JPS6289311A - 軟磁性薄膜 - Google Patents
軟磁性薄膜Info
- Publication number
- JPS6289311A JPS6289311A JP23046785A JP23046785A JPS6289311A JP S6289311 A JPS6289311 A JP S6289311A JP 23046785 A JP23046785 A JP 23046785A JP 23046785 A JP23046785 A JP 23046785A JP S6289311 A JPS6289311 A JP S6289311A
- Authority
- JP
- Japan
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- thin film
- magnetic
- magnetic thin
- nitrogen
- composition
- Prior art date
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- Granted
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- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば薄膜磁気ヘッドに用いて好適な軟磁性薄
膜に係わる。
膜に係わる。
本発明は、窒素含介のFe−An−Ge糸の軟磁性薄膜
であり、その組成の特定により保磁ノ月1Cが小さく透
磁率μが篩く特に耐蝕性及び硬度にすぐれた軟磁性薄膜
を得るものである。
であり、その組成の特定により保磁ノ月1Cが小さく透
磁率μが篩く特に耐蝕性及び硬度にすぐれた軟磁性薄膜
を得るものである。
各種磁気記録再生装置において、面密度記録化、高周波
数化の要求が高まり、これに対応して高い飽和磁化、高
い保磁力の磁気記録媒体が用いられる。この種の磁気記
録媒体としては、Fe、 Co、 Ni等の強磁性金属
の粉末を用いたいわゆるメタルテープや、強磁性金属材
料をベースフィルム上に被着して成るいわゆる蒸着テー
プなどが用いられるに至っている。
数化の要求が高まり、これに対応して高い飽和磁化、高
い保磁力の磁気記録媒体が用いられる。この種の磁気記
録媒体としては、Fe、 Co、 Ni等の強磁性金属
の粉末を用いたいわゆるメタルテープや、強磁性金属材
料をベースフィルム上に被着して成るいわゆる蒸着テー
プなどが用いられるに至っている。
これに伴い、この種の磁気記録媒体に対する磁気ヘット
としては、高い飽和磁束密度と高透磁率のヘッド材料に
よることが要求されると共に、磁気異方性が小さく磁歪
が零であり、また保磁力が小さく、更にヘッド材料とし
てできるだけ、耐摩耗性が高く、耐0!l:性にずくれ
ているなど、磁気特性はもとより、化学的に安定で機械
的特性に1ぐれζいることなどが要求される。
としては、高い飽和磁束密度と高透磁率のヘッド材料に
よることが要求されると共に、磁気異方性が小さく磁歪
が零であり、また保磁力が小さく、更にヘッド材料とし
てできるだけ、耐摩耗性が高く、耐0!l:性にずくれ
ているなど、磁気特性はもとより、化学的に安定で機械
的特性に1ぐれζいることなどが要求される。
一方、高密度記録化に伴っ”(記録トラック幅、したが
って磁気ヘッドにおける、作動磁気ギヤツブのトラック
幅の狭小化が要求され、この要求に対応し、しかも特に
多トラツク磁気ヘッドにおいて著しく量産性の向」二を
はかることができるものとして非磁性ないしは磁性基板
上に軟磁性薄膜による磁気へソドコアを被着形成する薄
膜技術を用いた薄膜磁気ヘッドの普及がめざましい。こ
の種の軟磁性薄膜としてばPe+ AN + Siを]
已成分とするセンダスト合金@膜が注目を望めている。
って磁気ヘッドにおける、作動磁気ギヤツブのトラック
幅の狭小化が要求され、この要求に対応し、しかも特に
多トラツク磁気ヘッドにおいて著しく量産性の向」二を
はかることができるものとして非磁性ないしは磁性基板
上に軟磁性薄膜による磁気へソドコアを被着形成する薄
膜技術を用いた薄膜磁気ヘッドの普及がめざましい。こ
の種の軟磁性薄膜としてばPe+ AN + Siを]
已成分とするセンダスト合金@膜が注目を望めている。
このセンダスト合金薄膜は、lIIい飽和磁束密度Bs
を有し、比較的高硬度を有するので、上述したメタルテ
ープ等のように1r(1い残留磁束密度を有する磁気記
録媒体に対しても適用すること力<nJ能である。
を有し、比較的高硬度を有するので、上述したメタルテ
ープ等のように1r(1い残留磁束密度を有する磁気記
録媒体に対しても適用すること力<nJ能である。
しかしながら、このセンダスト合金8欣は比較的高硬度
を有するものの例えばフェライト材等に比し耐摩耗性及
び耐蝕性に劣る。また、このセンダスト合金薄膜は比較
的比抵抗が低いためにこれを磁気ヘッドのコアとして使
用した場合には、いわゆる渦電流1)1による画周波領
域での透磁率の低下が問題となっており、同周波数領域
で充分な再生出力が得られないおそれがあるなどの問題
点がある。
を有するものの例えばフェライト材等に比し耐摩耗性及
び耐蝕性に劣る。また、このセンダスト合金薄膜は比較
的比抵抗が低いためにこれを磁気ヘッドのコアとして使
用した場合には、いわゆる渦電流1)1による画周波領
域での透磁率の低下が問題となっており、同周波数領域
で充分な再生出力が得られないおそれがあるなどの問題
点がある。
これに比し、センダスト合金薄映の代わりに面周波数領
域での透磁率の低トが少なく高い飽和磁束密度Bsをa
する非晶質(アモルファス)磁性合金材料を用いること
が考えられているが、この非晶質磁性合金材料は耐熱性
にケ廿点があり、長時間の加熱や熱ザイクルにより透磁
率が大きく劣化し部仕効率が悪くなる。特に結晶化の1
11能性が大きいので500℃以上の温度を長時間加え
ることはできないものであり、これがため、磁気ヘッド
の製造上程において例えばガラスNi1t着のように5
00℃以上の温度での処理を必要とする工程を採ること
は好ましくないなどの問題点がある。
域での透磁率の低トが少なく高い飽和磁束密度Bsをa
する非晶質(アモルファス)磁性合金材料を用いること
が考えられているが、この非晶質磁性合金材料は耐熱性
にケ廿点があり、長時間の加熱や熱ザイクルにより透磁
率が大きく劣化し部仕効率が悪くなる。特に結晶化の1
11能性が大きいので500℃以上の温度を長時間加え
ることはできないものであり、これがため、磁気ヘッド
の製造上程において例えばガラスNi1t着のように5
00℃以上の温度での処理を必要とする工程を採ること
は好ましくないなどの問題点がある。
このような状況から、さらに良好な軟磁気特性をボず軟
磁性材料の研究が進められ、例えば山本達治・十葉久喜
共杵、「日本金属7°会誌」第14巻13、第2号(1
950年)には、Fe、 Co、 Stを主成分とする
Fe−Co−Si系合金材料が良好な軟磁気特性を示す
ことが報告されている。
磁性材料の研究が進められ、例えば山本達治・十葉久喜
共杵、「日本金属7°会誌」第14巻13、第2号(1
950年)には、Fe、 Co、 Stを主成分とする
Fe−Co−Si系合金材料が良好な軟磁気特性を示す
ことが報告されている。
しかしながら、このFe−Co−Si系合金材は、極め
て脆弱で実用性に乏しく、そのまま磁気ヘットのコア材
料として用いることには問題がある。
て脆弱で実用性に乏しく、そのまま磁気ヘットのコア材
料として用いることには問題がある。
本発明は上述した諸問題の改善をはかり、磁気特性、す
なわち飽和磁束密度Bsが大、保磁ノ月1cが小、磁歪
λSが殆ど零、磁気異方性が小さく、しかも機械的特性
、すなわち、高い硬度を有し、耐摩耗性にすぐれ、更に
熱的に安定で耐熱性が商く、また化学安定性に、すなわ
ち耐蝕性にすぐれた軟磁性薄膜を提供するものである。
なわち飽和磁束密度Bsが大、保磁ノ月1cが小、磁歪
λSが殆ど零、磁気異方性が小さく、しかも機械的特性
、すなわち、高い硬度を有し、耐摩耗性にすぐれ、更に
熱的に安定で耐熱性が商く、また化学安定性に、すなわ
ち耐蝕性にすぐれた軟磁性薄膜を提供するものである。
本発明は、Fe、 Aj2 、 Geを主成分とする磁
性薄膜に窒素Nを添加することにより飽和磁束密度を低
−トすることなく上述した諸問題を改善することができ
ることを見出したごとに基づくものである。
性薄膜に窒素Nを添加することにより飽和磁束密度を低
−トすることなく上述した諸問題を改善することができ
ることを見出したごとに基づくものである。
オなわら、本発明ば、Pea AIbGec Nx
(但し、a、b、c及びXは、夫々の組成比を原子%と
し4表ず)なる組成式でボされ、各組成範囲が、55S
a S 84 1≦b<31 1≦C≦31 0.1≦x≦30 であり、且つ、a+ b+ C+x=tooとした組成
の軟磁性VIi−股とする。
(但し、a、b、c及びXは、夫々の組成比を原子%と
し4表ず)なる組成式でボされ、各組成範囲が、55S
a S 84 1≦b<31 1≦C≦31 0.1≦x≦30 であり、且つ、a+ b+ C+x=tooとした組成
の軟磁性VIi−股とする。
面、上述の組成においてAβの一部をGaで、Geの一
部をSiで置換できる。またFeの一部をCo或いはR
uの少くとも1種で15原子%以十をもって置換するこ
とができる。
部をSiで置換できる。またFeの一部をCo或いはR
uの少くとも1種で15原子%以十をもって置換するこ
とができる。
また、上述の組成を有する本発明による転磁性情1模の
膜厚としては、10Å以上1 van以十であることが
好ましく、さらに10Å以上100μm以トであること
がより好ましい。
膜厚としては、10Å以上1 van以十であることが
好ましく、さらに10Å以上100μm以トであること
がより好ましい。
本発明による軟磁性S股は、センダスト合金よりも飽和
磁束密度が向く、またNを含ませたことにより、Nを含
まないPe、−Aβ−Ge系合金に比しで、透磁率が」
二かり、比抵抗が1(tりなり、硬度、したがって耐摩
耗性の向上がはかられた。
磁束密度が向く、またNを含ませたことにより、Nを含
まないPe、−Aβ−Ge系合金に比しで、透磁率が」
二かり、比抵抗が1(tりなり、硬度、したがって耐摩
耗性の向上がはかられた。
本発明による軟磁性薄膜において、Fe、 Aj!及
びGeの各元素に関する組成比、ずなわちa、b及びC
の値に関しては、−1−記範囲外では、磁士が大きくな
るなど磁気特性の劣化を来し、Nの組成比すなわちXの
値に関しては、これが上記範囲外、つまり、Xが0.1
原子%未満では比抵抗及び硬度など、Nの添加による効
果の発現がみられず、Xが30原子%を超えると、かえ
って透磁率の低−1・を招来し、保磁)月10が向くな
るなどの不都合が生じる。
びGeの各元素に関する組成比、ずなわちa、b及びC
の値に関しては、−1−記範囲外では、磁士が大きくな
るなど磁気特性の劣化を来し、Nの組成比すなわちXの
値に関しては、これが上記範囲外、つまり、Xが0.1
原子%未満では比抵抗及び硬度など、Nの添加による効
果の発現がみられず、Xが30原子%を超えると、かえ
って透磁率の低−1・を招来し、保磁)月10が向くな
るなどの不都合が生じる。
また、」一連の組成においてlieの一部をGoで置換
するときは、更に飽和磁束密度Bsの向上と、耐蝕性の
向」二をはかることができ、l?eの一部をRuで置換
するときも、Ruが非磁性であるにも拘わらず軟磁気特
性を害わずに、またBsの低1・を殆ど招来せずに、よ
り耐蝕性、耐摩耗性の向上をはかることができた。
するときは、更に飽和磁束密度Bsの向上と、耐蝕性の
向」二をはかることができ、l?eの一部をRuで置換
するときも、Ruが非磁性であるにも拘わらず軟磁気特
性を害わずに、またBsの低1・を殆ど招来せずに、よ
り耐蝕性、耐摩耗性の向上をはかることができた。
し実施例]
本発明による軟磁性薄腺の製造方法とし′Cは、いわゆ
る気相薄膜生成技術に、Lることか好ましい。
る気相薄膜生成技術に、Lることか好ましい。
これは、例えば一般の熔解による方法では均一に多量の
窒素を導入することが難しいごとによる。
窒素を導入することが難しいごとによる。
ずl「わち、通電窒素は合金溶融中にスラグとして浮−
hL不純物として合金と分離されてしまうのである。
hL不純物として合金と分離されてしまうのである。
そごで、本発明による軟磁性薄膜は、蒸着法やイオンイ
ンプランテーション法等により作製するのが好ましいも
のである。蒸着の手法としては、例えばフラッシュ蒸着
、ガス中蒸着法、イオンブレーティング、スパッタリン
グ、クラスター・イオンビーム法等が挙げられ、また蒸
着とイオンイングランチージョンを同時に行ってもよい
。また、磁性薄膜に窒素Nを導入する方法としては、+
1.1 窒素ガスを含む雰囲気中で蒸着等を行い、こ
の窒素ガスの濃度によって冑られる磁性層)漠中の窒素
Nの金白−量を調節して導入する方法。
ンプランテーション法等により作製するのが好ましいも
のである。蒸着の手法としては、例えばフラッシュ蒸着
、ガス中蒸着法、イオンブレーティング、スパッタリン
グ、クラスター・イオンビーム法等が挙げられ、また蒸
着とイオンイングランチージョンを同時に行ってもよい
。また、磁性薄膜に窒素Nを導入する方法としては、+
1.1 窒素ガスを含む雰囲気中で蒸着等を行い、こ
の窒素ガスの濃度によって冑られる磁性層)漠中の窒素
Nの金白−量を調節して導入する方法。
(2)窒素Nと各成分のうちの少なくとも14Mの元素
との化合物と、残りの成分の合金とを蒸発源として使用
し、得られる磁性Wi膜すJに窒素Nを導入する方法、 等が挙げられる。さらに、磁性薄膜を構成するFe。
との化合物と、残りの成分の合金とを蒸発源として使用
し、得られる磁性Wi膜すJに窒素Nを導入する方法、 等が挙げられる。さらに、磁性薄膜を構成するFe。
IN!、Ge等の各成分ノし素の組成を調節する方法と
しては、 (II Fe+ i + Geや他の添加剤、置換金
属等を所定の割合となるように秤量し、これらをあらか
しめ例えばi口1周波溶解か等で溶解し゛ζ合合金イン
ゴット形成しておき、この合金インゴットを蒸発源とし
て使用する方法、 (2)各成分の単独元素の蒸発源を用慈し、これら蒸発
源の数で組成を制御する方法、 (3)各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら蒸発
源に加える出力(印加電圧)を制御して蒸発スピードを
コントロールし組成を制御する方法、 (4)合金を蒸発源として蒸着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
しては、 (II Fe+ i + Geや他の添加剤、置換金
属等を所定の割合となるように秤量し、これらをあらか
しめ例えばi口1周波溶解か等で溶解し゛ζ合合金イン
ゴット形成しておき、この合金インゴットを蒸発源とし
て使用する方法、 (2)各成分の単独元素の蒸発源を用慈し、これら蒸発
源の数で組成を制御する方法、 (3)各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら蒸発
源に加える出力(印加電圧)を制御して蒸発スピードを
コントロールし組成を制御する方法、 (4)合金を蒸発源として蒸着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
実施例1
鉄、アルミニウム、ゲルマニウムの各金属を秤量し、高
周波を容解炉を用いて真空中で溶解し、鋳型に流し込ん
で成形し′ζ直径50龍、IIノさ111mの電極用ク
ーリ゛ソトを作製した。
周波を容解炉を用いて真空中で溶解し、鋳型に流し込ん
で成形し′ζ直径50龍、IIノさ111mの電極用ク
ーリ゛ソトを作製した。
このターゲットを用い、上記のスパッタ条件に従ってブ
レチーマグネ]・ロン型スパックリング装置によるスパ
ッタリングを行った。
レチーマグネ]・ロン型スパックリング装置によるスパ
ッタリングを行った。
スパッタ条件
RFパワー 1(IOWターケソト・
基板間距1tilj 30龍基板温度
〜20’C(水冷)到達真空度 3
X ]]0−’″Torrガス圧力 5
X 10−’ Torr欣 厚
約 2.8〜3.1 μm上記スパッタ条件に従い、
不活性ガスとして静ガスを用い、このArガスにN2を
ン昆人してスパソタリングを行った。ここで、N2の混
入量を分圧で制御し、このN2の割合を変えながらスパ
ッタリングを行い、結晶化ガラス基板上にNを含むfi
e−^ρ−〇e系合金薄股を形成した。得られたNを含
むFe−A#−Ge系合金s股を550℃で1時間熱処
理した。
基板間距1tilj 30龍基板温度
〜20’C(水冷)到達真空度 3
X ]]0−’″Torrガス圧力 5
X 10−’ Torr欣 厚
約 2.8〜3.1 μm上記スパッタ条件に従い、
不活性ガスとして静ガスを用い、このArガスにN2を
ン昆人してスパソタリングを行った。ここで、N2の混
入量を分圧で制御し、このN2の割合を変えながらスパ
ッタリングを行い、結晶化ガラス基板上にNを含むfi
e−^ρ−〇e系合金薄股を形成した。得られたNを含
むFe−A#−Ge系合金s股を550℃で1時間熱処
理した。
実施例1において、そのN2ガスの分j+−,を変化さ
せた場合の得られた膜組成と、保磁ノ月ICと]、MI
Izにおける透磁率μIMHzと、耐蝕性を測定した結
果を図面に示す。ごこで耐蝕性の測定は、測定試料を1
規定のNaCl溶液中に9時間浸漬し、表面の発錆状態
を目視観察したもので、◎印は上述のNaCl中に48
時間浸漬した後でも鏡面が保たれたもの、○印は同条件
で表面に曇りが生じ、市水中で48時間後で鏡面であっ
たもの、△印は山水中48時間浸漬で膜面に曇りが生じ
たもの、X印は市水中48時間浸漬で膜面に薄く赤錆が
発生したものをボす。
せた場合の得られた膜組成と、保磁ノ月ICと]、MI
Izにおける透磁率μIMHzと、耐蝕性を測定した結
果を図面に示す。ごこで耐蝕性の測定は、測定試料を1
規定のNaCl溶液中に9時間浸漬し、表面の発錆状態
を目視観察したもので、◎印は上述のNaCl中に48
時間浸漬した後でも鏡面が保たれたもの、○印は同条件
で表面に曇りが生じ、市水中で48時間後で鏡面であっ
たもの、△印は山水中48時間浸漬で膜面に曇りが生じ
たもの、X印は市水中48時間浸漬で膜面に薄く赤錆が
発生したものをボす。
尚、比較のために同図面の表中にNを含有させないもの
についてもその測定結果を4<シタ。
についてもその測定結果を4<シタ。
各組成の測定は、Nに関してはインナートガスディフュ
ージョン(熱伝導度)法によってその測定を行ったもの
であり、他についてはEPM^(ElectricPr
obe旧cro Analsis )によった。
ージョン(熱伝導度)法によってその測定を行ったもの
であり、他についてはEPM^(ElectricPr
obe旧cro Analsis )によった。
これら測定結果から明らかなように、本発明によるN含
有の転磁P1薄欣はNを含有しない軟磁性薄膜に比し゛
ζ保磁ノ月1cを高めることなく、透磁率の向上と耐蝕
性の向上がはかられている。
有の転磁P1薄欣はNを含有しない軟磁性薄膜に比し゛
ζ保磁ノ月1cを高めることなく、透磁率の向上と耐蝕
性の向上がはかられている。
以上述べたように、本発明による軟磁性薄膜においては
、その成分として窒素Nを含有していることにより、商
+3磁率及び耐蝕性の同上がはかられるものであるが更
に商硬度が達成されて耐摩耗性の向」−1がはかられる
ものであり、ごのとき飽和磁束密度や保磁力等の磁気特
性の劣化も見られない。そして特に、窒素Nを含有する
ことにより比抵抗が増加し、商周波領域での渦電流損失
が小さくなることがら透磁率の周波数特性が向−ヒして
] OMIIZ以−1−の画周波数領域で使用される磁
気ヘッド等に対して極めて有用となる。
、その成分として窒素Nを含有していることにより、商
+3磁率及び耐蝕性の同上がはかられるものであるが更
に商硬度が達成されて耐摩耗性の向」−1がはかられる
ものであり、ごのとき飽和磁束密度や保磁力等の磁気特
性の劣化も見られない。そして特に、窒素Nを含有する
ことにより比抵抗が増加し、商周波領域での渦電流損失
が小さくなることがら透磁率の周波数特性が向−ヒして
] OMIIZ以−1−の画周波数領域で使用される磁
気ヘッド等に対して極めて有用となる。
尚、この磁性薄膜中における窒素Nの果だJ役割につい
ては、その詳細は不明であるが、硬度が著しく向上する
ことからFeの窒化物等の商硬度粒子の生成等も予想さ
れる。
ては、その詳細は不明であるが、硬度が著しく向上する
ことからFeの窒化物等の商硬度粒子の生成等も予想さ
れる。
また、上述の本発明による軟磁性薄膜において、更に耐
蝕性や耐摩耗性そのほか各種特性を改善するために各種
元素を添加剤として加え′ζもよい。
蝕性や耐摩耗性そのほか各種特性を改善するために各種
元素を添加剤として加え′ζもよい。
この添加剤として使用される元素としては、TLZr、
llf等のNa族冗素、V、 Nb、 Ta等のV
a族元素、Cr、 Mo、 W等のVia族元素、Mn
等の■a族元素、さらに白金族元素として第5周期の白
金族元素、すなわちRh、 Rd、第6周期の白金族元
素、ずなわちOs、 Ir、 Pt等を挙げることがで
きるものであり、これら添加剤の1種または2種以上を
組み合わせて、上記磁性薄膜に対してθ〜10車量%の
範囲で添加し得る。
llf等のNa族冗素、V、 Nb、 Ta等のV
a族元素、Cr、 Mo、 W等のVia族元素、Mn
等の■a族元素、さらに白金族元素として第5周期の白
金族元素、すなわちRh、 Rd、第6周期の白金族元
素、ずなわちOs、 Ir、 Pt等を挙げることがで
きるものであり、これら添加剤の1種または2種以上を
組み合わせて、上記磁性薄膜に対してθ〜10車量%の
範囲で添加し得る。
また、成る場合は、窒素Nと共に酸素を含有させること
もできる。
もできる。
一卜述したように本発明による軟磁性薄膜によれば、飽
和磁束密度の低下や、保磁力を高めることなく、商透磁
率を有し、耐蝕性にすぐれ、商硬度の耐摩耗性にず(れ
、更にアモルファス磁性薄膜におけるような熱的に不安
定性のない耐熱性にすぐれた軟磁性薄膜を得ることがで
きるので、例えば面密度記録用の薄膜磁気ヘッドの薄膜
磁気コアとして用いて、その利益は極めて大である。
和磁束密度の低下や、保磁力を高めることなく、商透磁
率を有し、耐蝕性にすぐれ、商硬度の耐摩耗性にず(れ
、更にアモルファス磁性薄膜におけるような熱的に不安
定性のない耐熱性にすぐれた軟磁性薄膜を得ることがで
きるので、例えば面密度記録用の薄膜磁気ヘッドの薄膜
磁気コアとして用いて、その利益は極めて大である。
図は軟磁性薄膜の組成と容性11Iの測定結果を示す表
目である。 −′
目である。 −′
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Fe_aAl_bGe_cN_x(但し、a、b、c及
びxは、夫々の組成比を原子%として表す)なる組成式
で示され、各組成範囲が、 55≦a≦84 1≦b≦31 1≦c≦31 0.1≦x≦30 であり、且つ、a+b+c+x=100としたことを特
徴とする軟磁性薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60230467A JPH0744106B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 軟磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60230467A JPH0744106B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 軟磁性薄膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6289311A true JPS6289311A (ja) | 1987-04-23 |
| JPH0744106B2 JPH0744106B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=16908285
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60230467A Expired - Fee Related JPH0744106B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 軟磁性薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0744106B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5827941A (ja) * | 1981-08-11 | 1983-02-18 | Hitachi Ltd | 非晶質薄膜の製造方法 |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP60230467A patent/JPH0744106B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5827941A (ja) * | 1981-08-11 | 1983-02-18 | Hitachi Ltd | 非晶質薄膜の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0744106B2 (ja) | 1995-05-15 |
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