性に応じて
適宜材料が選定されており、現在量も広(利用されてい
るのは、後者の酸化物半導体薄膜によるものである。
これらの酸化物半導体簿膜を導′fR層としたちのは、
前述のように面抵抗がやや高いので、面抵抗を下げる目
的で、例えば、酸化インジウムには酸化第二スズを、酸
化第二スズには酸化カドミウムをそれぞれドーピングす
る方法が行なわれている。
前述のように面抵抗がやや高いので、面抵抗を下げる目
的で、例えば、酸化インジウムには酸化第二スズを、酸
化第二スズには酸化カドミウムをそれぞれドーピングす
る方法が行なわれている。
また、これら異種酸化物半導体をドーピングする方法以
外に、酸化インジウム、酸化第二スズ等の酸化物半導体
膜中にフッ素をドーピングする方法も行なわれている。
外に、酸化インジウム、酸化第二スズ等の酸化物半導体
膜中にフッ素をドーピングする方法も行なわれている。
このうち、低面抵抗の膜が比較的容易に得られるという
理由から、酸化インジウム系の材料が一般的に用いられ
るが、酸化イン°ジウムは、他の透明導電膜材料と比較
して材料コスト(ケミカルコスト)がかなり轟くつくと
いう問題がある。
理由から、酸化インジウム系の材料が一般的に用いられ
るが、酸化イン°ジウムは、他の透明導電膜材料と比較
して材料コスト(ケミカルコスト)がかなり轟くつくと
いう問題がある。
そこで、最近では、安価な酸化亜鉛を用いて物理気相蒸
着法或いは化学気相蒸着法により膜形成する方法も検討
されている。しかしながら、この方法によれば、酸化イ
ンジウム系の材料を用いた場合よりも光透過性がやや劣
るとともに、面抵抗も高(、液晶表示素子の電極や、太
陽電池等の光電変換素子の窓電極のように、特に低面抵
抗が要求される用途には使用し難いという問題がある。
着法或いは化学気相蒸着法により膜形成する方法も検討
されている。しかしながら、この方法によれば、酸化イ
ンジウム系の材料を用いた場合よりも光透過性がやや劣
るとともに、面抵抗も高(、液晶表示素子の電極や、太
陽電池等の光電変換素子の窓電極のように、特に低面抵
抗が要求される用途には使用し難いという問題がある。
一方、酸化第二スズ等の酸化物半導体膜にフッ素をドー
ピングする方法については、物理気相蒸着法または化学
気相蒸着法J用いられ、例えば、物理気相蒸着法である
イオンブレーティング法で行なう場合、四フフ化炭素(
CF4)等の含フツ素系炭化水素ガスを含有する混合ガ
ス雰囲気下にプラズマを発生させて蒸着を行うのが一般
的であるが、ドーパントであるフッ素の膜内濃度および
分布を制御する必要性から、混合ガス中の含フツ素系炭
化水素ガスの混合比および分圧を逐次制御しながら膜形
成を行なう必要があり、工業的に実施する際の問題点と
なっている。また、含フツ素系炭化水素ガスは、コスト
的にやや高価である点も問題とされている。
ピングする方法については、物理気相蒸着法または化学
気相蒸着法J用いられ、例えば、物理気相蒸着法である
イオンブレーティング法で行なう場合、四フフ化炭素(
CF4)等の含フツ素系炭化水素ガスを含有する混合ガ
ス雰囲気下にプラズマを発生させて蒸着を行うのが一般
的であるが、ドーパントであるフッ素の膜内濃度および
分布を制御する必要性から、混合ガス中の含フツ素系炭
化水素ガスの混合比および分圧を逐次制御しながら膜形
成を行なう必要があり、工業的に実施する際の問題点と
なっている。また、含フツ素系炭化水素ガスは、コスト
的にやや高価である点も問題とされている。
く目的〉
この発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、低
面抵抗の透明導電膜を容易かつコスト安価に製造できる
方法を提供することを目的とする。
面抵抗の透明導電膜を容易かつコスト安価に製造できる
方法を提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段および作用〉上記目的を
達成するためのこの発明の透明導電膜の製造方法として
は、光透過性基板上に、フッ化アルミニウムがドーピン
グされた酸化亜鉛膜を形成することを特徴としている。
達成するためのこの発明の透明導電膜の製造方法として
は、光透過性基板上に、フッ化アルミニウムがドーピン
グされた酸化亜鉛膜を形成することを特徴としている。
即ち、この発明は、物理気相蒸着法等の薄膜形成法によ
り、フッ化アルミニウムがドーピングされた酸化亜鉛膜
を形成した場合、酸化亜鉛単独の膜では達成できなかっ
た光透過性と面抵抗の両面において優れた特性を発揮す
る透明導電膜を得ることができることを見い出し、かが
る知見に基いてなされたものである。
り、フッ化アルミニウムがドーピングされた酸化亜鉛膜
を形成した場合、酸化亜鉛単独の膜では達成できなかっ
た光透過性と面抵抗の両面において優れた特性を発揮す
る透明導電膜を得ることができることを見い出し、かが
る知見に基いてなされたものである。
具体的には、ガラスまたはプラスチックフィルム等の高
分子材料による成形体上に、物理気相蒸着法等のsi形
成法により、フッ化アルミニウムがドーピングされた酸
化亜鉛のFIJIgIを形成するものであり、上記薄膜
形成法としては、スパッタリング法、イオンブレーティ
ング法、真空蒸着法等も採用することができる。
分子材料による成形体上に、物理気相蒸着法等のsi形
成法により、フッ化アルミニウムがドーピングされた酸
化亜鉛のFIJIgIを形成するものであり、上記薄膜
形成法としては、スパッタリング法、イオンブレーティ
ング法、真空蒸着法等も採用することができる。
上記の製造方法において、酸化亜鉛膜内のフッ化アルミ
ニウムのドーピング量としては、特に限定を要しないが
、酸化亜鉛に対して、1〜20重量%の範囲が特に望ま
しい。
ニウムのドーピング量としては、特に限定を要しないが
、酸化亜鉛に対して、1〜20重量%の範囲が特に望ま
しい。
また、フッ化アルミニウムをドーピングした酸化亜鉛膜
の膜厚は、用途に応じて適宜選択すればよく、例えば、
RFスパッタリング法を用いて、5ffffj%のフッ
化アルミニウムをドーピングした膜厚200OAの酸化
亜鉛膜を、形成すると、その面抵抗は210Ω/口のも
のが得られる。なお、フッ化アルミニウムをドーピング
しない酸化亜鉛膜単独の場合の面抵抗は1o5Ω/口で
あり、フッ化アルミニウムをドーピングすることにより
、導電性を大幅に低減させることができる。
の膜厚は、用途に応じて適宜選択すればよく、例えば、
RFスパッタリング法を用いて、5ffffj%のフッ
化アルミニウムをドーピングした膜厚200OAの酸化
亜鉛膜を、形成すると、その面抵抗は210Ω/口のも
のが得られる。なお、フッ化アルミニウムをドーピング
しない酸化亜鉛膜単独の場合の面抵抗は1o5Ω/口で
あり、フッ化アルミニウムをドーピングすることにより
、導電性を大幅に低減させることができる。
このように、フッ化アルミニウムをドーピングした酸化
亜鉛膜により透明導電膜を形成する場合には、酸化イン
ジウム等のコストの高い材料を用いる必要がないととも
に、フッ素源としてコストの高い含フツ素系炭化水素を
用いる必要もないので、コスト的に有利となる。しがも
、雰囲気ガスの微妙なコントロールを要することなく容
易に透明導電膜を形成することができる。
亜鉛膜により透明導電膜を形成する場合には、酸化イン
ジウム等のコストの高い材料を用いる必要がないととも
に、フッ素源としてコストの高い含フツ素系炭化水素を
用いる必要もないので、コスト的に有利となる。しがも
、雰囲気ガスの微妙なコントロールを要することなく容
易に透明導電膜を形成することができる。
〈実施例1〉
ガラス基板上に以下の条件でフッ化アルミニウムをドー
ピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜を形成した。
ピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜を形成した。
■基板 厚み0.5M
可視光透過度92%
■使用装置 RFスパッタリング装装置ツタ−ゲ
ット Zn O/A I F3−97/3(重層比)
ホットプレス後 焼結 ■RF投入電力 200W ■使用ガス Arガス ガス圧6. OX 10’Torr ■膜厚 250OA (多重反射形干浮顕微鏡で測定) この結果、400〜800nmの波長の可視光に対して
(以下同様)光透過度が82%以上、面抵抗が482Ω
/口の透明導電膜が得られた。
ット Zn O/A I F3−97/3(重層比)
ホットプレス後 焼結 ■RF投入電力 200W ■使用ガス Arガス ガス圧6. OX 10’Torr ■膜厚 250OA (多重反射形干浮顕微鏡で測定) この結果、400〜800nmの波長の可視光に対して
(以下同様)光透過度が82%以上、面抵抗が482Ω
/口の透明導電膜が得られた。
〈実施例2〉
ガラス基板上に以下の条件でフッ化アルミニウムをドー
ピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜を形成した。
ピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜を形成した。
■基板 厚み0.5mm
可視光透過度92%
■使用装置 RFマグネトロンスパッタリング装
置 ■ターゲット Zn O/A I F3−951
5(重量比)ホットプレス後 焼結 ■RF投入電力 150W ■使用ガス Arガス ガス圧1 、 OX 10’Torr ■膜厚 200OA この結果、光透過度が80%以上、面抵抗が180Ω/
口の透明導電膜が得られた。
置 ■ターゲット Zn O/A I F3−951
5(重量比)ホットプレス後 焼結 ■RF投入電力 150W ■使用ガス Arガス ガス圧1 、 OX 10’Torr ■膜厚 200OA この結果、光透過度が80%以上、面抵抗が180Ω/
口の透明導電膜が得られた。
〈実施例3〉
ガラス基板上に以下の条件でフッ化アルミニウムをドー
ピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜を形成した。
ピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜を形成した。
■基板 厚み0.5mm
可視光透過度92%
■使用袋fa RFイオンブレーティング装置
■ターゲット Zn O/A I F3=90/1
0(重量比)粉末を混合後ペ レット状に成形し焼結 ■RF投入電力 200W ■使用ガス Arと02の混合ガス(A r10
2=80/2G ) ガス圧5. OX 10’Torr ■膜厚 1500A この結果、光透過度が75〜80%、面抵抗が1300
Ω/口の透明導電膜が得られた。
0(重量比)粉末を混合後ペ レット状に成形し焼結 ■RF投入電力 200W ■使用ガス Arと02の混合ガス(A r10
2=80/2G ) ガス圧5. OX 10’Torr ■膜厚 1500A この結果、光透過度が75〜80%、面抵抗が1300
Ω/口の透明導電膜が得られた。
〈実施例4〉
ポリエステルフィルム基板上に以下の条件でフッ化アル
ミニウムをドーピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜
を形成した。
ミニウムをドーピングした酸化亜鉛膜による透明導電膜
を形成した。
■基板 厚み10(1m
可視光透過度90%
■使用装置 RFマグネトロンスパッタリング
装置 ■ターゲット Zn O/A I F3=951
5(重量比)ホットプレス後 焼結 ■RF投入電力 100W ■使用ガス Arガス ガス圧8. Qx 10’Torr ■膜厚 1000A この結果、光透過度が83%以上、面抵抗が6700/
口の透明導電膜が得られた。
装置 ■ターゲット Zn O/A I F3=951
5(重量比)ホットプレス後 焼結 ■RF投入電力 100W ■使用ガス Arガス ガス圧8. Qx 10’Torr ■膜厚 1000A この結果、光透過度が83%以上、面抵抗が6700/
口の透明導電膜が得られた。
く比較例1〉
ターゲットとして酸化亜鉛焼結体を使用し、他の条件と
して実施例1と同一の条件で酸化亜鉛膜を形成したとこ
ろ、光透過度が70〜75%、面抵抗が8X10’Ω/
口であった。
して実施例1と同一の条件で酸化亜鉛膜を形成したとこ
ろ、光透過度が70〜75%、面抵抗が8X10’Ω/
口であった。
く比較例2〉
ターゲットとして酸化亜鉛焼結体を使用し、他の条件と
して実施例2と同一の条件で酸化亜鉛膜を形成したとこ
ろ、光透過度が70〜80%、面抵抗が1.0X104
Ω/口であった。
して実施例2と同一の条件で酸化亜鉛膜を形成したとこ
ろ、光透過度が70〜80%、面抵抗が1.0X104
Ω/口であった。
く比較例3〉
ターゲットとして酸化亜鉛焼結体を使用し、他の条件と
して実施例3と同一の条件で酸化亜鉛膜を形成したとこ
ろ、光透過度が80%以上、面抵抗が1.0X101Ω
/口であった。
して実施例3と同一の条件で酸化亜鉛膜を形成したとこ
ろ、光透過度が80%以上、面抵抗が1.0X101Ω
/口であった。
以上により、フッ化アルミニウムをドーピングした酸化
亜鉛膜による透明導T@膜は、良好な光透過性を発揮す
るとともに、面抵抗の低減化を達成できることが明白で
ある。
亜鉛膜による透明導T@膜は、良好な光透過性を発揮す
るとともに、面抵抗の低減化を達成できることが明白で
ある。
〈発明の効果〉
以上のように、この発明の透明導電膜の製造方法によれ
ば、コストの高い酸化インジウムや含フツ素系炭化水素
等を使用することなく低面抵抗の透明導電膜を製造でき
るとともに、雰囲気ガスの微妙なコント0−ルが不要で
、製造の容易化も図れるという特有の効果を奏する。
ば、コストの高い酸化インジウムや含フツ素系炭化水素
等を使用することなく低面抵抗の透明導電膜を製造でき
るとともに、雰囲気ガスの微妙なコント0−ルが不要で
、製造の容易化も図れるという特有の効果を奏する。
Claims (1)
- 1、光透過性基板上にフッ化アルミニウムがドーピング
された酸化亜鉛膜を形成することを特徴とする透明導電
膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22073185A JPS6280918A (ja) | 1985-10-03 | 1985-10-03 | 透明導電膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22073185A JPS6280918A (ja) | 1985-10-03 | 1985-10-03 | 透明導電膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6280918A true JPS6280918A (ja) | 1987-04-14 |
Family
ID=16755642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22073185A Pending JPS6280918A (ja) | 1985-10-03 | 1985-10-03 | 透明導電膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6280918A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63241805A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-07 | 株式会社ブリヂストン | 透明導電性膜の製造方法 |
| JPH01194208A (ja) * | 1988-01-28 | 1989-08-04 | Asahi Glass Co Ltd | 透明導電膜 |
| JP2010502541A (ja) * | 2006-08-29 | 2010-01-28 | ピルキングトン・グループ・リミテッド | 低い抵抗率のドープ酸化亜鉛でコーティングされたガラス物品の製造方法及びその製造方法により製造されるコーティングされたガラス物品 |
| US8859104B2 (en) | 2008-02-28 | 2014-10-14 | Isis Innovation Limited | Transparent conducting oxides |
| US9236157B2 (en) | 2009-09-03 | 2016-01-12 | Isis Innovation Limited | Transparent electrically conducting oxides |
-
1985
- 1985-10-03 JP JP22073185A patent/JPS6280918A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63241805A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-07 | 株式会社ブリヂストン | 透明導電性膜の製造方法 |
| JPH01194208A (ja) * | 1988-01-28 | 1989-08-04 | Asahi Glass Co Ltd | 透明導電膜 |
| JP2010502541A (ja) * | 2006-08-29 | 2010-01-28 | ピルキングトン・グループ・リミテッド | 低い抵抗率のドープ酸化亜鉛でコーティングされたガラス物品の製造方法及びその製造方法により製造されるコーティングされたガラス物品 |
| US8859104B2 (en) | 2008-02-28 | 2014-10-14 | Isis Innovation Limited | Transparent conducting oxides |
| US9552902B2 (en) | 2008-02-28 | 2017-01-24 | Oxford University Innovation Limited | Transparent conducting oxides |
| US9236157B2 (en) | 2009-09-03 | 2016-01-12 | Isis Innovation Limited | Transparent electrically conducting oxides |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3358893B2 (ja) | ガリウム−インジウム酸化物を含む透明導電体 | |
| US4623601A (en) | Photoconductive device containing zinc oxide transparent conductive layer | |
| US7285342B2 (en) | Indium-tin oxide (ITO) film and process for its production | |
| JP2000044236A (ja) | 透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法 | |
| Farahamndjou | The study of electro-optical properties of nanocomposite ITO thin films prepared by e-beam evaporation | |
| JPH0372011B2 (ja) | ||
| JP3163015B2 (ja) | 透明導電膜 | |
| JPH07105166B2 (ja) | フッ素ドープ酸化錫膜及びその低抵抗化方法 | |
| JPS6280918A (ja) | 透明導電膜の製造方法 | |
| US4728581A (en) | Electroluminescent device and a method of making same | |
| JPH0945140A (ja) | 酸化亜鉛系透明導電性膜 | |
| JPH06293956A (ja) | 酸化亜鉛系透明導電膜及びその作製法並びにそれに使用するスパッタリングターゲット | |
| JPH0784654B2 (ja) | Ito透明導電膜用スパッタリングターゲットの製造方法 | |
| JP2000108244A (ja) | 透明導電膜とその製造方法および透明導電膜付き基体 | |
| KR20150075173A (ko) | 투명 전도성 산화물과 은 나노 와이어를 포함하는 투명 전극 및 그 제조방법 | |
| JP3780100B2 (ja) | 加工性に優れた透明導電膜 | |
| JPH0756131A (ja) | 透明導電膜の製造方法 | |
| JP3837903B2 (ja) | 透明導電膜とその製造方法 | |
| Poonthong et al. | Performance Analysis of Ti‐Doped In2O3 Thin Films Prepared by Various Doping Concentrations Using RF Magnetron Sputtering for Light‐Emitting Device | |
| JP2001015787A (ja) | 透明導電膜付き基体、その製造方法および太陽電池 | |
| JPH01311511A (ja) | 積層導電膜 | |
| JPS61294703A (ja) | 光透過性導電膜およびその製造方法 | |
| Nakazawa et al. | Transparent and conductive cadmium-tin oxide films deposited by atom beam sputtering | |
| JPS6288216A (ja) | 透明導電膜の製造方法 | |
| JPS63252304A (ja) | 透明導電性基板 |