JPS6281048A - 入力保護回路 - Google Patents
入力保護回路Info
- Publication number
- JPS6281048A JPS6281048A JP60221305A JP22130585A JPS6281048A JP S6281048 A JPS6281048 A JP S6281048A JP 60221305 A JP60221305 A JP 60221305A JP 22130585 A JP22130585 A JP 22130585A JP S6281048 A JPS6281048 A JP S6281048A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- zener diode
- ambient temperature
- input
- input terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/60—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
- H10D89/601—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は入力保護回路に関するもので、特にMOS型集
積回路の入力保護に使用されるものである。
積回路の入力保護に使用されるものである。
この種の入力保護回路の従来例を第3図、第4図に示す
。図中1は入力端子、2はツェナダイオード、3は入力
保護抵抗、4はPチャネルトランジスタ5、Nチャネル
トランジスタ6よシなる0M08回路(インバータ)、
11.12はダイオードである。
。図中1は入力端子、2はツェナダイオード、3は入力
保護抵抗、4はPチャネルトランジスタ5、Nチャネル
トランジスタ6よシなる0M08回路(インバータ)、
11.12はダイオードである。
第3図のものは、入力端子1と接地間にツェナダイオー
ド2を挿入することによシ、正のサージに対しては、ツ
ェナダイオード2の降伏電圧以上のサージ電圧よシ保護
する。また負のサージに対しては、順方向電圧以上の電
圧よシ保護する。
ド2を挿入することによシ、正のサージに対しては、ツ
ェナダイオード2の降伏電圧以上のサージ電圧よシ保護
する。また負のサージに対しては、順方向電圧以上の電
圧よシ保護する。
第4図のものは、入力端子1と電源VDD間、入力端子
1と接地間にそれぞれダイオードを挿入し、正のサージ
に対しては「電源電圧+ダイオードの順方向電圧」以上
で、また負のサージに対しては「接地電位−ダイオード
の順方向電圧」以下の電圧に対して保護する。
1と接地間にそれぞれダイオードを挿入し、正のサージ
に対しては「電源電圧+ダイオードの順方向電圧」以上
で、また負のサージに対しては「接地電位−ダイオード
の順方向電圧」以下の電圧に対して保護する。
しかし従来のものにあっては、周囲温度が変化するとブ
レークダウン電圧が変化し保護可能電圧が変化するもの
でありた。
レークダウン電圧が変化し保護可能電圧が変化するもの
でありた。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、周囲温度の
変化による保護可能電圧を一定化することを目的とする
。
変化による保護可能電圧を一定化することを目的とする
。
本発明は、MOS型集積回路の入力保護可能電圧を、周
囲温度が変化しても、ツェナ電圧(逆方向電圧)と順方
向電圧の温度特性を利用してキャンセルさせ、一定化さ
せるものである。
囲温度が変化しても、ツェナ電圧(逆方向電圧)と順方
向電圧の温度特性を利用してキャンセルさせ、一定化さ
せるものである。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第1
図は同実施例の回路図であるが、これは前記従来例のも
のと対応させた場合の例であるから、対応個所には同一
符号を付して説明を省略し、特徴とする個所の説明を行
なう。即ち入力端子1を、ツェナダイオードDI、D2
゜抵抗R1を介して接地する。トランジスタTriのベ
ースを、ツェナダイオードD2、抵抗R1間に接続し、
トランジスタTr 1のエミッタを接地し、トランジス
タTr 1のコレクタを入力端子1に接続する。
図は同実施例の回路図であるが、これは前記従来例のも
のと対応させた場合の例であるから、対応個所には同一
符号を付して説明を省略し、特徴とする個所の説明を行
なう。即ち入力端子1を、ツェナダイオードDI、D2
゜抵抗R1を介して接地する。トランジスタTriのベ
ースを、ツェナダイオードD2、抵抗R1間に接続し、
トランジスタTr 1のエミッタを接地し、トランジス
タTr 1のコレクタを入力端子1に接続する。
第2図は第1図の集積回路断面図で、21はN型基板、
22〜25はP層、26〜30はN層、31は絶縁膜、
32は導体層である。
22〜25はP層、26〜30はN層、31は絶縁膜、
32は導体層である。
第1図のものにあっては、入力端子1に正のサージが印
加されると、まずツェナダイオードD1がブレークダウ
ンしくD2は順方向)抵抗R1に電流が流れる。抵抗R
1の両端に電位差が生じ、トランジスタTr 1のベー
スに電流が流れ、トランジスタTr 1がオン状態とな
シ、入力を保護する。一方、入力端子1に負のサージが
印加されると、抵抗R1、ツェナダイオードD2 、D
I、入力端子1へと電流が流れ、入力を保護するもので
ある。
加されると、まずツェナダイオードD1がブレークダウ
ンしくD2は順方向)抵抗R1に電流が流れる。抵抗R
1の両端に電位差が生じ、トランジスタTr 1のベー
スに電流が流れ、トランジスタTr 1がオン状態とな
シ、入力を保護する。一方、入力端子1に負のサージが
印加されると、抵抗R1、ツェナダイオードD2 、D
I、入力端子1へと電流が流れ、入力を保護するもので
ある。
第1図のものにあっては、周囲温度が高くなると、ツェ
ナダイオードD1の電圧が高くなシ、ツェナダイオード
D2の電圧が低くなる。また周囲温度が低くなると、ツ
ェナダイオードDIの電圧が低くなシ、ツェナダイオー
ドD2の電圧が高くなる。従って周囲温度の変化による
保護可能電圧が一定化されるものである。
ナダイオードD1の電圧が高くなシ、ツェナダイオード
D2の電圧が低くなる。また周囲温度が低くなると、ツ
ェナダイオードDIの電圧が低くなシ、ツェナダイオー
ドD2の電圧が高くなる。従って周囲温度の変化による
保護可能電圧が一定化されるものである。
以上説明した如く本発明によれば、周囲温度変化による
保護電圧の安定化が可能となる入力保護回路が提供でき
るものである。
保護電圧の安定化が可能となる入力保護回路が提供でき
るものである。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は同回
路の集積回路断面図、第3図、第4図は従来の入力保護
回路図である。 1・・・入力端子、4・・・CMOSインバータ、DI
。 D2・・・ツェナダイオード、R1・・・抵抗、 Tr
l・・・トランジスタ。
路の集積回路断面図、第3図、第4図は従来の入力保護
回路図である。 1・・・入力端子、4・・・CMOSインバータ、DI
。 D2・・・ツェナダイオード、R1・・・抵抗、 Tr
l・・・トランジスタ。
Claims (1)
- 入力端子とMOS回路のゲート入力との間のラインと接
地との間を、逆方向ツェナダイオード、順方向ツェナダ
イオードの直列回路、バイアス手段を介して接地し、前
記各ツェナダイオードの直列回路の両端をトランジスタ
のコレクタ、ベース間に接続し、前記バイアス手段の両
端を前記トランジスタのエミッタ、ベース間に接続した
ことを特徴とする入力保護回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60221305A JPS6281048A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 入力保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60221305A JPS6281048A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 入力保護回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6281048A true JPS6281048A (ja) | 1987-04-14 |
Family
ID=16764710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60221305A Pending JPS6281048A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 入力保護回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6281048A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0492032A1 (en) * | 1990-12-21 | 1992-07-01 | STMicroelectronics S.r.l. | Electrostatic discharge protection device for an integrated circuit pad and related integrated structure |
| US5483093A (en) * | 1991-07-11 | 1996-01-09 | Nissan Motor Co., Ltd. | Input protection device for electronic device |
| US5672895A (en) * | 1993-02-12 | 1997-09-30 | Fujitsu, Ltd. | Semiconductor integrated circuit with protection circuit against electrostatic breakdown and layout design method therefor |
-
1985
- 1985-10-04 JP JP60221305A patent/JPS6281048A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0492032A1 (en) * | 1990-12-21 | 1992-07-01 | STMicroelectronics S.r.l. | Electrostatic discharge protection device for an integrated circuit pad and related integrated structure |
| US5223737A (en) * | 1990-12-21 | 1993-06-29 | Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. | Electrostatic discharge protection device for an integrated circuit pad and related integrated structure |
| US5483093A (en) * | 1991-07-11 | 1996-01-09 | Nissan Motor Co., Ltd. | Input protection device for electronic device |
| US5668384A (en) * | 1991-07-11 | 1997-09-16 | Nissan Motor Co., Ltd. | Input protection device with Zener diodes for electronic device |
| US5672895A (en) * | 1993-02-12 | 1997-09-30 | Fujitsu, Ltd. | Semiconductor integrated circuit with protection circuit against electrostatic breakdown and layout design method therefor |
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