JPS6295409A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
- Publication number
- JPS6295409A JPS6295409A JP23540885A JP23540885A JPS6295409A JP S6295409 A JPS6295409 A JP S6295409A JP 23540885 A JP23540885 A JP 23540885A JP 23540885 A JP23540885 A JP 23540885A JP S6295409 A JPS6295409 A JP S6295409A
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- JP
- Japan
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- rotary table
- inspected
- external appearance
- turntable
- Prior art date
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明は、搬送ガイドによって搬送されてくる例えば
ＩＣ等の電子部品の外観を検査する外観検査装置に関す
る。
ＩＣ等の電子部品の外観を検査する外観検査装置に関す
る。
［発明の技術的背景およびその問題点］搬送ガイドによ
って製造ラインから順次搬送されてくるＩＣ等の電子部
品は従来第５図に示すように搬送ガイド２３の両側に設
けられているＩＴＶカメラ２５．２７等により外観を搬
像され、この躍像した外観情報を例えばコンビューク笠
により正常なものと比較し、その外観検査を行なってい
る。
って製造ラインから順次搬送されてくるＩＣ等の電子部
品は従来第５図に示すように搬送ガイド２３の両側に設
けられているＩＴＶカメラ２５．２７等により外観を搬
像され、この躍像した外観情報を例えばコンビューク笠
により正常なものと比較し、その外観検査を行なってい
る。
ところで、このような従来の電子部品の外観検査におい
ては、搬送ガイド２３の両側にそれぞれＩＴＶカメラを
必要とするため、高画であるとともに、搬送ガイド２３
に沿った電子部品２１の両側面の外観のみしか検査でき
ず、電子部品２１の搬送ガイド２３に直角な方向の前１
９面の外観は検査することができないという問題がある
。
ては、搬送ガイド２３の両側にそれぞれＩＴＶカメラを
必要とするため、高画であるとともに、搬送ガイド２３
に沿った電子部品２１の両側面の外観のみしか検査でき
ず、電子部品２１の搬送ガイド２３に直角な方向の前１
９面の外観は検査することができないという問題がある
。
［発明の目的］
この発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、経済的かつ簡単に被検査体の全外観を検
査することができる外観検査装置を提供することにある
。
するところは、経済的かつ簡単に被検査体の全外観を検
査することができる外観検査装置を提供することにある
。
［発明の概要］
上記目的を達成するため、搬送ガイドによって搬送され
てくる被検査体の外観を検査する外観検査装置であって
、この発明は、第１図に示すように、搬送ガイドの途中
に設けられた回転台１と、該回転台１に対向して設けら
れた少なくとも１台のｌ＋１＠手段３と、前記回転台１
上に搬送されてきた被検査体の外観を前記画像手段３に
より所望の方向から搬像し１ｑるように回転台１を回転
させる回転駆動手段５と、前記顕像手段３″ｃ囮像した
被検査体の外観情報から被検査体の外観の良否を判定す
る判定手段７とを有することを要旨とする。
てくる被検査体の外観を検査する外観検査装置であって
、この発明は、第１図に示すように、搬送ガイドの途中
に設けられた回転台１と、該回転台１に対向して設けら
れた少なくとも１台のｌ＋１＠手段３と、前記回転台１
上に搬送されてきた被検査体の外観を前記画像手段３に
より所望の方向から搬像し１ｑるように回転台１を回転
させる回転駆動手段５と、前記顕像手段３″ｃ囮像した
被検査体の外観情報から被検査体の外観の良否を判定す
る判定手段７とを有することを要旨とする。
［発明の実施例］
以下、図面を用いてこの発明の詳細な説明する。
第２図はこの発明の一実施例を示すもので、この実施例
においては搬送ガイド２３によって矢印３１で示づ方向
から搬送されてくるＩＣ等の電子部品２１は、搬送ガイ
ド２３の途中に設けられている回転テーブル３３上で停
止して自在に回転し１ｑるようになっている。この回転
テーブル３３が設けられている所には、回転テーブル３
３に対向して撮像手段である［ＴＶカメラ３５が配設さ
れ、回転テーブル３３上で回転する電子部品２１の外観
を画像し１！？るようになっている。図では電子部品２
１は搬送ガイド２３の搬送方向に対して９０°回転して
、その後部の外観をＩＴＶカメラ３５が画像している場
合を示している。また、このように電子部品２１が９０
°回転した方向には、すなわら搬送ガイド２３の搬送方
向に対して直角な方向には別の搬送ガイド２９が設けら
れているが、電子部品２１が外観検査の結果不良品と判
定された場合にはこの搬送ガイド２９に治って矢印３７
で示す方向に搬送され、良品と区別されるようになって
いる。回転テーブル３３における外観検査の結果、良品
となった電子部品２１は更に＋ｍ送ガイド２３に沿って
矢印３９で示す方向に搬送されるようになっている。
においては搬送ガイド２３によって矢印３１で示づ方向
から搬送されてくるＩＣ等の電子部品２１は、搬送ガイ
ド２３の途中に設けられている回転テーブル３３上で停
止して自在に回転し１ｑるようになっている。この回転
テーブル３３が設けられている所には、回転テーブル３
３に対向して撮像手段である［ＴＶカメラ３５が配設さ
れ、回転テーブル３３上で回転する電子部品２１の外観
を画像し１！？るようになっている。図では電子部品２
１は搬送ガイド２３の搬送方向に対して９０°回転して
、その後部の外観をＩＴＶカメラ３５が画像している場
合を示している。また、このように電子部品２１が９０
°回転した方向には、すなわら搬送ガイド２３の搬送方
向に対して直角な方向には別の搬送ガイド２９が設けら
れているが、電子部品２１が外観検査の結果不良品と判
定された場合にはこの搬送ガイド２９に治って矢印３７
で示す方向に搬送され、良品と区別されるようになって
いる。回転テーブル３３における外観検査の結果、良品
となった電子部品２１は更に＋ｍ送ガイド２３に沿って
矢印３９で示す方向に搬送されるようになっている。
第３図は第２図に示す外観検査装置の制御部の構成図で
ある。ＩＴＶカメラ３５で搬像された電子部品２１の外
観情報はインターフェース回路４１を介してＡ／Ｄコン
バータ４３でディジタル信号に変換され、パターンメモ
リ４５に記憶され、更に二値化回路４７を介して画像処
理プロセッサ４つで処理されている。また、画像処理プ
ロセッサ４９は機構制御用プロセッサ５１に接続され、
この機構制御用プロセッサ５１は更に回転テーブル駆動
部５３に接続されている。この回転テーブル駆動部５３
は面記回転テーブル３３を回転制御するためのちのであ
る。
ある。ＩＴＶカメラ３５で搬像された電子部品２１の外
観情報はインターフェース回路４１を介してＡ／Ｄコン
バータ４３でディジタル信号に変換され、パターンメモ
リ４５に記憶され、更に二値化回路４７を介して画像処
理プロセッサ４つで処理されている。また、画像処理プ
ロセッサ４９は機構制御用プロセッサ５１に接続され、
この機構制御用プロセッサ５１は更に回転テーブル駆動
部５３に接続されている。この回転テーブル駆動部５３
は面記回転テーブル３３を回転制御するためのちのであ
る。
以上のように構成される外観検査装置においては搬送ガ
イド２３によって回転テーブル３３の上を搬送されてき
た電子部品２１を回転テーブル駆動部５３で例えば９０
°ずっ順次に回転してＩＴＶカメラ３５により電子部品
２１の全外観を画像し、この搬像した外観情報を画像処
理プロセッサ４つで処理して電子部品２１の外観の良否
を判定するものであるが、その詳細な作用を次に第４図
のフローヂャートを参照して説明する。
イド２３によって回転テーブル３３の上を搬送されてき
た電子部品２１を回転テーブル駆動部５３で例えば９０
°ずっ順次に回転してＩＴＶカメラ３５により電子部品
２１の全外観を画像し、この搬像した外観情報を画像処
理プロセッサ４つで処理して電子部品２１の外観の良否
を判定するものであるが、その詳細な作用を次に第４図
のフローヂャートを参照して説明する。
まず、搬送ガイド２３に沿って矢印３１の方向から搬送
されたきた電子部品２１は回転テーブル３３の上で停止
させられ、ｒＴＶカメラ３５によって第１の側面の外観
の画像が搬像されて入力される（ステップ１１０）。入
力された第１の側面の外観情報は画像処理プロセッサ４
つにおいて良否判定処理が行なわれる（ステップ１２０
）。
されたきた電子部品２１は回転テーブル３３の上で停止
させられ、ｒＴＶカメラ３５によって第１の側面の外観
の画像が搬像されて入力される（ステップ１１０）。入
力された第１の側面の外観情報は画像処理プロセッサ４
つにおいて良否判定処理が行なわれる（ステップ１２０
）。
良否判定処理の結果、不良の場合には電子部品２１は第
２図に示すように９０’回転させられて不良品用の搬送
ガイド２９によって矢印３７で示す方向に良品と区別さ
れて搬出される（ステップ１３０）。
２図に示すように９０’回転させられて不良品用の搬送
ガイド２９によって矢印３７で示す方向に良品と区別さ
れて搬出される（ステップ１３０）。
第１の側面の外観検査の結果、該側面が■常の場合には
、次のステップ１４０において４つの側面の外観検査が
完了したか否かがチェックされる。
、次のステップ１４０において４つの側面の外観検査が
完了したか否かがチェックされる。
すなわち、電子部品２１には第１乃至第４の４つの側面
があるので、これらのすべての側面の検査が完了したか
をチェックしている。４つの…り面の検査が完了してい
ない場合には、回転テーブル３３を９０°回転して次の
側面の両像をＩＴＶカメラ３５で撮像して入ツノする（
ステップ１５０，１６０＞。そして、このように入力し
た別の側面の画像情報について同様にステップ１２０に
おいて良否判定処理を行なう。以下、同様にして電子部
品２１の４つのすべての側面についての外観検査を行な
うのである。
があるので、これらのすべての側面の検査が完了したか
をチェックしている。４つの…り面の検査が完了してい
ない場合には、回転テーブル３３を９０°回転して次の
側面の両像をＩＴＶカメラ３５で撮像して入ツノする（
ステップ１５０，１６０＞。そして、このように入力し
た別の側面の画像情報について同様にステップ１２０に
おいて良否判定処理を行なう。以下、同様にして電子部
品２１の４つのすべての側面についての外観検査を行な
うのである。
なお、上記実施例においては、電子部品２１、特にＩＣ
の外観検査を行なう場合について説明したが、これに限
定されるものでない。また、側面の外観検査について説
明したが、回転テーブル３３を平面的でなく、更に別の
方向に回転させたりすることにより上下面等の外ｉｈ
ら検査できるものである。また、不良品ｍ送用のガイド
を不良検査項目１Ｇに複数設けてもよい。
の外観検査を行なう場合について説明したが、これに限
定されるものでない。また、側面の外観検査について説
明したが、回転テーブル３３を平面的でなく、更に別の
方向に回転させたりすることにより上下面等の外ｉｈ
ら検査できるものである。また、不良品ｍ送用のガイド
を不良検査項目１Ｇに複数設けてもよい。
［発明の効果］
以上説明したように、この発明によれば、被検査体は回
転台上で回転駆動手段により回転させられるようになっ
ているので、１台の１層像手段でも所望の方向からの外
観、すなわち必要により全外観を簡単に検査することが
できるため、従来のように複数のＩＴＶカメラ等を必要
とせず、極めて経済的であり、また外観検査の結果、不
良品を検出した場合には回転台により被検査体を良品と
区分した方向に搬送することができる。
転台上で回転駆動手段により回転させられるようになっ
ているので、１台の１層像手段でも所望の方向からの外
観、すなわち必要により全外観を簡単に検査することが
できるため、従来のように複数のＩＴＶカメラ等を必要
とせず、極めて経済的であり、また外観検査の結果、不
良品を検出した場合には回転台により被検査体を良品と
区分した方向に搬送することができる。
第１図はこの発明のクレーム対応図、第２図はこの発明
の一実施例を示す外観検査装置の部分構成を示す斜視図
、第３図は第２図の外観検査装置の制御部のブロック図
、第４図は第１図の外観検査装置の作用を示すフローチ
ャート、第５図は従来の外観検査装置の構成図である。 １・・・回転台、３・・・擾象手段、５・・・回転駆動
手段、７・・・判定手段。 第１図 第４図
の一実施例を示す外観検査装置の部分構成を示す斜視図
、第３図は第２図の外観検査装置の制御部のブロック図
、第４図は第１図の外観検査装置の作用を示すフローチ
ャート、第５図は従来の外観検査装置の構成図である。 １・・・回転台、３・・・擾象手段、５・・・回転駆動
手段、７・・・判定手段。 第１図 第４図
Claims (1)
- 搬送ガイドによって搬送されてくる被検査体の外観を検
査する外観検査装置であって、搬送ガイドの途中に設け
られた回転台と、該回転台に対向して設けられた少なく
とも１台の撮像手段と、前記回転台上に搬送されてきた
被検査体の外観を前記撮像手段により所望の方向から撮
像し得るように回転台を回転させる回転駆動手段と、前
記撮像手段で撮像した被検査体の外観情報から被検査体
の外観の良否を判定する判定手段とを有することを特徴
とする外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23540885A JPS6295409A (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23540885A JPS6295409A (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6295409A true JPS6295409A (ja) | 1987-05-01 |
Family
ID=16985650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23540885A Pending JPS6295409A (ja) | 1985-10-23 | 1985-10-23 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6295409A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0298614A (ja) * | 1988-10-04 | 1990-04-11 | Kokusai Syst Sci Kk | Ｆｐタイプ半導体のピン曲り検査におけるピン撮影方法 |
-
1985
- 1985-10-23 JP JP23540885A patent/JPS6295409A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0298614A (ja) * | 1988-10-04 | 1990-04-11 | Kokusai Syst Sci Kk | Ｆｐタイプ半導体のピン曲り検査におけるピン撮影方法 |
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