JPS6283609A - 軌跡アナライザ - Google Patents

軌跡アナライザ

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JPS6283609A
JPS6283609A JP22566385A JP22566385A JPS6283609A JP S6283609 A JPS6283609 A JP S6283609A JP 22566385 A JP22566385 A JP 22566385A JP 22566385 A JP22566385 A JP 22566385A JP S6283609 A JPS6283609 A JP S6283609A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling
trajectory
counter
cpu
accuracy
Prior art date
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Pending
Application number
JP22566385A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirobumi Hashimoto
博文 橋本
Mamoru Yamanaka
守 山中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Yaskawa Electric Manufacturing Co Ltd
Priority to JP22566385A priority Critical patent/JPS6283609A/ja
Publication of JPS6283609A publication Critical patent/JPS6283609A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Numerical Control (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、数値制御機械、ロボット、一般産業用位置決
め装置全般等の精度を測定するための軌跡アナライザに
関する。
〔従来の技術〕
数値制御工作機械の精度測定は、測定用加工物を測定用
プログラムで毎回切削し、その被加工物を検査機または
測定器にかけ結果を判断している。
この方法だと、必ず実切削という工程が必要であり、測
定結果が思わしくない場合に機械側の要因なのか電気側
の要因なのか判断がつきにくいという欠点を持っている
。
また、特開昭59−79110号公報に提案されている
ような、二次元センサを用いた方法では、システムが高
価になるという問題がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明は、数値制御機械および数値制御装置それ自体の
軌跡精度および挙動の測定を実切削や測定用センサを機
械に付加することなしに実施することのできる装置を提
供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、少なくとも1軸以上のフィードバックインタ
ーフェースとカウンタおよびCPU、メモリ、入力手段
2表示手段とから構成され、カウンタに蓄えられる位置
情報をCPUにより一定周!111毎にカウンタをサン
プリングし、これにより得られたデータをメモリに格納
し、メモリに格納されたデータを基に、CPUで軌跡精
度計算を行い、表示手段により計算結果を数値情報また
はグラフ情報として表示することを特徴とする軌跡アナ
ライザに係るものである。
〔実施例〕
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて具体的に説
明する。
第1図は本発明の構成を示すものであり、図中1は軌跡
アナライザ、2はX−Yブロック、3は数値制御装置、
4はX−Yテーブル、5はX軸モータ、6はY軸モータ
、7はX軸パルスジェネレータ、8はY軸パルスジェネ
レータ、9はX軸ボールネジ、10はY軸ボールネジで
ある。
数値制御装置3は説明を簡略化するため2軸制御とし、
モータの駆動線などは省略している。機械もX−Yテー
ブル4とし、パルスジェネレータ7.8はモータ直結の
セミクローズトループ方式であるが、リニアスケール、
レーザフィードバック、インダクトシン等を用いたフル
クローズトループ方式でも実現に何らの支障はない。
数値制御装置3が制御するX−Y軸のフィードバック信
号FBX、FBYをそのまま本発明の実施例である軌跡
アナライザ1に入力し、付属のキーボードとCRTを用
いて対話形式に設定した情報に基づき、軌跡精度の計算
を行い、結果をCRTまたはX−Yプロフタ2上に作図
するものである。
第2図は本発明装置のハードウェア構成の一例を示すブ
ロック図であり、11はCPU (マイクロプロセッサ
)、12X、12YはそれぞれX軸。
Ylthフィードバックインターフェース、13X。
13YはそれぞれX軸、Y軸カウンタである。
14はメモリであり、CPUIIの動作に必要なプログ
ラムメモリおよびサンプリングデータの格納用メモリも
含まれる。
また15はキーボード、16はキーボードインターフェ
ース、17はディスプレイインターフェース、18はC
RT、19はディスクコントローラ、20はフロッピィ
ディスクドライブ、21゜25はそれぞれR3−232
−C(シリアル・インターフェース)、22はプロッタ
、23はセントロニクスインターフェース、24はプリ
ンタである。
この装置において、電源が投入されるとCPU11の動
作が開始し、ディスプレイインターフェース17により
駆動されるCRT18上に、次に動作すべき処理内容が
メニュ一方式で表示される。
オペレータがキーボード15の必要なキーを押すと、キ
ーボードインターフェース16を通してCFullへ入
力され、指定された処理をCPU11が行う。
ここで本発明の主な2つの動作を説明する。
(1)サンプリングモード 数値制御装置の位置フィードバック用パルスジェネレー
タから出力される2相の信号(人相、B相)をフィード
バックインターフェース12X(X軸周)、12Y(Y
軸用)で方向判別後、UPまたはDOWNパルスとして
カウンタ13X。
13Yに各々入力される。カウンタ13X、13YはC
PtJllからのT、サンプリング周期毎にメモリ14
へ位置データとして蓄えられる。
CPUIIのサンプリングはキーボード15からのマニ
ュアル操作またはカウンタ13X、13Yが特定の値、
つまり特定の位置に来たことによって自動的に開始され
、同様にサンプリングの停止もキーボード15からのマ
ニュアル操作またはカウンタ13X、13Yが特定の値
、つまり位置に来るのを待って自動的に終了する。また
、データ格納用メモリエリアがオーバーフローすると自
動的にサンプリングを停止する。
サンプリングデータには1番から順に追番が付けられて
おり、サンプリングデータの参照や軌跡精度計算時のデ
ータ指定が簡単に行えるようになっている。
(2)軌跡精度計算モード あらかじめメモリ14へ蓄えられたサンプリングデータ
に対して精度計算を行う場合、キーボード15から指令
形状、計算の開始点、データの数、等必要項目をメニュ
一方式で入力すると、CPU11は計算を開始し、結果
はCRT18やプリンタ23へ数値データとして表示ま
たはプリントすることができる。同様に、グラフ表示も
CRT■8やプロッタ22へ出力することができる。
第5図に直線の軌跡精度計算結果の出力例を、第6図に
真円の軌跡精度計算結果の出力例を示す。
第3図は直線の場合の軌跡精度計算用モデルであり、予
めサンプリングしたポイントの中からa−b2点で結ぶ
直線を理想的な直線として規定した場合、任意のサンプ
リングポイントCの誤差ε。
は(11式で求められる。
ε、=ΔX・Δy/−/ΔX +Δy Z 、−、、、
−・−・・(1)式0式% 第4図は円弧および真円の場合の軌跡精度計算モデルで
あり、始点a、終点すの円弧または始点a、終点aの真
円における任意のサンプリングポイントCの誤差ε、は
(2)式で求められる。
ε、= −J(xt −xo)” +(yt −yo)
” −R−(2)式この場合、中心座標(x6.yo)
および半径Rは数値制御装置へ指令するNCプログラム
の既知の値をキーボード15から入力する。別の方法と
して、サンプリングポイント数点の座標データから中心
座標(x6.yo)および半径Rを自動計算することも
できる。
〔発明の効果〕
上述したように本発明によ狛°:゛、数値側?]l 、
−、[−作機械に使用されている位置フィードバック信
号を本発明の実施例である測定装置に接続するという簡
単な作業と操作により、実切削やセンサを付加すること
なしに、軌跡精度の測定ができ、しかも機械側不具合と
数値制御部の不具合を判断でき、また数値制′4B装置
単体での測定を可能とすることができるという効果を奏
するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を示す説明図、第2図は本発明の
実施例である測定装置のハードウェア構成図、第3図は
直線の場合の軌跡精度計算モデル、第4図は円弧と真円
の場合の軌跡精度計算モデル、第5図は直線の場合の測
定結果のグラフ出力例、第6図は真円の場合の測定結果
のグラフ出力例を示すものである。 l:軌跡アナライザ 2 : X−Yプロッタ 3:数値制御装置 4:X−Yテーブル 5:X軸モータ 6:Y軸モータ 7:X軸パルスジェネレータ 8:Y軸パルスジェネレータ 9:x軸ポールネジ 10:Y軸ポールネジ 11:CPLl(マイクロプロセッサ)12X:X軸フ
ィードバンクインターフェース12Y:Y軸フィードバ
ックインターフェース13X:X軸カウンタ 13Y:Y軸カウンタ 14:メモリ 15:キーボード 16:キーボードインターフエース 17:ディスプレイインターフェース 18 : CRT 19:ディスクコントローラ 20:フロノピイディスクドライブ 21.25:R3−232−C(シリアル・インターフ
ェース) 22:プリンタ 23:セントロニクスインターフェース24:プリンタ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少なくとも1軸以上のフィードバックインターフェ
    ースとカウンタおよびCPU、メモリ、入力手段、表示
    手段とから構成され、カウンタに蓄えられる位置情報を
    CPUにより一定周期毎にカウンタをサンプリングし、
    これにより得られたデータをメモリに格納し、メモリに
    格納されたデータを基に、CPUで軌跡精度計算を行い
    、表示手段により計算結果を数値情報またはグラフ情報
    として表示することを特徴とする軌跡アナライザ。 2、入力手段より設定された位置情報とカウンタをサン
    プリングして得られる位置データを比較することにより
    、サンプリングデータの格納開始と停止を自動的に行わ
    せることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の軌跡
    アナライザ。 3、入力手段より設定された位置情報とカウンタをサン
    プリングして得られる位置データを比較することにより
    サンプリングデータの格納開始と停止を自動的に行わせ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の軌跡ア
    ナライザ。 4、入力手段から指定される精度計算の結果として、軌
    跡精度、速度、速度リップル、オーバーシュート/アン
    ダーシュート、応答時間を全ディジタル方式で検出及び
    表示することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    軌跡アナライザ。 5、カウンタをサンプリングする方法として、カウンタ
    の出力をCPUからの指令またはサンプリングクロック
    により全軸同時にレジスタへラッチした後にCPUに読
    み込ませることにより各軸のサンプリングタイミングを
    共通にしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の軌跡アナライザ。 6、サンプリング軸数を設定し、その中から任意の軸を
    選択して軌跡精度の計算を行うことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の軌跡アナライザ。 7、位置フィードバックの手段として、エンコーダ、磁
    気エンコーダ、リニアスケール、インダクトシン、レー
    ザフィードバック、レゾルバのいずれかを用いることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の軌跡アナライザ
    。
JP22566385A 1985-10-09 1985-10-09 軌跡アナライザ Pending JPS6283609A (ja)

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